「Testing」を含む例文一覧(14405)
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この振動試験方法は、レールボンドを接合した継目部におけるレールの頭部を連打部によって、列車通過時に前記継目部で発生する振動と近似した振動をレールに繰り返し発生させるように連打する。 - 特許庁 - The disaster prevention receiver 1 includes a first test part 15 for testing the operation of a first auxiliary power supply Bt1 provided therein and sending a test signal to the detector power supply 4 via a second signal line Ls2.
防災受信機１は、自身に設けた第１の予備電源Ｂｔ１の動作試験を行うとともに、第２の信号線Ｌｓ２を介して感知器電源４に対して試験信号を送信する第１試験部１５が設けられている。 - 特許庁 - The current conduction-testing device 1 consists mainly of the bulb socket 10 for holding a bulb 5, a switch 40 for controlling a current conduction state and a current non-conduction state, and a battery box 30 for storing a battery 7.
通電実験装置１は、電球５を保持するための電球ソケット１０と、通電状態及び非通電状態を制御するスイッチ４０と、電池７を収納するための電池ボックス３０とから主に構成されている。 - 特許庁 - A method for testing the complementality of a target DNA with the single chain section of the DNA chain which has the target DNA, a double chain section and a single chain section by bringing the target DNA into contact with the surface where the DNA chain on the substrate is immobilized, is also provided.
上記基板のＤＮＡ鎖を固定化した表面にターゲットＤＮＡを接触させ、ターゲットＤＮＡと二重鎖部分及び一重鎖部分を有するＤＮＡ鎖の一重鎖部分との相補性を試験する方法。 - 特許庁 - To provide an on-vehicle testing apparatus for ETC capable of simplifying and shortening the required time for the performance measuring test of an ETC vehicle-mounted device, without having to change the setting of the vehicle-mounted device in the state of actually performing a communication.
ＥＴＣ車載器の性能測定試験を、車載器を実際に通信を行う状態での設定を変更する必要がなく、簡単にし、所要時間を短縮することができる、ＥＴＣ車載器用テスタを提供すること。 - 特許庁 - For recognizing or testing securities, a row vector (ZV) is generated on at least one face from a belonging section and the component of the row vector forms one synthetic value considering all the scanning values of sections (2.1 and 2.2).
有価証券を認識しかつテストするために、少なくとも１つの面に所属の区間から、行ベクトル（ＺＶ）を発生し、この行ベクトルの成分が、区間（２．１，２．２）の列のすべての走査値を考慮するそれぞれ１つの総合値をなす。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device where increase of the number of terminals for testing a memory unit can be suppressed in the semiconductor device composed by integrating a plurality of chips containing at least a memory chip and a logic chip for controlling the memory chip into one package.
メモリチップと該メモリチップを制御するロジックチップを少なくとも含む複数のチップを１パッケージ化した半導体装置において、メモリ単体検査のための端子数増加を抑制できる半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To remove a moisture content mixed in engine oil during test by installing an oil moisture content removing device in a system of an engine oil temperature control device and switching a system during completion of a text, in a low temperature environment testing device for an internal combustion engine.
内燃機関の低温環境試験装置において、エンジンオイル温調装置の系内に油内水分除去装置を増設し、試験終了時に系統を切り替えて、試験中にエンジンオイルに混入した水分を除去する。 - 特許庁 - To make it possible to conduct testing of a real unit effectively, even if an I/O substrate is not mounted on the real unit in a digital protection control apparatus which performs protection, supervision and control of a power system.
電力系統の保護および監視・制御を行うディジタル保護制御装置において、実装置に入出力基板が搭載されていない場合であっても、実装置に対する試験等の効果的な実施を可能とすること。 - 特許庁 - To provide a performance evaluation test machine capable of testing by causing the same elliptic distortion of outer wheel and a weight load state as the state caused in an actual machine of bearing for a planetary gear support, and obtaining highly reliable data.
遊星歯車支持用軸受の実機で起きる状態と同様な外輪楕円変形および荷重負荷状態を生じさせて試験することができて、信頼性の高いデータを得ることのできる性能評価試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide an abrasion testing device which evaluates an abrasion situation of a rubber roll under a load applied condition, and also evaluates abrasion of the rubber roll under the condition where a mating side member is bitten in the rubber roll under a prescribed condition.
荷重をかけた状況でのゴムロールの摩耗状況の評価に加え、所定の状態でゴムロールに相手側の部材を食い込ませた状況でのゴムロールの摩耗の評価を行うことができる摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁 - For conducting a development test, etc. on an electric vehicle which employs a motor as a power source, a test measuring system for the electric vehicle 1 reproduces a driving state of the electric vehicle to be tested by using a reproduction object testing device 10.
モータを動力源とする電動車両の開発試験等を行うために試験対象電動車両の走行状態を再現対象試験装置１０において再現する電動車両用試験測定システム１である。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for testing an optical fiber ribbon capable of forming a reference by which it is assumed that no crack is generated in a jacket against a specific external force when the external force is applied to the optical fiber ribbon.
テープ心線に外力が作用した際に、一定の外力に対しては外被に割れを生じることがないと見なすことができる基準を形成するための光ファイバテープ心線の試験方法およびその装置を得る。 - 特許庁 - To provide a testing device capable of recording desired log data indicating a device state and the like before/after triggering such as when abnormality occurs in a spot manner at a fine time interval, and a log data recording method for the same.
異常発生時等所望のトリガ前後の装置状態等を示すログデータを、スポット的に精緻な時間間隔で記録することが可能な試験装置と試験装置のログデータ記録方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁 - In a power supplying port determining process, part of a plurality of power supply bumps are determined as the power supplying ports upon testing in the range wherein neither the voltage drop violation nor the current density violation is detected by power supply network analysis.
電源供給口決定工程では、電源網解析により電圧降下違反または電流密度違反のいずれも検出されない範囲で、複数の電源バンプの一部が試験時の電源供給口として決定される。 - 特許庁 - Thus, it is possible to perform the diversion of an equipment side cable 11 or a case body itself at the time of updating the monitor controller main body 30, and to reduce any design work, job site installing work, or control testing work or the like.
これにより、監視制御装置本体３０の更新時における機器側ケーブル１１や筐体そのものの流用を可能すると共に、設計作業、現地据付け作業及び調整試験作業等が削減できるようにする。 - 特許庁 - The testing station 12 is provided with a rotatable chuck assembly and a spindle assembly attached to the frame, and those are provided with an upper rim and a lower rim rotated to rotate the tire 20 while engaged with a tread of the tire 20.
この試験ステーション（１２）は、フレームに取付けられた回転可能なチャックアセンブリ及び主軸アセンブリを備え、これらはタイヤ（２０）の踏面に係合してタイヤ（２０）を回転させるように回転される上側リム及び下側リムを備える。 - 特許庁 - The write-once type recording medium having the linking (a run-in area and a guard area) in a unit block of recording/reproducing, and being constituted so that the overlapping takes place and recording is performed at the linking, is tested by the following testing method after manufacture.
記録再生の単位となるブロックにリンキング（ランインエリアとガードエリア）を有し、そのリンキングでオーバーラップして記録するようにしたライトワンス型の記録媒体に対して、製造後に次のような検査方法で検査を行う。 - 特許庁 - The testing machine body 100 collects not only the data at the set sampling cycle, but also the data regardless of the set sampling cycle, when the data change quantity from the previously collected data exceeds the set threshold.
試験機本体１００は、設定されたサンプリング周期でデータを採取すると共に、前回採取されたデータからのデータ変化量が設定されたしきい値を超えたときには、設定されたサンプリング周期に関わらずデータを採取する。 - 特許庁 - The automatic penetration testing machine compares a signal corresponding to a rotary load in rotary penetration of the penetration rod 6 held by a chuck 4 with a threashold preset in advance and drive-controls the rotary drive means 5 of the chuck in accordance with the result.
本発明は、チャック４に保持した貫入ロッド６を回転貫入する時の回転負荷に対応した信号と予め設定した閾値とを比較し、その結果に応じてチャック回転駆動手段５を駆動制御するものである。 - 特許庁 - To provide a novel aging board capable of supporting semiconductor lasers of various standards, having superior heat dissipation efficiencies during the testing time, and capable of obtaining an accurate test result, without producing variations in a reference level relative to a laser receiving unit.
各種規格の半導体レーザに対応可能で、試験時の放熱効率にも優れ、レーザ受光ユニットに対する基準面にばらつきが生じることなく正確な試験結果が得られる新規なエージングボードを提供する。 - 特許庁 - In the case of sandwiching a conductive sheet between a package into which an LSI is built and a socket and testing the LSI, especially in the case of operating it at high frequencies, the potential of power sources and GNDs impressed on the package is prevented from fluctuating.
ＬＳＩを組み込んだパッケージとソケットの間に導電シートを挟んでＬＳＩのテストをする場合、特に高周波で動作させる場合にパッケージに印加している電源、ＧＮＤの電位が変動するの防止する。 - 特許庁 - To solve the problem wherein a phenomenon in which load distribution is different from a design value occurs when executing evaluation of constant velocity and synchronization on the basis of statistical methods in a testing device executing synchronous control of front and rear wheels by being separated for the front and rear wheels.
前後輪用に分離して前後輪の同期制御を実行する試験装置では、統計的手法に基づいて等速性・同期性の評価を実行すると、負荷分配が設計値と異なる現象が発生する。 - 特許庁 - Behavior when a secondary 2 battery is broken is appropriately verified by partially crushing the secondary battery 2 placed on a testing stand 3 with a pressing member, conducting good and bad candidate determination of the secondary battery 2 by measuring the temperature of the secondary battery 2.
試験台３に設置した二次電池２を押圧部材で部分圧壊し、二次電池２の温度を測定して二次電池２の良否候補判定を行うことで、二次電池２が破損した場合の振る舞いを適切に検証する。 - 特許庁 - After completion of the test, the board 31 is sealed within a box 87 which unalterably fixes the board, such that a third person can not touch the testing connector 47.
さらに、試験が終了した後は、その遊技制御基板３１を非可逆的な組付け状態に固着される遊技制御基板ボックス８７内に封入し、容易に試験用コネクタ４７に第三者が手を触れることができないように構成する。 - 特許庁 - Also the semiconductor testing apparatus 10 comprises: a data compression section 16a for compressing the fail data FD according to a prescribed rule; and region fail memories 17, 18 for storing the fail data compressed by the data compression section 16a.
また、この半導体試験装置１０は、フェイルデータＦＤを所定の規則に従って圧縮するデータ圧縮部１６ａと、データ圧縮部１６ａで圧縮されたフェイルデータを記憶するリージョンフェイルメモリ１７，１８とを備える。 - 特許庁 - To provide a heat resistance testing method for evaluating a color tone of a molten substance of an aliphatic terminal diol material including an aromatic for obtaining a thermoplastic resin with a good color tone and a method for producing a thermoplastic resin by using the same.
色相に優れる熱可塑性樹脂を得るための芳香族を含む脂肪族末端ジオール原料の溶融色相を評価する耐熱試験方法およびそれを用いた熱可塑性樹脂の製造方法を提供する。 - 特許庁 - A testing device 1009 realizes a radio connection by a CDMA radio interface with a mobile terminal device 150 by sending a layer-3 signal and transmits a signal to be measured to conduct the radio reception characteristic test and radio function test.
試験装置１００は、移動端末装置１５０と、レイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インタフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送して無線受信特性試験及び無線機能試験を行う。 - 特許庁 - To provide a new noise design supporting system for making adaptable to an immunity design capable of easily identify the contamination (a contamination route) of a testing object by electromagnetic wave disturbance from the outside.
試験対象物のどの部分が外部からの電磁波妨害に対して汚染されているのか（汚染経路）を容易に特定することができるイミュニティ設計対応のための新たなノイズ設計支援システムを提供しようとするものである。 - 特許庁 - When the shipping identification information (write permitting information) is decoded with a radio input signal, a command decode circuit 310 validates the radio input signal when it is for testing to enable the rewrite of product identification information.
コマンドデコード回路３１０は、この出荷識別情報（書き込み許可情報）を無線入力信号とともにデコードするとき、無線入力信号がテスト用であれば有効にし、生産品識別情報の書き換えを可能とする。 - 特許庁 - To provide an XY stage device used for manufacturing or testing various boards such as flat display panel boards for example which deals with enlarged panel boards and reduces the manufacturing cost and the transport cost.
例えばフラットディスプレイパネル基板等の各種基板の製造又は検査工程に用いられるＸＹステージ装置において、パネル基板の大型化に対応できる、製造コスト及び運送コストの低いＸＹステージ装置を提供する。 - 特許庁 - One of them is designed for manufacturing or testing purposes and the other allows reprogramming of the updated operating code or parameters from a remote place.
２つの制御プログラムが更新されたオペレーティングコードの再プログラミングを制御しそのうちの１つは製造や試験の目的のために設計され、もう１つは遠隔の場所から更新されたオペレーティングコードやパラメータの再プログラミングを可能にする。 - 特許庁 - The semiconductor testing device can vary the speed of the pattern to be applied to the DUT, and is provided with a selection means for selecting either pattern data output from a data memory or an output signal fed back just before.
ＤＵＴに与えるパターンの速度を可変できる半導体試験装置であって、データメモリから出力されるパターンデータとフィードバックされた直前の出力信号のどちらか一方を選択する選択手段を設けた。 - 特許庁 - To provide a receiving device wherein high frequency performance is tested by using a testing device without high frequency output function, and multiple receiving devices are simultaneously arranged on a wafer by using a semiconductor process.
半導体プロセスを用いて複数個同時にウエハ上に実現した高周波信号の受信装置であって、高周波出力機能を備えていない試験装置を用いて高周波性能を試験できる受信装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor test device, a semiconductor memory test device, and a semiconductor memory test method in which testing capability of a semiconductor device is maximized, and factors of rise of a device cost can be minimized, and test cost is reduced.
半導体デバイスのテスト能力が極大化されると共に、装置価格の上昇要因を最小化し得、テストコストも削減される半導体テスト装置、半導体メモリテスト装置および半導体メモリテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - This method is used for testing a plurality of devices such as HDDs by inspecting whether the HDDs are mounted in response to random requests, and by sequentially allocating one test thread to each mounted HDD.
ランダムな要求に応答してＨＤＤが装着されたかを検査し，それぞれの装着ＨＤＤに対して一つのテストスレッドを順次に割り当てることによって，ＨＤＤのような複数のデバイスをテストする方法が提供される。 - 特許庁 - Alignment of the detection flow path is performed, in a direction of the optical axis of the exciting light by controlling and moving a stage having the microorganism testing chip mounted thereon, based on the intensity of fluorescence detected by the first detector.
そして、第１の検出器によって検出された蛍光の光量に基づいて微生物検査チップを搭載するステージを移動制御することにより、励起光の光軸方向に対する検出用流路の位置決めを行う。 - 特許庁 - To provide a miniaturizable corrosion thinning testing device and a corrosion thinning test method, which grasp quantitatively a corrosion thinning characteristic of a ceramic material or a heat-resistant metal material, and have excellent safety, economical efficiency and operability.
セラミックス材料や耐熱性金属材料の腐食減肉特性を定量的に把握でき、安全性、経済性、操作性に優れるとともに、小型化が可能な腐食減肉試験装置及び腐食減肉試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a sheet for identifying conspicuous equipment under a color environment which can be provided as a standard background environment when testing the conspicuousness of an object in a train space.
列車の空間内におけるある対象物の視覚的な目立ち易さを試験する際に、その標準的な背景環境として供することができる色環境下の視覚的に目立ち易い設備の確認用シートを提供する。 - 特許庁 - To provide a vibration testing system capable of reducing horizontal vibrations of the overall apparatus and minimizing the amplitude of rotational vibrations by minimizing the amplitude of vibrations of horizontal vibration generating parts due to the effects of a vibration isolating mechanism part.
防振機構部の影響による水平振動発生部の振動振幅を小さく抑えて、装置全体の横振動を小さくすると共に、回転振動の振幅を小さく抑えることが可能な振動試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a position correction method and device capable of accurately aligning a probe with each pad even if the pads are reduced in pitch and size, and a semiconductor integrated circuit testing device having the above device.
パッドが狭ピッチ化され及び小型化された場合であっても、各パッドに対するプローブの位置合わせを正確に行うことができる位置補正方法及び装置並びに当該装置を備える半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁 - Furthermore, even after the sheet-like member 11 is pasted, only by temporarily peeling the sheet-like member 11, the test signal terminal 16 is exposed outside via the opening 13, thereby testing the signal characteristics similarly to the test before completion.
また、シート状部材１１が貼られた後であっても、そのシート状部材１１を一旦剥がすだけで、開口部１３を介して試験用信号端子１６が外部に露出するようになり、完成前と同様の試験が行える。 - 特許庁 - The fibrils extending from the fibrillated rayon are interlaced with at least either of other fibril and other fiber, and the fiber sheet has a dry surface-friction strength of ≥3 times when measured by the JIS P-8136 abrasion resistance testing method.
前記フィブリル化レーヨンから延びるマイクロファイバーが、他のマイクロファイバーと他の繊維の少なくとも一方に交絡して、繊維シートはＪＩＳ Ｐ８１３６の耐摩耗強さ試験方法における乾燥時の表面摩擦強度が３回以上である。 - 特許庁 - In the semiconductor device, among a plurality of electrode pads disposed on a surface of the semiconductor chip, a plurality of testing pads are set-disposed in a predetermined region on the surface of the semiconductor chip to reduce an inspection region.
半導体装置において、半導体チップの表面に配置されている複数の電極パッドのうち、複数のテスト用パッドを上記半導体チップの表面の所定領域に集合して配置し、検査領域を小さくする。 - 特許庁 - Furthermore, the water vapor transmission which is measured by rendering the opposite side of the release layer of the release paper the higher humid side as prescribed in the TAPPI Paper and Paperboard Testing Method 464 os-79 is not greater than 150 g/m2/day.
さらに、該剥離紙の剥離層の反対面を高湿側にして測定したTAPPI紙および板紙試験法Ｔ４６４ｏｓ−７９に規定される透湿度が１５０ｇ／ｍ^2／ｄａｙ以下であるインクジェット記録用粘着シート。 - 特許庁 - To perform a strength test by a testing device with a simple configuration, which loads pressure at a state close to a situation that a gate is actually used to a flat plate structure which receives hydraulic pressure of a gate, etc. in a water gate, a sluice gate, and a sluice pipe.
水門、樋門、樋管におけるゲート等の水圧を受ける平板構造体に対し実際にゲートが使用される状況に近い状態での圧力を載荷する簡易な構成の試験装置により強度試験を行う。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device wherein a control means which is substantially equivalent to a control signal to be stored in a WCS memory which controls the generation of a test pattern provided at an ALPG is provided outside the WCS memory.
ＡＬＰＧが備える試験パターンの発生を制御するＷＣＳメモリに格納すべき制御信号と、実質的に等価な制御手段を、当該ＷＣＳメモリ外に備えるＡＬＰＧとする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing apparatus being in no risk of causing any cooling fluid to splash when attaching/detaching a coupler of a heat sink, by preventing such the condition that a backing pressure is applied to the inside of the coupler, even in the case that a circulation cooling apparatus is in its working state.
循環冷却装置が稼動状態でも、カプラ内部に背圧が加わった状態とならず、ヒートシンクのカプラ着脱時に冷却流体の飛散を発生させる恐れのない半導体試験装置を実現する。 - 特許庁 - A gripping block (1), a grip fixture (2) held in the gripping block (1), the cutter (3) held in the gripping block (1) so as to be movable vertically, and a tensile tester 9 connected to the grip fixture (2), are provided to the bonding strength testing machine for the bonding wire.
把持ブロック(1)と、把持ブロック(1)内に保持されたグリップ冶具(2)と、垂直方向に移動可能に把持ブロック(1)内に保持されたカッタ(3)と、グリップ冶具(2)に連結された引張試験機(9)とをボンディングワイヤの接合強度試験装置に設ける。 - 特許庁 - To provide a method and device for testing gear wherein the strain of a tooth space of the gear which is to be tested is measured without affected by the strain of diameter or shape of the center hole of the gear which is to be tested.
被試験歯車の中心の孔の形状や径の歪みの影響を受けることなく、被試験歯車の歯溝の歪みを測定する歯車試験方法と、この歯車試験方法を実現する歯車試験装置とを提供する。 - 特許庁
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