「Testing」を含む例文一覧(14405)
＜前へ 1 2 .... 223 224 225 226 227 228 229 230 231 .... 288 289 次へ＞- To provide an apparatus (100 and 210) and a method to provide electrical loading to RF coils (56 and 144) of an MRI system (10) during testing/calibration, or operator training.
試験／較正あるいはオペレータ訓練の間においてＭＲＩシステム（１０）のＲＦコイル（５６、１４４）に電気的負荷を与えるため装置（１００、２１０）及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an abrasion test method and an abrasion testing device allowing the abrasion quantity of an elastic body in indoor evaluation to correspond accurately to the abrasion quantity at an actual car traveling time.
室内評価での弾性体の摩耗量を実車走行時の磨耗量に精度よく対応させることの可能な摩耗試験方法および摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁 - Testing time can be reduced because simultaneous reading and writing on all the memory modules, memory devices and memory units can be carried out by bypassing the memory identification information.
前記メモリ識別情報を無視することにより、全てのメモリモジュール、メモリ装置、乃至メモリユニットに対して同時に読み込んで書き込むことができるので、テスト時間が減少される。 - 特許庁 - To implant the tip of an introducer to the depth of a vein in the same pathway as a pathway for passing the tip of a 23G testing puncture needle in performing the depth venipuncture operation using Seldinger technique.
セルディンガー法による深部静脈穿刺術を行う際に、２３Ｇ試験穿刺針先端が通過した経路と同一の経路で、イントロデューサー先端を深部静脈に刺入する。 - 特許庁 - In this case, the predetermined thickness distribution of the calibration layer on the calibration testing substrate corresponds to the flat thickness distribution of a layer on the multilayed substrate obtained by the same predetermined process condition and a set.
この場合、較正試験基板上の較正層の所定の厚さ分布は同じ所定のプロセス条件・セットによって得られた多層基板上の層の平坦な厚さ分布に対応する。 - 特許庁 - To provide a testing apparatus and a method for opening, short circuit, a neck-down or inappropriate etching in which a trace is not brought into physical contact and is not excessively wasting time.
トレースが物理的に接触されるものではなく、また過度に時間を費やすことのない開放、ショート、ネックダウンまたは不適切なエッチングのためのテスト装置および方法を提供する。 - 特許庁 - To increase a generation voltage in a finish time point of a ramp-up time up to a reference generation voltage, even in a loading time, in an insulation withstand voltage testing device having a ramp-up function.
ランプアップ機能を有する絶縁耐圧試験装置において、有負荷時においてもランプアップ時間の終了時点で発生電圧を基準発生電圧にまで上げることを可能とする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device having a unit power supply automatic control function automatically measuring the ripple voltage of each unit power supply and checking whether the ripple voltage is within an allowable limit or not.
自動的に各ユニット電源のリップル電圧を測定してリップル電圧が許容範囲にあるかをチェックするユニット電源自動管理機能を備えた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - An obtained supporting element provides a minimum residual pressure of at least 4 psi for holding the brittle structure within the housing after testing at 900°C, at 200 cycles.
得られた支持要素は、９００℃で２００サイクルの試験後に前記ハウジング内に前記脆弱構造体を保持するために少なくとも４ｐｓｉの最小残留圧力を提供する。 - 特許庁 - To provide a simulated application test apparatus for a computer system that facilitates changes in testing conditions, and dispenses with the new programming of test programs, when the hardware of a computer system is changed.
テスト条件の変更を容易とし、かつ計算機システムのハードウェアが変更となった場合にテストプログラムの新規製作を不要とする計算機システムの模擬アプリケーション試験装置を得る。 - 特許庁 - To provide a method for testing an optical property of an optical fiber device which is capable of conducting loss measurement and reflection loss measurement by easily switching between them without need of processing of an optical fiber end.
光ファイバの終端処理が不要で、損失測定と反射減衰量測定を容易に切り替えて行える、光ファイバデバイスの光学特性検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a specimen simulating a pipe having a reduced thickness, to be used for testing for specifying the relation between the progressing state of the wastage of the pipe wall thickness and the vibration generated in the pipe.
配管内部の減肉の進行状況と、配管に発生した振動との関係を特定するための試験に用いられる減肉の発生した配管を模した試験体を提供する。 - 特許庁 - To provide a high temperature high pressure reaction testing equipment in which a test can be efficiently carried out even when a high temperature high pressure reaction test is carried out under various kinds of conditions relating to the reaction time or the like.
反応時間等の各種条件の高温高圧反応試験を行う場合であっても、効率よく実施することができる高温高圧反応試験装置を提供する。 - 特許庁 - The standard testing piece 12 is constituted of a first to fourth standard test pieces 12a to 12d and the strengths of the test pieces 12a and 12d are set to known strengths.
標準試験体１２は、第１〜第４標準試験体１２ａ〜１２ｄから構成され、標準試験体１２ａ，１２ｄの強度は、それぞれが既知の強度に設定されている。 - 特許庁 - To provide an apparatus for testing a liquid crystal panel, the apparatus capable of easily attaching or detaching a polarizer by forming a groove in a polarizer fixing unit and inserting a polarizer tool to fix the polarizer.
偏光板固定部に溝を形成して偏光板治具を挿入して偏光板を固定することで、偏光板の着脱が容易な液晶パネル検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a pathological condition examination apparatus for the coronary artery evaluating changes in the pathological conditions of microtubules of the coronary artery in real time using an image analysis by a noninvasive and monitoring exercise testing.
非観血的で監視的な運動負荷試験による画像解析を用いて冠微小血管の病態変化をリアルタイムに評価できる冠動脈病態検査装置を提供すること。 - 特許庁 - The method and the apparatus for testing the NQR enable the test of the existence of a nucleus selected in the sample (especially a nucleus in an integral spin quantum number such as ^14N).
本発明はまた、試料における選択された核（特に、^１４Ｎの如き整数スピン量子数の核）の存在についてテストするＮＱＲテストの方法および装置に関する。 - 特許庁 - To provide a ground fault protective relay system equipped with a capability of testing a ground fault direction relay having no danger of electric shock of an operator and capable of remarkably reducing a working time.
作業員の感電の危険性がなくかつ作業時間の大幅な短縮を図ることができる地絡方向継電器の試験機能を備えた地絡保護継電器システムを提供する。 - 特許庁 - To dispense with a line testing device exclusive for FCS check and to enable a normal operation confirmation test of FCS check during service in which a subscriber device is constantly stored.
ＦＣＳチェック専用の回線試験装置を不要にし、かつ、加入者装置を常時収容している運用中でのＦＣＳチェックの正常動作確認試験を可能にする。 - 特許庁 - To provide a method and a device for economically and speedily testing a complicated integrated circuit without introducing a delay to the timing of a critical path.
本発明の目的は、クリティカル・パスのタイミングに遅延を導入することなく、より経済的かつ迅速に、複雑な集積回路をテストするための方法及び装置を提供すること。 - 特許庁 - The testing tool 3 comprises a simulated input part 31 and a simulated output part 32 which respectively simulatively perform the operation of an input apparatus and the operation of an output apparatus and is connected to a test target controller 2.
テスト治具は、入力機器及び出力機器の動作を模擬的に行う模擬入力部３１及び模擬出力部３２を有し、テスト対象制御機器２に接続されている。 - 特許庁 - When the testing of the one-chip microcomputer 1 is completed, the tested result which was written in the EEPROM 13 is erased, and a control program to be executed by the CPU 11 is written there.
１チップ・マイクロコンピュータ１のテストがすべて終了すると、ＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれていたテスト結果が消去され、そこにＣＰＵ１１が実行する制御プログラムが書き込まれる。 - 特許庁 - To provide a maintenance testing device for a guiding indicator panel that is provided with a maintenance test function which performs a test without undergoing the restriction of an external system and which is for quickly performing a confirmation test after a failure.
外部システムの制約を受けずに試験を行え、故障後の確認試験を迅速に行うための保守試験機能を備えた案内表示盤の保守試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical scanner tester for simply testing deflection characteristics of an optical scanner for deflecting a laser beam by altering a deflecting angle of a reflecting mirror according to a drive signal.
駆動信号に応じて反射鏡の偏向角度を変えてビーム光を偏向する光学スキャナの偏向特性を簡易に試験し得る光学スキャナ試験装置を提供する。 - 特許庁 - Testing equipment applies tensile force to a base material 19 where a screw member 17 is mounted in a direction for pulling the screw member 17 from the base material 19 to measure the tensile force.
ねじ部材１７を取り付けた母材１９に、母材１９からねじ部材１７を引き抜く方向に加えた引張力を測定するための引張強度試験器に関する。 - 特許庁 - To improve the reliability of a microbiology validation system for monitoring and validating clinical culture laboratory test results occurring throughout a testing lifecycle of a clinical culture.
臨床培養の検査サイクルの期間を通して生じる臨床培養実験室検査結果をモニタしかつ確証する微生物確証システムをより信頼性のおけるものに改善する。 - 特許庁 - To provide a testing device of an IC capable of shortening a test time of the IC having a detection circuit and a circuit for changing an output signal corresponding to an output signal of the detection circuit.
検波回路と検波回路の出力信号に応じて出力信号を変化させる回路とを有するＩＣの試験時間を短縮するＩＣの試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a high speed bus interface of a semiconductor testing device for increasing transfer capacity, reducing the number of signal conductors of a bus, and capable of freely setting order of the signal conductors.
本発明は、転送容量を増加し、バスの信号線数を削減し、信号線の順番を自由に設定できる半導体試験装置の高速バスインタフェースを提供する。 - 特許庁 - To provide an optical pulse tester capable of appropriately performing offset processing even if background light is excessive and of detecting an optical return of weak testing light.
背景光が過大である場合においてもオフセット処理を適正に行うことができるとともに、より微弱な試験光の戻り光を検出することができる光パルス試験器を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing method for an information processor which efficiently test a function by instruction code constitution and operand dependency relation between instructions and a storage medium stored with its program.
命令コード構成および命令間のオペランド依存関係による機能の試験を効率良く行う情報処理装置の試験方法およびそのプログラムを記憶した記憶媒体を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing cytotoxicity, capable of quantifying the toxicity of a chemical subjected to the toxicity test with higher accuracy by accurately measuring the activities of cultured cells one by one.
培養細胞の細胞活性を１個ずつ正確に計測し、被毒性試験化学物質の毒性をより高い精度で定量化できる細胞毒性試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an emulation apparatus capable of appropriately emulating a testing device that is achieved by an open architecture and that is used while carrying modules developed by various vendors.
試験装置がオープンアーキテクチャにより実現され、様々なベンダによって開発されたモジュールを混載して使用する試験装置を適切にエミュレートすることができるエミュレート装置を提供する。 - 特許庁 - Then the access server 6 reads and analyzes the fault information from the fault management database 8 and instructs a test detection circuit 7 for testing a subscriber line to perform a test according to the result of analysis.
次に、故障情報を故障管理データベース８から読み出して分析し、分析結果に従って、加入者回線の試験を行う試験装置７へ試験実施の指示を行う。 - 特許庁 - To prevent overheating so as to prevent quality degradation of packed food or transported liquid by making planned sterilization conditions determined in a retort testing machine, usable almost as they are at a production site.
レトルト試験機で決定された計画殺菌条件をほぼ、そのまま生産現場で使えるようにして、過加熱を防止し、包装食品や輸液等の品質劣化を防止すること。 - 特許庁 - To provide a connector and its testing method enabling easy and visual checking of whether contacts are in normal positions without causing any connection failure and without using any tools.
本発明は接続不良に繋がることがなく、治具等を用いることなく、コンタクトが正規の位置にあるかを容易に目視で確認できるコネクタとその検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a flooring made of a fiber which is capable of preventing static electricity by simply placing it on a floor, and a test method for measuring its static electricity preventive function without causing differences among people involved in testing.
単に床に置くだけで静電気を除電することができる繊維製床敷物の提供、並びに個人差を生ずることなく除電性能を測定する試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a vapor-liquid two-phase flow simulation testing device capable of acquiring a flowing process in a steam generator or an IMR (Integrated Modular Reactor) wherein water is spontaneously circulated by buoyancy caused by generated steam.
発生蒸気による浮力によって水が自然循環する蒸気発生器やＩＭＲの流動過程を把握することができる気液二相流模擬試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing of cytotoxicity determinable toxicity of a chemical substance having a property to be poisoned in a high accuracy by directly, respectively and correctly measuring cytoactivity of a cultured cell.
培養細胞の細胞活性を直接、1個1個、正確に計測し、被毒性試験化学物質の毒性を高い精度で定量化できる細胞毒性試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a new method for testing a therapeutic or prophylactic agent of the destruction of bone in osteoporosis or rheumatoid arthritis, and further to provide a DNA usable in the method.
骨粗鬆症または慢性関節リウマチにおける骨破壊の治療または予防剤を試験するための新規な方法および該方法において用いられるＤＮＡを提供する。 - 特許庁 - To provide a data driver whose operating test can be performed easily and surely at a manufacturing stage and also whose testing time can be shortened and a display device in which the driver is used.
本発明は、製造段階において容易で確実な動作試験が行えると共に、試験時間を短縮することができるデータドライバ及びそれを用いた表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing device for a micro-component capable of being arranged on a sample mount within a sample chamber of an electronic microscope and applying outside force while observing a sample.
電子顕微鏡の試料室内の試料台に配設可能であって、試料の観察を行いながら外力を加えることができる微小部品用試験装置を提供する。 - 特許庁 - The composite film has also a suitable Δb* value (15 degree light-receiving angle) of ≤6.0 by accelerated damp heat testing in the dark under the atmosphere at 85°C and 85% relative humidity.
また、複合フィルムは、さらに、暗所における８５℃、相対湿度８５％雰囲気下での促進耐湿熱性試験におけるΔｂ＊値（受光角度１５度）が６．０以下であることが好ましい。 - 特許庁 - To appropriately evaluate the strength of a corner part by suppressing that a large load is locally charged on one end of a flange piece during a strength test, in a flange piece strength testing device.
フランジ片強度試験装置において、強度試験中にフランジ片の一端部に局所的に大きな荷重がかかることを抑制して適切なコーナ部の強度評価を可能とする。 - 特許庁 - On the lower surface of the wiring substrate 301, a lower surface side land 315 to which a solder ball 305 is connected and a testing land 315L to which the solder ball 305 is not connected are formed.
配線基板３０１の下面には、半田ボール３０５が接続された下面側ランド３１５と、半田ボール３０５が接続されないテスト用ランド３１５Ｌとが形成されている。 - 特許庁 - To provide a device for testing a bearing which generates static electricity without relying on external voltage and can check white detachment and which can also measure durable life in a short time.
外部電圧に頼らずに静電気を発生させ白色はく離を確認できると共に、短時間で耐久寿命を測定できる軸受試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - A concave surface adhesion test device 1 for testing an adhesion state of the adhesive sheet includes a concave surface bonding jig 30 and a concave surface pressing device 10.
粘着性シートの接着状態を試験する凹曲面接着試験装置１において、凹曲面接着試験装置１は、凹曲面貼り付け冶具３０と、凹曲面押圧装置１０を有する。 - 特許庁 - To suppress a fraud by making a situation that a fraud is hardly performed instead when making a situation that a fraud prevention device does not function in testing a game machine.
遊技機のテストを行う際に不正防止装置を機能しない状態とした場合に、代わりに不正行為の行いにくい状況を生じさせて不正行為の発生を抑制する。 - 特許庁 - To provide a test circuit capable of performing a DC test with a smaller number of pins, while suppressing the area of a test circuit which a semiconductor device has within to be small, and to provide a method for testing.
半導体装置に内蔵されたテスト回路の回路面積を抑えながら直流試験を少ないピン数で行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁 - The rubber friction testing machine 10 includes a measuring device 16 to which a rubber specimen p has been attached; and a test road surface material 15 relatively moving in contact with a surface of this rubber specimen p.
ゴム摩擦試験機１０は、ゴム試験片ｐを取り付けた計測装置１６と、このゴム試験片ｐの表面に接触し、相対移動する試験路面材１５とを備えている。 - 特許庁 - Further, desirable human RUP3 for use in screening and testing is provided as a specified nucleic acid sequence or as an amino acid sequence corresponding to the nucleic acid sequence.
更にスクリーニングおよび試験の際に使用するため好ましいヒトＲＵＰ３が、特定の核酸配列として、およびその核酸配列に、対応するアミノ酸配列として提供される。 - 特許庁
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