「Testing」を含む例文一覧(14405)
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取得装置２７は、検査用端子１７に出力されている調整値ｓ，ｚから、これらの調整値ｓ，ｚの一連の調整における最終調整値を取得し、蓄積装置２９に送る。 - 特許庁 - A testing tool 60 has a vibration transmission preventing stand 51 for fixing a motor 14 having a rotor 22 and a stator 15, and a vibration transmission prevention stand 52 for fixing a shaft-fixing element 61 connected to a shaft 24.
試験治具６０は、ロータ２２とステータ１５を有する電動機１４を固定する振動伝達防止台５１と、シャフト２４に接続されたシャフト固定具６１を固定する振動伝達防止台５２と、を有する。 - 特許庁 - Further, the testing device 1 includes a compact range 12 for reflecting a radio wave from the radio wave generation device 11, converting a radio wave which is a spherical wave into a plane wave, and introducing the plane wave to the antenna B.
さらに、試験装置１は、電波発生装置１１からの電波を反射すると共に球面波である電波を平面波に変換し、平面波をアンテナＢへと導くコンパクトレンジ１２をさらに備えることが望ましい。 - 特許庁 - To provide a reinforcing bar pull-out testing apparatus capable of performing pull-out test without having to construct joint bars of extra reinforcing bars, facilitating building work during its installation, and efficiently performing accurate installation.
余分な鉄筋の差し筋施工をすることなく引抜き試験を行うことができ、また設置時の組み上げ作業が容易であり、正確な設置を効率的に行うことのできる鉄筋引き抜き試験装置を提供する。 - 特許庁 - An experiment is conducted on the sucking performance of the electrostatic chuck by using a testing sample with the known magnitude and pattern of warping to find out a critical application voltage at which the sucking state is changed from "bad" to "good".
反りの大きさ及び反りのパターンが既知の検定用試料を用いて静電チャックに対する吸着実験を行い、吸着状態が「不良」から「良好」に変化するときの臨界印加電圧を求める。 - 特許庁 - This invention relates to the communication testing device (1000) including a plurality of data communication module (40 and 50), wherein the data communication module perform data communication with a device to be tested in combination of the plurality of protocols.
複数のデータ通信手段（４０，５０）を備える通信試験装置（１０００）であって、前記データ通信手段が複数の業務プロトコルの組み合わせで被試験装置とデータ通信を行うことを特徴とする。 - 特許庁 - The method uses control valve (28) positions as feedback into a compensation algorithm to minimize flow disturbance caused by the closing and reopening of a turbine control valve (28) during periodic operational testing.
本発明の方法は、制御弁（２８）位置を補償アルゴリズムへのフィードバックとして使用して、周期的動作試験中のタービン制御弁（２８）の閉じおよび再開によって引き起こされる流れの乱れを最小限に抑える。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device which is capable of performing measurement of a continuous current waveform in one DC module in addition to conventional measurement without changing a measurement method, when measuring a voltage application current.
電圧印加電流測定時において、測定手法を変更することなく、従来の測定に加えて、１つのＤＣモジュールでの連続的な電流波形も測定することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor element where a probe for testing hardly protrudes from an external electrode even if adjacent semiconductor element regions (IC region) are simultaneously inspected, and to provide a semiconductor wafer and a method of manufacturing a semiconductor device.
隣接した半導体素子領域（ＩＣ領域）を同時に検査しても、検査用のプローブが外部電極から食み出し難くい、半導体素子、半導体ウエハ、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a ground anchor tension device capable of maintaining constant pressure rising rate of working fluid in a pressure supply line supplying pressure oil to a jack cylinder in a lift-off testing of a ground anchor.
グラウンドアンカーのリフトオフ試験でジャッキのシリンダへ圧油を供給する圧力供給ラインにおける作動流体の昇圧速度を一定に制御することが出来る様なグラウンドアンカーの緊張用装置の提供。 - 特許庁 - To constitute a removable detection module so that radiation light from a light emitting device in an oven is guided to the outside of an oven without affecting a high temperature environment in a testing device in a screening test of the light emitting device.
取外し可能な検知モジュールにおいて、発光素子の選別試験で試験装置内の高温環境に影響を与えずにオーブン内の発光素子からの放射光をオーブン外部に誘導するように構成する。 - 特許庁 - To provide a visual function testing apparatus which can perform a plurality of visual function tests necessary for daily life by one apparatus by applying an image providing procedure designed according to the way of viewing (visual characteristics) of a human being.
人間の眼の見え方（視覚特性）に応じて設計された映像提示手法を活用し、日常生活に重要な複数の視機能検査を一台で実行できる視機能検査装置を提供する。 - 特許庁 - To improve a processing performance in assembling and testing processes of a semiconductor device for a fingerprint sensor, by decreasing a mounting area of the semiconductor device, so as to reduce a manufacturing cost and enhance a mounting reliability.
本発明は、指紋センサ用半導体装置の実装面積を縮小化し、組立、テスト工程の処理能力を向上させて製造コストを削減し、実装信頼性を向上させることを課題とする。 - 特許庁 - The testing land 315L is formed so that its diameter DL is larger than the diameter DB of the lower surface-side land 315 in order to reduce faulty contact with a land contacting contact pin 13L provided in a probe socket 10.
テスト用ランド３１５Ｌは、プローブソケット１０に設けられたランド接続用コンタクトピン１３Ｌとの接触不良を抑制するため、その直径ＤＬが下面側ランド３１５の直径ＤＢよりも大きくなっている。 - 特許庁 - An insulating object which is made of the same material as the insulating member 18 is mounted as insulation testing piece 10 on a insulating member 18 covering a conductive part 17 connecting VCB 7 and VT 8 in a high voltage equipment 30.
高電圧機器３０内のＶＣＢ７とＶＴ８とを接続する導電部１７を覆う絶縁部材１８上に、この絶縁部材１８と同じ材質の絶縁物を絶縁試験片１０として取り付ける。 - 特許庁 - Using a status transition diagram obtained by regarding a given logic circuit as a status transition machine, a test pattern generator 4 generates a test pattern for diagnosing resistor level trouble for testing all transitions from a status to a status.
テストパタン作成器４は、与えられた論理回路を状態遷移機械とみなして得た状態遷移図を用いて、状態から状態への全ての遷移をテストするレジスタレベル故障診断用テストパタンを生成する。 - 特許庁 - To provide a testing device, a method and a test piece capable of preventing deformations or cracks caused by a local high-gradient temperature distribution, even if it is subjected to high-frequency induction heating, and properly evaluating thermal fatigue strength.
高周波誘導加熱されても、局所的な急勾配の温度分布による変形や亀裂を防止することができ、適正に熱疲労強度評価できる試験装置、方法およびテストピースを提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card, and a method for testing an electronic circuit device using the same which can be used in a test of a wide range of electronic circuit devices, prevents probes from contacting and crossing each other, and is not affected by an electromagnetic wave.
広範囲の電子回路デバイスの検査に使用でき、プローブ同士が接触、混線することがない、また、電磁波の影響を受けないプローブカード、及びこれを用いた電子回路デバイスの検査方法を提供。 - 特許庁 - Further, since a whole pattern stopping command 38 is not received, the pattern displayed before the power cut can be displayed again when the power is on again without outputting test projection testing information to the outside (such as a connector 20).
更に、全図柄停止コマンド３８を受信していないので、外部（コネクタ２０等）に試射試験情報を出力することなく、電源断前に表示されていた図柄を電源再入時に再表示することができる。 - 特許庁 - To provide a compact shaft center adjusting device for a material testing machine that allows a user to easily adjust a position and an angle of a gripper and can be attached without forming through holes on a load frame.
全高を小さくしてもつかみ具の位置および角度を容易に調整することができ、また、負荷枠に貫通孔等を形成することなく取付が可能な材料試験機の軸心調整装置を提供する。 - 特許庁 - Thereafter, it is detected in a statically determinate pressure detection step that the thrust has been statically determinated to be the contacting thrust (Step S14), and the contacting thrust is changed to the adequate thrust in a testing thrusting step (Step S15).
その後、押圧力が当接押圧力に静定されたことが圧力静定検出工程（ステップＳ１４）により検出され、検査用押圧工程（ステップＳ１５）にて当接押圧力が適正押圧力に変更される。 - 特許庁 - The crack development testing method has a crack-forming process for forming the crack 2 in a test piece 1 and a holding process for holding the test piece 1, while applying definite displacement to the test piece 1 in a direction 4 vertical to the extending direction of the crack 2.
き裂進展試験方法は、試験片１に、き裂２を形成するき裂形成工程と、試験片１に、き裂２が延びる方向に垂直な方向４に一定の変位を加えたまま保持する保持工程と、を有する。 - 特許庁 - To reduce costs for testing by carrying out a performance test at a high speed when data are serially transmitted to/from the outside, and are transmitted in parallel for reading/writing them from/in memory cells.
本発明は、外部とのデータの受け渡しを直列データで行い、メモリセルへのデータの読み書きを並列データで行う半導体集積回路に関し、動作試験を高速に行い、試験コストを低減することを目的とする。 - 特許庁 - A genetic testing system ensures complete traceability of animals and food products involving a method of uniquely identifying animals for data collection, records management and retrieval purpose involving a novel method of genetic analysis using individual DNA fingerprinting of parentage of individual animal to effectively provide for full traceability of animals from birth to consumption.
これには個々の動物の親子関係のＤＮＡフィンガープリントを用いて動物の出生から消費までの完全な追跡可能性を提供する新規な遺伝子分析法が含まれる。 - 特許庁 - Remaining gas in the test finishing high pressure tank 2 is recovered by a recovering apparatus 13, and, preferably, the test finishing high pressure tank 2 is replaced with a high pressure tank for a test as a next testing object.
試験終了高圧タンク２内における残りのガスを回収器１３により回収し、当該試験終了高圧タンク２を次の試験対象たる供試用高圧タンクと入れ替えることも好ましい。 - 特許庁 - To provide an accelerated exposure testing method and apparatus capable of making the period of time required for a test shorter than if an accelerated exposure test is conducted by conventional artificial means.
本発明は、従来の人工的手段による促進暴露試験の場合よりも、試験に要する期間（時間）を短縮できる促進暴露試験方法および促進暴露試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a flushing occurrence testing device of powder and grain and a flushing occurrence prediction method of the powder and grain capable of predicting flushing occurrence of the powder and grain more accurately in consideration of a gap size and a differential pressure.
間隙の大きさおよび差圧を考慮して、より正確に粉粒体のフラッシング発生の有無予測を可能とする、粉粒体のフラッシング発生試験装置および粉粒体のフラッシング発生予測方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inexpensive anemometer for a weather/light resistance testing machine capable of measuring wind speed accurately even when a sample is rotated around a light source without disturbing wind passing along the sample surface.
安価で、試料表面を通過する風を乱すことなく、試料が光源の周囲を回転した場合においても、風速を精度良く測定することが可能な、耐候光試験機用の風速計を提供する。 - 特許庁 - In addition, since a peripheral part of the sealed body is not fixed on the substrate, a position shift caused by deformation or adhesion of solder is not generated to thereby facilitate the lead adjustment work, when testing the semiconductor device dismounted from the substrate.
更に、基板から取り外した半導体装置を試験する際に、封止体近傍部分は基板に固定されていないため、変形による位置のずれやハンダの付着もなく、リード修正作業が容易となる。 - 特許庁 - To surely make testing a printed circuit board generate pseudo-failures, by setting the printed circuit board in parallel to an arm efficiently in a short time, to reduce errors as far as possible.
本発明は、短時間で効率的に、プリント回路基板とアームとを並行に設定し、誤差をできるだけ小さくすることよって、確実に擬似故障を発生させ、プリント回路基板の試験を行うことを目的とする。 - 特許庁 - The geological survey equipment 1 is equipped with a penetration rod 3 wherein a sampling section 2 for sampling the ground specimen is provided and a sounding testing screw point 4 put on the front end of the penetration rod 3.
本発明の地質調査装置１は、地盤試料をサンプリングするサンプリング部２が設けられた貫入ロッド３と、該貫入ロッド３の先端に装着されたサウンディング試験用のスクリューポイント４とを備えている。 - 特許庁 - In this semiconductor testing device 100, each limit value is set, corresponding to various states of cards to which each power source section 11, 12, etc., is connected beforehand before a test, and set in each memory 11b, 12b, etc..
半導体試験装置１００では、試験前に予め電源部１１、１２，・・・が接続されたカードでの様々な状況に対応したリミット値を設定してメモリ１１ｂ、１２ｂ，・・・のそれぞれ毎に設定しておく。 - 特許庁 - To provide a small-sized drying test device not only capable of testing the presence of fly of fine powder in an actual double cone dryer, deposition onto a wall face thereof, and generation of a granule therein, but also capable of facilitating an operation in a test.
実機のダブルコーンドライヤにおける微粉の飛散、壁面への付着や造粒の発生の有無を試験することができるだけでなく、小規模で且つ試験時の操作が容易である乾燥試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a vibration testing device generating vibration by feeding a vibration signal, with a vibration exciting means excited at the prescribed level, and capable of reducing power consumption.
加振手段を所定レベルに励磁した状態で振動信号を供給することにより振動を発生させる振動試験装置に関し、消費電力を低減できる振動試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To simplify the constitution of a testing device, to facilitate the measuring procedure and to shorten test time regarding the measurement of the reception sensitivity of the radio telephone terminal of a code division multiple access type.
本発明の課題は、符号分割多元接続式の無線電話端末の受信感度の測定に関して、試験装置の構成が簡単で、その測定手順の容易化及び試験時間の短縮を図ることにある。 - 特許庁 - To provide a bearing testing device capable of performing a bearing performance test or a noise test of a low noise level in the tilted state at an optional angle, and performing the bearing performance test fit to an actual using condition.
任意の角度に傾けられた状態で、軸受性能試験や低騒音レベルの騒音試験を可能として、実使用条件に合った軸受性能試験を行なうことができる軸受試験装置の提供。 - 特許庁 - The recognition belt is manufactured by using a resin film having JIS A hardness of 60 to 120, 100% attraction stress of 6 to 12 MPa and elongation of 500 to 700% in a testing method of JIS K 7311.
ＪＩＳ Ｋ ７３１１の試験方法において、６０〜１２０ＪＩＳ Ａの硬さ、６〜１２ＭＰａの１００％引力応力、および５００〜７００％の伸びを有する樹脂フィルムを用いて、認識ベルトを製造する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit capable of performing a test in a state that a maximum delay occurs in data transfer because a maximum load is applied to a bus, and to provide a maximum delay testing method of the semiconductor integrated circuit.
バスに最大負荷がかかり、データ転送に最大の遅延が生じた状態でのテストを可能にする半導体集積回路及び半導体集積回路の最大遅延試験定方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a device and a method for inserting an additional delay time to the timing data of a specific event in an event type semiconductor test system for testing an electronic device to be tested by generating events of various timing.
各種のタイミングのイベントを発生して被試験電子デバイスをテストするためのイベント型半導体テストシステムにおいて、特定のイベントのタイミングデータに追加の遅延時間を挿入する装置および方法を提供する。 - 特許庁 - Thus, operability in performing rotation operation of the insertion part 12 in the direction around the axis when testing by an endoscope 11 is improved and the flexible pipe 14 is easily inserted in the body cavity of the patient.
これにより、内視鏡１１の検査時に挿入部１２を軸回り方向に回転操作する際の操作性が向上し、患者の体腔内に挿入しやすい可撓管１４を提供することができる。 - 特許庁 - A difference in Pachinko game machines of the same model is that only the shooting mode changing device 41 is mounted or removed in shooting testing and delivery, and the Pachinko game machine itself is standardized.
従って、同一機種のパチンコ遊技機にあっては、実射試験時と出荷時に発射態様変更装置４１が装着されているか又は脱着されているかの違いのみで、パチンコ遊技機自体は共通化される。 - 特許庁 - To provide a display testing device for displaying images or the like by arranging a great number of pixels such as a liquid crystal display in the form of a matrix, individually modifying the transmittance of each pixel, and setting to switch on/off the respective pixels.
液晶ディスプレイなどの多数の画素をマトリックス状に並べ、各画素の透過率を個別に変更して、それぞれの画素を点灯・消灯を設定し、画像などを表示するディスプレイの試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit and a test generation program for testing a buried core efficiently while separating a custom logic section and a buried core section in a semiconductor integrated circuit having a custom logic section and a buried core.
カスタムロジック部と埋め込みコアを有する半導体集積回路において、カスタムロジック部と埋め込みコア部とを分離して効率よく埋め込みコアをテストする半導体集積回路およびテスト生成プログラムを得ること。 - 特許庁 - To provide a binocular vision testing apparatus performing a highly accurate test regardless of the performance of a projector or a positional relation with a screen or the like without the need of newly performing optical design depending on required test accuracy.
必要な検査精度によって新たに光学設計を行う必要なく、プロジェクタの性能やスクリーンとの位置関係などに関係なく高精度の検査を行うことができる両眼視検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a forming workability evaluation system and its method capable of eliminating variation due to difference of experience of a person and estimating direct scale-up from a small-sized extrusion testing machine to a production machine.
人の経験の違いによるバラツキを無くすことができると共に、小型の押出試験機からも生産機へ直接スケールアップ予測を行うことができる成形加工性評価システム及びその方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a circuit for testing the operation of switching gain control signals, which controls the gain of each amplifier, in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of gain-controllable amplifiers, and to shorten the test time.
ゲイン制御可能な複数のアンプを備える半導体集積回路において、各アンプのゲインを制御するゲイン制御信号の切り換え動作をテストするための回路を設け、かつテスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁 - A traction testing device can highly accurately determine an applying load by supporting a stand 14 by being floated from a base 50 by an air bearing 15 by placing a spindle unit 12 and a torque meter 70 on a common stand 14.
スピンドルユニット１２とトルク計７０を共通の架台１４に載せ、架台１４をエアベアリング１５にてベース５０から浮き上がらせて支持し、高精度に負荷荷重を求めることができるようにしたトラクション試験装置。 - 特許庁 - To provide a method for attaching an electronic component which can prevent an occurrence of a defective board by testing whether or not an area for attaching a large-sized electronic component is normal before the large-sized electronic component is attached thereto.
大型電子部品を装着する前に大型電子部品を装着する領域が正常であるか否かを検査することにより、不良基板の発生を防止できる電子部品の装着方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a bearing testing device capable of precisely reproducing the white exfoliation phenomenon of a bearing in a market, in a short time, and capable of optionally reproducing the white exfoliation of a rolling contact surface or a rolling element of the bearing.
市場における軸受の白色はく離現象を短時間で的確に再現させるとともに、軸受の転動面や転動体に対して任意に白色はく離再現を可能とする軸受試験機を提供する。 - 特許庁 - To rapidly regulate a temperature in a test tank to a predetermined tolerance temperature by an extremely simple constitution in fire retardancy testing equipment equipped with the test tank where a substance to be tested of a fire retardancy test is burnt.
難燃性試験の被試験物が内部で燃やされる試験槽を備える難燃性試験装置において、ごく簡易な構成により、前記試験槽内の温度を速やかに所定の許容温度に調節できること。 - 特許庁
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