「Testing」を含む例文一覧(14405)
＜前へ 1 2 .... 234 235 236 237 238 239 240 241 242 .... 288 289 次へ＞- To provide a pipeline analog-to-digital converter testing circuit, and a pipeline analog-to-digital converter equipped with this, which directly measures the characteristics of each component of the pipeline analog-to-digital converter in a short period of time.
短時間でパイプラインＡ／Ｄ変換器の各構成要素の特性を直接測定することが可能なパイプラインＡ／Ｄ変換器の試験回路及びこれを備えたパイプラインＡ／Ｄ変換器を実現する。 - 特許庁 - To provide methods and apparatus that allow real-time data transmission between patients and medical practitioners to enable efficient communication and high throughput point-of-care testing in an ambulatory context.
患者と医療実務者との間の実時間データ伝送が、歩行用の状況において効率的な伝達および高処理能力ポイントオブケア検査を可能にする方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a biological substance test device, particularly to provide a microreactor for testing biological substances enabling multi-item test in high reliability by changing a loaded probe as appropriate, and to provide a related device.
生体物質検査デバイス、特に搭載するプローブを適宜変更することにより多項目検査を高い信頼性で可能とする生体物質検査用マイクロリアクタおよびデバイスを提供する。 - 特許庁 - To provide a game nail height testing device for a game board which efficiently tests the propriety of the height of the game nail driven into the game board without complicating a post processing process after a test.
検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を効率良く検査できる遊技盤における遊技釘の高さ検査装置を提供する。 - 特許庁 - To obtain an oligonucleotide combination suitable for constituting a rapid and specific genetic testing reagent of for Shiga toxin group gene type 2 (stx2) of enterohemorrhagic Escherichia coli (EHEC).
腸管出血性大腸菌（ＥＨＥＣ）の志賀毒素群遺伝子２型（ｓｔｘ２）の迅速かつ特異的な遺伝子検査試薬を構成するのに好適なオリゴヌクレオチドの組み合わせを提供すること。 - 特許庁 - To provide a constitution in which testing pads are separated from an internal circuit after an all lighting test is conducted for the substrate that constitutes a flat panel display of a liquid crystal panel or the like having dedicated pads for the test.
全点灯試験用の専用パッドを備えた液晶パネル等のフラットパネルディスプレイを構成する基板において、全点灯試験後に試験用パッドが内部回路から切り離される構成とすること。 - 特許庁 - To provide a testing device, a high-speed serial controller, and an image processor which don't require preparation of apparatus for error function evaluation when evaluating an error function between connected semiconductors.
接続された半導体間におけるエラー機能評価を行う際に、エラー機能評価を行うための機器類を用意する必要がないテスト装置、高速シリアルコントローラ及び画像処理装置を提供する。 - 特許庁 - The flexible board circuit wires are provided up to the projected areas 31A, 31B from the circuit structure for propagating low-frequency signals, and these are connected with contact electrodes 27A, 27B for testing at the projected areas 31A, 31B.
低周波信号が伝搬する回路構成部から突出部３１Ａ，３１Ｂまでフレキシブル基板回路配線を設け、突出部３１Ａ、３１Ｂで検査用のコンタクト電極２７Ａ、２７Ｂと接続する。 - 特許庁 - A probe card 18 is equipped with a relay 38 for connecting a probe 16A to a voltage source of a tester 14 at the wafer 12 testing time, and grounding the probe 16A at the contact resistance measuring time of the probe.
プローブカード１８は、ウェハ１２の試験時にはプローブ１６Ａをテスタ１４の電圧源と接続し、プローブの接触抵抗測定時にはプローブ１６Ａを接地するリレー３８を備えている。 - 特許庁 - A testing input/output device 30 outputs the selected test signals to the devices to be tested, and the personal computer 40 checks the quality of each device to be tested based on input signals from the devices to be tested.
試験用入出力装置３０は選択された試験信号を被試験器に対して出力し、パソコン４０は被試験器からの入力信号に基づいて被試験器の良否を判断する。 - 特許庁 - To provide a disk storage device capable of ensuring high reliability by performing a magnetization test even in a magnetic disk drive of a small diameter with increased data sector length, a head amplifier and a head testing method.
データセクタ長が増えた小径の磁気ディスク装置でも帯磁テストを行なうことで、高い信頼性が確保可能なディスク記憶装置、ヘッドアンプ装置及びヘッドテスト方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device capable of shortening time required for a gradation test of a device to be tested by shortening time for quality determination based on a differential value between positive output and negative output.
正極出力と負極出力との差分値に基づく良否判定にかかる時間を短縮して、被試験デバイスの階調テストに要する時間を短縮する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a comparator circuit in a semiconductor testing device capable of comparing and measuring by a high-impedance input when an output voltage of an IC to be measured is not more than a rated voltage of a comparator.
被測定ＩＣの出力電圧がコンパレータの定格電圧以内の場合に、高インピーダンス入力による比較測定を行うことができる半導体試験装置におけるコンパレータ回路を提供する。 - 特許庁 - This easily disaggregating paper tube is constituted so that required time up to completely disaggregating becomes 60 minutes or less when performing disaggregation processing by a pulp-disaggregation testing method recorded on JIS P 8220.
ＪＩＳ Ｐ ８２２０に記載のパルプ−離解試験方法により離解処理を行った際の、完全に離解するまでの所要時間が６０分以下である易離解性紙管を製造する。 - 特許庁 - To provide a portable mobile mold material evaluation system for collecting a minute sample from an actual product structure, processing the minute sample in the field and testing a material.
実機構造物から微小なサンプル試料を採取し、その場で微小なサンプル試料を加工し材料試験を行うことができる持ち運び可能なモバイル型材料評価システムを提供することである。 - 特許庁 - To provide an inexpensive corrosion test method capable of reproducing a corrosion state in an actual environment, and efficiently performing a corrosion test by accelerating corrosion, and dispensing with special testing devices.
実環境における腐食状態を再現でき、腐食を加速させて効率的に腐食試験を行うことができ、しかも特殊な試験装置を必要としない安価な腐食試験方法を提供する。 - 特許庁 - To facilitate production of a test piece so as to provide a friction testing machine and a method thereof for carrying out measurement with good reproducibility by using the test piece requiring no V-shaped notching process.
Ｖ字状切れ込み加工を必要としない試験片を利用することができ、これにより試験片の作製が容易で、再現性のよい計測が可能な摩擦試験機および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a system, method, and program product for interpreting, optimizing, and customizing data mining models through the use of statistical techniques that utilize diagnostic measures and statistical significance testing.
診断尺度および統計的有意性検定を利用する統計技術の使用を通じてデータ・マイニング・モデルを解釈し、最適化し、及びカスタマイズするためのシステム、方法およびプログラム製品を提供する。 - 特許庁 - The base paper for the corrugated cardboard obtained by the method has ≥50 sec smoothness based on J Tappi paper pulp testing method No. 5, and ≥20% glossiness based on JIS-P-8142.
Ｊ Ｔａｐｐｉ紙パルプ試験方法Ｎｏ．５に準ずる平滑度が５０秒以上で、かつＪＩＳ−Ｐ−８１４２に準ずる光沢度が２０％以上であることを特徴とする段ボール原紙。 - 特許庁 - This net for construction work is knitted by using synthetic fibers having ≥80% tenacity retention after irradiation in a sunshine weatherometer of an apparatus for testing of weather resistance for 500 h and ≤3,300 dtex fineness.
耐候試験機サンシャインウェザーメーター５００時間照射後に強力保持率が８０％以上である繊度が３３００ｄｔｅｘ以下の合成繊維を用いて製編された建設工事用ネットである。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device and a method capable of improving handleability of a user by mitigating a restriction for connection to a DUT (Device Under Test), and utilizing a resource effectively.
ＤＵＴとの接続上の制約を緩和することにより、ユーザの使い勝手を向上することができるとともにリソースを有効利用することができる半導体試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a spring limit value testing device and an efficient spring limit value measurement method for reducing a sample cost, working man-hours and a working time while securing accuracy of data.
データの正確性を担保しつつ試料コストの削減が図れ、且つ作業工数および作業時間を軽減したばね限界値試験機および効率的なばね限界値測定方法を提供する。 - 特許庁 - The model animal for testing pruritus caused by drying is provided, wherein the glabrous skin of a tested animal is dried and the pruritus is caused by physical stimulation on the glabrous skin.
試験動物の無毛皮膚を乾燥皮膚とし、前記乾燥皮膚に物理的な刺激を与えることにより掻痒が惹起され、乾燥による掻痒を試験するモデル動物を作製できることを見出した。 - 特許庁 - To provide a system for measuring maximum value of applied stress voltage which can determine whether burn-in test of a semiconductor device has been performed under proper conditions or not during the burn-in testing.
本発明は、半導体装置のバーンインテスト時にバーンインテストが適切な条件で実施されたか否かを判断することができる印加ストレス電圧の最大値を測定する装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a culture unit capable of conducting the classified collection of target microorganisms and their culture simultaneously, leading to dispensing with multistep culture operations for testing microorganisms and thereby cutting the test time.
対象とする微生物の分別収集とその培養を同時に行うことが可能で、微生物の検査において多段階の培養が不要となり、検査時間を短縮できる培養装置を提供する。 - 特許庁 - To establish a test method eliminating the effect of reduction in conducting a heating test for baked and densified stability evaluation of gadolinia-added uranium dioxide pellets and prevent the increase of testing cost.
ガドリニア添加二酸化ウランペレットの焼きしまり安定性評価のための加熱試験を行う場合に、還元による影響を排除する試験方法を確立すると共に、試験コストの増加を防止すること。 - 特許庁 - In an operating room, operating tools, tool stands carrying the tools, and peripheral devices such as a drip, an electrocardiograph and a microscope for operation are existent in addition to the magnetic imaging apparatus for testing and a bed.
手術室には、検査用の磁気共鳴イメージング装置と寝台の他に手術器具類やそれを搭載する器具台、点滴、心電計、手術用顕微鏡などの周辺機器などが存在する。 - 特許庁 - The testing of the sleep disorder is achieved in high repeatability, and the animal model of the sleep disorder is made by controlling the flow rate of each gas fed to the rearing box in good accuracy.
また、飼育器内に供給される各気体の流量を精度良くコントロールすることによって、再現性の高い睡眠障害実験および睡眠障害モデル動物の作製を実現できる。 - 特許庁 - To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.
半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁 - The utility cartridge 20 is composed of a computer readable magnetic storage medium 22 for executing the testing operations 70, 84 and 90, and a nonmagnetic cleaning medium 24 for cleaning a drive head 14.
ユーティリティカートリッジ（２０）はテスト動作（７０，８４，９０）を実行するコンピュータが読み取り可能な磁性記憶媒体（２２）およびドライブヘッド（１４）を清掃するための非磁性のクリーニング媒体（２４）からなる。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for testing a noise reduction performance of a drainage pavement which tests the noise reduction performance without use of an expensive measuring vehicle in a high S/N ratio in real time.
高価な測定車両を用いることなく、高いＳ／Ｎ比で騒音低減性能をリアルタイムに試験することができる排水性舗装の騒音低減性能試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card for a semiconductor testing device, improving inconveniences in device test with the interference of a power current between a plurality of DUTs in the prove card applicable to a wafer prober device.
ウエハプローバ装置に適用するプローブカードにおいて複数ＤＵＴ間の電源電流の干渉に伴うデバイス試験の不具合を改善可能とした半導体試験装置のプローブカードを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.
ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - To reduce man-hours concerning a circuit for testing a gate array provided in a one-chip ASIC microcomputer and automatically convert test vectors for the gate array to test vectors for a semiconductor integrated circuit device.
ゲート・アレイ部を備えたワンチップＡＳＩＣマイコンにおいて、ゲート・アレイ部の試験のための回路についての工数を削減し、ゲート・アレイ部のテストベクタを半導体集積回路装置のテストベクタに自動で変換する。 - 特許庁 - To provide a testing apparatus for film thickness unevenness by which thickness unevenness of a film formed on a member may be appropriately tested even when a phase characteristic of light may not be recognized.
部材表面に形成された皮膜の膜厚むらを、光の位相特性を認識することができない場合においても適切に検査することが可能な膜厚むらの検査装置を提供する。 - 特許庁 - In an apparatus for testing the force for shearing a welding element of solder or gold for bonding a conductor from a substrate, the welding element has a diameter of 50-100 μm.
導電体を接合するためのはんだまたは金の溶着体を基板から剪断させるための力を試験するための装置で、溶着体は５０−１００マイクロメートルの範囲の直径を有する。 - 特許庁 - In this load testing equipment 10, foundation concrete 14 is allowed to subside while the ground 12 is compressed and deformed by allowing load to act on the foundation concrete 14 in a vertical lower direction by a plurality of hydraulic jacks 20.
載荷試験装置１０では、複数の油圧ジャッキ２０が基礎コンクリート１４に鉛直下方への荷重を作用させることで、地盤１２が圧縮変形されつつ基礎コンクリート１４が沈下される。 - 特許庁 - To provide a bearing testing device capable of reproducing white peeling of a test bearing with high accuracy and in a short time, and reproducing white peeling of any of a rolling element and rolling surface of the test bearing.
試験軸受の白色はく離再現を短時間で精度良く行えるとともに、試験軸受の転動体、転動面のいずれの白色はく離をも再現できる軸受試験装置を提供する。 - 特許庁 - The reactor 20 for power includes an iron-core main leg 24 wound with the testing wiring 26 in the reactor wiring 21, an iron core-side leg 22 and a yoke 23 retained at a common end of each of these legs.
電力用リアクトル２０は、リアクトル巻線２１に試験用巻線２６を巻き込んである鉄心主脚２４と、鉄心側脚２２と、これらの脚の共通の端部に保持される継鉄２３とを備える。 - 特許庁 - The bacteria detection part 17 is arranged to be inclined in the microbiological testing chip 10 so that a normal vector of the bacteria detection part 17 on an incident surface and the optical axis of the excitation light are not parallel.
菌体検出部１７の入射面における法線ベクトルと励起光の光軸が平行とならないように、微生物検査チップ１０内において菌体検出部１７を傾斜させて配置する。 - 特許庁 - To provide a biaxial tensile testing machine for enabling a tensile test in four directions, along two orthogonal axes by a drive means, such as one hydraulic cylinder, and preventing a test piece from being displaced.
１台の油圧シリンダ等の駆動手段によって直交する二軸に沿った四方向への引張試験が可能となり、試験片の位置が変動することがない二軸引張試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing system devised so as to be capable of efficiently pinpointing a part where a fault occurs in a system being a test object including a plurality of components, on the occasion of the occurrence of the fault.
複数の構成部分を含む試験対象の機器に故障が発生したときに、効率よく故障が発生した部位を特定することができるように工夫された試験装置を提供する。 - 特許庁 - The data to be written in the electronic tag labels 20 are divided, and by writing the data in the electronic tag labels 20 by the plurality of readers 151A to 151C, it is possible to shorten a reading/writing time, and to quicken a testing speed.
電子タグラベル２０書き込むべきデータを分割し、複数のリーダ１５１Ａ〜１５１Ｃで電子タグラベル２０に書き込むことにより読み書き時間を短くし、検査速度の高速化を図った。 - 特許庁 - To provide a test device and a test method which are capable of reliably testing heat resistance, peel strength, or the like of an adhesive sheet adhered to a concave surface in a stretched state.
粘着性シートが凹曲面に伸長状態で接着された状態における粘着性シートの耐熱性や剥がれ強さ等を確実に試験できる試験装置と試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing the fracture toughness of a thin-walled pipe material which can easily perform a three-point bending test by fixing a holding member to the test piece sampled from the thin-walled pipe material.
薄肉管材から採取した試験片に対し、保持部材を固定することにより、容易に３点曲げ試験を行うことができる薄肉管材の破壊靭性試験方法を提供する。 - 特許庁 - To perform highly accurate quality determination in measurement at high pushing-down speed during a line application time, concerning a quality determination method of a button of an electronic apparatus, a method for manufacturing the electronic apparatus, and an electronic apparatus button testing device.
電子機器のボタンの良否判定方法、電子機器の製造方法及び電子機器ボタン試験装置に関し、ライン適用時に高速の押下速度による測定で精度の高い良否判定を行う。 - 特許庁 - To achieve the size reduction of a power converter testing device for executing a loading test by allowing a power converter to simulate motor behavior instead of using a large motor whose mounting and replacement are troublesome, as a load.
大型で取り付けや交換が面倒なモータを負荷とする替わりに電力変換器にモータの挙動を模擬させて負荷試験を行う電力変換器試験装置の小型化を実現する。 - 特許庁 - To provide a refrigerator condensation unit capable of reducing manufacturing cost required for manufacturing units with different refrigerator capacities and development cost and development periods required for design and testing.
冷凍機容量の異なるユニットを製造する際の製造コスト、設計や試験にかかる開発コストおよび開発期間を低減化することのできる冷凍機凝縮ユニットが要求されている。 - 特許庁 - The electronic circuit has the at least one test module 30 provided for testing the electronic circuit, and connected to at least one wire 38, 40 and/or one terminal of the electronic circuit.
この電子回路は、電子回路を試験するために提供され、電子回路の、少なくとも１つの線（３８、４０）および／または１つの端子と接続される、少なくとも１つの試験モジュール（３０）を有する。 - 特許庁 - To provide a test result verification server having a test result verification part separated from a specimen testing device for performing test result verification with excellent variety and flexibility.
検査結果検証部を検体検査装置より切り離した検査結果検証サーバとし、多様性、融通性に優れた検査結果検証を行うことができる検査結果検証サーバを提供すること。 - 特許庁
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