「Testing」を含む例文一覧(14405)
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試験装置１の記憶手段１ａには、予め、対象装置３の操作部３ａが生成する操作データと、機械部３ｂの動作終了を待つ一時停止指令と、を記録した操作情報が記憶される。 - 特許庁 - When verifying the semiconductor testing apparatus, the elements in the element region 2 are changed with the elements in the spare region 3, and purposely generates the defective elements, by making the state of the elements in the spare region 3 to a predetermined state.
半導体試験装置の検証を行うときは素子領域２の素子をスペア領域３の素子に切替え、スペア領域３の素子を電気的に所定の状態にし、故意に不良素子を発生させる。 - 特許庁 - To provide a testing machine which can be adjusted so as to make an amplitude of a measurement signal set to a set value even when the response of a whole system including a test piece changes because of a change in the rigidity of the test piece.
供試体の剛性の変化等により供試体を含むシステム全体の応答性が変化した場合であっても、測定信号の振幅を設定値となるように調整することが可能な試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide an anisotropic electric conductive sheet having superior inadhesive character preventing the state of adhesion to a substance, even if the substance is pressed against the sheet, and a testing device using thereof.
その表面に対して物体が圧接された場合にも、当該物体と粘着状態となることが防止され、優れた非接着性を有する異方導電性シートおよびそれを用いた検査装置を提供することにある。 - 特許庁 - Even in the case the small lens to be a test object is a small eccentric lens, a standard pattern image for testing can be easily detected y moving the CCD camera 291 along the direction of curvature of the small lens.
測定対象となる小レンズが、小（偏心）レンズであっても、ＣＣＤカメラ２９１を小レンズの曲率方向に沿って移動させることで、検査用基準パターン画像を検出することを容易にできる。 - 特許庁 - To provide an apparatus for testing semiconductor devices and capable of reliably reducing overcurrent of when an element to be measure made of a semiconductor device is broken when short-circuit destruction withstanding capability test is performed on the element to be measured.
半導体装置でなる被測定素子の短絡破壊耐量試験時において、被測定素子が破壊したときの過電流を確実に抑制することができる半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a technology for efficiently testing whether any content whose output is inappropriate is included in content to be output via display devices arranged under various environments.
様々な環境下に配置された表示装置を介して出力されるコンテンツの中に、出力することが不適切な内容が含まれていないか、効率的に考査するための技術を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To relieve an operator from constantly having to walk back and forth placing electrodes in different positions, and also obviate the need to return to the main unit of the testing device to refer to a display and/or change parameters or settings.
電極を異なる位置に設置しながら常に歩いて往来する必要がなく、また、試験用機器のメインユニットまで戻ってディスプレイを参照しおよび／またはパラメータもしくは設定を変更する必要がない。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit having a test response analysis circuit, capable of controlling increase in area and increase in the data required for the test, and to provide a method for testing delay fault which uses the circuit.
本発明は、面積の増大を抑え、テストに必要なデータの増大も抑えることが可能なテスト応答解析回路を有する半導体集積回路及びそれを用いた遅延故障テスト方法を提供する。 - 特許庁 - To perform the evaluation of the noise resisting performance resulted from a DC power source in the noise test of an electric applied device loaded with a switching type DC power source which could not be performed by the application of a noise from an external noise testing device.
スイッチング方式の直流電源を搭載した電気応用装置のノイズ試験に、外部のノイズ試験装置からノイズを印加するのでは、直流電源に起因する耐ノイズ性能評価ができない。 - 特許庁 - Visual measurement is performed with reference to a scale M previously installed near the seal edge portion, or the area where the wettability testing liquid is repelled can be calculated with the processing of the photographed image of the seal edge portion.
測定においては、予めシールエッジ部近傍に設置したスケールＭを参照して目視により測定、あるいは、シールエッジ部を撮影した画像を画像処理して、濡れ性試験液をはじいた面積を算出してもよい。 - 特許庁 - To provide an endless belt type running testing device capable of preventing meandering of an endless belt caused by being influenced by camber thrust (lateral force) of a tire, and reproducing simply running speed in consideration of slip of the belt surface.
タイヤのキャンバスラスト(横力)等の影響を受けてエンドレスベルトが蛇行するのを防止し、さらにベルト面の滑りを考慮した走行速度を簡単に再現することができるエンドレスベルト式走行試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a sample for testing bending strength to be used in the RCCP (Roller Compacted Concrete) compound design or in the quality control without using special equipment and without needing huge labors.
ＲＣＣＰにおける配合設計や品質管理などに用いられる曲げ強度試験用供試体を、特別な機材を使用することなく、かつ多大な労力を必要とせずに製造する方法を提供する。 - 特許庁 - This lubricating function evaluating device is provided with a control means, a driving control device controlled by the control means, a driving-detecting device for detecting the torque of a tested body, and a testing machine for enclosing the tested body.
制御手段と、同制御手段によって制御される駆動制御装置と、被試験体のトルクを検出する駆動・検出装置と、被試験体を収納する試験機とを備えてなる潤滑機能評価装置。 - 特許庁 - To provide an IC tester and an IC testing method which make it possible to perform frequency analysis only by current variation by the use of a test pattern signal more easily, without changing a pattern signal to be inputted.
入力するパターン信号を変更することなく、より容易に試験パターン信号による電流変動のみの周波数分析を行なうことを可能とするＩＣテスタ、及びＩＣ試験方法を提供する。 - 特許庁 - A governor 60 to be controlled and an ECU 10 are connected by connecting the ECU 10 and a first cable unit 56, and a reception test is performed by giving a simulation signal by program processing of a testing device 34.
ＥＣＵ１０と第１ケーブルユニット５６とを接続することにより、模擬制御対象のガバナ６０とＥＣＵ１０とを接続し、検査装置３４のプログラム処理により模擬信号を与えて受入検査を行う。 - 特許庁 - To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test, while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time, in a comparatively narrow footprint.
比較的狭い設置面積で、衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法を提供する。 - 特許庁 - The solvent power of the obtained coating solvent is 29.0 KB (Kauri Butanol) value in accordance with the Survey for Rationalization of Demand of Petroleum Products for Fiscal 1986 of the Japan Paint Inspection and Testing Association.
得られた塗料用溶剤の溶解力を「昭和６１年度石油製品需要適正化調査」（財）日本塗料検査協会に準拠して測定すると、ＫＢ（Ｋａｕｒｉ Ｂｕｔａｎｏｌ）値が２９．０であった。 - 特許庁 - The test method for testing fitting comprises steps of supporting the fitting by a fitting holding member for test in a deformed state; and performing test using the fitting supported by the fitting holding member.
建具を試験する試験方法であって、試験用建具保持部材に前記建具を、変形させた状態で支持させるステップと、前記試験用建具保持部材に支持された前記建具を用いて試験するステップと、を有する。 - 特許庁 - METHOD OF PROVIDING PRODUCER, CONSUMER AND THE LIKE WITH DATA FROM DEVICE OR THE LIKE FOR MEASURING AND TESTING ARTICLE VIA COMMUNICATION LINE
商品を計測・試験する装置等からのデータを通信回線を通じて生産者等に提供する方法と商品を計測・試験する装置等からのデータを通信回線を通じて消費者等に提供する方法 - 特許庁 - To provide a method and a device for testing an electronic circuit device whereby the overall action of the electronic circuit device, the action of a single computing circuit chip, and the action of a single memory chip can be easily tested.
電子回路装置の全体動作のテストと、演算回路チップの単体動作テストと、メモリチップの単体動作テストを容易に行うことができる電子回路装置のテスト方法、およびテスト装置を提供する。 - 特許庁 - In order to measure a target 250 on the device, two contacts 200a, 200b on the general-purpose testing tool 30 are selected based on the position of the target 250 on the device 20 to the contact 200.
デバイス２０上のターゲット２５０の測定を行うため、汎用テスト治具３０上の２つの接点２００ａ、２００ｂが、接点２００に対するデバイス２０上のターゲット２５０の位置に基づいて選択される。 - 特許庁 - To provide an automatic, convenient, and small-sized polishing machine in which, in a pretreatment process requiring grinding and polishing by means of various testing methods, the grinding and polishing are performed even at a narrow part and a high location work and the like.
各種検査手法で研削及び研磨を必要とする前処理過程において、狭隘部及び高所作業等においても研削及び研磨が実施できる自動、小型、簡便な研磨機を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing method and a device by which the contact area of a sample solution and the wall of a biochip is kept small and a reaction rate between a substance to be tested in a sample solution and a specific binding substance in the biochip is enhanced.
サンプル液とバイオチップの壁面との接触面積を小さく保ち、且つ、サンプル液の被検物質とバイオチップの特異結合物質との反応速度を高める検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - In the method for testing or calibrating the lithographic device or the part thereof, a measurement point is individually excluded at each field of view or each substrate by using a predetermined objective criterion such as a Chauvenet's criterion.
リソグラフィ装置又はその一部を検定又は較正する方法において、チョーベネットの判定基準などの所定の客観的判定基準を使用して、視野毎に、又は基板毎に個々に測定ポイントが除外される。 - 特許庁 - To provide a testing apparatus can obtain a reliable result related to the moltality rate of the larvae of a marine organism in a predetermined number of tests in the case where the larvae of the marine organism are exposed to chlorine.
海生生物の幼生を塩素に暴露した場合において、所定回数の試験で幼生の何個体のうちの何個体が死亡したか信頼性のある結果を得られる試験装置を提供すること。 - 特許庁 - To measure an error rate by performing a loopback test by LSI itself when testing high-speed serial transmission LSI that cannot be coped with a data speed in terms of throughput, and to determine the quality of the LSI.
データ速度の処理能力上、対応不可能な高速シリアル伝送ＬＳＩのテストにおいてＬＳＩ自身によるループバック試験を行うことによりエラーレートを測定し、ＬＳＩの良否を判定することを実現する。 - 特許庁 - To provide a test apparatus which eliminates the necessity of use of a plant simulator apparatus when testing a plant control apparatus and reduces influence of testers' knowledge on the evaluation accuracy of test results.
本発明は、プラント制御装置の試験の際にプラントシミュレータ装置を用いる必要がなく、また、試験者の知識量によって試験結果の評価精度が左右されることの少ない試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a torsional fatigue testing machine which loads even a test target low in torsional rigidity with torque to be applied, achieves space saving and the reduction of noise, has excellent maintainabilities and achieves cost reduction.
捩り剛性の低いものであっても負荷すべきトルクを負荷でき、また省スペース化および低騒音化等が図れ、さらにはメンテナンス性に優れるととともに、低コスト化も達成できる捩り疲労試験機を提供する。 - 特許庁 - To prevent the generation of pseudo-leakage in a helium gas test conducted by a helium leakage detector, in a method for testing a semiconductor device which uses a ceramic wiring board with a common conductor layer on a side face removed after plating.
側面の共通導体層がメッキ後に除去されてなるセラミック製の配線基板を用いた半導体装置の検査方法で、ヘリウムリークディテクターによるヘリウムガス試験における擬似リークの発生を防止する。 - 特許庁 - To provide a card bending testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.
本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードの曲げ試験装置に関する。 - 特許庁 - To provide a device capable of acquiring stable test data in a drop impact testing machine constituted so as to perform the drop impact test of a test sample by attaching the test sample 10 to a jig 1 to drop the jig 1.
試験サンプル１０を治具１に取り付け、この治具１を落下させて試験サンプルの衝撃試験を行なうようにした落下衝撃試験装置において、安定した試験データの得られる装置を提供する。 - 特許庁 - In the environmental testing device 100 for the fuel cell 1, a hood 120 surrounding the fuel cell 1 and having gas permeability and moisture permeability is provided in a constant-temperature constant-humidity oven 110.
燃料電池１の環境試験装置１００であって、 恒温恒湿槽１１０内において、燃料電池１を取り囲むとともに透気性及び透湿性を有するフード１２０を備えたことを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a facing connection testing method confirming whether a function to respond to various errors which can only occur rarely in communication between communicating functions implemented in relation to communication protocol of a certain hierarchy.
或る階層の通信プロトコルに準拠した通信機能同士の通信において稀にしか起きえない各種エラーに対処するための機能が適切に動作するかを確認できる対向接続試験方法を、提供する。 - 特許庁 - The invention relates to use of the transgenic non-human mammals for screening agonists, inverse agonists and antagonists of human C5aR, and for testing efficacy of C5aR agonists, inverse agonists and antagonists in various animal models of disease.
ヒトC5aRのアゴニスト、逆アゴニスト、およびアンタゴニストをスクリーニングする方法における、ならびに様々な疾患動物モデルにおいてC5aRアゴニスト、逆アゴニスト、およびアンタゴニストの有効性を試験するための、トランスジェニック非ヒト哺乳動物。 - 特許庁 - The cross-section under an operating condition, where distortion, which is added to the filament bearing superconductivity in a high- temperature superconductive oxide wire or an alloy system superconductive wire, is the optimal, can be determined by testing once.
酸化物高温超電導線材或いは合金系超電導線材における、超電導を担うフィラメントに加わるひずみが、使用条件下で、最適である断面形状を、一回の試験で決定できる。 - 特許庁 - Also, the solderability- testing device is provided with a temperature measuring unit with a temperature measuring member 5 for measuring the temperature of solder paste 1 and a temperature display part for displaying temperature being measured by the temperature measuring member 5.
また、はんだペースト１の温度を測定する温度測定部材５と、温度測定部材５により測定された温度を表示させる温度表示部とを有する温度測定ユニットを具備することも特徴とする。 - 特許庁 - When the terminals T1, T5 are short-circuited, an AC current generated in the secondary coil L2 flows to the ground through the terminal T1 and a capacitor C1, and does not flow in the testing resistor R10.
端子Ｔ１と端子Ｔ５とが短絡されたとき、２次側コイルＬ２に発生する交流電流は、端子Ｔ１及びコンデンサＣ１を介してグランドに流れ、試験用抵抗Ｒ１０に交流電流は流れない。 - 特許庁 - To safely and smoothly change over a connection state of an actual operation before renewal to a connection state of testing after renewal in a short time and inexpensively in the case of renewal of the railroad signal protective device.
鉄道の信号保安装置の更新に際して更新前の実機運転の接続状態と更新後の試験の接続状態とを短時間で而も低コストで安全かつ円滑に切り換えられるようにする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device and a control method of a semiconductor memory device by which a testing time can be shortened at the time of a test, while keeping low current consumption operation at the time of normal access operation.
通常のアクセス動作時における低消費電流動作を維持しながら、試験時において、試験時間を短縮することが可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法を提供すること - 特許庁 - A tensile testing machine 200 using a connector fixing tool 100 includes a mandrel 220 for winding up a cable 310 connected to a connecter 300; and an actuator 230 for pulling the mandrel 220 in the direction of an axis A1.
コネクタ固定治具１００を使用した引張試験機２００は、コネクタ３００に接続されたケーブル３１０を巻き取るマンドレル２２０と、マンドレル２２０を軸線Ａ１方向に引っ張るアクチュエータ２３０とを有する。 - 特許庁 - When testing is carried out for these driving circuits by connecting a test device with a common driving circuit 20 and a segment driving circuit 30, switches 51-55 of a bias circuit 40 are made on by applying a test signal TEST.
コモン駆動回路２０及びセグメント駆動回路３０に試験装置を接続してこれらの駆動回路の試験をするとき、試験信号ＴＥＳＴを印加してバイアス回路４０のスイッチ５１〜５５をオンにする。 - 特許庁 - To provide an environmental testing device for suppressing surely supply of the outside air containing moisture into a closed space inside a closed space constitution part constituting a test tank, when starting a test from a low-temperature test.
低温試験から試験を始める場合に試験槽を構成する閉空間構成部の内部の閉空間に湿気を含んだ外気が供給されるのを確実に抑制することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁 - To previously shut off a circuit defect, to improve the workability during testing or repairing and to make a module connector of a PCB easily usable by improving a protective cover for liquid crystal display device.
液晶表示装置の保護カバーを改善して、回路不良を予め遮断することは勿論、テスト時又は修理時の作業性を向上させると共に、ＰＣＢのモジュールコネクターが容易に使用できるようにすること。 - 特許庁 - At least one dilution chamber can be disposed adjacent to chambers, used for testing a patient sample that are provided on the immunodiagnostic test card or can be provided separately.
少なくとも１つの希釈チャンバーは、免疫診断テストカードに提供されるか、または別々に提供されることができる、患者サンプルを試験するために使用されるチャンバーに隣接して配置されることができる。 - 特許庁 - To surely perform transfer to sample grip parts, grip operations of a test sample, and removal and disposal of a rupture test sample after test without large space, and automate material testing with simple construction and at small costs.
簡単な構成で且つ低コストで試験サンプルのサンプル把持部への移送，把持作業及び試験後の破断試験サンプルの除去及び廃棄を場所を取らず確実に行うことができ、材料試験の自動化を図る。 - 特許庁 - Particle removal performance is measured with non-aqueous solution having ferric hydroxide colloidal particles of an average particle diameter 13 to 200 nm where pH for stabilizing the colloidal particles ranges from 2.5 to 4.0 as testing liquid.
平均粒子径１３〜２００ｎｍの水酸化第２鉄コロイド粒子と該コロイド粒子を安定させるためのｐＨが２．５〜４．０であることを特徴とする非水溶液を試験液として粒子除去性能を測定する。 - 特許庁 - The method is carried out by isolating a chromosomal DNA containing a human DGCR8 gene or the human DGCR8 cDNA and carrying out Southern hybridization or a quantitative PCR (polymerase chain reaction) of the chromosomal DNA extracted from the object of testing.
ヒトＤＧＣＲ８遺伝子を含む染色体ＤＮＡまたはヒトＤＧＣＲ８ｃＤＮＡを単離し、検査対象から抽出した染色体ＤＮＡに対し、サザン・ハイブリダイゼーションや定量的ＰＣＲを行う。 - 特許庁 - A transmission part 101 for transmitting the test cell for testing exchange processing and an examination part 201 for receiving the test cell transmitted from the transmission part 101 and examining that test cell are provided for every line.
交換処理を試験するための試験セルを送信する送信部１０１と、前記送信手段より送信された試験セルを受信し、当該試験セルの検査を行う検査部２０１とを回線ごとに設けておく。 - 特許庁 - A first testing tool 60 is removably fitted to a nozzle connecting port of a hose 28, and an air pressure injection valve 64 is opened, and is then closed, after air pressure is injected in the hose, and the injected air pressure is maintained inside the hose.
第１試験治具６０は、ホース２８のノズル接続口に着脱自在に装着され、空気圧注入弁６４を開いて空気圧を注入した後に閉じて注入した空気圧をホース内に保持する。 - 特許庁
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