「Testing」を含む例文一覧(14405)

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  • To provide a stable inspection environment that suppresses as much as possible the fluctuations in the power supply voltage in the inside region of a semiconductor device which is caused by factors of a testing system, and to improve the product quality of the device.
    テストシステムの要因による半導体装置内部領域の電源電圧の変動を極力抑えた安定した検査環境の提供により、半導体装置の製品品質を向上する。 - 特許庁
  • Consequently, uniformization of speed over the parallel direction X for the blown-off airgases having passed the resistant substance 80 is accelerated, and the deviation in the speed of the testing wind over the parallel direction X can be suppressed.
    これによって外部抵抗体８０を通過した送風気体について、並列方向Ｘの速度の均一化を促進し、並列方向Ｘにわたる試験風の速度の偏りを抑えることができる。 - 特許庁
  • To provide a memory test method for a semiconductor integrated circuit in which a testing cost is reduced without providing an exclusive circuit for a memory test to perform a self-test of a memory incorporated in a semiconductor integrated circuit.
    半導体集積回路に内蔵されたメモリの自己テストのためにメモリテスト専用回路を設けることなく、低コスト化を図った半導体集積回路のメモリテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing method for evaluating segregation resistance of fresh concrete with a slump value of 18-23 cm which can be easily conducted by using a simple apparatus or device.
    簡単な器具ないし装置を用いて容易に実施することのできる、スランプ値が１８〜２３ｃｍのコンクリートのフレッシュ時の材料分離抵抗性を評価するための試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for testing nuclear fuel pellets which enable accurate and efficient tests on the whole surface of them without being affected by inspectors'vision and the like.
    原子力燃料ペレットの全表面を検査員の視力等によって影響されることなく正確に効率良く検査することのできる原子力燃料ペレット検査方法および装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device for testing a cup member for an artificial hip joint, capable of allowing a stress distribution in the cup member to be close to uniformity, and considerably suppressing complexity in a device configuration.
    カップ部材における応力分布をより一様に近づけるとともに、装置構成の複雑化を大幅に抑制することができる人工股関節用カップ部材の試験装置を提供する。 - 特許庁
  • In the testing device, a mechanical filter (18) is disposed between the radiation source (14) and the receptacle member (12), whereby the intensity of light which is radiated by the radiation source and impacts on the receptacle, is homogenized over the whole sample.
    放射源（１４）と受台部材（１２）との間に機械的フィルタ（１８）を配置し、これによって、放射源から受台部材上の試料全体にわたり放射源からの光度が均一に分配される。 - 特許庁
  • Thereby, the pressing plate 31 is arranged over both the tips of the insertion part 54 and the receiving part 53 of the connection part 51, while the water-sealed testing space 11 is formed between the connecting part 51.
    これにより押さえ板３１が、継手部５１の内周面の挿し口５４と受口５３の両先端部にまたがって配置され、継手部５１との間に水密封止された試験空間１１を形成する。 - 特許庁
  • To provide a heat deterioration testing machine capable of achieving the same oxygen exposure quantity as the case of being used in a temperature-controlled thermostat, even in the case of being used in a temperature-uncontrolled natural environment.
    温度制御されていない自然環境下で使用した場合でも、温度管理されている恒温槽で使用した場合と同じ酸素曝露量を実現できる熱老化試験機の提供を課題とする。 - 特許庁
  • To provide a subject control method capable of holding the vertical stress applied to the shearing surface of a material test piece vertically to an almost constant state and a material testing device.
    材料試験片の剪断面に垂直に加わる垂直応力を略一定な状態に保つことができる材料試験装置における制御方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing device of a bearing around a crank of an engine by which durability and life of the bearing which is used around the crank of the engine are evaluated in accordance with rolling of the bearing.
    軸受を転がり化することに伴い、エンジンのクランク周辺に用いられる軸受の耐久性や寿命を評価することができるエンジンのクランク周辺軸受の試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a power supply device capable of suppressing maximumly increase of a circuit scale and cost, and to provide a semiconductor testing device capable of reducing cost by including the power supply device.
    回路規模及びコストの増大を極力抑えることができる電源装置、及び当該電源装置を備えることによりコストの低減を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Article 57 (1) In the event that the designated testing agency comes to fall under any of the items (except item (iii)) of paragraph (2) of Article 47, the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism shall rescind the designation.
    第五十七条　国土交通大臣は、指定試験機関が第四十七条第二項各号（第三号を除く。）のいずれかに該当するに至ったときは、その指定を取り消さなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (f) Centrifugal accelerator testing machines capable of applying an acceleration rate exceeding 980 meters per second squared, and that have a slip ring capable of supplying electricity and transmitting signal information
    ヘ　遠心加速度試験機であって、九八〇メートル毎秒毎秒を超える加速度を与えることができ、電気の供給及び信号情報の伝達を行うことができるスリップリングを有するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (3) A Registered Inspection Body must, when wishing to change the address of the place of business implementing Testing of Organisms, notify the competent minister no less than 2 weeks before the scheduled date of the change.
    ３　登録検査機関は、生物検査を実施する事業所の所在地を変更しようとするときは、変更しようとする日の二週間前までに、主務大臣に届け出なければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (vii) Technology specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry and employed in the design, manufacture, or use of equipment used in the testing of resistance of materials against laser beam or targets used therein
    （七）　レーザー光に対する物質の耐久性の試験を行うための装置又はその試験に用いる標的の設計、製造又は使用に係る技術であつて、経済産業省令で定めるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Testing the queries shows that the queries return the desired results. The next step is to implement the queries in the application so that the appropriate query is invoked by clicking the Query button in the form.
    クエリーのテストによって、そのクエリーが目的の結果を返すことがわかります。 次の手順では、フォームで「クエリー」ボタンをクリックすると適切なクエリー呼び出されるように、クエリーをアプリケーションに実装します。 - NetBeans
  • With these levels of gene expression in an organic sample as indices, the steroid responsiveness testing method and a method for screening compounds useful for improving steroid responsiveness are provided.
    本発明は、生体試料におけるこれらの遺伝子発現レベルを指標とする、ステロイド応答性の検査方法や、ステロイド応答性の改善に有用な化合物のスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for testing lymph node metastasis in cervical cancer which can determine the presence of lymph node metastasis in cervical cancer with higher accuracy, a device for determining lymph node metastasis in cervical cancer and a computer program.
    子宮頸癌のリンパ節転移の有無をより高い精度で判定することができる子宮頸癌のリンパ節転移の検査方法、子宮頸癌のリンパ節転移判定装置およびコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁
  • To provide circuit constitution capable of testing integrally both signal body inspection for a hard macro circuit and inspection for a peripheral circuit in the hard macro, as scan path inspection for a circuit including the hard macro.
    ハードマクロ回路に対する単体検査と前記ハードマクロの周辺回路の検査とをハードマクロを含む回路に対するスキャンパス検査として、両検査を一体化して試験できる回路構成を提供する。 - 特許庁
  • ⑤ Whether a testing system for the prevention of faults that will have an effect on customers and significant miscalculations in the materials for risk management purposes which will be used for business diagnoses is developed.
    ⑤レビューやテスト不足が原因で、顧客に影響が及ぶような障害や経営判断に利用されるリスク管理用資料等の重大な誤算が発生しないようなテスト体制を整備しているか。 - 金融庁
  • Supervisors shall identify the amount of Financial Instruments Business Operators’ securities holdings, based on offsite monitoring data, and analyze market risks through stress testing that assumes a prescribed level of price change.
    金融商品取引業者の有価証券保有額について、オフサイト・モニタリングのデータ等に基づき把握し、一定の価格変動を仮定したストレステストを基に、市場リスクに関する分析等を行う。 - 金融庁
  • METHOD FOR QUANTIFYING METHACRYLIC ACID ALKYL ESTER, ACRYLIC ACID-METHACRYLIC ACID ALKYL ESTER COPOLYMER FOR MEDICINAL PREPARATION FOR EXTERNAL APPLICATION, METHOD FOR TESTING THE SAME, AND COMPOSITION OF MEDICINAL PREPARATION FOR EXTERNAL APPLICATION
    メタクリル酸アルキルエステルの定量方法、医薬外用製剤用アクリル酸・メタクリル酸アルキルエステル共重合体、アクリル酸・メタクリル酸アルキルエステル共重合体の試験方法、及び医薬外用製剤組成物 - 特許庁
  • Being suitable for high-speed operation, the Kosei Line was utilized for testing the speed improvement of the JNR/JR Limited Express Series 381, JR (West) Suburban Train Series 221, JR (Shikoku) Limited Express Series 8000, etc., beginning in the era of Japan National Railways (JNR).
    高速運転に最適な路線であるため、日本国有鉄道時代から、湖西線を利用して国鉄381系電車・JR西日本221系電車・JR四国8000系電車などが速度向上試験に取り組んだ。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • As of October 2008, the fastest speed in business operation, except that in experimental testing, is 350 km/h achieved by the Hayate train of Shinkansen in Japan and by Beijing–Tianjin Intercity Railway in China where the ICE3 technology of Germany has been introduced.
    走行試験を除く営業運転速度は、2008年10月現在、日本の新幹線はやて(列車)やドイツのICE3の技術を導入した中国北京・天津高速鉄道の350km/hが世界最高である。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • Kanji of the Year is a Chinese character representing the social conditions in Japan or World of the year which is announced once a year by the Japan Kanji Aptitude Testing Foundation on the "Kanji's day", December 12.
    今年の漢字（ことしのかんじ）とは、財団法人日本漢字能力検定協会が、毎年12月12日の「漢字の日」に発表している、その年の日本や世界の世相を表した漢字一字のことである。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • To reduce the cost and to improve the reliability with regard to a test socket for testing an mounted electronic component, its manufacturing method and the semiconductor device using the socket.
    本発明は電子部品を装着してテストを行なうテスト用ソケット及びその製造方法及びこれを用いた半導体装置に関し、低コスト化及び信頼性の向上を図ることを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a blood bag for testing and a blood sampling instrument, having good operability in sampling blood (sampling the initial flow blood), and surely sampling a required quantity of blood (initial flow blood).
    採血（初流血の採取）を行う際、その操作性がよく、また、確実に必要量の血液（初流血）を採取することができる検査用血液バッグおよび採血器具を提供すること。 - 特許庁
  • A probe card needle is simultaneously brought into contact with a testing bonding pad of the plurality of semiconductor chip regions adjacent to each other, and normalities or abnormalities of the plurality of semiconductor chip region are simultaneously tested.
    互いに隣接する複数の半導体チップ領域の試験用ボンディングパッドにプローブカード針を同時に接触させて、複数の半導体チップ領域の正常又は異常を同時に試験する。 - 特許庁
  • To provide electrolytic copper foil for solving the problems of the warpage and twisting of a copper clad laminate after the covering of electrolytic copper foil and the problem of dimensional stability and to provide a testing method for ensuring its quality.
    電解銅箔を張り付けた後の銅張積層板の反り、捻れの問題、寸法安定性の問題を解決するための電解銅箔及び品質を保証するための検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an inspection apparatus for a semiconductor deice for minimizing fraction defective of the semiconductor device that may be caused depending on temperature conditions, by testing durability of the semiconductor device against a temperature.
    半導体素子の温度に対する耐久性をテストすることによって、温度条件によって発生する半導体素子の不良率を最小化することができる半導体素子検査装置を提供する。 - 特許庁
  • This semiconductor integrated circuit device is constituted of a memory circuit 100, a BIST circuit 110 self-testing the memory circuit 100, and a speed decision circuit 120 deciding address access time performance of the memory circuit 100.
    本発明の半導体集積回路装置は、メモリ回路100と、メモリ回路100を自己テストするBIST回路110と、メモリ回路100のアドレスアクセスタイム性能の判定を行なうスピード判定回路120とを含み構成されている。 - 特許庁
  • The test pattern compression method performs compression on a plurality of test patterns for testing a circuit and is configured so as to simultaneously test the logic paths which cross each other activated by each test pattern.
    回路をテストする複数のテストパターンに対して圧縮を行うテストパターンの圧縮方法であって、前記各テストパターンで活性化された論理パスが交差するものを同時にテストするように構成する。 - 特許庁
  • To provide a method for converting phospholipid into a solid phase in a stable and directed state, and base material for testing anti phospholipid antigen which is excellent in reproducibility and accuracy by using a solid phase layer.
    リン脂質を安定且つ配向した状態で固相化させる方法、及びその固相化層を利用する事で、再現性、精度に優れた抗リン脂質抗体検査用基材を提供する。 - 特許庁
  • This method has wide specificity over main first generation β-lactams, and can be used for testing milk, meat or the like on the existence of the remaining β-lactam antibiotic.
    本発明は、主な第１世代β−ラクタムにわたる広範な特異性を有し、そして残留β−ラクタム抗生物質の存在について牛乳および食肉などを試験するために使用することができる。 - 特許庁
  • This vehicle cooling device 1 comprises a plurality of suspending members 3 fixed to a ceiling part 2 in a testing laboratory, and sheet-shaped cooling bags 4 suspended from each of the suspending members 3.
    車輌冷却装置１は、試験室内の天井部２に固定された複数の吊下部材３と、各吊下部材３により吊り下げられるシート状のクーリングバッグ４とにより構成されている。 - 特許庁
  • To provide a method for testing many word lines of a semiconductor memory assembly in a multiple WL wafer test in which a multiple wafer test can be performed quickly without needing much cost.
    迅速に、そして多大の費用を伴わずにマルチプルＷＬウエハテストを実施できるような、マルチプルＷＬウエハテストにおける半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • An in- communication detecting means 3b decides whether the network terminating device specified by the means 3a is in the middle of communication at that time and notifies it to a testing means 3c.
    通信中検出手段３ｂは、対象特定手段３ａによって特定された網終端装置がその時点において通信中であるか否かを判定し、試験手段３ｃに通知する。 - 特許庁
  • The semiconductor testing device sets high-level and low-level signals, which a driver 2 inputs to the DUT 4 by adjustment DA converters 15 and 16, to a high level for adjustment and a low level for adjustment, respectively.
    半導体試験装置は、その調整用ＤＡコンバータ１５、１６によりドライバ２がＤＵＴ４に入力するハイレベル、ローレベルの信号を、それぞれ調整用ハイレベル、調整用ローレベルに設定する。 - 特許庁
  • A protection device 42 is interposed between the input shaft 31a of the testing object 31 and and an output shaft 32a of the motor 32 for supplying the simulation torque for an engine, without using an expensive torque pick-up.
    特に高価なトルクピックアップを用いることなく、供試体３１の入力軸３１ａと、エンジンの模擬動力供給用モータ３２の出力軸３２ａとの間に保護装置４２を介在させる。 - 特許庁
  • Thus, no voltage is hereinafter applied to the semiconductor device, thereby to avoid thermal runaway thereof and to prevent damage of the semiconductor device and the burn-in testing apparatus resulting from the thermal runaway.
    これにより、その半導体装置には、以後、電圧が印加されなくなるため、その熱暴走が回避され、熱暴走に起因した半導体装置やバーンイン試験装置の損傷が回避されるようになる。 - 特許庁
  • To provide a smoke sensor and a smoke sensor testing method which safely and easily performs general tests of a fire alarm system having the smoke sensor attached to a high ceiling.
    加煙感知器が高天井に設置された火災警報システムの総合試験を地上で安全かつ容易に行うことができる加煙感知器および加煙感知器の試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method capable of shortening furthermore a time required for a burn-in test, and hereby reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.
    バーンイン試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and device for testing semiconductor device by which the reliability parameters of wiring can be found individually and accurately at conducting of reliability evaluation tests on the wiring in the state of a wafer.
    ウェハ状態での配線の信頼性評価試験において、配線の信頼性パラメータを個別にかつ正確に求めることができる半導体装置の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a subscriber circuit testing system which can reduce labor- hours and manhours when a test is performed to complaint call and enables quick acquisition and unified control of test results.
    苦情呼に対して試験を行う際の手間や工数を低減することができ、試験結果の迅速な入手や統一的な管理を行うことができる加入者回線試験システムを提供すること。 - 特許庁
  • To provide a technology capable of preventing deformation of a lead of a semiconductor device in a characteristic test, and facilitating the lead adjustment work when testing the semiconductor device dismounted from a substrate.
    特性試験における半導体装置のリードの変形を防止し、加えて、基板から取り外した半導体装置を試験する際のリード修正作業を容易にすることが可能な技術を提供する。 - 特許庁
  • Integrity testing stations 24 examine the contents at plural locations along the distribution channel 16, and determine whether or not the integrity of the digital contents has been tempered with, by using the embedded applet 18.
    配布経路１６上の複数の場所で、一貫性検査ステーション２４がコンテンツを検査し、埋め込まれたアプレット１８を利用してディジタルコンテンツの一貫性が改ざんされているか否かを判断する。 - 特許庁
  • To provide a test method which improves a test method performed in an atmosphere in which siloxane gas gets mixed and enables a stable control even with respect to humidity, and testing equipment.
    シロキサンガスが混入された雰囲気中で行う試験方法を改良し、湿度についても安定して制御することができる試験方法及び試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • To provide an electron beam tester capable of testing an electric component with a simple structure and accurately positioning it in a short time in measuring a voltage waveform, and a test method for it.
    簡易な構成で電気部品の試験を行うことのできる、また、電圧波形測定における位置決めを正確且つ短時間で行うことのできる電子ビームテスタ及び試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a ceramic plate for semiconductor manufacturing/testing device which bears up against rapid temperature increase, with small temperature dispersion, without breaking semiconductor wafer by heat shock.
    迅速な昇温を行うことが可能であり、加熱面の温度ばらつきが小さく、半導体ウエハ等が熱衝撃により破損することのない半導体製造・検査装置用セラミック基板を提供すること。 - 特許庁
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