「Testing」を含む例文一覧(14405)
＜前へ 1 2 .... 227 228 229 230 231 232 233 234 235 .... 288 289 次へ＞- (2) The person or judicial person that has succeeded to the position of the Accredited Testing Laboratory Operator pursuant to the provisions of the preceding paragraph shall notify the competent minister without delay attaching written verification of those facts.
２ 前項の規定により登録試験事業者の地位を承継した者は、遅滞なく、その事実を証する書面を添えて、その旨を主務大臣に届け出なければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - (3) The Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism may, with regard to each air traffic information zone or civil training and testing area, designate in the public notice the occasion during which the restrictions under the provisions of the preceding two paragraphs are applied.
３ 国土交通大臣は、航空交通情報圏又は民間訓練試験空域ごとに、前二項の規定による規制が適用される時間を告示で指定することができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - (ii) When aircraft flies in a civil training and testing area where it is difficult for the aircraft to contact the provider specified in the preceding Article and to listen to air traffic information due to reasons such as geographical features
二 航空機が地形上等の理由により前条に規定する機関に連絡して航空交通情報を聴取することが困難な民間訓練試験空域を飛行する場合 - 日本法令外国語訳データベースシステム - The testing device 1 comprises: a travel face, on which the tyre 10 of a test object can travel, on an outer peripheral surface 2o thereof; and a cylindrical drum 2 supported in a manner allowing drive and control of rotation.
テスト対象のタイヤ１０が走行しうる走行面を外周面２ｏに有し、かつ回転駆動及び制動が可能に支持された、円筒形状のドラム２を具える。 - 特許庁 - To set a reference value to be high, when shutting down a semiconductor testing device by a current flowing instantly in a power supply line, while avoiding damage of a connector.
コネクタの損傷を回避しつつ、電源供給ラインを瞬間的に流れる電流で半導体テスト装置をシャットダウンさせる場合の基準値を高く設定できるようにする。 - 特許庁 - After probing testing of the semiconductor chip 2, according to an identification rule determined beforehand, an identification mark is provided in a pad opening portion 7, a dummy wiring portion 3 and a fuse portion 4 in the semiconductor chip 2.
半導体チップ２のプロービング試験後に、予め決めておいた識別ルールに従って、半導体チップ２内のパッド開口部７、ダミー配線部３、ヒューズ部４に識別マークを設ける。 - 特許庁 - To provide technology capable of easily and accurately discriminating the transmission result of an image without imposing much load onto an operator in the case of testing transmission of image information via a network.
ネットワークを介した画像情報の伝送試験において、作業者に負担をかけることなく容易かつ正確に画像の伝送結果を判定可能な技術を提供する。 - 特許庁 - Then, a mask layer 103 is formed on the testing substrate 101 where the recesses are formed and a plurality of openings 104 are formed in the mask layer 103.
次に、各凹部が形成されたテスト基板１０１の上に、マスク層１０３が形成された状態とし、加えて、マスク層１０３に複数の開口部１０４が形成された状態とする。 - 特許庁 - According to the moving performance testing apparatus 1, a motor movement plan is made on the basis of a robot movement plan, and the movement of a motor 12 is driven according to the motor movement plan.
本発明の移動性能試験装置１によれば、ロボット動作計画に基づいてモータ動作計画が作成され、当該モータ動作計画にしたがってモータ１２の動作が駆動される。 - 特許庁 - To perform at low cost the durability test of a test target, in a durability testing method for performing the durability test of the test target arranged between a drive body and the load and that receives twisting.
本発明は、駆動体と負荷との間に配置されて、ねじりを受ける被試験体の耐久試験を行なう耐久試験方法等に関し、被試験体の耐久試験を安価に行なう。 - 特許庁 - The package substrate 300 includes pads 303, 903 arranged on the upper surface 3a, a pad 904 arranged on the lower surface 3b, and an exclusive pad 905 for testing arranged on the lower surface 3b.
パッケージ基板３００は、上面３ａに配置されたパッド３０３、９０３と、下面３ｂに配置されたパッド９０４と、下面３ｂに配置されたテスト専用パッド９０５と、を備える。 - 特許庁 - The testing device 10 icnludes a guide member 28, into which a groove 32 to guide a shaft 38 of a test tool 36 along a vertical direction of a moving direction of a weight 18 is formed.
試験装置１０は、試験治具３６の軸部３８を錘１８の移動方向である鉛直方向に沿って案内する溝部３２が形成されたガイド部材２８を備える。 - 特許庁 - When the water level sensor 2 measures a water level in the water storage tank 1 and informs of a reduced water warning, the water tank device opens the testing valve 5 to start water supply from a second sub water flow path 32 to the water storage tank 1.
水位センサ２が貯水槽１の水位を計測し、減水警報を報知すると、試験弁５を開けて第２のサブ流水路３２から貯水槽１への給水を開始する。 - 特許庁 - To provide a common terminal and an inputting means capable of using in common a writing function and a testing function in order to satisfy a requirement of the reduction of the number of pads for reducing a chip size.
チップサイズを小さくするためにはパッド個数の減少が望まれており、路書き込み機能と、テスト機能とを共通に使用できる共通端子及び入力手段を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing cap used in a plurality of cases by changing the depth and the claw width of a water injection port even in different kinds of water injection ports, while used in a time when applying pressure from the water injection port of a radiator.
ラヂエーターの注水口から圧力をかける時に用いて、異種の注水口でも、注水口の探さと爪幅を変化させて複数に利用できるテスト用キャップの提供 - 特許庁 - To provide a high-efficiency and high quality power receiving/ distributing equipment testing apparatus for a network, which enables checking for a function test of three principle elements in a power receiving/distributing equipment for the network system as a whole.
ネットワーク受配電設備における三原則要素の機能試験をシステム全体で確認できる、高効率かつ高品質のネットワーク受配電設備試験装置の提供。 - 特許庁 - To provide a method of testing a soil of an engineering work material, capable of accurately predicting trafficability of the engineering work material in a rainy weather, used as an embankment for a roadbed, a subgrade, or the like.
路盤や路床などの盛土に用いられる土木工事材料の雨天時でのトラフィカビリティを正確に予測することのできる、土木工事材料の土質試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing device and a test method of implemental assembly that can examine the strength of a predetermined part in an implemental assembly in such a manner that the actually produced fracture form may be realistic.
実装組立品における所定部分の強度を、実際に生じる破断形態に合うように試験することができる実装組立品の試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an alternating current load device, capable of conducting load test of an inverter, by inputting pulse width alternating voltage width controlled alternating voltage, using a comparatively simple constitution, regarding the alternating loading device for testing inverter load test.
インバータの負荷試験を行う交流負荷装置に関し、比較的簡単な構成により、インバータのパルス幅制御出力交流電圧を入力して、インバータの負荷試験を行う。 - 特許庁 - To provide a probe card which is provided with a number of probes that can be surely brought into contact with a circuit by a small pressing force when the circuit is subject to electric testing, and that are arranged in highly positional accuracy.
回路の電気的検査において、小さい押圧力にて確実に回路と接触するとともに位置精度良く配列された多数のプローブを有するプローブカードを提供する。 - 特許庁 - To provide a remote testing system for a plant controller which can be easily realized without the need of manual aid on the spot for a test and without the need of new wiring or the like for the test.
試験のための現地での人手を不要とし、かつ試験のための新たな配線等が不要で、容易に実現できるプラント制御装置の遠隔試験方式を提供する。 - 特許庁 - A quality judging specification value for an avalanche proof level test carried out as substitution for the PBSOA proof level test for securing a PBSOA proof level is determined based on a sample of the testing objective semiconductor element.
試験対象半導体素子のサンプルから、ＲＢＳＯＡ耐量を保証するＲＢＳＯＡ耐量試験の代替として行うアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値を決定する。 - 特許庁 - An operation testing serial digital signal inputted to the input terminal 11b is converted into an n-bit parallel digital signal through a serial/parallel converter 17, an n-bit counter 18 and a flip flop(FF) 19.
シリアル／パラレル変換部１７乃至フリップフロップ１９は、入力端子１１ｂに入力される動作テスト用のシリアルディジタル信号をｎビットパラレルディジタル信号に変換する。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for controlling recording on an optical recording medium capable of determining higher recording power even a little in a range in which favorable recording is possible, and to provide a method for testing.
良好な記録が可能な範囲で少しでも高い記録パワーを決定することができる光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査方法の提供。 - 特許庁 - To provide an electrolytic solution which has less increase of resistance of the negative electrode and in which capacity degradation of the battery is suppressed even if a high temperature storing testing is carried out, and a secondary battery using the same.
負極の抵抗増加が少なく、かつ、高温保存試験を行なっても電池の容量低下が抑制される電解液およびそれを用いた二次電池を提供する。 - 特許庁 - This endurance testing machine is equipped with first and second rollers 3 and 4 for putting a disk 1 therebetween, a pressure applying part 7 for pressing the rollers 3 and 4 against the disk 1, and a drive part 5 for rotatively driving the first roller 4.
ディスク１を挟み込む第１のローラ３及び第２のローラ４と、各ローラ３，４をディスク１に押しつける加圧部７と、第１のローラ４を回転駆動する駆動部５とを備える。 - 特許庁 - For a burn-in test that energizes a semiconductor device 5 in a high-temperature atmosphere for a specific amount of time, the semiconductor device 5 is supplied to a substrate 4 for testing where a number of sockets 3 are arranged on an insulating substrate l.
そのため、半導体装置を試験用基板に装着する前に実施しているが、少数の不良品のために全数短絡試験をすることは無駄であった。 - 特許庁 - To provide a method for testing an application program for inquiring of a client-server type data base system and a recording medium where the program for implementing the method has been recorded.
クライアント・サーバ型のデータベース・システムへの問合わせを行うアプリケーション・プログラムをテストする方法及びこの方法を実現するためのプログラムを記録した記録媒体を提供すること。 - 特許庁 - To provide a suction device for an electronic component testing device capable of ensuring a uniform pushing pressure at the time of pressing an electronic component to be tested in an adhered state by suction against the contact part of a test head.
被試験電子部品を吸着した状態でテストヘッドのコンタクト部へ押し付ける際の押圧力を均一化できる電子部品試験装置用吸着装置を提供する。 - 特許庁 - As the result that the testing access is executed in one or more access routes by a failure specification means 11c, the constituent element of the failure point candidate that is last one is set as the failure point.
障害特定手段１１ｃにより、１以上のアクセスルートでテスト用アクセスが実行された結果、最後の１つとなった障害箇所候補の構成要素が障害箇所とされる。 - 特許庁 - To provide a method for testing a communication apparatus by which existence of a fault in a stand-by system can be known during the operation of an active system so as to improve a serviceability.
運用系の運用時において待機系の障害の有無を知ることができるようにし、これによりサービス性の向上を図った通信装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a ground strength indicating method for facilitating an analysis of a result of survey, particularly of soil texture, after conducting the survey of ground strength by a penetration testing machine, and to provide an apparatus for use in the method.
貫入試験機により地盤強度を調査した後、その調査結果、特に土質の分析を容易にした地盤強度表示方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁 - The suitability testing apparatus is provided with a main shaft 21 for supporting the tire mounted to the tire slip preventing member, a tire weight 3 for pressing the tire and a motor 11 for driving and rotating the main shaft 21.
タイヤ滑り止め部材が装着されたタイヤを軸支するメインシャフト２１と、前記タイヤを押圧するタイヤ加重部３と、前記メインシャフト２１を回転駆動させるモータ１１とを備える。 - 特許庁 - The hole part 37 is provided in the position in which contacts 51, 52 of continuity testing implements 53, 54 can be brought into contact with terminal main body parts 11 when the rear holder 4 is in the temporary engaging position.
この孔部３７は、リアホルダ４が仮係合位置にあるときに、導通検査具５３、５４の接点５１、５２が接続端子２の端子本体部１１に接触可能な位置に設ける。 - 特許庁 - The purity drift is controlled by measuring the reflection factor of the light of the graphite membrane 17 via a gap for the inner wall of the panel, thereby the purity drift can be controlled correctly by a nondestructive testing.
パネル内面に対して間隙を介して黒鉛膜17の光反射率を測定することによりピュリティドリフトを管理するので、非破壊試験によりピュリティドリフトを適正に管理できる。 - 特許庁 - To provide a hardness tester and a hardness testing method, capable of efficiently measuring the hardness of samples of different thickness and samples of unspecific shapes and improving the reliability of measurement results.
厚さの異なる試料や不特定な形状の試料の硬さを、効率よく測定でき、且つ測定結果の信頼性を向上させる硬さ試験機及び硬さ試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a thermoplastic resin composition for a molded article having excellent shape-holding properties with a small deformation degree at thermal cycle testing as well as excellent molding processability, appearance, and impact resistance.
成形加工性、成形外観、耐衝撃性及び冷熱サイクルにおける変形の度合が小さく形状保持性に優れた成形体を与える熱可塑性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁 - To easily assure quality over the full length of a long solid insulation cable, using an inexpensive testing facility of a relatively light weight.
比較的軽量、安価な試験設備を用いて長尺の固体絶縁ケーブルの全長にわたる品質保証を容易に行うことができるようにしたケーブルの試験方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent deviation of a wind test model from a wind tunnel measuring part, to mitigate restriction of a test range, and to reduce a transient phenomenon at the free flight shifting time, concerning a dynamic wind runnel testing device and a method.
動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁 - To provide an ultrahigh temperature thermal expansion testing device capable of simultaneously measuring a thermal expansion test by a contact method using a bar-shaped test piece and a thermal expansion test by a non-contact method.
棒状試験片を用いた接触法による熱膨張試験と非接触法による熱膨張試験とを同時に計測できる超高温熱膨張試験装置を提供する。 - 特許庁 - To realize a magnetic leakage flux testing method capable of reducing a noise signal following to it even in the case of changing a distance between a magnetic sensor and a ferromagnetic element.
磁気センサーと強磁性体の間の距離が変化した場合等においても、それに追随して雑音信号を低減させることができる漏洩磁束探傷方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent an overvoltage from being applied to a load and facilitate wire connection work at the time of testing by detecting a state of phase interruption of a neutral line extending from a power source to a load connection point.
電源から負荷接続点に達する中性線路の欠相状態を検出して、負荷への過電圧印加を防止すると共に、試験する際の結線作業を容易にする。 - 特許庁 - To provide a friction testing method that can simulate damage to a tool used to manufacture a seamless steel pipe and evaluate performance of the tool and a lubricant which are actually used.
継目無鋼管の製造で用いる工具に生じる損傷を模擬することができ、実際に使用する工具や潤滑剤の性能を評価できる摩擦試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test pallet tool for game machine test system which reduces work load when testing a game machine, improves work efficiency, is high in versatility, and reduces the cost of system.
遊技機器を検査する作業負荷を軽減し、作業能率を向上させ、汎用性が高く、設備コストを安価にする、遊技機器検査設備の検査用パレット治具を提供する。 - 特許庁 - Two timings are generated at a prescribed interval n2 which is shorter than 1/2 of a minimum cycle as the lower limit of an operating cycle so as to correspond to the operating cycle of this semiconductor testing apparatus.
半導体テスト装置の動作周期のそれぞれに対応させて、動作周期の下限である最少周期ｎの１／２より短い所定間隔ｎ２で２つのタイミングを発生させる。 - 特許庁 - To provide an automatic distillation testing device capable of automatically measuring distillation temperature and quantity of distillate by using a condenser of a simple configuration and implementing measurement independently of the quantity of a specimen.
留出温度、留出量の測定を自動化し、凝縮器を簡易な構成とし、試料の採取量に係らず試験を実施することのできる自動蒸留試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a high-function semiconductor device testing jig at low cost even if the number of pins of the device is increased, and capable of minimizing decline of measuring accuracy caused by mutual interference of wiring.
デバイスのピン数が増加しても、低コストで、配線の相互干渉による測定精度の低下を最小限にとどめることのできる、高機能半導体デバイス試験治具を提供する。 - 特許庁 - To provide a diversity evaluation signal generating device capable of testing receiving diversity at low cost by enabling generation of test signals of a plurality of systems with one signal generator.
１台の信号発生器で複数系統の試験信号を発生可能とすることにより、受信ダイバーシティの試験を低コストで行えるダイバーシティ評価信号発生装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of testing a semiconductor wafer and an integrated circuit which increases the efficiency of the utilization of a space for test structures in scribed lines formed in an integrated circuit process.
集積回路プロセスにおいて形成されるスクライブライン内において、テスト構造のためのスペース利用の効率を増大させた、半導体ウエハおよび集積回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁 - The voltage regulator circuit, capable of regulating voltages at a plurality of voltage sources has a testing control unit, a multiplexer, a comparator and a BIST (built-in self test) unit.
電圧調整回路として、試験制御装置とマルチプレクサとコンパレーターとＢＩＳＴ装置とを備える、複数の電圧源の電圧を調整できる電圧調整回路を用いる。 - 特許庁
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- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
