「Testing」を含む例文一覧(14414)

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  • To provide a simple testing device effective in the early detection of glaucoma.
    緑内障の早期発見に有効な簡易検査機を実現する。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF TESTING THE SAME
    半導体集積回路及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁
  • PRINTED WIRING BOARD AND RELIABILITY TESTING METHOD FOR THE SAME
    プリント配線基板及びプリント配線基板の信頼性試験方法 - 特許庁
  • APPARATUS FOR PUSHING AND HITTING TESTING OF DEVICE- MOUNTED SUBSTRATE AND ITS TEST METHOD
    デバイス実装済み基板の押打試験装置及びその試験方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THEREFOR, AND TESTING METHOD FOR THE SAME
    半導体装置およびその製造方法およびその試験方法 - 特許庁
  • METHOD FOR SECURING DATA IN MACHINE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENTS
    電子構成部品を試験するための機械にデ—タを確保する方法 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TESTING PRESSURE RELIEF IN ZINC OXIDE TYPE LIGHTING ARRESTER
    酸化亜鉛形避雷器の放圧試験方法及び放圧試験装置 - 特許庁
  • TESTING DEVICE AND PRODUCTION METHOD OF A/D CONVERTER
    Ａ／Ｄ変換器試験装置及びＡ／Ｄ変換器の生産方法 - 特許庁
  • SPIRAL CONTACTOR, SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND ELECTRONIC PARTS USING THE SAME
    スパイラルコンタクタ、これを用いた半導体検査装置及び電子部品 - 特許庁
  • APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY, AND METHOD FOR DETECTING ITS DEFECTIVE OPERATION
    半導体メモリ試験装置およびその動作不良検出方法 - 特許庁
  • To overcome a problem in testing a steel/nickel alloy fusion line.
    鋼とニッケル合金との融解ラインの検査の問題を克服する。 - 特許庁
  • TAPE CARRIER PACKAGE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING THE SAME
    半導体集積回路のテープキャリアパッケージおよびその試験方法 - 特許庁
  • BOARD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY, TEST METHOD, AND MANUFACTURING METHOD
    半導体メモリのテスト用ボードおよびテスト方法並びに製造方法 - 特許庁
  • To provide in vitro assay for testing gabapentinoid activity.
    ガバペンチノイド活性を試験するためのインビトロアッセイの方法の提供。 - 特許庁
  • MIGRATION PROCESSING SYSTEM, PROCESS AND COMMUNICATION TESTING APPARATUS, AND SCRIPT CREATION APPARATUS
    移行処理システム、処理および通信試験装置、スクリプト生成装置 - 特許庁
  • SUCKED STATE INSPECTION APPARATUS, SURFACE MOUNTER, AND PART TESTING APPARATUS
    吸着状態検査装置、表面実装機、及び、部品試験装置 - 特許庁
  • SERUM OR BLOOD PLASMA SEPARATING COMPOUND, AND BLOOD TESTING CONTAINER
    血清または血漿分離用組成物及び血液検査用容器 - 特許庁
  • TESTING DEVICE FOR POWER SEMICONDUCTOR ELEMENT, AND TEST METHOD USING IT
    パワー半導体素子の試験装置およびこれを用いた試験方法 - 特許庁
  • STEERING COLUMN EVALUATION TESTING DEVICE AND STEERING COLUMN EVALUATION TEST METHOD
    ステアリングコラム評価試験装置、およびステアリングコラム評価試験方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING ABILITY OF IONTOPHORETIC RESERVOIR- ELECTRODE TO DELIVER MEDICAMENT
    イオン導入リザーバ電極の薬剤デリバリ能力を試験する方法 - 特許庁
  • RADIO BASE STATION DEVICE, CONNECTION TESTING METHOD, AND RADIO BASE STATION SYSTEM
    無線基地局装置、及び、接続試験方法、無線基地局システム - 特許庁
  • CALL CENTER SYSTEM, COMMUNICATION TERMINAL, COMMUNICATION TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM
    コールセンタシステム、通信端末、通信試験方法、およびコンピュータプログラム - 特許庁
  • The letters STEP stand for the Society for Testing English Proficiency.
    ＳＴＥＰという文字は日本英語検定協会を表している。 - Tanaka Corpus
  • (e.g., during testing).
    エスケープシーケンスは正規表現定数内でも用いることができます (例えば、 - JM
  • The sole purpose of the AsynchronousSampleClient process is to facilitate the unit testing of the AsynchronousSample.
    AsynchronousSampleClient プロセスの唯一の目的は、AsynchronousSample のユニットテストを支援することです。 - NetBeans
  • The browser window shows you a list of parameters for testing the Customers service.
    ブラウザウィンドウで Customers サービスのテスト用パラメータのリストが表示されます。 - NetBeans
  • METHOD FOR CONTROLLING BRAKE PRESSING FORCE AND BRAKE TORQUE FOR BRAKE TESTING
    ブレーキ試験におけるブレーキ押付け力とブレーキトルクの制御方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, WAVEFORM DISPLAY METHOD, AND WAVEFORM DISPLAY PROGRAM
    半導体試験装置、波形表示方法および波形表示プログラム - 特許庁
  • PHENOLPHTHALEIN DERIVATIVE AND TESTING DRUG FOR IN-VIVO POLYAMINE DETECTION
    フェノールフタレイン誘導体および生体内ポリアミン検出用検査薬 - 特許庁
  • TESTING LINE OF MOTHERBOARD IN THIN FILM TRANSISTOR, AND MANUFACTURING METHOD
    薄膜トランジスターにおけるマザーボードのテストラインおよびその製造方法 - 特許庁
  • METHOD OF SYNTHESIS AND TESTING OF COMBINATORIAL LIBRARY USING MICROCAPSULE
    マイクロカプセルを用いたコンビナトリアルライブラリの合成および試験の方法 - 特許庁
  • ALKALI/SILICA REACTIVITY TESTING METHOD OF AGGREGATE AND QUALITY CONTROL METHOD
    骨材のアルカリシリカ反応性試験方法及び品質管理方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体装置およびその試験方法、および半導体集積回路 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路および半導体集積回路の検査方法 - 特許庁
  • DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CIRCUIT AND SYSTEM
    半導体回路をテストするための装置、半導体回路及びシステム - 特許庁
  • Chapter V Business of Product Testing (Articles 57 to 66)
    第五章　製品試験の事業　（第五十七条—第六十六条） - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • WORK TEMPERATURE ADJUSTING DEVICE AND CORROSION RESISTANCE TESTING APPARATUS EQUIPPED WITH THE SAME
    ワーク温度調整装置およびこれを備えた耐食試験装置 - 特許庁
  • THIN-FILM TYPE WAFER TESTING DEVICE AND ITS PROBE DETECTING/TRANSMITTING STRUCTURE
    薄膜式ウエハー試験装置及びそのプローブ検出伝送構造 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME
    半導体集積回路、および半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁
  • To provide a technique for properly testing a domain name system server.
    ドメインネームシステムサーバ装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technique for testing a switching device of a layer 7 appropriately.
    レイヤ７スイッチ装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁
  • FUEL CELL SYSTEM AND TESTING APPARATUS FOR FUEL CELL INCLUDING THE SAME
    燃料電池システムおよびそれを含む燃料電池の試験装置 - 特許庁
  • To provide a semiconductor inspection system that realizes reduced testing cost.
    テストコストの削減を実現する半導体検査システムを提供する。 - 特許庁
  • CORROSION RESISTANCE TESTING METHOD AND EQUIPMENT FOR METALLIC MATERIAL
    金属材料の耐食性試験方法及び耐食性試験装置 - 特許庁
  • DISPLAY DEVICE DRIVING, DISPLAY AND DRIVER CIRCUIT TESTING METHOD
    ディスプレイ装置駆動デバイス、ディスプレイ装置及びドライバ回路テスト方法 - 特許庁
  • CHART, SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RESOLUTION
    解像度検査用チャート、解像度検査装置及び解像度検査方法 - 特許庁
  • DEVICE FOR TESTING BLADDER CANCER AND CONTROL METHOD OF THE DEVICE
    膀胱癌検査装置および膀胱癌検査装置の制御方法 - 特許庁
  • PROJECT FILE, METHOD OF TESTING THE SAME, CONTROL SYSTEM, AND CONTROL DISPLAY
    プロジェクトファイル、そのテスト方法、制御システムおよび制御用表示器 - 特許庁
  • (v) Name of the civil training and testing area to be flown in
    五　飛行を行おうとする民間訓練試験空域の名称 - 日本法令外国語訳データベースシステム
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