「Testing」を含む例文一覧(14405)
＜前へ 1 2 .... 245 246 247 248 249 250 251 252 253 .... 288 289 次へ＞- To provide a disk evaluation device which can easily acquire a highly accurate data for searching the cause when disk quality does not satisfy a reference value in testing and evaluation of the disk such as a DVD.
ＤＶＤ等のディスクの試験、評価において、ディスクの品質が基準値を満たさない場合に、その原因を究明するための精度の高いデータを容易に取得することができるディスク評価装置を提供する。 - 特許庁 - In a device 7 for taking out the sample cassettes automatically of this invention, a plurality of the sample cassettes 11 containing samples for the material testing and respectively provided with two sets of notches 11B on the both sides, are contained in the magazine 8.
本発明の自動サンプルカセット取出し装置７では、材料試験用サンプルを収容した、両側側面にそれぞれ２組の切り欠き１１Ｂを設けた複数のサンプルカセット１１をマガジン８に収容する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device testing apparatus changing no state of a signal imparted to a semiconductor device to be tested even if the test condition is changed when performing a test 2 immediately after a test 1.
試験１の後に直ちに試験２を実行する場合に、試験条件の変更を行なっても、被試験半導体デバイスに与えている信号の状態が変化しない半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁 - If pressure water is supplied from a pump 20 in a state that the kelep 11 is brought into contact with a valve seat 53a, testing pressure water is supplied to the piping connected to the cut-off valve 53 or the water supply equipment to perform the water-pressure test.
ケレップ11を弁座53a に当接させた状態でポンプ20から圧力水を供給すれば、止水弁53に連続した配管や給水設備にテスト用の圧力水を供給することができ、水圧テストを行える。 - 特許庁 - This method makes it possible to determine whether to assemble a semiconductor device using the semiconductor element 11 based on the testing result of the electric characteristics of the distorted semiconductor element 11, and to reduce production cost of the semiconductor device.
歪曲した半導体素子１１の電気特性の試験結果に基づいて、当該半導体素子１１を半導体装置に組み立てるか否かを判断できるようになり、半導体装置の製造コストが低減する。 - 特許庁 - In an ultrasonic probe diagnosing apparatus to diagnose an ultrasonic probe 200, a control section 1011 acquires a prescribed characteristic value of a reflection ultrasonic signal received by the ultrasonic probe 200 from a testing object.
超音波プローブ２００を診断する超音波プローブ診断装置において、制御部１０１１は、超音波プローブ２００がテスト物体から受信した反射超音波信号における所定の特徴値を求める。 - 特許庁 - The carrier tape is produced from a sheet of a lactic acid based polymer having a storage elastic modulus E' at 120°C of at least 100 MPa in the testing method on temperature dependence of dynamic viscoelasticity based on JIS K 7198.
ＪＩＳ Ｋ７１９８に基づく動的粘弾性の温度依存性に関する試験方法における１２０℃での貯蔵弾性率Ｅ’が、１００ＭＰａ以上である乳酸系重合体からなるシートから製造する。 - 特許庁 - It is desirable that the contact terminal contacting the first terminal 12 in the testing board have the same input impedance as the contact terminal which makes contact with the first terminal 12 in the semiconductor device 20.
試験用ボード１０における、第１端子１２に接触する接触端子が、半導体デバイス２０における、第１端子１２に接触する接触端子と同一の入力インピーダンスを有することが好ましい。 - 特許庁 - Characteristic data of a magnetic head measured by a characteristic testing device 202 or 302 installed in a slider processing plant 201 or an HGA assembling plant 301 is stored in the manufacturing result database via the network.
スライダ加工工場２０１やＨＧＡ組立工場３０１に設置された特性試験装置２０２や３０２で測定された磁気ヘッドの特性データをネットワークを介して製造実績データベースに格納する。 - 特許庁 - To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set.
携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing quickly and easily how an antithrombogenetic medicine inhibits the promotion of blood coagulation, when a platelet activity activator serves as a cause of the promotion of the blood coagulation.
血小板活性賦活剤が血液凝固促進の原因になっている場合、抗血栓薬が、どのように血液凝固の促進を阻害するのかを迅速かつ簡易に試験する方法を提供しようとするものである。 - 特許庁 - A detection circuit 5 is provided for detecting the electrical load factors, affecting test results occurring at testing of a semiconductor device 4 from the electrical signal applied to input/output terminals of the semiconductor device 4.
半導体装置４の試験時に発生する試験結果に影響を与える電気的負荷要因を、半導体装置４の入出力端子に印加する電気信号から検出する検出回路５を設ける。 - 特許庁 - The test apparatus comprises a head load mechanism for receiving and positioning the read/write head during testing, and a multi-channel preamplifier arranged to interface plural channels to a measurement system.
前記試験装置は、テスト中に、前記読取り／書込みヘッドを受容する及び位置決めするためのヘッドロード機構、及び複数のチャネルが測定システムとインターフェースで接続するように配置されたマルチチャネル前置増幅器を具備する。 - 特許庁 - A method of testing a blood sample from an individual for diagnosing chronic renal failure in the individual comprises determining the presence of BMP-1 isoforms BMP-1-3 and BMP-1-5 in the sample.
個体の慢性腎不全を診断するために個体からの血液試料を試験する方法であって：ＢＭＰ−１イソ型であるＢＭＰ−１−３、およびＢＭＰ−１−５の試料中の存在を確定する。 - 特許庁 - To acquire a dynamic behavior or performance evaluation of a railway vehicle loading apparatus during traveling of an actual vehicle inexpensively in a short period under various vibration environments, in a running testing device for a railway vehicle.
鉄道車両用走行試験装置において、様々な振動環境下で短期間及び低コストで実車両走行中の鉄道車両搭載機器の動的な挙動や性能評価を把握できるようにする。 - 特許庁 - To provide forms for molding a specimen for testing concrete strength capable of easily perform molding, being inexpensively manufactured, easily handled, and easily reused and from which the molded specimen can be easily extracted.
成形が容易で、安価に製作でき、取り扱いが簡便で、成形した供試体を容易に取り出すことが可能で、しかも容易に再利用可能なコンクリート強度試験用供試体成形用型枠を提供する。 - 特許庁 - To provide an anisotropic electric conductive sheet having superior inadhesive character preventing the state of adhesion to a substance, even if the substance is pressed against the sheet, and a testing device using the same.
その表面に対して物体が圧接された場合にも、当該物体と接着状態となることが防止され、優れた非接着性を有する異方導電性シートおよびそれを用いた検査装置を提供することにある。 - 特許庁 - IMAGE PROCESSING SYSTEM, IMAGE PROCESSOR, ALGORITHM GENERATION DEVICE, IMAGE TESTING DEVICE, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER FUNCTION AS IMAGE PROCESSOR, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER FUNCTION AS ALGORITHM GENERATION DEVICE, AND RECORDING MEDIUM
画像処理システム、画像処理装置、アルゴリズム作成装置、画像検査装置、コンピュータを画像処理装置として機能させるためのプログラム、コンピュータをアルゴリズム作成装置として機能させるためのプログラム、および記録媒体 - 特許庁 - A method for testing the presence or absence of the fungus and/or the bacterium in a test specimen comprises a step of bringing the tracer into contact with the test specimen and a step of detecting the incorporation of the tracer into the test specimen.
前記トレーサーを該被験体に接触させる工程および該トレーサーの該被験体内への取り込みを検出する工程を含む、被験体における真菌および／または細菌の存在の有無を検定する方法。 - 特許庁 - The semiconductor integrated circuit is provided with a data collecting section for fetching a flip-flop setting value at a time of turning on a power source from a plurality of flip-flops connected to a scan chain set as a pass for testing an integrated circuit, such as, LSI.
ＬＳＩなどの集積回路のテスト用パスとして設定されたスキャンチェーンに接続された複数のフリップフロップから、電源投入時のフリップフロップ設定値を入力するデータ収集部を設けた。 - 特許庁 - To provide a new synchronizing method and apparatus whereby, when the pseudo-random-pattern generating circuits having the mark ratio of 1/4, 1/8, or the like are synchronized with each other, their synchronization takes a short time independently of the period of a testing pattern.
マーク率１/４又は１/８のような擬似ランダムパターン発生回路間の同期をとるに際して、試験パターンの周期に関わらずに、短い時間で同期をとる新規な同期方法及び同期装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a chemical substance data acquisition apparatus highly accurately and efficiently testing the written information of acquired chemical substance data when acquiring chemical substance data and thereby acquiring accurate chemical substance data.
化学物質データを取得する際に、取得した化学物質データの記載情報について高精度かつ効率的に検査し、正確な化学物質データを取得することができる化学物質データ取得装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit where a scan pass test circuit having no malfunction is realized without taking time for designing, instantaneous current in the scan pass testing time is reduced, and shortage of current supply of the tester hardly occurs.
設計に時間をかけずに誤動作のないスキャンパス・テスト回路を実現することと、スキャンパス・テスト時の瞬時電流を削減し、テスターの電流供給不足が発生しにくい半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - This invention is obtained by improving the test system for sampling the test data from a test result memory in which the test results data of an IC test device for testing a plurality of test objects are stored.
本発明は、複数の被試験対象の試験を行うＩＣ試験装置による試験結果データが格納される試験結果記憶部から、試験結果データをサンプリングするテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device test system for quickly investigating the cause of a failure and preventing the use of a semiconductor device in a testing or packing process when the failure occurs to manage the test result of the semiconductor device.
半導体製造の検査結果の管理において、不良発生時の原因究明を迅速に行い、且つテスト工程や梱包工程への半導体装置の誤投入を防ぐ、半導体装置テストシステムを構築する。 - 特許庁 - To provide a maintenance method that allows the online maintenance (testing) of a computer system having two groups (active system and standby system) of peripheral devices that cannot be operated at the same time while being connected to a CPU.
ＣＰＵに接続して同時には動作させることができない２組（運用系と待機系）の周辺機器群を有するコンピュータシステムにおいて、オンラインでの保守（試験）を可能とする保守方法を提供する。 - 特許庁 - In the spindle used for a product testing apparatus etc., such as a magnetic disk and a disk head, the rotation of a turntable (a hub 1 having a rotary table 1a) for supporting the disk as a rotation object is supported by a dynamic pressure bearing.
磁気ディスクやディスクヘッドの製品検査装置等に用いられるスピンドルにおいて、回転対象物としてのディスクを支持するターンテーブル（回転台１ａを備えるハブ１）の回転を、動圧軸受により支持する。 - 特許庁 - To obtain a test equipment for testing the characteristics of each chip by touching probes to the opposite sides of a semiconductor wafer in which various semiconductor wafers are tested with an easy operation.
本発明は、試験装置に関し、特にウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、簡易な操作により、種々の半導体ウエハを試験することができるようにする。 - 特許庁 - A semiconductor testing device 100 tests devices 17A, 17B to be measured which are mounted on two test heads by using two kinds of test programs each of which is constituted so as to include a program specification command for specifying a common program.
半導体試験装置１００は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された２種類のテストプログラムを用いて２台のテストヘッドに実装された被測定デバイス１７Ａ，１７Ｂを試験する。 - 特許庁 - The display panel is provided with a panel test terminal for testing the display panel and a driver output terminal electrically connected to a pad for the data driver of the integrated circuit device and to the panel test terminal as well.
表示パネルには、表示パネルをテストするためのパネルテスト端子と、集積回路装置のデータドライバ用パッドに電気的に接続されると共にパネルテスト端子に電気的に接続されるドライバ出力端子が設けられる。 - 特許庁 - This generator comprises a digital signal generating part for generating a digital signal, and a band-pass filter for inputting the digital signal of the digital signal generating part and outputting it to the object of testing.
本装置は、デジタル信号を発生するデジタル信号発生部と、このデジタル信号発生部のデジタル信号を入力し、被試験対象に出力するバンドパスフィルタとを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁 - To provide a method capable of efficiently testing input circuits of a new remote monitoring controller (TC) as well as performing a replacement work with high safety when replacing an existing TC to the new TC.
既設の遠方監視制御装置（ＴＣ）から新設ＴＣへ切り替える際に、新設ＴＣの入力回路について効率的に試験を行うことができ、安全性の高い切り替え作業を可能にすること。 - 特許庁 - To provide a testing machine used for a test of an insulated bearing in a main motor of a rolling stock or the like, capable of evaluating the insulation performance of the individual insulated bearing in the state similar to the actual machine using state.
鉄道車両の主電動機等における絶縁軸受の試験に用いられ、実機使用状態に近似した状態での個々の絶縁軸受の絶縁性能を評価できる試験機を提供する。 - 特許庁 - (3) Upon rescission in accordance with the provisions in paragraph (1) or in the preceding paragraph, or upon ordering suspension of whole or part of the testing procedures as prescribed in the same paragraph, the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism shall announce the same to the public.
３ 国土交通大臣は、第一項若しくは前項の規定により指定を取り消し、又は同項の規定により試験事務の全部若しくは一部の停止を命じたときは、その旨を公示しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - (c) Combustion test equipment capable of testing solid rockets, liquid rockets with thrust exceeding 90 kilonewtons or rocket propulsion units or capable of measuring the thrust components in the three axial directions simultaneously
ハ 燃焼試験装置であって、推力が九〇キロニュートンを超える固体ロケット、液体ロケット若しくはロケット推進装置を試験することができるもの又は同時に三軸方向の推力成分を測定することができるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム - (2) The officers or staff of a Registered Inspection Body engaged in Testing of Organisms shall be regarded as staff engaged in public service by act, with respect to the application of the Penal Code (Code No. 45 of 1907) or other penal provisions.
２ 生物検査に従事する登録検査機関の役員又は職員は、刑法（明治四十年法律第四十五号）その他の罰則の適用については、法令により公務に従事する職員とみなす。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - (5) The competent minister may, when a Registered Inspection Body falls under any of the following items, cancel its Registration, or stipulate a period of time and order the work of Testing of Organisms to be suspended in part or in whole.
５ 主務大臣は、登録検査機関が次の各号のいずれかに該当するときは、その登録を取り消し、又は期間を定めて生物検査の業務の全部若しくは一部の停止を命ずることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - To smoothly vary the waveform of torque even when alternating torque is loaded on a sample and to improve the durability of a gear, in a torque load testing device for applying load torque to the sample.
供試体に負荷トルクを加えることができるトルク負荷試験装置において、供試体に交番トルクを負荷しても、トルクの波形を滑らかに変化させることができるとともに、歯車の耐久性を向上させることができる。 - 特許庁 - To provide a phenolphthalein derivative which specifically recognizes spermine and spermidine with high sensitivity, excels in water-solubility, and has not only color responsiveness but also fluorescence responsiveness and a testing drug containing the same.
スペルミン及びスペルミジンを高感度にかつ特異的に認識するとともに、水溶性にも優れ、呈色応答性のみならず蛍光応答性を有するフェノールフタレイン誘導体及びこれを含有する検査薬を提供する。 - 特許庁 - To provide a modelling testing device capable of performing an infiltration flow test of stratum deformation considering existence of ground water and deformed model stratum in situ or in either of horizontal and vertical directions.
本発明は、地下水の存在を考慮した地層変形及び変形させた模型地層をその場で水平または垂直の何れの方向にも浸透流試験ができるモデリング試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a device power supply system for a semiconductor tester to suppress variation in power supply voltage for a testing-object semiconductor device without consuming extra current, and also to provide a voltage correction data generating method.
余分な電流を消費することなく試験対象の半導体デバイスの電源電圧の変動を抑えることのできる半導体試験装置用デバイス電源システムおよび電圧補正データ生成方法を提供する。 - 特許庁 - Systems are implanted by testing external or implantable devices at different tissue sites, observing physiologic and device responses, and selecting sites with preferred performance for implanting the systems.
システムは異なる組織部位で外部または移植可能なデバイスを試験し、生理学的な反応およびデバイスの反応を観察し、システムを移植するための好ましい性能を有する部位を選択することにより移植される。 - 特許庁 - To provide a method for testing the detection voltage level kept by the voltage detection circuit of the semiconductor voltage detection circuit with a small number of DC measurement units for the semiconductor integrated circuit with a built-in voltage detection function.
電圧検出機能を内蔵した半導体集積回路において、その半導体集積回路の電圧検出回路が保持する検出電圧レベルを少ないＤＣ測定ユニットで検査する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a timing correction device, a timing correction method, and a device evaluation device provided with the timing correction device capable of supplying correction data of highly accurate timing calibration even to a testing device of tester pin branching.
テスタピン分岐の試験装置に対しても高精度なタイミングキャリブレーションの補正データを供給することができるタイミング補正装置、タイミング補正方法及びタイミング補正装置を備えたデバイス評価装置を提供する。 - 特許庁 - The servlet container 21 also confirms a log-in user testing tag is described within the LJSP files 36 to 38, and checks whether the ID of the business concerned is described as spid of the tag.
また、サーブレットコンテナ２１は、ログインユーザ検査タグがＬＪＳＰファイル３６〜３８中に記述されていることを確認し、当該事業者のＩＤがこのタグのｓｐｉｄとして記述されているかチェックを行なう。 - 特許庁 - To shorten a semiconductor measurement time in a semiconductor measurement device used in a semiconductor product inspection process testing electric characteristics of a semiconductor, a break in a wire, and the like, for example.
本発明は、例えば、半導体の電気的特性、断線等を検査する半導体製品検査工程において使用される半導体測定装置に関し、半導体測定時間の短縮を図ることが課題である。 - 特許庁 - The communication application 10 and the cipher communications software 11 or the encryption protocol processor 12 make encrypted communications with the testing host 2 through an outside communications section 13 using the cryptograph data, based on the test data.
通信アプリケーション１０と暗号通信ソフト１１または暗号化プロトコル処理部１２は、試験データに基づいた暗号文データを用いて、外部通信部１３を介して試験用ホスト２と暗号化通信を行う。 - 特許庁 - To provide a circuit pattern for inspecting blind via hole misregistration, which inspects within a short time the misregistration of the blind via hole by a wiring test for testing the electrical continuity between required points in a wiring.
配線内の要所間の電気的導通を検査する布線検査によってブラインドビアホールの位置ずれを短時間内に検査することを可能とするブラインドビアホール位置ずれ検査用回路パターンを提供すること。 - 特許庁 - To quantitatively research the IT level for each department of an enterprise by automatically testing whether proper talent and capability are available for each of the departments and taking analysis according to statistic data.
企業内の各部門毎に適切な人材・能力が備わっているかを自動的にテストし、統計データに基づいて解析し企業の各部門毎にＩＴ化のレベルを定量的に調査できるようにすること。 - 特許庁 - To provide an LSI testing probe card which can materialize an electric conduction with an electrode at a low load without damaging the electrode and a structure thereunder even when the electrode on an LSI becomes at a narrow pitch.
ＬＳＩ上の電極が狭ピッチになった場合にも、電極およびその下の構造体に損傷を与えることなく低荷重で電極との電気的導通を実現できるＬＳＩ検査用のプローブカードを提供する。 - 特許庁
- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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