「Testing」を含む例文一覧(14405)

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  • The method for testing the canceration comprises utilizing the nucleic acid for measurement, wherein the nucleic acid hybridizes with specified two kinds of base sequences or at least one of base sequences complementary to the above under a stringent condition.
    本癌化検定方法は、特定の２種の塩基配列、又は少なくともその一方に相補的な塩基配列に対し、ストリンジェントな条件下でハイブリダイズする測定用核酸を利用する。 - 特許庁
  • To prevent a damage of a measuring probe needle when performing a large-numbered parallel test, and to heighten inspection efficiency, concerning a probe card, a semiconductor integrated circuit testing device and a semiconductor integrated circuit test method.
    プローブカード、半導体集積回路試験装置及び半導体集積回路試験方法に関し、多数個並列テストを行う際の測定プローブ針の損傷を防止するとともに、検査効率を高める。 - 特許庁
  • An on-board vehicle emissions testing system includes a flowmeter module adapted to be detachably connected to the exhaust pipe of a vehicle to provide for flow of exhaust gas therethrough.
    車両搭載型の排気物試験システムの中に、車両の当該排気管に対して取外し可能に接続されるように成した排気ガスの流れを規定する流量計モジュールを包含する。 - 特許庁
  • To provide a microcompression testing machine capable of sequentially and automatically performing a compression test with respect to the granular sample scattered on a lower pressure plate at random and reducing the load of an operator.
    下部圧盤上にランダムにばら撒かれた粒状試料に対し、逐次自動的に圧縮試験行うことができ、オペレータの負担を軽減することのできる微小圧縮試験機を提供する。 - 特許庁
  • A tremie pipe 24 is inserted to the continuous wall hole 18, a testing device 32 is set, and a load transmission pipe 42 is inserted into the tremie pipe 24 until it reaches the bottom of the continuous wall hole 18.
    連続壁孔１８にトレミー管２４を挿入し、更に、試験装置３２を設置して、荷重伝達管４２をトレミー管２４の内側へ連続壁孔１８の底面に達するまで挿入する。 - 特許庁
  • To shorten, remarkably compared with hitherto, a time required for display of a response signal by applying to emulation of an integrated circuit by a logic circuit, concerning a testing device.
    本発明は、試験装置に関し、ロジック回路による集積回路のエミュレーションに適用して、応答信号の表示に要する時間を従来に比して格段的に短くすることができるようにする。 - 特許庁
  • A memory BIST circuit 4 where semiconductor chips 2 are used for a die sorting test, and contact pads 8 exclusive for testing are formed on dicing regions 3 separating the adjacent semiconductor chips 2.
    隣接する半導体チップ２間を分離するダイシング領域３上に、前記半導体チップ２をダイソート・テストに使用するメモリＢＩＳＴ回路４およびそのテスト専用コンタクトパット８を形成する。 - 特許庁
  • To provide a hologram print tester in which a plurality of hologram images can be viewed at the same time from one observing direction, upon testing a hologram print in which different images emerge depending on the direction of sight.
    見る方向によって異なる像が浮かび上がるホログラム印刷を検査する際に、ひとつの視線方向から同時に複数のホログラム像を観察できるシンプルなホログラム印刷検査器を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device test module and its test method capable of testing a semiconductor device in a short time, while keeping reliability of the semiconductor device, without increasing the number of testers.
    テスタの台数を増加させることなくかつ半導体装置の信頼性を維持しつつ、短時間に半導体装置を試験する半導体装置試験モジュールおよびその試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an evaluation testing method having high reproducibility and reliability, similar to actual lens shape processing or a using condition of a user, when evaluating coat membrane adhesive performance of a spectacle lens having a coat membrane on the surface.
    表面にコート膜を有する眼鏡レンズのコート膜密着性能を評価する際、実際の玉型加工やユーザーの使用条件に近く、再現性・信頼性の高い評価試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device which can reduce a damage to a circuit under a pad at a wafer testing time without impairing bondability of a wire in a layout structure in which the circuit exists under the pad.
    パッド下に回路が存在するレイアウト構造において、ワイヤのボンディング性を損なうことなく、ウェハテスト時のパッド下回路へのダメージを減らすことのできる半導体装置を提供することにある。 - 特許庁
  • To make it possible to easily attach an antenna element to a subject or an antenna cover before or after a testing and remove the antenna element from the subject or the antenna cover by arranging the antenna cover housing the antenna element.
    アンテナ素子を収容するアンテナカバーを設け、検査前後の被検体またはアンテナカバーへのアンテナ素子の取り付けや被検体またはアンテナカバーからのアンテナ素子の取り外しの作業を容易に行うこと。 - 特許庁
  • To provide an animal model involving transgenic manipulation of amyloid precursor protein, useful for testing potential therapeutic agents for the treatment of neurodegenerative disorders, in particular Alzheimer's disease (AD).
    神経変性疾患、特にアルツハイマー病(ＡＤ)の処置用の潜在的治療剤を試験するのに有用なアミロイド前駆体タンパク質の遺伝子導入(トランスジェニック)操作に関する動物モデルを提供すること。 - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING MOTION TORQUE OF MEDIUM SYSTEM, AND DEVICE FOR TESTING ROTATING DOOR, AND METHOD FOR MANUFACTURING MEDIUM SYSTEM, AND METHOD OF DIRECTLY MEASURING TORQUE TO BE ASSOCIATED WITH THE DOOR
    媒体装置の動作トルクを測定するための方法およびシステム、回動ドアをテストするための装置、媒体装置の製造方法、ならびにドアに関連付けられるトルクを直接測定する方法 - 特許庁
  • By maintaining the total mass flow through parallel turbine inlet control valves (28) constant, steam generator pressure is maintained constant, and an inlet pressure regulator is unaffected during inlet control valve testing.
    平行タービン入口制御弁（２８）を流れる全質量流量を一定に保ち、蒸気発生器圧力が一定に維持され、入口制御弁試験中に入口圧力調整器が影響を受けない。 - 特許庁
  • The testing machine 300 for pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 to test the durability of the pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4, can test the durability of a plurality of pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 at the same time.
    ピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験を実行可能なピックアップ装置１，２，３，４の試験機３００であって、複数のピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験が同時に実行可能とされた。 - 特許庁
  • To provide a device and method for precisely evaluating the hydrogen embrittlement of a thin steel sheet by loading the thin steel sheet with stress while charging hydrogen by improving a conventional stress corrosion testing machine of a thick steel sheet.
    従来の厚鋼板の応力腐食試験装置を改良し、水素チャージしながら応力を負荷して、薄鋼板の水素脆化を精度良く評価するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁
  • The web page output is selectively enabled by the web server to a thin client when an output of the testing indicates that the identified address is associated with safe site data.
    照合テストによって、識別されたアドレスが安全サイト・データに関連付けられていると判断されたときに、シン・クライアントに対するウェブ・サーバによるウェブ・ページの出力が選択的に有効化される。 - 特許庁
  • As the pin 5 and the pin 7 directly contact at the slopes 5a and 5b, the electrodes of the semiconductor device electrically contact the electrode 11 of the testing substrate 9 at a shortest distance.
    ピン５とピン７は斜面５ａ及び斜面５ｂで直接接触しているので、半導体装置の電極は、ピン５，７を介して、最短距離で試験基板９の電極１１と電気的に接続される。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device and a method for testing the semiconductor device for accurately measuring the life of wiring at the time of evaluating the reliability of the wiring by an electromigration test.
    エレクトロマイグレーション試験により配線部の信頼性を評価する際に、配線部の寿命を正確に測定することができる半導体装置および半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
  • Even when the semiconductor chip size changes, the testing bonding pad within the semiconductor chip region can be disposed at the same position and the same probe card can be shared when the semiconductor wafer is tested.
    半導体チップサイズが変化する場合でも、半導体チップ領域内の試験用ボンディングパッドを同じ位置に配置することが可能になり、半導体ウエハ試験時に同じプローブカードを共用することができる。 - 特許庁
  • To provide a testing process of polyester taste which can determine whether a polyester has a superior aroma retention performance and can be advantageously used as containers or wrapping materials of foods, drinks, etc.
    ポリエステルが保香性に優れ、食品や飲料用等の容器、包装材料として有利に使用することができるか否かの判定をすることが出来るポリエステルの味覚試験方法を提供することである。 - 特許庁
  • The mastication judging kit comprises the testing food containing ascorbic acid and/or an ascorbic acid derivative and/or ethanol as a detecting component and the indicator reacted with the detecting component.
    検出用成分としてアスコルビン酸及び／またはアスコルビン酸誘導体，及び／またはエタノールを含有した試験用食品と、前術の成分に反応する指示薬とからなる咀嚼判定用キットとする。 - 特許庁
  • The kit for testing bladder cancer contains a primer capable of efficiently amplifying a gene polymorphism site-containing region present in the ABO-type blood group gene in the No.9 chromosome.
    本発明に係る膀胱癌検査キットは、９番染色体のＡＢＯ式血液型遺伝子に存在する遺伝子多型部位を含む領域を効率的に増幅できるプライマーを含んでいる。 - 特許庁
  • To provide an optical pulse testing device for accurately analyzing events in a short time when simultaneously displaying waveform of loss distribution characteristics and analysis result of the events appearing on the waveform.
    損失分布特性の波形と波形上に現れるイベントの解析結果を同時に表示する場合に、短時間で精度よくイベントの解析を行うことが出来る光パルス試験器を実現する。 - 特許庁
  • Data verification, artificial intelligence pattern matching of extremely high predictability, network data integration and a negative file check are used for testing an extremely large number of factors for calculating the unfair transaction risk.
    データ検証、極めて予測性の高い人工知能パターンマッチング、ネットワークデータ総合及びネガティブファイルチェックが、不正取引リスクを計算するための極めて多数の要因を試験するために用いられる。 - 特許庁
  • The system and the apparatus include a simultaneous code checker for testing the error in an encoded data packet through a static characteristic of a data packet and a dynamic characteristic of a data stream including a packet.
    システム及び装置は、データパケットの静的特性及びパケットを含むデータストリームの動的特性を通じて符号化済みデータパケット内のエラーを検査するための同時コードチェッカーを含むことができる。 - 特許庁
  • By this constitution, data writing and reading are continuously conducted with a plurality of test patterns by only dynamically changing input data for testing and conducting test mode entry for test performing.
    このような構成によって、試験のための入力データを動的に変更させ、試験を行うためのテストモードエントリを行うだけで、複数のテストパターンでのデータの書き込みと読み出しが連続して行われる。 - 特許庁
  • To provide a preprocessing method for a semiconductor test program capable of shortening operation time as compared to a conventional program, and a semiconductor testing device equipped with a compiler for executing the preprocessing method.
    従来のプログラムに比べて動作時間を短縮可能とする半導体試験用プログラムの前処理方法および当該前処理方法を実行するコンパイラを備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To surely detect overshoot and undershoot and accurately measure peak voltages thereof in a device for testing a semiconductor having a voltage generation circuit the output voltage of which is changed stepwise.
    出力電圧がステップ状に変化する電圧発生回路を有する半導体試験装置において、オーバシュート及びアンダーシュートを確実に検出し、かつそのピーク電圧を精密に測定する。 - 特許庁
  • To obtain a semiconductor device capable of detecting an open failure without increasing a test cost, a semiconductor tester for testing this semiconductor device, and a semiconductor test system using this semiconductor tester.
    テストコストを増大させることなく、オープン不良を検出することができる半導体装置、これを試験するための半導体テスタおよびこの半導体テスタを用いた半導体テストシステムを実現する。 - 特許庁
  • To provide a laser beam machining method capable of smoothly removing a low-k film on streets formed on a semiconductor substrate and metallic patterns for testing partially disposed on the streets.
    半導体基板に形成されたストリート上のＬｏｗ−ｋ膜およびストリート上に部分的に配設されたテスト用の金属パターンを円滑に除去することができるレーザー加工方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing apparatus capable of facilitating the measurement of pattern execution time performed for shortening test time and performing off-line measurement through the use of a simulator and to provide the simulator.
    テスト時間を短縮するために行うパターン実行時間の計測を、従来より容易に計測でき、更にシミュレータを用いてオフラインでも計測できる半導体試験装置及びそのシミュレータを提供する。 - 特許庁
  • The control device is configured to receive the value, to convert the value into a real value by using a function having a plurality of predetermined coefficients and to dispatch the value through the data interface to the testing device.
    制御装置は前記値を受信し、複数の所定の係数を有する関数を用いてその値を実際の値に変換し、その値をデータインタフェースを介して試験装置へ渡すように構成される。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor relay capable of remarkably reducing leakage current toward downstream side in a semiconductor relay to be used for a semiconductor testing device, for example.
    本発明は、例えば半導体試験装置などにおいて用いられる半導体リレーにおいて、下流側への漏れ電流を著しく低減することが可能な半導体リレーを提供することを目的としている。 - 特許庁
  • The test method comprises a step of varying a threshold voltage which is used for judging a logic level of a signal in a cell in a semiconductor integrated circuit, only when testing the semiconductor integrated circuit.
    半導体集積回路内のセルにおいて信号の論理レベルを判定するのに用いる閾値電圧を、半導体集積回路の試験時にのみ変化させるステップを含むように構成する。 - 特許庁
  • To improve the reproducibility of a target waveform signal by compensating for the reactive force of a specific frequency component received from a sample, in a vibration-testing apparatus that conducts shaking test on a structure.
    構造物の加振実験を行う振動試験装置において、供試体から受ける特定の周波数成分の反力を補償することで、目標波形信号の再現性を向上させる。 - 特許庁
  • To provide an optical pulse testing device capable of suppressing waveform distortion or a noise, even when power of an optical pulse entering an optical fiber is fluctuated, and performing a test with high accuracy.
    光ファイバに入射させる光パルスのパワーが変動する場合であっても波形歪みや雑音を抑制することができ、高い精度で試験を行うことができる光パルス試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method capable of manufacturing a semiconductor device having fine pitch electrodes, and including a process for testing a number of semiconductor devices in a batch processing.
    ファインピッチの電極を有する半導体デバイスの製造が可能であり，多数の半導体デバイスを一括して試験することが可能な工程を含む半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • The testing system can reproduce the condition of the sleep apnea syndrome well, and can make the animal model of the sleep disorder in conditions extremely near to the physiological condition of the sleep apnea syndrome.
    この実験システムは、睡眠時無呼吸症候群の病態をよく再現し、睡眠時無呼吸症候群と生理的状況が極めて近い睡眠障害モデル動物を作製することができる。 - 特許庁
  • When the design is directly performed on the MPLD, restriction of the compatible UPLD is taken into account when the user intends that the design is migrated to the UPLD for testing.
    設計が直接ＭＰＬＤ上でなされる場合には、その設計を試験のためにＵＰＬＤに移行することをユーザーが意図するときに、互換性を有するＵＰＬＤの制約が考慮される。 - 特許庁
  • . Type F: Self-reactive substances that, in laboratory testing, neither detonate in the cavitated state nor deflagrate at all, and show only a minimal or no effect when heated under confinement, as well as low or no explosive power.
    タイプF：実験室の試験において、気泡の存在下で爆轟せず、また全く爆燃もすることなく、密封下の加熱でも反応が弱いかまたは無い、または爆発力が弱いかもしくは無い。 - 経済産業省
  • The definitions of R50, R51 and R52 correspond to those of Acute 1, Acute 2 and Acute (GHS classification). However, the former differ from the latter in that Crustacea refers to Daphnia only, and that the testing time for algae is fixed at 72 hours.
    Ｒ５０、５１、５２の定義はそれぞれGHSの急性１、２、３に対応するが、甲殻類がミジンコ類に限られていること、藻類の試験時間が７２時間のみに決められていることがGHSと異なる。 - 経済産業省
  • Furthermore, Canon in 2001 started testing a new method of consolidated performance evaluation by integrating its financial performance with its environmental performance.
    さらに、2001年より連結業績評価制度の中に、環境業績評価を導入し、財務的パフォーマンスのみならず環境パフォーマンスも一体として業績を評価する手法も試み始めたところでもある。 - 経済産業省
  • (2) Symptoms and disorders caused by adverse effects or exposures to ITO, etc., together with meanings of acceptable exposure concentration limits calculated based on the testing results obtained from long-term carcinogenicity studies in animals.
    (2)ＩＴＯ等の有害作用、ばく露することによって生じる症状・障害及び我が国における動物を用いた長期がん原性試験から算定したばく露が許容される濃度の内容 - 厚生労働省
  • The method for testing radioactive substances in food, which has been stipulated in Article 4-4 of the Notice to be provided separately, is provided in the Annex, so please be thoroughly informed of this and advise all parties concerned accordingly.
    施行通知中、第４の４において示すこととしていた食品中の放射性物質試験法について、別添のとおり定めることとしたので、関係者への周知方よろしくお願いする。 - 厚生労働省
  • d) The national government shall request that health care insurers and business operators implement hepatitis testing simultaneously with health checks by health care insurers based on the provisions of the Health Insurance Act (Act No. 70, 1922) and with medical examinations by business operators based on the provisions of the Industrial Safety and Health Act (Act No. 57,1972) in order to confirm various test chances.
    エ 国は、地域における診療連携の推進に資する研究を行い、その成果物を活用し、地域の特性に応じた診療連携体制の強化を支援する。 - 厚生労働省
  • the mtd is determined in clinical trials by testing increasing doses on different groups of people until the highest dose with acceptable side effects is found.
    mtdは臨床試験で明らかにされるが、そこでは、様々な集団を対象として徐々に大きな用量を試していき、副作用が許容できる範囲内で最大の用量を見つけるという手法が用いられる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • A pair of feeble pulses for testing and an intensive single pulse preceding this pair by an interval on the order of microseconds, are generated inside the DME device through the use of an attenuator 40 using a high-speed PIN switch.
    高速ＰＩＮスイッチを用いた減衰器４０により、試験用の微弱なパルスペアと、これにマイクロ秒オーダで先行する強大なシングルパルスとをＤＭＥ装置内部で生成することが可能になる。 - 特許庁
  • To provide an environmental testing device capable of coping with each shape or quantity of various specimens, while shifting an environmental temperature to a set temperature in a short time corresponding to the shape or the like of the specimen.
    多様な供試体の形状や数量に対応可能としながら、供試体の形状等に応じて環境温度を短時間で設定温度に移行させることが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁
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