「Testing」を含む例文一覧(14405)

＜前へ 1 2 .... 228 229 230 231 232 233 234 235 236 .... 288 289 次へ＞
  • To reduce deterioration in measurement quality including error between output ports in the case of testing electric characteristics of a wireless apparatus by carrying out connection switching of a waveguide switch with high accuracy.
    導波管スイッチの接続切替えを精度良く行い、無線装置の電気特性試験時の、出力ポート間の誤差を含む測定品質の劣化を低減させることを目的とする。 - 特許庁
  • The allergic disease testing method with the level of expression of the genes in peripheral blood mononuclear cell as an index and a compound screening method for treating the disease are provided.
    末梢血単核球における該遺伝子の発現レベルを指標とする、アレルギー性疾患の検査方法、および該疾患の治療のための化合物のスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a handler and a testing device that can efficiently convey and test electronic components, and that can be simplified and made small.
    電子部品の試験および搬送を効率よく行うことができるとともに、装置の簡素化・小型化を図ることのできるハンドラおよび電子部品試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a cycle testing device and a cycle test method for acquiring an accurate cycle lifetime to a repeated impact load of an electronic component requiring reliability in radio communication.
    無線通信の信頼性が要求される電子部品の繰り返し衝撃負荷に対する正確なサイクル寿命を知ることが出来るサイクル試験装置及びサイクル試験方法を提供する。 - 特許庁
  • PIXEL TESTING METHOD, METHOD OF CORRECTING OUTPUT VOLTAGE OF PIXEL, DEVICE, PROGRAM, AND METHOD FOR PROCESSING DEFECTIVE PIXEL, AND RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM RECORDED THEREON
    画素の検査方法および画素の出力電圧の補正方法、並びに欠陥画素処理装置、欠陥画素処理プログラム、欠陥画素処理方法、および前記プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
  • A simple and inexpensive burn-in and testing mounting device for a grid array package with high terminal density is mounted by a support base having a plurality of C-shaped spring finger piece contact parts.
    端子が高い密度のグリッドアレイパッケージ用の、簡素で、安価なバーンイン及び試験用の取付け装置が、複数のＣ形のバネ指片接触部を有する支持ベースによって取り付けられた。 - 特許庁
  • A method for testing an allergic disease using the expression level of TRAIL gene in peripheral monocytes as an index and a method for screening a compound for treating the disease, are provided.
    末梢血単核球におけるTRAIL遺伝子の発現レベルを指標とする、アレルギー性疾患の検査方法、および該疾患の治療のための化合物のスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁
  • SPECIMEN-TESTING SYSTEM AND METHOD, COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM RECORDING SPECIMEN TEST PROCESSING PROGRAM BY COMPUTER, AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER CONDUCT SPECIMEN TEST PROCESSING
    検体検査システム、検体検査方法、コンピュータによる検体検査処理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、コンピュータに検体検査処理を実行させるためのプログラム - 特許庁
  • To provide a test bottle which can be easily detected while the function of testing a bottle detecting machine is performed, and to provide a labelling apparatus which can surely and easily detect such the test bottle.
    瓶検査機のテストという機能を果たしつつ、容易に検出可能なテスト瓶、及び、そのようなテスト瓶を確実にかつ容易に検出するラベル貼付装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and device for transferring a semiconductor device between trays used for testing the semiconductor device, by using a buffer tray for storing the semiconductor device.
    半導体装置を収納するためのバッファトレイを用いて前記半導体装置をテストするために用いられるトレイの間で、前記半導体装置を移送する方法と装置が開示される。 - 特許庁
  • An adjusting operator voices "Testing a microphone now." in front of the microphone 33 and then the input voice is converted into a digital voice signal, which is temporarily stored on a HDD 13.
    調整作業者がマイク３３に向かって「ただいまマイクのテスト中」などと発声すると、その入力音声がデジタル音声信号に変換されてＨＤＤ１３に一旦記憶される。 - 特許庁
  • To provide a method and system of testing the slider used in a head gimbal assembly and a disk drive to prevent defects in the manufacturing steps of a slider and cost increase in assembling steps.
    スライダの製造工程での欠陥を防ぎ、組み立て工程でのコストの増加を防ぐために、ヘッドジンバルアセンブリ及びデイスク装置に使用するスライダの試験方法及びシステムを提案する。 - 特許庁
  • By using the element-testing apparatus to which such a contact pin 1 is mounted, it is possible to accurately perform element testings, reduce the cost of the element tests and improve the working efficiency.
    このようなコンタクトピン１を搭載した素子試験装置を用いれば、精度よく素子試験を遂行することができ、素子試験の低コスト化且つ作業効率の向上を図ることができる。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device easily applicable to various kinds of semiconductor tests and capable of reducing the production cost and dealing with the change in a measurement device in a short delivery time.
    多品種の半導体テストに容易に対応出来、生産コストを低減出来、測定デバイスが変更になった場合でも、短納期で容易に対応出来る半導体テスティング装置を提供する。 - 特許庁
  • A current adjustment unit 22 adjusts the compensation pulse currents I_SRC and I_SINK to be generated in the testing process after the calibration, according to the measured power supply voltage V_DD.
    電流調節部２２は、測定された電源電圧Ｖ_ＤＤに応じて、キャリブレーション後の試験工程において生成すべき補償パルス電流Ｉ_ＳＲＣ、Ｉ_ＳＩＮＫを調節する。 - 特許庁
  • To provide a radio-frequency signal receiver with a small number of required parts, improved reliability, easy assembly and testing, and reduced manufacturing cost.
    本発明により、必要とされる部品点数が少なく、信頼性が改善され、組み立ておよび試験が簡単になり、製造コストが低減された無線周波数信号受信機を提供する。 - 特許庁
  • To provide a static electrification testing device that can test the relation between electric charges and electrostatic breakdowns, by intentionally electrostatically charging a device and controlling the electric charges.
    意図的にデバイスを帯電させ、また、その帯電量の制御を行なうことができて、帯電量と静電気破壊との関係を試験することができる静電気帯電試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a vibration testing system for facilitating control of response amplitude of the maximum displacement amount and the maximum acceleration of a test object to a target value, and a method for controlling the same.
    被試験体の最大変位量や最大加速度の応答振幅を目標値に制御することを容易にすることができる振動試験装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁
  • A testing support device 1 retrieves an input/output signal processed in the transmission processing apparatus 9 concerned from the transmission processing apparatus 9 actually employed in a network N.
    試験支援装置１は、ネットワークＮにおいて実際に運用されている運用通信処理装置９から、当該通信処理装置９において処理される入出力信号を取得する。 - 特許庁
  • To enhance test quality when test data for a scan-based testing method consist of random numbers and to statically specify and extract portions that degrade the test quality, without using simulations.
    スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質の向上を図り、また、シミュレータを使わずに静的にテスト品質を低下させる箇所を特定、抽出すること。 - 特許庁
  • A non-defective DUT is connected to any power supply current analyzing device among n-pieces of power supply current analyzing devices 1 to perform tests in the semiconductor testing apparatus 100.
    半導体試験装置１００において、ｎ個ある電源電流解析装置１１のうち、何れかの電源電流解析装置に良品であるＤＵＴを接続して試験を実行する。 - 特許庁
  • To provide a nonvolatile semiconductor memory which can perform efficiently the test of a data hold characteristic of a ferroelectric nonvolatile memory highly accurately and with less samples, and its testing method.
    強誘電体不揮発性メモリのデータ保持特性の試験を、高精度かつ少ないサンプル数で効率的に行える半導体不揮発性記憶装置およびその試験方法とを提供する。 - 特許庁
  • To provide a component testing device capable of improving throughput on a test of an electronic component by shortening a time followed by exchange of the electronic component into a test socket.
    電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device capable of suppressing cost increase, easily transferring miniaturizing devices, and suppressing decline in the quality of the device or working ratio decline of a manufacturing device.
    コスト増大を抑制し、小型化するデバイスの搬送も容易に行なえ、さらにはデバイスの品質低下や製造装置の稼動率低下をも抑制可能な半導体検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for simply testing leak in a testpiece such as a medical container made of a synthetic resin and a food package whose shape is deformed with a change in pressure.
    合成樹脂製の医療用容器や食品パッケージなどのような圧力変化に伴って形状変形を生じる試験体のリークテストを簡便に行う方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide on-off durability testing equipment for an on-off body capable of performing the on-off driving of the on-off body not only at an angle of rotation of 180° or less but also at an angle of rotation of 180° or more.
    １８０度以下の回転角度ではもちろん、１８０度以上の回転角度であっても開閉体を開閉駆動できる開閉体の開閉耐久試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a shaft center adjusting device for a material testing machine that can be attached without forming through holes on a load frame and allows a user to adjust tensile force after the attachment.
    負荷枠に貫通孔等を形成することなく取り付けが可能であり、また、取り付け後も引張力の調整が可能な材料試験機の軸心調整装置を提供する。 - 特許庁
  • To collect a series of test data from the start to the end of a test at a fixed sampling rate irrespective of length of testing time.
    試験時間の長さに関係なく、試験開始から終了までの試験データを、一定のサンプリングレートで収集することが可能な試験装置及び試験データの収集方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a non-halogen flame-resistant wire of phosphorus-free type which is applicable to BWR and PWR use, and also is applied to an inverse sequential method testing, having thermal resistance, radiation resistance, and high flame retardancy.
    ＢＷＲ用並びにＰＷＲ用に適用でき、かつ逆遂次法試験にも対応した耐熱性、耐放射線性、高難燃性の無リンタイプのノンハロゲン難燃電線を提供する。 - 特許庁
  • To provide a redundancy opperating method and a redundancy opperating device capable of shortening a period of time needed for the failure recovery of a memory device, and to provide a memory testing device with the redundancy opperating device.
    メモリデバイスの不良救済に要する時間を短縮することができるリダンダンシ演算方法及び装置並びに当該装置を備えるメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The substrate for IC testing apparatus 10 comprises an insulating substrate body 11; a plurality of principal surface-side terminals 21; a plurality of rear surface-side terminals; and a plurality of via conductors 42.
    本発明のＩＣ検査装置用基板１０は、絶縁性の基板本体１１、複数の主面側端子２１、複数の裏面側端子、及び、複数のビア導体４２等を備える。 - 特許庁
  • It is effective to impart a pitch changing structure to the socket itself for testing or mounting, by the above, the cost of interposer, space on a base board, related man power, and the like are eliminated.
    テスト用や実装用のソケット自体に、ピッチ変換機構を持たせることが効果的であり、これによりインターポーザーなどのコスト、基板上のスペース、伴う手間などを排除できる。 - 特許庁
  • To provide a method for lowering risk that a chip having the potential of becoming a defective product is transferred to the subsequent steps in a method of manufacturing semiconductor device and a semiconductor device testing apparatus.
    半導体装置の製造方法と半導体試験装置において、潜在的に不良になる可能性のあるチップを後の工程に出す危険性を低減する方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a simple, low-cost, and precise signal generator which can generate various test signals over a high-frequency region for testing the signal receiving performance of an array antenna or the like.
    アレイアンテナの受信性能などを試験するために高周波領域にわたって多様な試験信号を発生できる簡易・安価・高精度の信号発生装置を提供する。 - 特許庁
  • A data base containing data indicating the passing time of each wafer through each of a plurality of devices is prepared and whether or not each wafer has a certain kind of damage mark is discriminated by testing the wafers.
    データベースを作り、そのデータは各ウエーハが各複数台の装置を通過する時間を表して、複数個のウエーハをテストして、ウエーハがある種の損傷マークを有するかどうか判断する。 - 特許庁
  • To reduce a manufacturing time for a semiconductor memory by suppressing increase of a testing time due to transfer processing of information of a defective memory cell to a buffer memory from a fail memory.
    フェイルメモリからバッファメモリへの不良メモリセル情報の転送処理に起因する試験時間の長時間化を抑制し、以って半導体メモリの製造時間の短縮化を図る。 - 特許庁
  • This semiconductor integrated circuit 201 mounted on the board 100 comprises a normal circuit part composed of an internal logic part 113 and a circuit part 231 operating at the time of testing.
    基板１００に実装された半導体集積回路２０１は、内部ロジック１１３からなる通常の回路部分とテスト時に動作する回路部分２３１から構成されている。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for testing pleat retention of a woven fabric and a knitted fabric using an image pickup means which can reduce the measurement error to the practical range.
    計測誤差を実用可能な範囲にまで減らすことのできる撮像手段を用いた織物及び編物のプリーツ性試験方法及びその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • Article 75 If any person falls under any of the following items, an officer or employee of the designated testing agency who has done the violation shall be punished by a fine not more than one million yen. Any person who:
    第七十五条　次の各号のいずれかに該当するときは、その違反行為をした指定試験機関の役員又は職員は、百万円以下の罰金に処する。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Subsection 2 Registration of an Organization that Prepares Registration Examination Questions, and Appointment of a Designated Testing Agencies and Designated Training Agency (Articles 69-11 to 69-33)
    第二款　登録試験問題作成機関の登録、指定試験実施機関及び指定研修実施機関の指定等（第六十九条の十一—第六十九条の三十三） - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (2) A Designated Testing Agency which engages in Examination Affairs or its personnel shall be deemed as personnel that engage in public service pursuant to the provisions of laws and regulations, with regard to application of the Penal Code or other penal provisions.
    ２　試験事務に従事する指定試験実施機関又はその職員は、刑法その他の罰則の適用については、法令により公務に従事する職員とみなす。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (3) The competent minister may, when recognizing that the regulations in Article 19 paragraph (4) are no longer appropriate in terms of the fair implementation of Testing of Organisms, order those regulations to be changed.
    ３　主務大臣は、第十九条第四項の規程が生物検査の公正な実施上不適当となったと認めるときは、その規程を変更すべきことを命ずることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (iv) When it has cancelled Registration under the provisions of Article 21 paragraph (4) or paragraph (5), or ordered the work of Testing of Organisms to be suspended in part or in whole under the provisions of the said paragraph.
    四　第二十一条第四項若しくは第五項の規定により登録を取り消し、又は同項の規定により生物検査の業務の全部若しくは一部の停止を命じたとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Warning: While testing, it's a good idea to tell fetchmail to keep (-k) the mail on the remote server in case something goes wrong and you need to fetch it again.
    警告:テストの間は、うまくいかなくてもう一度メールを取ってくる必要になった時のことを考えて、リモートサーバーにメールを置いておくためのオプションである-kをfetchmailに渡しておくといいでしょう。 - Gentoo Linux
  • This tutorial provides an overview of the sample project, AsynchronousSample, and illustrates deploying, executing and testing an asynchronous BPEL process using NetBeans IDE 6.0 with all the necessary runtimes.
    このチュートリアルでは、サンプルプロジェクト AsynchronousSample の概要を示し、NetBeans IDE 6.0 および必要なすべての実行環境を使用して非同期 BPEL プロセスを配備、実行、およびテストする方法について説明します。 - NetBeans
  • At this stage, you are introduced to GlassFish testing functionality that is available from the IDE.Finally, you create a Java application that connects to the web service to display the images in an album created from Swing components.
    この段階では、IDE から利用できる GlassFish のテスト機能を紹介します。 最後に、Web サービスに接続して、Swing コンポーネントから作成されるアルバムのイメージを表示する Java アプリケーションを作成します。 - NetBeans
  • To provide a biochip having a space sufficient to cause a DNA probe and a target DNA to make a complementary pair, and to provide a method for complementarity testing with nucleic acid using this biochip.
    ＤＮＡプローブとターゲットＤＮＡが相補対を作ることができる十分な空間をもったバイオチップの提供及びこれを用いる核酸との相補性を試験する方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a method for testing the presence of microorganism in a gaseous environment comprising hydrogen peroxide, and to provide a cassette containing an agar growth medium that is adapted for execution in the method.
    過酸化水素を含有する気体環境中の微生物の存在の試験方法、並びに本方法において実施されるように適合された寒天生育培地を有するカセットの提供。 - 特許庁
  • CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTER USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR CLEANING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置用コンタクタ及び半導体装置用コンタクタを用いた試験装置及び半導体装置用コンタクタを用いた試験方法及び半導体装置用コンタクタのクリーニング方法 - 特許庁
  • To provide a method for generating approximate a waveform capable of generating an approximate waveform with high approximate precision to a given analog waveform, and a semiconductor testing device capable of performing a precise quality judgment.
    与えられたアナログ波形に対し、近似精度の高い近似波形を生成することが可能な近似波形生成方法及び、良否判定の正確な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
＜前へ 1 2 .... 228 229 230 231 232 233 234 235 236 .... 288 289 次へ＞

例文データの著作権について