「Testing」を含む例文一覧(14405)
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加圧下にある試験片に水平方向に加振するのに、使用する油量が極めて少なくても十分な振動試験を行わせることができる多軸試験機を提供する。 - 特許庁 - The water permeability comparing and experiencing device 3 makes it possible to compare the water permeability of respective testing devices by putting water into the two test devices D1, R2 and peeping the change rates by the water permeated with lapse of time.
透水性比較装置は、２つの試験器D1,R2 に水をいれ、その水の経時的な透水による変化量を覗き見て各試験器の透水性を比較するようになされたものとする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device provided with a bus interface device applicable easily to transfer data continuously to a plurality of optional resistors out of a resistor group for conducting data transfer.
データ転送を行うレジスタ群の中で任意の複数レジスタに対する連続的なデータ転送が容易に適用可能なバスインターフェース装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To accurately measure the friction force inherent in an elastic material sample as objective data with the high correlation with the friction force of a product tire or the like, in testing the friction characteristics of the elastic material sample.
弾性材料サンプルによる試験をもって、そのサンプルに固有の摩擦力を、製品タイヤ等のそれと高い相関をもつ客観データとして正確に測定することを可能とする。 - 特許庁 - This tire testing device 1 can detect the occurrence of exfoliation in the tread splice part 3b, at a stage prior to burst through of the detection of the temperature change in the surface temperature of the tread part 3a.
タイヤ試験装置１は、トレッド部３ａの表面温度の温度変化を検出することで、バーストする前の段階でトレッドスプライス部３ｂの剥離の発生を検出することができる。 - 特許庁 - An integrated circuit, where a wiring electrode 103 is formed on a circuit substrate 101 via an insulation film 102 and an insulation protection film 104 and the like are formed on it, is to be a testing object.
回路基板１０１上に絶縁膜１０２を介して配線電極１０３が形成され、その上に絶縁保護膜１０４などが形成された集積回路が試験対象となる。 - 特許庁 - By changing the program configurating from the memory element 21 to the FPGA 12 to flexible, the device body A is operated in a hardware constitution proper for testing devices B to be measured.
記憶素子２１からＦＰＧＡ１２にコンフィギュレーションするプログラムをフレキシブルに変更することで、装置本体Ａを被測定デバイスＢの検査に適したハード構成にて動作させる。 - 特許庁 - To precisely discriminate the quality of an electronic device, by testing the correlation between timings in respective changes of a plurality of signals output from the electronic device.
電子デバイスから出力される複数の出力信号のそれぞれが変化するタイミングの相関について試験することにより、電子デバイスの良否を、より高い精度で識別する。 - 特許庁 - CAPACITOR CIRCUIT EQUIPPED WITH CAPACITOR CONSISTING OF MOS CAPACITANCE, VARIABLE CAPACITANCE CIRCUIT USING THE CAPACITOR CIRCUIT, RESONANCE CIRCUIT USING THE VARIABLE CAPACITANCE CIRCUIT, AND TESTING METHOD FOR THE CAPACITOR CIRCUIT
ＭＯＳ容量からなるコンデンサを備えたコンデンサ回路、そのコンデンサ回路を使用した可変容量回路、その可変容量回路を使用した発振回路及びコンデンサ回路の検査方法 - 特許庁 - To provide a penetration testing machine automatically executing operation processing such as a conversion N-value operation or the like having different coefficients used for operation in accordance with soil.
土質に応じて演算に用いる係数が異なる換算Ｎ値演算等の演算処理を自動的に行う貫入試験機および換算Ｎ値の自動算出方法の提供。 - 特許庁 - To provide a leak testing method that can applied to various sized vessels or various contained materials, when the contained component is a liquid, and to provide an apparatus.
収容成分が液体である場合に、多様な大きさの容器に対してまた多様な収容材料に対して適用し得るようなリークテスト方法および装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method and a device for testing a heavy load in an encryption system where a load is freely applied to server authentication and encryption processing so as to easily and properly test a server.
サーバの認証および暗号化処理に対して負荷を自在にかけてサーバを簡単かつ適確に試験し得る暗号化システムにおける高負荷試験方法および装置を提供する。 - 特許庁 - Also, even when internal configuration is unknown, the memory testing program can be used universally for various memories by estimating its internal configuration.
また、内部構成が不明である場合であっても、その内部構成を推定することを可能とすることで、各種メモリに対して、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することができるようになる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device enabling a delay adjusting width of a deskew circuit to flexibly cope with a skew, by programmably adjusting the timing of the clock signal.
クロック信号のタイミングをプログラマブルに調整することにより、スキューに対してデスキュー回路の遅延調整幅を柔軟に対応させることが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and a method for testing an internal bus capable of effectively performing a test for the internal bus of a semiconductor integrated circuit without requiring a complicated circuit.
複雑な回路を必要としないで、半導体集積回路の内部バス試験を効率よく実行することのできる内部バス試験装置及び内部バス試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device and its correcting method which can correct dispersion of measurement data between sites (sockets) conducting simultaneous measurement and devices and its correcting method.
本発明は、同時測定をおこなうサイト（ソケット）間及び装置間の測定データのバラツキを補正して高精度測定ができる半導体試験装置とその補正方法を提供する。 - 特許庁 - The method includes: a test piece creating process of creating a test piece 3 on which the tread groove 4 is formed; and a testing process of performing a groove bottom crack resistance performance test by using the test piece 3.
前記トレッド溝４を形成した試験片３を作成する試験片作成工程と、該試験片３を用いて耐溝底クラック性能テストを行うテスト工程とを含む。 - 特許庁 - In the case of testing the functions of an IP core 33, test signals are supplied for the IP core 33 via a selector 41, and its output signals are transferred to the signal checker 45.
ＩＰコア３３の機能試験を行う場合には、試験信号をセレクタ４１を介してＩＰコア３３に供給し、その出力信号を信号チェック器４５に転送する。 - 特許庁 - To reduce the number of test contact devices, reduce an equipment cost by commonalizing components and measuring circuits of the testing apparatus, and improve AC test conditions (waveform).
試験コンタクト装置の台数を削減でき、試験機の構成部品や測定回路の共通化を可能にして設備コストの低減し、かつＡＣ試験条件（波形）の改善が可能とする。 - 特許庁 - This testing device of the PLL circuit having a phase comparator 1, a loop filter 2, a VCO 3 and a prescaler 4 is equipped with the first switch 11 and the second switch 12.
この発明は、位相比較器１、ループフィルタ２、ＶＣＯ３、およびプリスケーラ４を有するＰＬＬ回路のテスト装置であって、第１スイッチ１１と、第２スイッチ１２とを備えている。 - 特許庁 - The test bottle 1 is used for testing bottle detecting apparatuses 3 and 5, and a fluorescent substance emitting fluorescence when it is irradiated with UV rays is provided on the outer surface of the bottle.
本発明のテスト瓶１は、瓶検査装置３，５のテストのために使用されるものであって、紫外線が照射されたときに蛍光を発する蛍光物質を瓶の外表面に有する。 - 特許庁 - A wire harness inspection device has a continuity test jig 7 for testing continuity of connectors 3 of a wire harness 2, a pass tape issuing apparatus 10, and an urethane sheet detecting jig 11 on an inspection table 6.
検査作業テーブル６上に、ワイヤハーネス２のコネクタ３の導通検査を行なう導通検査治具７、合格テープ発行装置１０、ウレタンシート検出治具１１を備えている。 - 特許庁 - This game machine is provided with a testing connector 47 capable of monitoring signals transmitted on a control board 31 which processes with detection signals and solenoid driving signals for electro-driven premium devices, etc.
入賞検出信号や電動役物のソレノイド駆動信号等が伝送される遊技制御基板３１上において、伝送される信号をモニタ可能な試験用コネクタ４７を取付ける。 - 特許庁 - To provide a method of testing and verifying total functionality in an actual application, by mounting a new software module depending on a newly established protocol version.
新しく確立されたプロトコル・バージョンに依存する新しいソフトウェアモジュールを実装して、実際のアプリケーションで全体的な機能性を試験および検証する方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To perform wedge operation separately in tension testing and tension anchoring with simple constitution of arranging an elastic resistor between a presser board 4 and an anchor head 7.
抑え盤４とアンカーへッド７の間に弾性抵抗体６を配置するという簡単な構成によって、緊張試験時と、緊張定着時のクサビの動作を区別して行わせることができる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device wherein measurement accuracy can be improved when a resistance value of a resistance element formed in a semiconductor chip is measured, and to provide its testing method.
本発明は、半導体チップに形成された抵抗素子の抵抗値を測定する際の精度を向上させることができる半導体装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing an input circuit in the semiconductor integrated circuit for inputting a data input signal having a short pulse width.
短パルス幅のデータ入力信号を入力する半導体集積回路内の入力回路の試験を行うことができる半導体集積回路を提供することを課題とする。 - 特許庁 - The low or medium speed input and output circuit is more flexible, for example, having preset, enable, and clear as control line inputs, and can support JTAG boundary testing.
中低速入力および出力回路は、例えば制御ライン入力としてプリセット、イネーブルおよびクリアを有してより柔軟であり、ＪＴＡＧバウンダリ・テストを支援することができる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor-testing program debug device capable of reducing wastefulness of a facility when using a semiconductor test program or a semiconductor test device having a different specification.
仕様が異なる半導体試験装置あるいは半導体試験プログラムを用いる場合に設備の無駄を低減することができる半導体試験用プログラムデバッグ装置を提供すること。 - 特許庁 - The alcohol testing device 10 includes a database of persons to be tested containing face image feature data and ID information, an ID inputting device 18, an alcohol detector 22, and a digital camera 28.
アルコール検査装置１０は顔画像特徴データとＩＤ情報を含む被験対象者データベースと、ＩＤ入力装置１８と、アルコール検知器２２と、デジタルカメラ２８を備える。 - 特許庁 - Relative positional shifts of the projection images SPI with respect to a frame pattern on the testing substrate 91 are also measured based on the images acquired by the photographing, and the shifts are corrected.
また、撮影により取得された画像に基づいて、試験用基板９１上の枠パターンに対する投影像ＳＰＩの相対位置のずれを計測し、そのずれを補正する。 - 特許庁 - To provide a vane shear testing device attaining measurement of high accuracy by providing a torque meter at a part uninfluenced by the load of a rod.
本発明は、ロッドの荷重に影響を受けない個所にトルクメーターを設けることにより精度の高い測定を可能とするベーンせん断試験装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁 - To provide a noise-waveform-accompanied driver input generating method for a semiconductor testing device, allowing the evaluation of noise resistance by applying an input waveform accompanied by noises to a measuring device.
ノイズを伴う入力波形を測定デバイスに印加し、ノイズ耐性評価を実現させることができる半導体試験装置のノイズ波形を伴うドライバ入力発生方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and device for testing accelerated weatherability, which eliminates an effect from various kinds of requirements other than photoirradiation of accelerated weatherability and has high accuracy and reproducibility.
促進耐候性試験の光照射以外の各種の要件からの影響をなくし、精度と再現性の良い促進耐候性試方法、及び促進耐候性試験装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a tandem type image forming device with which deterioration in testing precision of image forming function due to intervals between reference images being narrowed within each reference pattern can be decreased.
各基準パターン像内における基準像間の間隔を狭めることに起因する作像性能の試験精度の悪化を軽減することができるタンデム式画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - As for the flip-flop to be input with the output of the selecting circuit, a polarity of the output is normal rotation polarity to the normal data and is reversal rotation polarity to the scan testing data.
その選択回路の出力が入力されるフリップフロップは、出力の極性が、通常データに対しては正転極性であり、スキャンテスト用データに対しては反転極性である。 - 特許庁 - An OTDR (Optical Time Domain Reflectometer) waveform is acquired for each wavelength with testing lights of wavelengths of λ1, λ2, ..., λn, and an OTDR waveform of reference light λ0 different from all of them is acquired.
λ１，λ２，…，λｎの波長の試験光によりＯＴＤＲ波形を各波長ごとに得て、さらに、これらのいずれとも異なる基準光λ０のＯＴＤＲ波形を得る。 - 特許庁 - To obtain a method for monitoring and testing plural output signals from a circuit to be tested at the same time without switching by using one pattern monitor circuit and plural data comparing circuits.
一つのパターン監視回路と複数のデータ比較回路を使用することにより、被試験対象回路からの複数出力信号を切替えなしで同時に監視・試験する方法を得る。 - 特許庁 - A plurality of testing circuits for the skew calibration are contained per one signal pin in the DUT (semiconductor integrated circuit device to be measured), and the skew can be corrected accurately.
ＤＵＴ（被測定半導体集積回路装置）の内部にスキューキャリブレーション用テスト回路を１信号ピン当たり複数内蔵してＤＵＴ端でのスキューを正確に補正可能とする。 - 特許庁 - The testing substances react together using the polymer as a catalyst and a compound generated by the hydrolysis of the substances is measured, as a result, the cyclic amide compound can be measured.
該ポリマーを触媒として比検定物質を反応させ、比検定物質の加水分解によって生成された化合物を測定することにより、環状アミド化合物が測定できる。 - 特許庁 - To provide a circuit inspection device, a semiconductor integrated circuit, and a memory macrocell, for circumventing a memory macrocell from stopping propagation of scan data in scan pass testing using a simple circuit.
スキャンパステスト時にメモリマクロセルでスキャンデータの伝搬が阻止されてしまうことを、簡単な回路で回避する回路検査装置、半導体集積回路およびメモリマクロセルを提供する。 - 特許庁 - To realize an antenna accommodating apparatus which enables a performance test of an antenna means such as an antenna for receiving to be easily performed and an antenna testing system using the antenna accommodating apparatus.
受信用アンテナ等のアンテナ手段の性能検査を簡易に行うことを可能とするアンテナ収容装置およびアンテナ収容装置を用いたアンテナ検査システムを実現する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for testing weatherability of images, which can simulate compositely and accurately the light fastness and gas resistance of images, such as ink jet recorded image.
インクジェット記録画像等の耐光性及び耐ガス性を複合的、かつ正確にシミュレートすることが可能な画像耐候性試験方法及び画像耐候性試験装置を提供すること。 - 特許庁 - Protein having the glycoalkaloid biosynthase activity of a plant belonging to the genus Solanaceae such as potato, and a method for producing and testing a new organism by using a gene encoding the protein are provided.
バレイショ等のナス科植物のグリコアルカロイド生合成酵素酵素活性を有するタンパク質、及び該タンパク質をコードする遺伝子を用いて新規の生物を作成・検定する方法。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device capable of using a matching detection function, even when connected so that DUT performs signal transmission and receiving with a plurality of PE cards.
ＤＵＴが複数のＰＥカードとの間で信号の授受を行うように接続されている場合であってもマッチ検出機能を使用できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit capable of processing for inputting an analogue signal, and testing equivalent to inputting the analogue signal even in the case the analogue signal is not inputted.
アナログ信号を入力しての処理が可能で、しかもアナログ信号を入力しないでも、入力する場合と同等の試験が可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - The measurement is carried out using a sample piece containing an enzyme acting on the specified component in the blood, and the testing tool with the hemocyte separation blood dropping part connected by a capillary.
血液中の特定成分に作用する酵素を含有する試験片と血球分離可能な血液滴下部が毛細管で連結された試験用具を用いて測定を行う。 - 特許庁 - In the programmable logic device having the dedicated multiplier circuit, some of scan chain registers normally used for testing the device are arranged proximately to the inputs of the multipliers.
専用のマルチプライヤ回路を有するプログラマブルロジックデバイスにおいて、通常はデバイスの検査に使用されるスキャンチェーンレジスタのいくつかがマルチプライヤの入力に近接して配置される。 - 特許庁 - Priority 2 shall be adopted since no officially approved methods are available for testing long-term chronic aquatic toxicity. Judgment of exclusion from chronic aquatic toxicity shall be rendered by experts.
長期慢性水生毒性試験法として合意された試験法はまだないため、Priority２とし、慢性水生毒性分類から除外するための根拠とするには専門家の判断が必要である。 - 経済産業省 - The MHLW shall hold seminars and training to improve the knowledge and skills with regard to food safety for food sanitation inspectors at quarantine stations who are engaged in monitoring, guidance, testing and inspection at the stations.
本省は、検疫所で監視指導や試験検査に従事する食品衛生監視員に対し、食品安全に関する知識及び技術の習得に係る研修を実施する。 - 厚生労働省
