「Testing」を含む例文一覧(14405)
＜前へ 1 2 .... 224 225 226 227 228 229 230 231 232 .... 288 289 次へ＞- The moderate and low-speed input and output circuits are more flexible, for example, having preset, enable, and clear as control line inputs, and can support JTAG boundary testing.
中低速入力および出力回路は、例えば制御ライン入力としてプリセット、イネーブルおよびクリアを有してより柔軟であり、ＪＴＡＧバウンダリ・テストを支援することができる。 - 特許庁 - The method for testing water resistance of the cured thermosetting resin product includes a process for immersing the cured the thermosetting resin product 4 in water 3 in a high atmospheric pressure atmosphere.
熱硬化性樹脂硬化物の耐水性試験方法であって、熱硬化性樹脂硬化物４を高気圧雰囲気中の水３に浸漬する工程を有することを特徴とする。 - 特許庁 - To provide an accelerated deterioration testing method enhanced in a correlation with outdoor exposure with respect to a sealing material containing polyether based polyurethane, and to provide a deterioration degree evaluation method of high precision.
ポリエーテル系ポリウレタンを含んでなるシーリング材について、屋外暴露と相関性の高い促進劣化試験方法を提供し、かつ精度の高い劣化度評価方法も併せて提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device and a method of testing a semiconductor memory device having a high degree of freedom in setting conditions of a stress test, and detecting various defects.
ストレス試験の条件設定の自由度が大きく、様々な欠陥を検出可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の試験方法を提供することである。 - 特許庁 - Thereafter, a power supply voltage and a first test signal are supplied from a testing apparatus body through the probe pin to the semiconductor chip A under conditions determined by a specification and a sorting test is implemented.
その後、試験装置本体からプローブピンを介して半導体チップＡに仕様で定められた条件で電源電圧と第１のテスト信号とを供給し、選別試験を実施する。 - 特許庁 - To manufacture a coping which fits with an abutment tooth model more appropriately relating to a method for testing a coping and a method of manufacturing a coping using the same.
本発明は、コーピングの検査方法および、それを用いたコーピングの製造方法に関するもので、支台歯模型に、さらに適切に嵌合するコーピングを作ることを目的とするものである。 - 特許庁 - To provide a continuous abrasion testing device capable of performing an abrasion test not in a batch style but continuously in succession without opening a lower tank or an upper tank, and improving efficiency.
バッチ式ではなく、下部タンクや上部タンクを開放せずに連続的に継続して摩耗試験を行うことができ、効率向上を図り得る連続式摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a load testing device having a simple constitution capable of verifying the degree of keeping a rotational frequency in the fixed state, against fluctuation of a load torque.
負荷トルクの変動に対して、回転数がどの程度一定で保持することができるのかを検証することができる簡易な構成の負荷試験装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide an electrical apparatus testing device capable of preventing an electrical apparatus operation test from being performed with a test plug being inserted in a test terminal by mistake before a signal line is disconnected.
信号線路を遮断する前に誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供する。 - 特許庁 - A substrate 206 for temperature characteristic inspection is constituted by a receiving side signal generator 12 using self-testing function incorporated IC 17, an error detector 13 and a transmitting side signal generator 14.
セルフテスト機能内蔵ＩＣ１７を用いたる受信側信号発生器１２、エラー検出器１３および送信側信号発生器１４により、温度特性検査用基板２０６を構成する。 - 特許庁 - To provide an impact testing device capable of applying a shock nearly equivalent to that of a fall test to a specimen with high reproducibility without increasing the height of the device.
装置の高さを大きくすることなく、落下試験と略等価といえる衝撃を高い再現性をもって供試体に加えることが可能な衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing method by which reliable diagnosis of a function of a tank ventilation valve between an internal combustion engine and a fuel vapor tank can be made attainable regardless of fuel components of a recovery gas.
回収ガスの燃料成分に係わり無く、内燃機関と燃料蒸気タンクとの間のタンク排気弁の機能の信頼性のある診断を可能にする試験方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent ground water flowing out of a test drilled hole from flowing out to an outside of a hole, while elevating a device support member for inserting a testing device into the test drilled hole.
試験装置を試錘孔内に挿入するための装置支持部材を昇降させながら尚且つ試錐孔から湧き出る地下水の孔外への流出を防止することを可能とする。 - 特許庁 - To easily detect material flaws for a complicated shape of a testing body, for which angle beam flaw detection and surface wave flaw detection are difficult to be applied in a normal method, in particular the material flaw generated in a cylindrical face.
通常の方法では斜角探傷や表面波探傷の適用が困難な、複雑形状の試験体の、特に円筒面に発生する材料きずを容易に検出する。 - 特許庁 - To provide a urine collection tube that makes the transporting of urine specimens easier and can reduce the number of transferring times of the urine specimen required for appropriately testing or assaying the specimen.
尿標本の輸送を簡単にし、尿標本を適切にテストまたは分析するために必要な移し変えの回数を減少させる管を提供することを課題とする。 - 特許庁 - In the printed wiring board having a surface layer pattern, an internal layer pattern and a through-hole for connecting the surface layer pattern and internal layer pattern, the testing pad is disposed at a position for connecting the through-hole and pattern.
表層パターンと、内層パターンと、表層パターンと内層パターンを接続するスルーホールとを備えたプリント配線板であって、前記スルーホールとパターンとの接続部位にパッドを設けた。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for an actuator, that prevents physical breakage such as crack, chip, or fracture while increasing the rigidity, and provide a switch device including the actuator, and a testing device including the switch device.
剛性を高めつつ、割れ、欠け、またはヒビ等の物理的な破壊を防ぐアクチュエータの製造方法、およびアクチュエータを備えるスイッチ装置、スイッチ装置を備える試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an excreta testing device for preventing a user from getting flustered by a determination result by reporting the measurement result in a form, so that the user can easily connect the result to improvement in living.
測定結果を使用者が生活改善に結び付け易い形で報知することにより、使用者が測定結果でとまどうことのない排泄物測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a simple method for testing function of suppressing increase in quantity of fat essential to investigate a material having function of suppressing increase in quantity of fat.
脂肪組織における脂肪量増加抑制能力を有する物質を探索するために必須となる、簡便な脂肪量増加抑制能力の検定方法を提供すること。 - 特許庁 - To obtain a heat spreader but that it can be removed from a wiring board when a defect is found after testing repairing of the wiring board or an electronic component mounted thereon, e.g. a semiconductor element, can be carried out.
試験後に不良が発見されても配線基板から取り外しでき、配線基板やそこに実装された半導体素子等の電子部品の改修作業が行えるようにする。 - 特許庁 - To provide a method for preparing an article having a thermal-spray coating and, in more detail, to provide a method for testing such an article in order to assure the integrity of the joining of the coating to an article substrate.
本発明は、溶射皮膜を有する物品の作製に関し、より詳細には、皮膜と物品基材間の結合の完全性を保証するための、このような物品の試験に関する。 - 特許庁 - After testing is terminated, high-speed sampled data stored in the memory card 108 are transmitted to the data processor 200 and the data processor 200 synthesizes the low-speed and high-speed sampled data.
試験終了後、メモリカード１０８に記憶されている高速サンプリングデータをデータ処理装置２００に伝送し、データ処理装置２００は低速および高速サンプリングデータを合成する。 - 特許庁 - An inclined stage of this permeability testing device is provided with structure for supporting an upper plate 5 and a lower plate 6 in the state of inclining at a specified angle from a horizontal direction in vertical section.
透過性試験装置の傾斜ステージは、上部プレート５及び下部プレート６を垂直断面において水平方向から所定角度傾斜させて支持する構造を備える。 - 特許庁 - To provide an artificial network switch testing device capable of verifying validity of a protocol while maintaining synchronism between two devices in a state of traffic close to that in an actual environment.
実環境に近いトラフィックを発生させた状態で２台の装置の同期を保持しながらプロトコルの妥当性を検証することができる擬似ネットワークスイッチ試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing instrument for immunoassay low in manufacturing cost, capable of stably holding a liquid reagent, until the start of reaction and which is capable of starting immunoassay using an easy operation.
製造コストが低く、かつ反応開始まで安定に液状試薬を保持できると共に、容易な操作で免疫検定を開始できる免疫検定用試験器具を提供する。 - 特許庁 - Each pad 12 is placed in different positions so that a wide bonding region 13 for bonding and a narrow contact region 14 for electric testing make nearly a T-shape in a plane view.
各パッド１２は平面視でボンディング用の幅広の接合領域１３と電気的テスト用の幅の狭い接触領域１４とを略Ｔ字型をなすよう異なる位置に設ける。 - 特許庁 - Thereby, adjustment time reduction and cost reduction are attained along with dispensing with an external complicated measuring instrument for testing or the like, and facilitating the recovery time measurement.
これにより外付けの複雑な試験用計測器などを不要にでき、回復時間の測定を容易に行うことができるとともに、調整時間の削減及びコスト低減が可能となる。 - 特許庁 - The pressure leakage test in the cylinder bore 3 is carried out by a pressure leakage testing machine 31 by using parts for forming the coating layers 29, 49, and the inside diameter is measured by a gap sensor 53.
これら各コーティング層２９，４９を形成する部位を利用して圧漏れ試験機３１にてシリンダボア３内の圧漏れ試験および、ギャップセンサ５３による内径測定を行う。 - 特許庁 - A plurality of light sources 20 contain the light source irradiating light having several different colors, and intensity of the light of each color is controlled according to predetermined testing contents.
複数の光源２０には、何種類かの異なる色の光を放射する光源が含まれており、各色の光の強さは、所定の試験内容に応じてそれぞれ制御される。 - 特許庁 - To test a plenty of LEDs in several times without complexing and increasing a price of an apparatus, thereby reducing a time and labor required for testing.
装置の複雑化及び高価格化を招くことなく、多数のＬＥＤを複数回に分けて試験することを可能し、それにより試験に要する時間及び労力を低減することにある。 - 特許庁 - To provide an IC tester (semiconductor device-testing apparatus) which can restrict ringing generated when a response waveform from a DUT (semiconductor device to be tested) is multiple reflected in a transmission line between the DUT and a pin electronics.
ＤＵＴからの応答波形がＤＵＴとピンエレクトロニクス間の伝送路で多重反射して発生するリンギングを抑制することができるＩＣテスタを提供することにある。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit device which can perform a test of many device en bloc even in a test device testing a semiconductor integrated device in a state in which input/output pins are short-circuited.
入出力ピンを短絡した状態で半導体集積回路装置をテストするテスト装置においても、多数個の一括テストが可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a novel technique capable of testing the slipperiness of a container under a test condition close to holding by fingers and utilizing the data of the test as highly reliable data.
人指による把持に近い試験条件で容器の滑り性を試験することができ、かつ、その試験のデータを信頼性の高いデータとして利用すること可能な新規な技術を提案する。 - 特許庁 - To provide particular performance data that are not generally obtained by a large-scale integrated testing method by evaluating the performance characteristic of each memory cell in particular about a random access memory cell.
ランダム・アクセス・メモリ・セルに関し、特に、個々のメモリ・セルの性能特性を評価し、それによって、一般に大規模統合テスト方法では得られない特定の性能データを与える。 - 特許庁 - To provide a heat cycle testing device and a heat cycle test method capable of giving a temperature gradient to a sample, and fluctuating periodically the temperature of an evaluation object portion of the sample.
試料に温度勾配を持たせられ、しかも試料の評価対象部位の温度を周期的に変動可能な熱サイクル試験装置及び熱サイクル試験方法を提供する。 - 特許庁 - To significantly shorten the testing time, without having to perform metering (carrying) test from a metering initial value (all zero) up to overflow, in an electronic watthour meter that performs overflow test.
オーバーフロー試験を行う電子式電力量計において、計量初期値（オール０）からオーバーフローまでの計量（桁上げ）試験を行うことなく、試験時間を大幅に短縮する。 - 特許庁 - When the control mode is to be changed, the feedback and target value signals maintain complete continuity, thus completely eradicating anxiety where the material- testing machine generates shock.
制御モードの切換に際してフィードバック信号と目標値信号とが共に完全な連続性を維持することから、材料試験機がショックを発生するおそれが完全に払拭されている。 - 特許庁 - To provide a tire curbstone run-over testing method and device that can dispense with a plurality of test vehicles, facilitate the maintenance, and prevent a damage in a measuring apparatus.
複数台の試験車を不要にすると共にメンテナンスを容易にし、かつ測定機器に対する損傷を防止することが可能なタイヤ縁石乗り越し試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - A test apparatus to be an object of calibration includes a socket board 32 with a plurality of connector pins Ps to which a DUT is fixed directly or indirectly during a period of testing.
キャリブレーションの対称となる試験装置は、試験時においてＤＵＴが直接的または間接的に装着される複数のコネクタピンＰｓを有するソケットボード３２を備える。 - 特許庁 - To provide an electric property testing device for a semiconductor device capable of effectively preventing unfavorable appearance due to particles and improper electrical property (shoot, etc.), in the next test process.
半田屑による概観不良、及び次テスト工程での電気的特性不良（シュート等）を効果的に防止することができる半導体装置の電気的特性試験装置を提供する。 - 特許庁 - In advance of testing the semiconductor device, the relation between the noise quantity and the delayed time is determined by using an LSI 10 for evaluation having a delay measuring circuit 11 and a noise generating circuit 12.
半導体装置の試験にあたって、遅延測定回路１１とノイズ発生回路１２とを有する評価用ＬＳＩ１０を用いて、ノイズ量と遅延時間の関係とを求めておく。 - 特許庁 - To provide a device and a method for testing a magnetic recording medium, by which an environment inside the magnetic disk drive is reproduced with higher fidelity by using particles which are finer than the conventional particles.
従来よりも微細な粒子を用いて、磁気ディスク装置内の環境をより忠実に再現することができる磁気記録媒体の試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To identify new polymorphism lowering a drug metabolism activity of CYP3A4 and to provide a method for testing related to the drug metabolism activity using the polymorphism as an index.
ＣＹＰ３Ａ４の薬物代謝活性を低下させる新たな多型を同定し、該多型を指標とした薬物代謝活性に関する検査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - The testing device 20 stores the archive 13a and the archive managing file 13b in a temporary directory 21 and stores a file, with which the archive 13a is expanded, in a product directory 22.
試験装置２０は、テンポラリディレクトリ２１にアーカイブ１３ａとアーカイブ管理ファイル１３ｂとを格納し、アーカイブ１３ａを展開したファイルを製品ディレクトリ２２に格納しておく。 - 特許庁 - To provide an electronic component thrusting apparatus capable of quickly contacting a test objective electronic component with a testing socket at an appropriate pressure, and an IC handler provided with the thrusting apparatus.
検査対象とする電子部品を検査用ソケットに対して適正な圧力で迅速に当接させることのできる電子部品の押圧装置、及び該押圧装置を備えるＩＣハンドラを提供する。 - 特許庁 - A reflectivity correcting means 14 outputs the correction data D18 to the test light intensity setting means 12 on the basis of reflectivity sampling data D17 acquired from a testing device 3A.
反射率補正手段１４は検査装置３Ａから得られる反射率サンプリングデータＤ１７に基づき補正データＤ１８を検査光強度設定手段１２に出力する。 - 特許庁 - To provide a method for testing a driving noise of road paving materials, which can measure the driving noise for a plurality of test samples of the road paving materials in a short time at low cost.
複数の道路舗装材の試験サンプルに対して短時間で、かつ低コストで走行騒音の測定を行なえるようにした道路舗装材の走行騒音試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a simplified and more rapid method of developing solutions that mitigate shadow corrosion, thereby potentially saving years of expensive in-reactor testing.
シャドウ腐食を軽減し、それによって、何年にも及び、かつ費用のかかる炉内試験を不要にする可能性を秘めた解決方法を開発する、より迅速で簡略化した方法を可能とする。 - 特許庁 - To achieve a semiconductor-testing device for speedily determining whether a semiconductor is appropriate, based on a difference between a positive-electrode voltage from a positive electrode amplifier and a negative-electrode voltage from a negative electrode amplifier.
正極アンプからの正極電圧と負極アンプからの負極電圧との差分に基づいての良否判定を高速に行なう半導体試験装置を実現することにある。 - 特許庁 - To provide a temperature-testing device, capable of quickly performing an operation confirming test at the accurate temperature by directly setting a part of an object to be tested to the predetermined temperature.
試験対象の部品を直接、所定の温度にすることができ、正確な温度での動作確認試験をしかも速く行うことが可能な温度試験装置を提供すること。 - 特許庁
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