「Testing」を含む例文一覧(14405)
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就寝者の呼吸曲線を算出し、その呼吸曲線から振幅包絡線を算出し、その振幅包絡線の極値の周期性から無呼吸状態もしくは低呼吸状態を判定する。 - 特許庁 - This testing piece (10) for checking the components of the prescribed ratios in the dialyzate includes a first medium capable of indicating the concentration of bicarbonate ions and a second medium capable of indicating the concentration of the glucose.
重炭酸イオンの濃度を示すことができる第１の媒体、及びグルコースの濃度を示すことができる第２の媒体を包含する、透析液中の所望の割合の成分を確認するための試験片（１０）。 - 特許庁 - When a slump testing method regulated by JIS(Japanese Industrial Standard) A1173 is applied to the material 25 to be cast in the water, slump can indicate a value of 0.5-2.0 cm.
然も、この材料は、水中に投入するときの該材料２５に対しＪＩＳ（日本工業規格）Ａ１１７３で規定されているスランプ試験方法を実施した場合のスランプが、０．５ｃｍ以上２．０ｃｍ以下の値を示す。 - 特許庁 - To provide a new contactor that can use for an existing measuring device and testing device, provided for using a contacting pin for electronic components and/or wiring and maintains advantageous electrical characteristics thereof.
電子部品および（または）配線のための接点ピンを使用するために設けられた既存の測定装置および試験装置に使用でき、その有利な電気特性を維持しているの新規な接触器を提供する。 - 特許庁 - The method of simulating the surface acoustic wave (SAW) on a structure that is modeled on a computer or other processor-based device enables the testing of actual SAW devices or to develop improved SAW devices.
コンピュータ又はその他のプロセッサベースのデバイス上でモデル化された構造体上の表面弾性波（SAW）をシミュレートする方法は、実際のSAWデバイスの試験を可能にするし、或いは改善されたSAWデバイスの開発を可能にする。 - 特許庁 - To provide a test item extraction device by which one can easily generate minimum necessary and sufficient testing items based on use environments and operational conditions even if one has poor experience in developing object software or a system.
対象となるソフトウェアあるいはシステムの開発経験が乏しくても、利用環境や運用条件に基づいて必要十分なテスト項目を容易に生成可能なテスト項目抽出装置を提供する。 - 特許庁 - In the semiconductor testing device including a test head having the pin card inside it and an interface device above it, the pin card can be inserted or removed from a side surface of the test head.
内部にピンカードが収納され上部にインターフェース装置が設けられているテストヘッドを含む半導体試験装置において、前記ピンカードの挿抜を前記テストヘッドの側面から行えるようにしたことを特徴とする。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for testing a rotary balance of a crankshaft which facilitates an automation of a measurement and which can precisely measure the rotary balance of the crankshaft even when an error is included in a phase of a crank pin.
測定の自動化が容易であり、かつクランクピンの位相に誤差が含まれている場合であってもクランク軸の回転バランスを正確に測定可能なクランクバランス試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a control device for machine tool for easily achieving the debug of a working program by avoiding a workload to make an operator to input the order of execution of working programs before testing a machine tool.
工作機械を試験する前に作業者に加工プログラムの実行順を入力させる作業負担を回避して簡便に加工プログラムのデバッグを実現する工作機械用制御装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a suspension system and a movable load testing vehicle for performing various track characteristic tests and quantitative seizure of the influences of vibration on a track or a ground by making the supporting rigidity of a vehicle body adjustable.
懸架装置及び移動式載荷試験車において、車体の支持剛性を変更可能とすることで多種類の軌道特性試験を実施し、振動が軌道や地盤に及ぼす影響を定量的に把握可能とする。 - 特許庁 - Since a control means is assigned to the sound-sending systems 6, the sound-sending systems can be controlled so as to substantially produce one-dimensional sound field directed toward the object of testing 4.
制御手段が音響送出装置６に割り当てられており、音響送出装置は、試験対象物４に向かって方向付けられた実質的に一次元の音場を生じさせるように制御可能である。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device wherein a test voltage of a gate withstand voltage is not restricted by a clamping voltage of a protection element, without having to enlarge chip size to the utmost, and to provide its testing method.
本発明の課題は、極力、チップサイズを大きくすることなく、ゲート耐圧のテスト電圧が保護素子のクランプ電圧の制約を受けることのない半導体装置およびそのテスト方法を提供することである。 - 特許庁 - Consequently in a state before the sheet-like member 11 is pasted on the device body, the test signal terminal 16 is exposed outside via a through-hole, thereby testing signal characteristics using the terminal 16.
従って、シート状部材１１が装置本体に貼られる前の状態であれば、試験用信号端子１６が、透孔を介して外部に露出しており、その端子１６を使った信号特性の試験が可能になる。 - 特許庁 - To provide an IC package tray, an IC test apparatus and its test method, which can test electrical properties of an IC package without transferring ICs from an IC carrying package tray to an IC testing package tray.
搬送用ＩＣパッケージトレイからテスト用ＩＣパッケージトレイにＩＣを移載することなく、ＩＣパッケージの電気的特性のテストを行うことができるＩＣパッケージトレイ、ＩＣテスト装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide structures and methods for emulation, simulation and tests, capable of shortening development time with superior observability, testability and controllability without having to use an expensive tester for testing or debugging a large-scale integrated circuit.
大規模集積回路の試験やデバッグを行うために、高価な試験器を用いず、可観測性と試験性と制御性が優れ、開発時間の短縮が可能なエミュレーション、シミュレーション、試験の構造と方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing the whole of the integrated circuit according to SCAN signal input in the integrated circuit device even that internal circuits have employed a multitude of SCAN style.
内蔵回路が多数のＳＣＡＮスタイルを採用していても、集積回路装置に入力されるＳＣＡＮ信号に応答して集積回路全体をテストすることができる半導体集積回路装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a watt-hour meter testing apparatus capable of negating errors caused by insulated current transformers when imaginary load tests are performed on a plurality of watt-hour meters through the use of insulated current transformers.
絶縁変流器を用いて複数の電力量計を虚負荷試験するに当り、絶縁変流器に起因する誤差を打ち消すことができる電力量計の試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The specimen testing device is provided with a dispensing mechanism 40 which dispenses the liquid such as the reagent or the like to a plurality of recesses U1, for liquid dispensing, formed on a microplate U and a control part which controls the operation of the dispensing mechanism 40.
マイクロプレートＵに形成された複数の液体分注用凹部Ｕ１に試薬等の液体の分注を行う分注機構４０と、この分注機構４０の動作を制御する制御部とを備える。 - 特許庁 - Thus, the output timing of the tested device can be measured more precisely than the resolving power corresponding to the predetermined clock timing in the IC testing device which has not been achieved before.
こうすることで、従来ではなし得なかったＩＣ試験装置において予め決められているクロックタイミングに対応した分解能以上の細かさで被試験デバイスの出力タイミングを測定することができる。 - 特許庁 - To provide a method capable of determining the quality of a semiconductor element, even after a sealing resin or the like is formed on a wafer, with regard to a semiconductor device testing method for determining the quality of the semiconductor device.
本発明は半導体手装置の不良品判別を行う半導体装置の試験方法に関し、ウエーハ上に封止樹脂等を形成した後であっても半導体素子の良否判定を行うことを課題とする。 - 特許庁 - This vibration testing device 1 is constituted so that acceleration data (test data) is collected by fetching the acceleration data at every fixed time and successively storing the fetched acceleration data in a storage area of a storage device 11.
一定時間毎に加速度データ（試験データ）を取り込み、該取り込んだ加速度データを順次記憶装置１１の記憶領域に記憶していくことによって加速度データを収集可能な振動試験装置１である。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory testing device capable of preventing the degradation of defect detection capability by making it possible to test an aimed address or the address other than the aimed address without changing a test pattern and a pattern program.
テストパターンやパターンプログラムを変更することなく、着目するアドレスまたは該アドレスを除外した試験を可能にして、不良検出能力の低下を防止できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a power clip and a testing device enabled to surely perform an power feed and discharge and signal detection at one time without giving damage to electrodes of electronic component as a body to be tested.
被試験体としての電子部品の電極に傷をつけることなく、又、複数個の電子部品の給放電、信号検出を同時に確実に行うことができる通電用クリップと試験装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a practical high temperature corrosion evaluation method of metallic material capable of evaluating quantitatively the influence of a temperature in the actual atmosphere without increasing a testing cost, and a projection used for the evaluation method.
試験コストを増大させることなく、実際の雰囲気で温度の影響を定量的に評価できる金属材料の実用的な高温腐食評価方法と該評価方法に用いる突起物を提供すること。 - 特許庁 - To reduce the influence of thermal jitter generated in the starting of an auxiliary circuit in a semiconductor device testing device constituted so as to perform a test by applying a test signal to a semiconductor device to be tested through the auxiliary circuit.
被試験半導体デバイスに対して補助回路を通して試験信号を印加し、試験を行う構成とした半導体デバイス試験装置において、補助回路の起動時に発生する熱ジッタの影響を低減する。 - 特許庁 - To provide an automatic testing system of communication resources in a mobile communication system, which detects abnormal resources by observing the traffic of communication resources, automatically performs a test and finds the abnormality in hardware on software at an early stage.
通信リソースのトラヒックを観測して異常リソースを検出し、自動的に試験を行ない、ハードあるいはソフトの異常を早期に発見する移動通信システムの通信リソース自動試験方式を提供する。 - 特許庁 - In the semiconductor integrated circuit device testing system, an input signal conversion circuit is installed at the prestage of an analog/digital conversion circuit on a probe card, thus achieving precise measurement, in agreement with the measurement purpose.
本半導体集積回路装置テストシステムにおいては、プローブカード上のアナログデジタル変換回路の前段に入力信号変換回路を設置し、測定目的に合致して且つ高精度な測定を可能としている。 - 特許庁 - Thus, by interconnecting input terminals and output terminals of a plurality of test devices, pieces of time information of the test devices are synchronized with each other to accurately conduct testing by using the time information.
このため、複数台の試験装置の入力端子と出力端子の間を接続することで、複数台の試験装置の時刻情報を同期させることができ、時刻情報を用いる試験を正確に行うことができる。 - 特許庁 - For the gradation levels included between the reference supply terminals, all the gradation levels included in the interval are tested by testing while switching input data and a decision level of a comparator in sequence for every one gradation level.
その基準電源端子間に含まれる階調レベルについて、一階調レベル毎、入力データとコンパレータの判定レベルの設定を順次切り替えながらテストし、その区間に含まれる階調レベルを全てテストする。 - 特許庁 - To provide a temperature correcting circuit capable of automatically correcting temperature in the case of changes in temperature at each part of a transmission system line constituted of integrated circuits and transmission lines in a semiconductor testing device.
半導体試験装置において、集積回路や伝送路などで構成される伝送系路の各部分で温度変化があった場合に、自動的に温度補正をすることができる温度補正回路を提供する。 - 特許庁 - A testing or verifying device of suspension has a first track section having a first rugged section for displacing the wheel of a vehicle by a first predetermined amount when the wheel overcomes at least a part of the rugged section.
サスペンションの試験あるいは実証装置は、車両の車輪がその少なくとも一部を乗り越えるとき第１の所定量だけ上記車輪を変位させる第１の起伏部を有する第１の軌道セクションを備える。 - 特許庁 - To provide a nondestructive method and a nondestructive apparatus for testing a ceramic coating film, which can test cracks causing separation of the ceramic coating film and measure the thickness of the ceramic coating film.
セラミックス被覆材の剥離を引き起こし得る亀裂の検査と、好ましくはセラミックス被覆材の膜厚の測定も行うことができるセラミックス被覆材の非破壊検査法及び非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁 - To improve the efficiency of the program development, testing, modification, maintenance and management and to improve the reliability of the machine device where the object code which is generated from the source code of a computer program is built in as the control means.
コンピュータプログラムのソースコードより生成されるオブジェクトコードを制御手順として内蔵する機械装置において、プログラム開発、テスト、変更、維持・管理の効率をあげること、機械装置の信頼性をあげること。 - 特許庁 - The piercing member is fitted to hold the test sensor on the inlet area by a method to take out the package, and the test sensor is held on the inlet area during a time testing the blood sample.
穿刺部材は、パッケージを取り出すような方法で入口領域に試験センサを保持するように適合され、かつ血液試料を試験する間、入口領域に試験センサを保持するように適合されている。 - 特許庁 - The B/I testing device monitors a power supply current value supplied to the BIBD and, when the value exceeds the maximum current limit Ilmt (max), issues an alarm, shuts off the supply of the power, and the like.
Ｂ／Ｉテスト装置は、ＢＩＢＤに供給している電源電流値を監視し、この値が最大電流リミットＩｌｍｔ（ｍａｘ）を超えた場合に、アラームの発生や当該電源供給の遮断等を行う。 - 特許庁 - To easily and surely create, collect and store patient data as statistical information for every research or clinical testing purposes while securing confidentiality, in a medical information providing/obtaining system through a two-way communication network.
双方向通信ネットワークによる医療情報提供・取得システムにおいて、研究や治験の目的ごとに患者データを秘匿性を確保しながら統計情報として容易かつ確実に作成して収集・保管する。 - 特許庁 - In this condition, testing and inspection are performed in real time by setting a circuit, which is so integrated as to make the packet transmitting pattern and the packet receiving function (for confirming the filtering) be a pair, to each of the FPGAs of both the transmitting and receiving sides.
この状況で、パケット送出パターンとパケット受信機能（フィルタリングの確認用）を一対になるように統合した回路を送受信双方のＦＰＧＡにセットして、リアルタイムでの試験検査を行なう。 - 特許庁 - To provide a quick load testing machine of a pile, which is constituted so as to realize the transmission of a predetermined impact force caused by the falling of a weight to the head of the pile in a predetermined transmission time and made small-sized.
本発明は、杭頭に対して重錘の落下による所定の衝撃力の伝達を所定の伝達時間で実現するとともに、装置を小形化した杭の急速載荷試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a simple and rapid wipe-off property testing method, capable of evaluating the degree and distribution state of a stain remaining, after the stain has been wiped off by a sample and reduced in error, and a wipe-off property tester therefor.
試料で汚れを拭き取ったあとに残留する汚れの程度と分布状態が評価可能な、簡便、迅速かつ誤差が小さい拭き取り試験方法とそのための拭き取り性試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for inspecting a printed board that are capable of easily and inexpensively performing electrical testing of a printed board the position of which should be determined in such a state that a plurality of inspection probes are made close to each other.
複数の検査用プローブを接近させた状態で位置決めすることが必要なプリント基板の電気検査を簡単、かつ低コストで行えるプリント基板の検査装置および検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To contemplate miniaturization, thinning and cost reduction on a mounting structure of a semiconductor device socket, for mounting the semicon ductor device socket, where a semiconductor device is mounted, on a testing circuit board.
本発明は半導体装置が装着される半導体装置用ソケットを試験用回路基板に取り付ける半導体装置用ソケットの取付構造に関し、小型薄型化及び低コスト化を図ることを課題とする。 - 特許庁 - The water absorption speed testing method: including putting 0.5 g water absorbing resin into a 100 ml container at 20°C followed by putting 50 g tap water thereinto at one time, and measuring a time (s) until the whole gels by 10 seconds.
吸水速度試験法：２０℃において、吸水性樹脂０．５ｇを１００ｍｌ容器に入れ、その中に水道水５０ｇを一度に入れ、全体がゲル化するまでの時間（秒）を１０秒単位で測定する。 - 特許庁 - (ii) Is a system for testing structured in a way to prevent inadequate tests and reviews that would cause problems with long-lasting effects on customers or serious miscalculations in risk management-related documents and materials that are used for corporate management decision making?
（ⅱ）テストやレビュー不足が原因で、長期間顧客に影響が及ぶような障害や経営判断に利用されるリスク管理用資料等の重大な誤算が発生しないようなテスト実施態勢を整備しているか。 - 金融庁 - A test signal generated by a test signal generating part disposed in the main body of the testing device is outputted for a prescribed time after a power supply is made, and this signal is read out and compared with expectation in each pin card.
電源が投入されてから一定時間、試験装置本体に配置されたテスト信号生成部が生成したテスト信号を出力し、各ピンカードでこのテスト信号を読み出して期待値と比較するようにした。 - 特許庁 - The work station (WS) 4 executes defect examination and defect analysis by segments, with respect to failure information on semiconductor memories measured by a memory tester 1, segment-classified prior to testing, and stored in the data storage part 3.
ワークステーション（ＷＳ）４は、テスト前にセグメント分類され、データ格納部３に格納されているメモリテスタ１で測定した半導体メモリのフェイル情報をセグメントごとに不良調査及び不良解析を実行する。 - 特許庁 - In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.
本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁 - To provide an elastic wave propagation velocity measuring and operating method of a solid capable of acquiring a highly-reliable and highly-accurate test result easily and rationally, and a nondestructive compressive strength testing device using the method.
容易且つ合理的に信頼性と精度の高い試験結果を得ることができる固体の弾性波伝播速度測定演算方法及び該方法を用いた非破壊圧縮強度試験装置を提供する。 - 特許庁 - To enable execution of probe cleaning and contact check or the like during measurement of a wafer in the wafer testing step for a wafer fixing jig and a manufacturing method of semiconductor device.
本発明はウエハ固定治具および半導体装置の製造方法に関し、ウエハテストの工程において、ウエハの測定途中にプローブのクリーニングやコンタクトチェック等を実施することを可能とすることを目的とする。 - 特許庁 - To certainly detect a flaw by combining the merits of a plurality of test systems in a substrate inspection apparatus for testing a substrate for a semiconductor circuit element, a liquid crystal display element, or the like.
本発明は、半導体回路素子や液晶表示素子等の基板を検査する基板検査装置に関し、複数の検査方式の長所を組み合わせて欠陥検出を確実に行うことを目的とする。 - 特許庁 - A code synchronous and serial/parallel conversion circuit 1 synchronizes codes and converts a receiving system Y into information systems I1 to IK and a testing system P in serial and parallel, and outputs them to a first stage decoding circuit 2.
符号同期及び直列／並列変換回路１は符号同期をとり、受信系列Ｙを情報系列Ｉ１〜ＩＫと検査系列Ｐとに直列／並列変換し、第１段復号回路２に出力する。 - 特許庁
