「Testing」を含む例文一覧(14405)
＜前へ 1 2 .... 250 251 252 253 254 255 256 257 258 .... 288 289 次へ＞- To provide low cost semiconductor test equipment and a testing method by using such a semiconductor test equipment which has a storage capacity smaller than related equipment and can test a memory device under test which has a large storage capacity.
従来よりも小さい記憶容量を有しながら、記憶容量の大きな被試験メモリデバイスを試験することができる低コストの半導体試験装置およびそのような半導体試験装置を用いた試験方法を提供する。 - 特許庁 - In the bending testing device 1, the uniform bending stress can be generated in the whole circuit board 9 by this constitution, while determining selectively the bending direction of the circuit board 9, when performing the bending fatigue test of the circuit board 9.
これらの構成により、曲げ試験装置１では、回路基板９の曲げ疲労試験を行う際に、回路基板９の曲げ方向を選択的に決定しつつ回路基板９全体に均一な曲げ応力を生じさせることができる。 - 特許庁 - To easily replace contacts for contact with IC terminals and eliminate the need for preparing IC sockets for every IC package in an IC testing apparatus for the electrical connection between ICs to be tested and IC terminals.
被試験ＩＣのＩＣ端子と電気的接続をとるためのＩＣ試験装置において、ＩＣ端子に接触させるための接触子を容易に取り替えることができ、ＩＣパッケージごとにＩＣソケットを作成しなくてもよいようにする。 - 特許庁 - This device is equipped with the test chamber 12 for testing leakage, burning and explosion of hydrogen; an air supply device 14 for supplying combustion air into the test chamber; and a flue gas treating device 16 for treating exhaust gas generated in the test chamber.
水素の漏洩、燃焼、及び爆発を試験する試験室１２と、試験室に燃焼用空気を供給する給気装置１４と、試験室内で発生した排ガスを処理する排煙処理装置１６とを備える。 - 特許庁 - The durability testing method for inspecting durability of the tire includes a process for accelerating deterioration of the pneumatic tire and a process for performing drum durability traveling test by applying load on the pneumatic tire of which the deterioration is accelerated.
空気入りタイヤの耐久性を調べるための耐久性試験方法であって、空気入りタイヤの劣化を促進させる工程と、劣化を促進させた空気入りタイヤに負荷をかけてドラム耐久走行テストを行う工程とを含む。 - 特許庁 - In the case of testing the connection between the IP cores 32 and 33, test signals are supplied for the IP core 32 via the selector 40, and signals of a normal signal input terminal of the IP core 33 are transferred to the signal checker 45.
ＩＰコア３２、３３間の接続試験を行う場合には、試験信号をセレクタ４０を介してＩＰコア３２に供給し、ＩＰコア３３の通常信号入力端子の信号を信号チェック器４５に転送する。 - 特許庁 - To provide a parts testing device and a parts holder preventing the dew condensation of tested parts, shortening an normal temperature return time, enhancing the control accuracy of the temperature of parts to be tested and achieving the enhancement of throughput.
供試験済部品の結露防止、常温復帰時間の短縮または試験前部品の温度制御の精度向上を図り、しかもスループットの向上を図ることができる部品試験装置および部品保持装置を提供するすること。 - 特許庁 - To provide an efficient projector capable of rewriting the VT correction of red, green and blue light valves so that a projection image gets closer to an ideal spectrum, compensating the secular change of lamps and the light valves and also simultaneously testing all colors.
投影影像が理想的なスペクトルに近くなるよう赤、緑、青のライトバルブのＶＴ補正を書き換え、ランプやライトバルブの経年変化を補償すると共に、全色を同時に試験できる効率的なプロジェクタを提供する。 - 特許庁 - To provide a vibration-testing system for allowing continuous vibration from low frequency to high one by using a cylindrical coil being incorporated between vibration and grounding-part bodies as an electromagnetic damper.
本発明の課題は、加振部本体２３と接地部本体２４の間に組み込んだ円筒状コイルを電磁ダンパーとして使用することにより、低周波から高周波までの連続加振を可能にした振動試験装置を提供することである。 - 特許庁 - To provide a method of identifying a transparent object having specific optical properties, particularly a transparent object such as a measuring cuvette used in a light intensity detection system or testing the authenticity of the transparent object.
本発明の目的は、特定の光学的性質を有する透明物体、特に光度検出システムにおいて使用される測定キュベット等の透明物体を同定する、又は透明物体の真偽を試験する方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a testing device of an electronic part substrate, capable of aiming miniaturization of the device, and capable of increasing the number of trays storable in the device, a test method and trays for the electronic part substrate used therefor.
装置の小型化を図ることができると共に、装置内に収容できるトレイ枚数を増大させることができる電子部品基板の試験装置、試験方法およびそれに用いられる電子部品基板用トレイを提供すること。 - 特許庁 - This test bench includes a sendout chamber 1 equipped with a plurality of sound sending systems 6, and an adjacent receiving chamber 2 separated from the sendout chamber by a separating wall 3 having a test aperture for locating the object of testing 4.
複数の音響送出装置６を備える送出チャンバ１と、試験対象物４を配置するための試験開口を有する分割壁３によって送出チャンバから分離されている隣接した受け取りチャンバ２とを含む。 - 特許庁 - The drive subsystem includes a reciprocating motor driven block engaging the carrier and moving the carrier back and forth in a predetermined longitudinal path extending along a longitudinal axis from an entrance station to a plurality of processing stations in the same testing machine.
駆動サブシステムは、担体と係合し、入口ステーションから試料試験機内の複数の処理ステーションまで長手軸に沿って延びる所定の長手方向経路内で担体を前後に移動させる往復運動モータ駆動ブロックを備えている。 - 特許庁 - To provide a digital data arithmetic unit that enables minimum testing terminals and a test on a peripheral circuit as an external interface with the same normal signal transmission path and timing by a simple structure.
テスト用に設ける端子を最小限にするとともに、簡単な構成で外部とのインターフェイスを司る周辺回路のテストを通常時と同じ信号伝達経路及びタイミングで行うことができるデジタルデータ演算装置を提供する。 - 特許庁 - The initial standard coating pattern is corrected from the ratio of the simulation result to the result of a coating experiment by carrying out the coating film thickness simulation using the initial basic coating pattern and conducting the coating experiment using a testing piece.
初期基準塗装パターンを用いた塗装膜厚シミュレーションを行うと共に、テストピースを用いた塗装実験を行い、シミュレーションの結果と塗装実験の結果との比率に基づき、初期基準塗装パターンを修正する。 - 特許庁 - The on-chip circuit and the testing method can evaluate deterioration of a cell transfer device by a MOSFET deterioration mechanism that becomes active at the time of electric charge transfer or storage in an operating state or burn-in state.
このオン・チップ回路およびテスト方法は、電荷転送の際および動作状態またはバーン・イン状態のもとでの記憶の際にアクティブになるＭＯＳＦＥＴ劣化メカニズムによるセル転送デバイスの劣化を評価することを可能にする。 - 特許庁 - The testing apparatus (100) further comprises an overload protector (160) connected between the power coupler (120) and the receiver (140) to reduce or maintain the signal intensity of the receiving signal of the receiver in accordance with a control signal (180).
試験装置(100)は、前記電力結合器(120)と前記レシーバ(140)の間に接続され、前記レシーバにおける受信信号の信号強度を制御信号(180)に基づいて低下させ、又は維持するための過負荷保護装置(160)を更に含む。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing system for calling a generic function included in a test program generated by using language for generating a test program without especially generating for the general argument of the generic function.
テスト・プログラム作成用言語を用いて作成されたテスト・プログラムに含まれる汎用関数を、その汎用関数の汎用引数について特別な準備をすることなく呼び出すことができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁 - The receiver 3b receives the digital-analog signal wave transmitted to the track circuit 2T, separates the digital modulation components, and improves the noise resistance by testing the period and the order of the frequency of the digital modulation components that are separated.
受信器３ｂは軌道回路２Ｔに送信されているデジアナ信号波を受信してデジタル変調成分を分離し、分離したデジタル変調成分の周波数の周期と順番を検定して耐雑音性を向上させる。 - 特許庁 - To provide a connector in which an insertion force required in the insertion process of an electronic component is reduced, and a pressing force for pushing a contact portion to an electronic component can be secured, and to provide a semiconductor testing device equipped with the connector.
電子部品の挿入過程において必要とされる挿入力を低減すると同時に、接触部を電子部品に押し付ける力を確保することのできるコネクタ、及びコネクタを備える半導体試験装置の提供。 - 特許庁 - A plate-like test-piece 1 in the end part of which a notch 6 is formed is set to a side bend testing machine and, by making it break by imparting in-plane tension and bending, and strain, a strain gradient and strain concentration in the broken part are measured.
板端部に切欠き６が形成された板状試験片１をサイドベンド試験機にセットし、板面内の引張および曲げを与えて破断させ、破断部のひずみとひずみ勾配とひずみ集中とを測定する。 - 特許庁 - The electronic device 10 has BIST hardwares 102, 104 provided with a production test mode and a diagnostic testing mode, outputs a response signature by the production mode, and outputs a raw response data by the diagnostic test mode, when the scanning pattern is provided.
電子デバイス（１００）は、生産テストモードと診断テストモードを備えたＢＩＳＴハードウェア（１０２、１０４）を有し、スキャンパターンを提供すると、生産テストモードで応答シグネチャを出力し、診断テストモードで生応答データを出力する。 - 特許庁 - To provide a vehicle traction mechanism of a collision testing device, capable of preventing a wire rope from being projected to a camera set inside a pit and suppressing the traveling speed change of a test vehicle at and after a point of time when its being cut off from the wire rope.
ピット内にセットしたカメラにワイヤロープが映ることを防止し、ワイヤロープから切り離した時点以降のテスト車両の走行速度変化を抑制することが可能な衝突試験装置の車両牽引機構を提供する。 - 特許庁 - To provide a method capable of calculating compressive strength of coarse aggregate for concrete simply and accurately without measuring it by a compressive strength testing machine, after boring a sample from ore, and coring it or forming a molded body therefrom.
コンクリート用粗骨材の圧縮強度を、原石からボーリングして、コア抜きし、又はこれの成形体とし、圧縮強度試験機にかけて測定しなくても、簡便に精度良く、算出できる方法を実現することを目的とする。 - 特許庁 - The system and method include an impedance adjustment circuit 4 incorporated into the output circuit 3 of a first LSI 1, and a test pattern generating circuit 5 for transmitting signals for testing random patterns via the circuit 4 to a second LSI 2.
第１のＬＳＩ１の出力回路３内に組み込まれたインピーダンス調整回路４と、インピーダンス調整回路４を介してランダムパターンのテスト用信号を第２のＬＳＩ２に対して送出するテストパターン発生回路５を備える。 - 特許庁 - At the time of testing a circuit 40, test control information is inputted externally to a test interface circuit 14 and set in the scan register 41 of circuit modules 21-24 to be tested through a test signal chain 20.
被テスト回路（４０）のテストを行なうとき、外部からテストインタフェース回路（１４）にテスト制御情報を入力し、テスト対象回路モジュール（２１〜２４）のスキャンレジスタ（４１）にテスト信号チェーン（２０）を介してテスト制御情報をセットする。 - 特許庁 - To achieve a semiconductor testing apparatus that writes failure data to an acquisition memory using a burst access, even in the case where the number of addresses and failure data does not match the burst length, or when irrelevant data is mixed in the failure data.
アドレスとフェイルデータの数がバースト長と一致しない場合またはフェイルデータに非対象データが混在した場合でも、フェイルデータをバーストアクセスを用いて収集メモリへ書き込むことが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for testing steering stability of a vehicle, which can evaluate steering stability of a slalom state of which the reproducibility is most difficult in reproduction of various traveling states.
種々の走行状態を再現する内、最も再現性が困難なスラローム状態の操縦安定性能の評価を可能とする車両の操縦安定性能試験方法及び操縦安定性能試験装置を提供する。 - 特許庁 - A testing means is directly connected to two auxiliary electrodes arranged at a predetermined distance from the pylon, and an electric current measuring means installed around the footings of the pylon for measuring electric currents flowing along the footings.
試験用手段は、鉄塔から所定の距離をおいて配置された２つの補助電極と、基礎に沿って流れる電流を測定するために鉄塔の基礎の周りに設置された電流測定手段とに直接接続される。 - 特許庁 - The tire testing device measures a power loss in a tire from a difference of power of the tire 50 obtained by adding the torque measured by the tire shaft torque meter 15 and a difference of power of the roller 2 obtained by adding the torque measured by the roller shaft torque meter 5.
タイヤ軸トルク計１５で測定したトルクを加味して求めたタイヤ５０の仕事率の差分と、ローラ軸トルク計５で測定したトルクを加味して求めたローラ２の仕事率の差分より仕事率のタイヤ損失を測定する。 - 特許庁 - To provide a technology with which testing to break off concrete pieces can be performed more accurately than before by hitting a test piece to cause damage and a technology for easily generating cracks in the test piece in advance.
打撃による損傷を加えることでコンクリート片をはく落させる実験を従来よりも正確に行うことが可能な技術であって、供試体に予め設けるひび割れを容易に発生させることが可能な技術を提供する。 - 特許庁 - The generation of delay constraint, the insertion of a scan path, and the extraction of the flip flop as the object of hazard check is performed by using the information of the classified flip flops and the delay constraint program, testing problem and hazard check problem are improved.
分類されたフリップフロップの情報を用いて、遅延制約の生成し、スキャンパスの挿入、ハザードチェック対象のフリップフロップの抽出を行うことで、遅延制約問題、テスト時の問題、ハザードチェックの問題を改善する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for testing semiconductor integrated circuits capable of measuring the frequency characteristics of the power current of an object to be measured at any timing regardless of whether a test pattern is impressed onto the object to be measured or not.
被測定対象に対して試験パターンを印加しているか否かに拘わらず、任意のタイミングで被測定対象の電源電流の周波数特性を測定することができる半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁 - The optical film 20 adheres on the jointing material 12 of the testing member for optical films 10 so as to be irradiated with light on the surface thereon, then the reflected light of which is observed, to determine the quality level of the optical film 20.
光学フィルム用検査部材１０の接着部材１２上に光学フィルム２０を接着し、光学フィルム２０の表面に光を照射し、その反射光を観察することにより光学フィルム２０の良否を判断する。 - 特許庁 - The built-in redundancy analysis circuit 400 determines a defective address to be replaced by a plurality of spare memory cell rows and spare memory cell columns, according to the detected result of an address signal from the built-in self-testing circuit 300 and a defective memory cell.
ビルトイン冗長解析回路４００は、ビルトインセルフテスト回路３００からのアドレス信号と不良メモリセルの検出結果とに応じて、各複数の予備メモリセル行および予備メモリセル列で置換するべき不良アドレスを決定する。 - 特許庁 - To obtain a recoding medium on a smooth surface of which coagulation does not occur, and which achieves and maintains both of lubricating characteristics and stable floating characteristics, in relation to a testing method and a manufacturing method of a recoding medium such as a magnetic disk medium.
本件は、磁気ディスク媒体等の記録メディアの試験方法および製造方法に関し、平滑な表面上に凝集を発生させず、かつ潤滑特性と安定浮上特性を維持両立する記録メディアを得る。 - 特許庁 - To provide a burn-in device capable of making testing conditions even, by restraining dispersion of temperatures in a plurality of tested objects generating heat by an operation, and capable of enhancing thereby reliability for a burn-in test and an aging test.
動作することによって発熱する複数の被試験体の温度のばらつきを抑制することによって試験条件を揃え、バーンイン試験およびエージング試験の信頼性を向上させることができるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁 - To control the temperature of an electronic part testing socket such as an IC socket without adding a noise to a test signal applied to electronic parts such as an IC device or to a response signal read out from the electronic parts such as the IC device.
ＩＣデバイスなどの電子部品に印加されるテスト信号や、ＩＣデバイスなどの電子部品から読み出される応答信号にノイズを入れることなく、ＩＣソケットなどの電子部品試験用ソケットの温度を制御する。 - 特許庁 - A pin electronics 17 of this semiconductor testing device 1 includes a sub-driver control circuit 20, a main driver MDR1, a sub-driver SDR1, a comparator COMP1, a control transistor STR1, a switch SW1, a resistance R1 and a resistance R2.
半導体試験装置１のピンエレクトロニクス１７には、サブドライバ制御回路２０、メインドライバＭＤＲ１、サブドライバＳＤＲ１、コンパレータＣＯＭＰ１、制御トランジスタＳＴＲ１、スイッチＳＷ１、抵抗Ｒ１、及び抵抗Ｒ２が設けられる。 - 特許庁 - By evaluating the core material using an indication such as a dewatering testing, the core material having less moisture absorbing amount or high speed drying can be used, the load of a drying process can be reduced, and an amount of the used moisture adsorbent can be also reduced.
芯材を脱水試験という指標で評価することで、水分の吸湿量が少ないまたは乾燥が早い芯材を使用でき、乾燥工程の負荷を低減し、水分吸着剤の使用量も減らすことができる。 - 特許庁 - This earth sampling device 4 has a rod part 5, a thin shaft part 6, an auger 7, a cylindrical body 8, a pin 11, inclined faces 11a and 13a and an inward overhang part 14; and can be connected to a connecting rod of a Swedish sounding testing machine.
ロッド部５と細軸部６とオーガ７と筒体８、そして、ピン１１、斜面１１ａ，１３ａ、内向き張出し部１４が備えられている土サンプリング装置４で、スウェーデン式サウンディング試験機の連結ロッドに連結可能である。 - 特許庁 - In a testing apparatus 10 for simulating the flow phenomenon of the vapor-liquid two-phase flow where droplets are dispersed in an air flow, a gas of sulfur hexafluoride is used as the air flow and alcohol, sprayed into the gas of sulfur hexafluoride as the droplets.
気流中に液滴を分散させた気液二相流の流動現象を模擬するための試験装置１０において、気流として６フッ化硫黄ガスを用い、液滴として６フッ化硫黄ガス中に噴霧したアルコールを用いた。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing a processing time for collecting measurement data of all pin electronics cards into a control unit, without increasing the memory area in which the measurement data of the pin electronics cards are stored.
ピンエレクトロニクスカードの測定データを格納するメモリ領域を増大させることなく制御ユニットに全ピンエレクトロニクスカードの測定データを収集するための処理時間を短縮できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a member for artificial dialysis which satisfies the quality and a testing method 1(2) of a dialysate supply part and a dialysate circuit among dialysis type artificial kidney apparatus permission references and which is excellent in impact resistance, transparency and molding property.
透析型人工腎臓装置承認基準のうち、透析液供給部及び透析液回路の品質及び試験法 １（２）を満足し、かつ、耐衝撃性、透明性、成形性に優れた人工透析用部材を提供する。 - 特許庁 - To provide a maintenance-free and highly-accurate timing calculation circuit of a semiconductor testing device capable of removing deviation of a calibration timing caused by an on-resistance when using a semiconductor relay as a signal selection circuit for timing correction.
半導体リレーをタイミング校正用信号選択回路に用いた場合のオン抵抗による校正タイミングのずれをなくし、メンテナンスフリーかつ高精度な半導体試験装置のタイミング構成回路を実現することを目的とする。 - 特許庁 - To improve an assembled unit comprising a cap and a resealable container that stores and packages some moisture-sensitive products including by edible halitosis refreshment strips, dosing strips, diagnosis testing strips and sparkling tablets but not limited by them.
食用口臭清涼ストリップ、投薬用ストリップ、診断検査用ストリップ、及び発泡性錠剤を含むがそれらに制限されない、感湿性製品を貯蔵し包装する再封可能な容器とキャップの組立体を改良する。 - 特許庁 - In the testing device wherein signals from a pattern generation section put in the body section are sent to test heads through optical fibers, the optical fibers connect the pattern generation section and the test heads through WDM couplers or DWDM couplers.
本体部に収納されたパターン発生部からの信号を、光ファイバを介してテストヘッドに接続する試験装置において、光ファイバは、ＷＤＭカップラまたはＤＷＤＭカップラを介してパターン発生部とテストヘッドを接続する。 - 特許庁 - The functions or characteristics of the claimed inventions are found to be convertible to other functions or characteristics specified by other definitions or by testing or measuring processes, and it is found that the products of the cited inventions are considered to be identical to those of the claimed inventions from the results of the conversion
請求項に係る発明の機能・特性等が他の定義又は試験・測定方法によるものに換算可能であって、その換算結果からみて同一と認められる引用発明の物が発見された場合 - 特許庁 - To provide an apparatus for testing a filter, capable of precisely measuring removal efficiency of the filter being disposed in a duct channel, such as a large-sized duct channel in which concentration values of a test-use object are varied widely.
本発明は、大型ダクト経路のように、検査用対象物の濃度のばらつきが大きいダクト経路内に設置されたフィルタの除去効率を、高い精度で測定することができるフィルタ検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - When shifted to the emergency control, a gear change stage formation testing means 64 outputs an engagement command to a clutch C-1 and a clutch C-3 forming three forward speed stages, for example, and tests whether a speed change stage is formed.
エマージェンシー制御に移行すると、変速段形成試験手段６４は、例えば前進３速段を形成するクラッチＣ−１及びクラッチＣ−３に係合指令を出力し、何れの変速段が形成されるかを試験する。 - 特許庁
