「Testing」を含む例文一覧(14405)

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  • To provide a material testing machine eliminated in the setting a gain prior to a test in a material testing machine having a motor as a drive source, automatically optimized in gain accompanied by the advance of the test and capable of performing more accurate control even if there is noise in the detection value of a control quantity and processing such as filtering or the like is applied.
    モータを駆動源とする材料試験機において、試験に先立ってゲインを設定する必要がなく、かつ、そのゲインを試験の進行に伴って自動的に最適化され、なおかつ、制御量の検出値にノイズがあったり、フィルタなどの処理が施されていても、より正確な制御を行うことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁
  • To provide a materials testing machine capable of always performing an accurate material test without requiring skills, without performing trial and error, or without requiring a long time when setting a control gain, and dispensing with setting of initial speed of a load mechanism at a test starting time, concerning the materials testing machine using a motor as a driving source of the load mechanism.
    モータを負荷機構の駆動源とする材料試験機において、制御ゲインの設定に際して熟練を要したり、試行錯誤を行ったり、あるいは長時間を要することなく、常に正確な材料試験を行うことができ、しかも、試験開始時における負荷機構の初期速度の設定をも不要とした材料試験機を提供する。 - 特許庁
  • The device for testing the semiconductor integrated circuit includes a pattern data generating means which generates test pattern data for testing a write operation in a memory of the semiconductor integrated circuit; and a write means which writes the test pattern data into a storage area of the semiconductor integrated circuit for storing the test pattern data.
    上記課題は、半導体集積回路のメモリへの書き込みを試験するための試験パタンデータを生成するパタンデータ生成手段と、前記試験パタンデータを前記半導体集積回路の該試験パタンデータを格納する記憶領域へ書き込む書き込み手段と、を有することを特徴とする半導体集積回路の試験装置により達成される。 - 特許庁
  • On the basis of picture information of the acquired exposure unit mark 54, the pusher stage 4 compensates for any positional deviation when it judges that a new exposure unit has been positioned in a testing part and, after compensating for the positional deviation, compensates for no positional deviation except in contact failure until it judges that the next exposure unit has been positioned in the testing part.
    取得した露光単位マーク５４の画像情報に基づいて、試験部に新たな露光単位が位置したと判断したときに、プッシャステージ４は位置ずれ補正を行い、位置ずれ補正を行った後、次の露光単位が試験部に位置すると判断するまでは、コンタクト不良となる以外、プッシャステージ４は位置ずれ補正を行わない。 - 特許庁
  • The semiconductor-testing device includes: a test board including a plurality of test pins, where the semiconductor device to be tested is mounted; a test part for testing continuity between the plurality of test pins and a plurality of device pins; and a control part for identifying test pins continuous to the device pins from among the plurality of test pins to allocate test pins connected to the device pins by referring to coordinates of the device pins.
    試験対象の半導体装置が搭載される、複数のテストピンを含むテストボードと、複数のテストピンと複数のデバイスピンとの導通を試験するテスト部と、複数のテストピンのうち、デバイスピンと導通するテストピンを特定し、デバイスピンの座標を参照してデバイスピンに接続するテストピンを割り当てる制御部とを有する。 - 特許庁
  • To provide a transmission line testing device for BS added channel capable of testing whether or not in particular a transmission line in a facility can transmit a BS-IF signal of the BS added channel without the need for an exclusive device to generate the BS-IF signal and to provide a transmission line test signal generating device for BS added channel.
    ＢＳ−ＩＦ信号を発生させる専用の装置を必要とすることなく、当該設備の特に伝送路がＢＳ追加チャンネルのＢＳ−ＩＦ信号を伝送できるかどうかを試験することができるＢＳ追加チャンネル用伝送路試験装置およびＢＳ追加チャンネル用伝送路試験信号発生装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a blood coagulation accelerant with surpassing stability coagulating any blood, even containing heparin, in a short time and a container for blood test favorably-used not only for normal blood testing but also for blood serum sampling in blood testing of an artificial dialysis patient or a thrombosis patient subject to heparin administration.
    血液、更にはヘパリンを含む血液であっても、短時間で凝固させるとともに、安定性に優れる血液凝固促進剤、及び通常の血液検査だけでなく、ヘパリン投与を受けている人工透析患者や血栓症患者の血液検査における血清の分取に好適に用いられる血液検査用容器を提供する。 - 特許庁
  • However, in particular fields, such as drug products, it takes a long time to conduct the testing and examinations etc. that are necessary for gaining the legally-mandated approvals etc. prescribed by the laws that are intended to ensure the safety of those products, which gives rise to the problem that while such testing and examinations are being conducted inventors cannot enjoy the benefits of the exclusive rights that they hold.
    しかしながら、医薬品等一部の分野では、安全性の確保等を目的とする法律の規定による許可等を得るにあたり所要の試験・審査等に相当の長期間を要するため、その間はたとえ特許権が存続していても権利の専有による利益を享受できないという問題が生じている。 - 特許庁
  • This test pattern evaluating device 2 comprising an evaluating condition output section 21, a test result input section 22 and a test pattern editing section 23, outputs test pattern evaluating conditions to a test pattern testing section 1 for carrying out testing of a test pattern using a tester to a semiconductor device to be measured, and corrects the test pattern.
    本発明のテストパターン評価装置２は、評価条件出力部２１と、試験結果入力部２２と、テストパターン評価装置２３とを備え、測定対象の半導体装置に対してテスタを用いてテストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に対してテストパターンの評価条件の出力したり、テストパターンの修正を行う。 - 特許庁
  • To provide an impact testing machine capable of effectively turning away the collision energy or the like against a wall while having a function equal to that of a conventional barrier type (truck type) collision testing machine to make it unnecessary to provide a large reaction force wall, reduced in its installation area by miniaturization and capable of suppressing even the transmission of vibration to the circumference.
    従来のバリア式（台車式）衝突試験機と同等の機能を有しながら、壁に対する衝突のエネルギ等を有効に逸らすことができ、もって大きな反力壁を設ける必要がなく、装置の小型化を達成して設置面積を小さくし、また、周囲への振動の伝達をも抑制することのできる衝撃試験機を提供する。 - 特許庁
  • To provide a circuit board testing device capable of bringing a probe into contact with a measuring point on a circuit board with a proper pressure, concerning the circuit board testing device having a circuit board holding tool for holding the circuit board and a probe holding tool for holding the probe for measuring the measuring point in contact with the measuring point on the circuit board.
    回路基板を保持する回路基板保持具と、回路基板の被測定点に接触して被測定点の計測を行うプローブを保持するプローブ保持具とを有する回路基板試験装置であって、回路基板の被測定点に適度な圧力でプローブを接触させることができる回路基板試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a testing circuit and a testing method which have function capable of conducting a contact test or the like of terminals of a semiconductor device mounted on a board at a low cost, and capable of starting with a simple starting sequence without needing exclusive terminals, and preventing an easy start-up in the state of usual application in a semiconductor integrated circuit.
    ボード等に実装された半導体装置の端子のコンタクト試験等を安価に行う機能を備えた試験回路およびその試験方法、および半導体集積回路に関し、専用の端子を必要とせずに簡単な起動シーケンスで起動し、かつ、通常の使用状態では容易に起動しないようにすることを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a method of a truncated life test capable of simply and quickly trial calculating the life level of the testing object even an unskilled person without generation of discrepancy of interpretation from the undamaged time while a part of the testing object are still subjected to the test without being damaged with high reliability in the truncated life test.
    打切り試験において、一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命水準を、試験データの解釈の違いを引き起こすことなく、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても試算できる方法を提供する。 - 特許庁
  • To obtain a testing agent for dental plaque dyeing which utilizes the advantages of both liquid type and tablet type testing agents while eliminating their defects pointed out, is hygienic and easily handleable without causing troubles of staining clothes or faces when in use and also makes it possible to quickly and surely perform even the dyeing of children dental plaque.
    液状タイプの検査薬と錠剤タイプの検査薬に指摘される欠点を解消しつつ両者の利点を生かし、衛生的で且つ取扱いが簡便で、使用時に衣服や顔面を汚すといった問題を生じること無く、しかも児童などに対しても歯垢の染色を迅速且つ確実に行なえる様な歯垢染色用検査薬を提供すること。 - 特許庁
  • To precisely and rapidly repeat a drop test for a number of test piece on an object to be tested or a number of the objects by the same shock loading by preventing a steel ball from hitting the objects two times regarding a drop testing apparatus for testing by dropping the steel ball from a specific height onto the object.
    本発明は、鋼球を所定の高さから被試験体上に落下させて試験を行う落下試験装置に関し、被試験体への鋼球の２度当りを防止し、被試験体上の多数の試験物あるいは多数の被試験体に同じ衝撃加重による落下試験を精度良くかつ迅速に繰り返し行うことを目的とする。 - 特許庁
  • In this testing method for testing a short circuit in the connecting end 2 of the semiconductor electronic device arranged inside a housing 1 and fixed on the conductor board, the level of each connecting end 2 is set to a level different from that of the adjacent connecting end at least once, and current inflow of the semiconductor electronic device is monitored while the respective connecting ends are set.
    ハウジング１内に配置され，導体板上に固定される半導体電子デバイスの接続端２の短絡を検査する方法であって，−各接続端２のレベルを，少なくとも一度，隣接する接続端と異なるレベルにセットし；かつ−各接続端２のセット間に，半導体電子デバイスの電流流入が監視される。 - 特許庁
  • To provide a forming method of a deflecting voltage can copy with both of PVC mode and NVC mode, and to provide a testing device can improve detection sensitivity by reducing scanning deviation of an electron beam caused by noises of a deflection control circuit in an electron beam type testing device based on an electrostatic deflector system of a multi-stage and multi-pole constitution.
    複数段多極構成の静電偏向器方式に基づいた電子ビーム式検査装置において、ＰＶＣモードとＮＶＣモードのいずれにも対応できる偏向電圧生成方法を提供すると共に、偏向制御回路のノイズに起因する電子ビームの走査ずれを低減して検出感度を向上できる検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an optical disk device control program capable of obtaining an optimum write setting value by testing recording quality and adding a user's arrangement to the obtained write setting value by allowing a user to set conditions, or the like for testing the recording quality and calculating the write setting value, and to provide a host computer therefor.
    記録品位テストを行うことで、より最適な書き込み設定値を求めることができ、なおかつ、ユーザーの手によって、記録品位テストや書き込み設定値の算出の条件等を設定できることで、求められる書き込み設定値にユーザーのアレンジを加えることができる、光ディスク装置制御プログラムおよびホストコンピュータを提供する。 - 特許庁
  • An interface control circuit 102 of the inspection module 100 is controlled by setting a value of a state control flag 121 by an LSI inspection device 130 when inspected, the testing data is output to the inspection-objective LSI, and a result data output in response to the testing data is read in from the inspection-objective LSI.
    検査時には、ＬＳＩ検査装置１３０が状態制御フラグ１２１の値を設定することによって、検査モジュール１００のインターフェース制御回路１０２が制御され、テスト用データの検査対象ＬＳＩへの出力、前記検査対象ＬＳＩから前記テスト用データに応じて出力される結果データの読み込みが行われる。 - 特許庁
  • This parallel bit test method of the semiconductor memory device comprises a step of writing data in each of many memory cells in the semiconductor memory device, a step of reading the data from each of many memory cells, a step of testing the data from each of many memory cells for a first test mode, and a step of testing the data from each of many memory cells for a second test mode.
    半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法は、半導体メモリ装置の多数のメモリセルのそれぞれにデータを書き込む段階と、多数のメモリセルのそれぞれからデータを読み出す段階と、第１のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、第２のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、を含む。 - 特許庁
  • The present invention includes a testing turn-on device 14 for making a liquid crystal panel turn on for testing, a timing device 22 for generating a signal of a predetermined timing, a photographing device 16 for photographing an image of the liquid crystal panel 10 in synchronization with the signal, and a turning-off device for detecting a turning-on pixel or a turning-off pixel from the photographed image.
    液晶パネルを試験的に表示させる試験点灯装置１４と、所定のタイミングの信号を発生させるタイミング装置２２と、前記信号と同期して液晶パネル１０の画像を撮影する撮影装置１６と、撮影した画像から点灯画素または消灯画素を検出する消灯装置を有するものである。 - 特許庁
  • The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.
    ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁
  • The device 4 has a first cylindrical member 24 having the testing chamber 26 therewithin and having an upper surface opened so as to open the testing chamber 26 to the exterior, a first piston member 23 inserted from the opening of the cylindrical member 24 and capable of moving in close contact therewith, and a first cylinder device 16 for advancing or retreating the piston member 23.
    高圧装置４は、高圧試験室２６を内部に有し、高圧試験室２６を外部に開放するように上面が開口された第１筒状部材２４と、第１筒状部材２４の開口から密接状態で移動自在に内挿された第１ピストン部材２３と、第１ピストン部材２３を進退移動させる第１シリンダ装置１６とを有している。 - 特許庁
  • A water outlet 61e formed on an uppermost part of the exhaust manifold cooling water jacket JM2 is communicated to a water testing port 66 for confirming the circulation of the cooling water by the operation of the cooling water pump 46, whereby the air retained inside of the exhaust manifold cooling water jacket JM2 can surely be discharged from the water testing port 66.
    排気マニホールド冷却ウオータジャケットＪＭ２の最上部に設けた水出口６１ｅを、冷却水ポンプ４６の作動による冷却水の循環を確認する検水口６６に連通させることで、排気マニホールド冷却ウオータジャケットＪＭ２の内部に滞留したエアを前記検水口６６から確実に排出することができる。 - 特許庁
  • The differentiation of the skin condition is that near infrared absorption spectra of more than two kinds of skin with different conditions are measured beforehand, multivariate analysis of the above near infrared absorption spectra and figure of merit of the skin characteristics is performed, and a near infrared absorption spectrum of the skin which is a testing sample is compared with the analysis result as an index to differentiate the skin condition of the testing sample.
    皮膚性状の鑑別に於いて、予め状態の異なる２種以上の皮膚の近赤外吸収スペクトルを測定し、前記近赤外吸収スペクトルと、皮膚性状の示性値とを多変量解析し、該分析結果を指標として、これと試験試料である皮膚の近赤外吸収スペクトルとを比較し、該試験試料の皮膚性状を鑑別する。 - 特許庁
  • The product shipment management system comprises a terminal for a production planning department, a terminal for a production counting department, a terminal for a quality testing department, a terminal for a shipment managing department, and a host computer connected to the terminals, in which each product is related to the specific terminals of the production planning and quality testing departments.
    生産計画部門の端末、生産計上部門の端末、品質判定部門の端末および出荷管理部門の端末と、これらの端末に接続されたホストコンピュータとを備え、個々の製品が特定の生産計上部門の端末および特定の品質判定部門の端末に関連づけられた製品出荷管理システムを用いる。 - 特許庁
  • Article 53 (1) The designated testing agency shall prepare a business plan and receipt and payment budget pertaining to the testing procedures in each business year and obtain an approval of the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism prior to the commencement of the said business year (in the business year in which the designation was granted, after the designation without delay). The same shall apply to the event of its revision.
    第五十三条　指定試験機関は、毎事業年度、試験事務に係る事業計画及び収支予算を作成し、当該事業年度の開始前に（指定を受けた日の属する事業年度にあっては、その指定を受けた後遅滞なく）、国土交通大臣の認可を受けなければならない。これを変更しようとするときも、同様とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Article 61 (1) Those who wish to consider the Operation Manager Examination or to be granted the issuance or reissuance of the Operation Manager Qualification Certificate shall pay the commission in the amount prescribed by the Ordinance of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism by taking into consideration of the actual cost to the State (for those who wish to consider the examination by the designated testing agency, the said designated testing agency).
    第六十一条　運行管理者試験を受けようとする者又は運行管理者資格者証の交付若しくは再交付を受けようとする者は、実費を勘案して国土交通省令で定める額の手数料を国（指定試験機関が行う試験を受けようとする者にあっては、当該指定試験機関）に納めなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Each common testing electrode Y is formed, such that the shape and size do not corresponding to the individually tested electrodes X, and one common testing electrode Y corresponds to a tested electrode group formed by two or more tested electrodes X in common.
    本発明の検査用治具基板は、被検査電極に対応する位置に検査用電極を備え、その少なくとも１つは、２個以上の被検査電極に共通に対応する共通検査用電極であり、共通検査用電極は、被検査基板における独立の配線ネットワークが互いに電気的な閉回路を形成することがない状態に形成されている。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method of a magnetic head for testing capable of generating a surface state equal to the surface state of a magnetic head after long time operation in a short time and with sufficient reproducibility so that evaluation of influence of the magnetic head to which a lubricant adheres by long time operation is efficiently performed and to provide a testing method using the same.
    長時間稼動により潤滑剤が付着した磁気ヘッドによる影響の評価を効率的に行うべく、長時間稼動後の磁気ヘッドの表面状態と同等の表面状態を短時間で再現性良く発生させることのできる試験用磁気ヘッドの製造方法及びこれを用いた試験方法を提供する。 - 特許庁
  • A control part 33 finds an accurate temperature of a testing solution 42 based on a signal which a heat radiation detector 17 receives a heat radiation (infrared ray) emitted from a liquid face of a testing solution 42 to output, and a current flowing amount to a heater 16 built in a blade body 122 of a paddle 12 is controlled to maintain the temperature within a specified range.
    制御部３３は、熱放射検出器１７が試験溶液４２の液面から放出される熱放射（赤外線）を受けて出力する信号に基づいて試験溶液４２の正確な温度を求め、その温度が規定範囲内に維持されるようにパドル１２の翼体１２２に内蔵された発熱体１６への通電量を制御する。 - 特許庁
  • In signal output processing for testing, a CPU (central processing unit) outputs a game machine error state signal as a signal for testing when a prize ball delivery monitoring timer is in time-out, the value of an over delivery number storage counter exceeds a specified value, the value stored in a total prize ball count storage buffer exceeds a specified value or a delivery halt flag is set.
    試験用信号出力処理にて、ＣＰＵは、賞球払出監視タイマがタイムアウトしている場合、過剰払出数記憶カウンタの値が所定値を超えている場合、総賞球数格納バッファの格納値が所定値を超えている場合、あるいは払出停止フラグがセットされている場合に、遊技機エラー状態信号を試験用信号として出力する。 - 特許庁
  • Additionally, the method for evaluating or screening whether a testing substance is an activator or inhibitor for or against a sensitizing substance is characterized by incubating a cell expressing CCR7, IL-23 and/or ATF-3, the sensitizing substance and the testing substance and detecting the expression of the CCR7, IL-23 and/or ATF-3 due to the cell.
    本発明はさらに、CCR7、IL-23及び／又はATF-3を発現する細胞と、感作性物質と被験物質とを一緒にインキュベートし、該細胞によるCCR7、IL-23及び／又はATF-3の発現を検出することを特徴とする、該被験物質が該感作性物質に対する活性化剤又は抑制剤であるか否かを評価する方法又はスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁
  • Looking at the example of the impact on the automobile industry, the EU member states agreed to implement certification testing for entire automobiles rather than for each component (full-body certification testing) and, as a result, an automobile which has been certified as having marketing authorization in any one EU country is automatically permitted to be sold in all the other member states.
    自動車産業への影響を例に挙げると、EU加盟国が、部品単位ではなく車一台ごとの認定検査（全型認定検査）を実施することに合意したことによって、EUのいずれかの国で販売許可の認定を受けた自動車は、自動的に他のすべての加盟国において販売することを許可されるようになった。 - 経済産業省
  • To provide an environmental testing apparatus capable of lowering a frost formation onto an evaporator of a cooler, even when conducting a room temperature aeration test to be conducted by introducing the outside air into a test chamber.
    試験室に外気を導入することによって常温曝し試験を行う場合でも、冷却器の蒸発器への着霜を低減することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a game capable of accurately executing a test based on a shift of a control state by accurately acquiring the shift of the control state of the game machine in a testing device side.
    試験装置側で遊技機の制御状態の遷移を正確に把握して正確な制御状態の遷移に基づいて試験を行うことができるようにした遊技機を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an optical recording medium for testing recording and reproducing which enables various kinds of optical memory devices to surely interchange CD-RW disk recording and/or reproducing.
    各種光記憶装置がＣＤ−ＲＷディスク記録及び／または再生互換を確実に行えるようにするための記録再生テスト用光記録媒体を提供すること。 - 特許庁
  • The wall part 7 is preferably arranged in the substantially same plane as the nozzle end face of the wind tunnel testing device 2 so as not to receive variation force due to the main stream F_1 as much as possible.
    壁部７は、主流Ｆ_1による変動力を可能な限り受けないように、風洞試験装置２のノズル端面と略同一平面に配置することが特に好ましい。 - 特許庁
  • This bench testing device 1 is equipped with a flat base (ground plane) 2, a noise source electric wire 3 connected to a noise generator 5, and an electric wire to be measured connected to a noise measuring device 6.
    このベンチ試験装置１は、平板状基台（グランドプレーン）２と、ノイズ発生器５に接続されたノイズ源電線３と、ノイズ測定器６に接続された被測定電線とを備えている。 - 特許庁
  • To provide a mounting component joining strength testing machine for expressing the joining strength of a mounting component to a mounting substrate only by the external force applied to the joining part of the mounting component.
    実装基板に対する実装部品の接合強度を実装部品の接合部に負荷された外力のみにより表現出来る実装部品接合強度試験機の提供。 - 特許庁
  • Electron beam is irradiated on a substrate 7 mounted on a mounting table 38 installed in a chamber 31 of the charged particle beam device, and a prescribed process like testing is carried out at the inside of the device.
    荷電粒子ビーム装置のチャンバー３１内の載置台３８に載置された基板７には電子ビームが照射され、当該装置内にて検査等の所定の工程が実施される。 - 特許庁
  • To provide a water tank for a covered waterway, capable of draining from any points of the wall of the water tank, without causing safety problem of vehicles, and a testing waterway laid with the same.
    車両の安全性の問題を招くことなく、水槽壁のいずれの箇所からも排水することが可能な冠水路用水槽及びそれを敷設した試験路を提供する。 - 特許庁
  • To prevent collision sound from occurring and the waveforms of vibrations from being affected by collision, by providing such a structure as to prevent a retainer from colliding with an end part of an outer cylindrical case in a vibration testing system.
    振動試験装置において、リテーナが外筒の端部に衝突しない構造とし、衝突音を発生させず、また衝突による振動の波形に影響が出ないようにすること。 - 特許庁
  • To provide a wetting apparatus capable of stabilizing a supply amount of water to a test strip and preventing any wetted portion from being in a distorted shape, and to provide a method for testing the strength of wetted paper.
    試験片に対する水の供給量を安定させることができ、湿潤部分の形状が歪にならない湿潤用器具及び湿潤紙力試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a steam type sterilization apparatus, capable of performing the sterilization of a small amount of a packed food or canned food in research laboratories or a testing laboratory, etc., and aiming to make it a small size.
    研究所や試験室等で少量の包装食品や缶詰の殺菌処理が簡便に行うことができる、蒸気加熱式殺菌機の小型化を目的とするものである。 - 特許庁
  • For testing in each test tank, lift mechanisms 81, 81A lift the adapters 3 from openings 82, 82A formed in the ceiling surface and only the boards are heated or cooled.
    各試験槽での試験時には、昇降機構８１、８１Ａによって天井面に形成した開口部８２、８２Ａからアダプタ３を引き上げ、基板２のみを加熱あるいは冷却する。 - 特許庁
  • To provide an endurance testing machine for a power transmission mechanism, for optionally conveying fluctuations of a belt tension to a driven pulley in line with a complicated operating state of an actual machine.
    実機の複雑な運転状態に即したベルト張力変動を任意に従動プーリに与えることが可能な動力伝達機構の耐久試験機を提供することである。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for culturing microorganisms in a medium in a proliferating way, and to provide a method and an apparatus for carrying out a water quality testing by utilizing the above method.
    培地中の微生物を増殖的に培養する微生物の培養方法および装置、ならびにそれを利用する水質検査を行うための方法および装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a ray path testing system and a light source power level monitoring method capable of easily monitoring abnormal emission of light source to be a cause of erroneous measurement and instable power.
    誤認測定の原因となる光源の異常発光、不安定出力を簡単に監視できる光線路試験装置及び光源出力レベルの監視方法を提供する。 - 特許庁
  • During the wafer testing, the probe provided with the probe styli as many as the number corresponding to one chip group is used and all probe styli are placed in contact with all chips of one chip group while the wafer 24 is rotated.
    そして、ウエハテスト時、１つのチップ群に応じた数だけのプローブ針を備えたプローブを使用し、ウエハ２４を回転させながら全プローブ針を１つのチップ群の全チップに接触させる。 - 特許庁
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