To effectively prevent generation of date faults caused by cross contamination, while shortening or eliminating the testing time of the cross contamination test time which takes a long time for reducing cost for samples, reagents, etc to be borne by customer. 時間のかかるクロスコンタミネーション試験の試験時間を短縮あるいは省略し、試料,試薬などの顧客の費用負担を軽減し、クロスコンタミネーションが原因となるデータ不良を効率的に防止する。 - 特許庁
The system has a monitor means, which is suitable for monitoring document processing peripheral apparatuses, and a test means which is suitable for testing monitored processings by pre-selected determination criteria. 本発明のシステムは、文書処理周辺装置を監視するのに適した監視手段、および監視された処理を予め選択された判定基準に対してテストするのに適したテスト手段を有する。 - 特許庁
This testing machine is provided with a vacuum chamber 27, a film fixing part 26 for regulating tensile strength of the film in the vacuum chamber 27, and a gas measuring means for measuring released gas from the film. 真空チャンバー27と、この真空チャンバー27中にフイルムの張力を調節可能なフイルム固定部26と、フイルムの放出ガスを測定するガス測定手段とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁
In addition, the versatility of the testing machine can be improved, because the machine can realize the joint motion corresponding to the type of a joint when a six-degree- of-freedom motion is appropriately selected. また、6自由度モーションを適宜選択することにより関節の種類に応じた関節動作を同一の試験機により実現することが可能になり、試験機の汎用性を向上することができる。 - 特許庁
To provide a mount for a rotating equipment vibration test that evaluates vibration resistance of rotating equipment in a state near to an operation state, and also evaluates weatherability of the rotating equipment, and also to provide a vibration testing method of the rotating equipment. 回転機器の耐振性を稼働状態に近い状態で評価でき、且つ回転機器の耐候性も評価できる、回転機器振動試験用マウントと回転機器の振動試験方法とを提供する。 - 特許庁
To provide a sensor capable of shortening a test time in the case of testing even if the sensor is provided with an abnormality deciding function (e.g. a function for deciding fire/non-fire) and to provide a monitoring and controlling system. 異常判断の機能(例えば火災/非火災の判断を行なう機能)を備えた感知器であっても、試験時の試験時間を短縮することの可能な感知器および監視制御システムを提供する。 - 特許庁
To provide the acceleration testing method of a computer for specifying a part where any failure is generated by reducing the reproducing period of any latent failure such as memory leak due to memory release leakage. メモリ解放漏れによるメモリリークなど潜在的な不具合は、不具合を持ったプログラムを計算機上で長期間動作させることではじめて顕在化するため、再現試験に長期間を要する。 - 特許庁
This materials testing machine, during a test, controls the movement of a projector 71 for dimensional measurements and a light-receiving unit 72 following a detection arm 52, and makes a detector 70S of a dimension measuring device 70 follow the movement of the detection arm 52. 試験中、検出腕52に追従して測寸用投光器71と受光器72を移動制御して測寸装置70の検出器70Sを検出腕52の移動に追従させる。 - 特許庁
In this elution testing machine, before a start of measurement, a vessel 1 is cleaned, a cleaning liquid is newly injected into the vessel 1, then an absorbance of the cleaning liquid (a cleaning liquid reference value) is measured and stored in a cleaning number automatic selection part 13. 測定開始前に、ベッセル1の洗浄を行ない、さらに洗浄液を注入し、その洗浄液の吸光度(洗浄液基準値)を測定して洗浄回数自動選択部13に記憶する。 - 特許庁
In the case of testing the breakdown voltage, the one of the units 17, which has the outside diameter size meeting to the inside diameter size of an ambient temperature contraction tube 5a to be tested is selected from the plurality of the units 17. 耐圧試験を行なう際には、上記複数の電極ユニット17の中から、試験対象となる常温収縮チューブ5aの内径寸法に見合った外径寸法を有するものを選択する。 - 特許庁
To provide an alcohol testing device capable of surely preventing spoofing without the witness of a roll caller when breath alcohol of a crew is tested, and rationalizing roll call operation. 乗務員の呼気中アルコール検査時に、点呼者の立ち会いを必要としないで確実になりすましを防止することができ、かつ、点呼業務の合理化を図ることができるアルコール検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an electrophotographic photoreceptor deterioration acceleration testing method and equipment, in which unevenness in the deterioration of an electrophotographic photoreceptor and unevenness in discharge are suppressed and uniform and sufficient charging can be given. 電子写真感光体の劣化ムラ、放電ムラを抑制し、均一かつ充分な帯電を与える事が出来る電子写真用感光体劣化加速試験方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an integrated circuit which cannot be reverse-engineered easily by a third party, to provide a testing method for the integrated circuit, and to provide an integrated-circuit component. 本発明は、第3者が容易にリバースエンジニアリングを行うことができない良好な集積回路と、この集積回路の試験方法及び、集積回路部品とを提供することを目的とする。 - 特許庁
First, the engine in a sufficiently cooled state is started, shifted from the second to the fifth gear for testing, and an allowable work load is provided by the change of a fan rotational speed with time. まず、エンジンが十分冷却された状態からエンジンを始動し、2速から5速へと変速を行う試験を行い、ファン回転数の経時変化から許容限度仕事量45を求める。 - 特許庁
To provide a method and a device for testing a droplet ejecting head, capable of finding out a failure which could not be found in the past early by laying the head in a state equal to the actual using state. 実際と同様の使用状態にすることで従来では発見できなかった不良を早期に発見することができる液滴吐出ヘッドの試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide an adapter for continuity test of a line which can shorten the time for the continuity test and is easy to use since pins for testing can easily be inserted into conductor insertion holes in a short time. 複数の導線挿入孔に試験用のピンを容易にかつ短時間に挿入できて、導通試験の時間短縮を図れる上に、使い勝手に優れた回線の導通試験用アダプターを提供する。 - 特許庁
To provide an optical pulse testing device and its adjusting method capable of adjusting light-receiving sensitivity of a light-receiving part for receiving back scattered light, regardless of the change in the ambient temperature, to desired light-receiving sensitivity. 周囲温度の変化に拘わらず後方散乱光を受光する受光部の受光感度を所望の受光感度にすることができる光パルス試験装置及びその調整方法を提供する。 - 特許庁
To provide a compact apparatus for testing a material, which can apply a sufficient load to a minute object to be tested being sampled from an actual equipment structure and carry out a test at the site where the object to be tested is sampled. 実機構造物において採取したより微小な供試体に対して十分な荷重を負荷でき、供試体を採取した現地で試験が行える小型材料試験装置を提供することである。 - 特許庁
To provide a balancing machine capable of making a person superficial in knowledge and experience as to each degree of vibration mode of a testing object correct easily unbalance in the each degree of vibration mode and carry out a balance test easily. 試験体の各次数の振動モードに関する知識や経験が浅い者でも、各次数の振動モードの不釣合いの修正を容易に行うことができて、釣合い試験を容易に行う。 - 特許庁
To provide a semiconductor crystal defect testing method, etc. which uses cathode luminescence (CL) that enables checking of the measurement position at a high spacial resolution, and a sample analysis at a high spacial resolution. 高空間分解能で測定位置の確認ができ、且つ高空間分解能で試料分析ができるカソードルミネッセンス(CL)を用いた半導体結晶欠陥検出方法等を提供する。 - 特許庁
To provide a defect tolerance evaluation method for a structure within a reactor accurately carrying out defect tolerance evaluation by using material testing data obtained from a sample taken from an evaluation object portion itself. 評価対象部位そのものから採取したサンプルから得られた材料試験データを用いて精度よく欠陥裕度評価を行う炉内構造物の欠陥裕度評価方法を提供する。 - 特許庁
To precisely and easily control the temperature of water discharged into a waste liquid processing tank, by automatically controlling the temperature of water discharged from dump pipes of a reactor-cooling water purifying system during pressure tightness leakage testing and the like. 耐圧漏洩検査等の際に原子炉冷却水浄化系ダンプ配管から排出される水温を自動的に制御し、廃液処理タンク内への排水温度管理を的確かつ容易に行うこと。 - 特許庁
To provide a testing apparatus for diaphragm type pressure regulator for a gas fuel engine capable of measuring flow-rate characteristic by carrying out test of an individual pressure regulator before fitting the same onto an actual engine. 実際のエンジンに組み込む前に圧力レギュレータ単体で試験を行ってその流量特性を求めることができるガス燃料エンジン用のダイヤフラム式圧力レギュレータの試験装置を提供する。 - 特許庁
The method of testing the life of a fuel cell is characterized in that the electric potential between a first potential region baser than E1 and a second potential region nobler than E2 is repeatedly changed. 燃料電池の寿命試験方法において、E1より卑な第1の電位領域とE2より貴な第2の電位領域との間で、電位を繰り返し変化させる操作を含むことを特徴とする。 - 特許庁
To provide a main signal load testing device etc., capable of conducting a load test in the device even if the difference between the packet transfer processing capability in the device and the packet transmission and reception capability of a CPU is ≥255 times. 装置内のパケット転送処理能力とCPUのパケット送受信能力の差が255倍以上であっても、装置内での負荷試験が可能な主信号負荷試験装置等を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device for conducting a test by generating, in a real time, a response signal based on a control signal from a control part to transmit a reply to the control part, and a response signal generator. 制御部からの制御信号に基づく応答信号をリアルタイムに生成して該制御部に返信し、試験を行うことを可能とする試験装置及び応答信号生成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a command transmission control device for transmitting a command to a sound reproduction device at optional timing, and to provide an integrated circuit device, a sound reproduction evaluation system and a testing method of the sound reproduction device. 音再生装置に対して、任意のタイミングでコマンドを送信することが可能なコマンド送信制御装置、集積回路装置、音再生評価システム及び音再生装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁
The provision of a switching transistor, a selector, a fuse, or a connector brings the test stub wiring into conduction during testing, and out of conduction during normal operation, thus maintaining signal quality of the signal wiring. スイッチ用トランジスタ、セレクタ、ヒューズ、プローブまたはコネクタを設けることで、テスト用スタブ配線をテスト時には導通させ、通常動作時には非導通とすることで信号線の信号品質を確保する。 - 特許庁
An allotment processing unit 13 allots the frame to either of the virtual ONUs 12-1 to 12-31 according to an identifier included in a testing frame received from Ethernet (R) frame generator/tester. 振分け処理部13は、イーサネット(R)フレームジェネレータ/テスタから受けた試験のためのフレームに含まれる識別子に応じて、このフレームを仮想ONU12−1〜12−31のいずれかに振分ける。 - 特許庁
A flexible printed wiring board is used as wiring for transmitting a vibration signal, which is detected by a vibration detector installed to the vibration base in the vibration testing machine, from this vibration detector to another device. 振動試験機の振動台の取り付けられた振動検出器で検出した振動信号を前記振動検出器から他の装置に送信するための配線をフレキシブルプリント基板にする。 - 特許庁
If an operational fault is confirmed by a test, the layout diagram corresponding to its testing content is collated to the contrast image, and a position in which a mismatch occurs is displayed on a display means 7. 試験により動作異常が確認された場合に、その試験内容に対応した上記レイアウト図と上記電位コントラスト画像とを照合し、不一致が発生した箇所を表示手段7に表示する。 - 特許庁
To provide a semiconductor evaluation device capable of selecting automatically an input terminal, a testing object, on the semiconductor device side connected to a tester outputting high-frequency noise. 試験対象であって、高周波ノイズを出力する試験器と接続される半導体装置側の入力端子の選択を自動的に行うことが可能な半導体評価装置を提供する。 - 特許庁
To provide a system and a method for automatic failure testing of macro-interface having a logical block and a logic gate in a chip which uses an at-speed logic built in self test circuit inside the chip. チップの内部にあるアットスピードの論理BIST回路を用いた、論理ブロックおよびチップ内の論理ゲートを持つマクロのインタフェースの自動的な故障テストのためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁
To shorten a temperature rise and fall time of a tested object by efficiently creating a low temperature and high temperature state, in a tank of an electronic component temperature testing device that uses Peltier elements. ペルチェ素子を用いた電子部品の温度試験装置において、低温および高温の槽内状態を効率よく作り出すことにより、被試験物の温度上昇、下降時間を短縮する。 - 特許庁
To provide a method for testing an igniter 40 joined to the inside of a gas turbine engine 10 including a combustor 20, a pressure converter 44 joined to the combustor 20, and a spark detector 42. 燃焼器(20)、該燃焼器(20)に結合された圧力変換器(44)、及びスパーク検出器(42)を含むガスタービンエンジン(10)内部に結合された点火器(40)をテストする方法を提供する。 - 特許庁
To provide a DC testing device, or the like, capable of precisely measuring variations in DC signals applied to a semiconductor device, even when the setting for performing a DC test is changed. 直流試験を行うための設定が変更された場合であっても半導体デバイスに印加される直流信号の変動を高い精度で測定することができる直流試験装置等を提供する。 - 特許庁
To enable testing by pin-multiplex function by applying the operation of a logic circuit for example to the test, and effectively evading decrease of the number of measurable channels. 本発明は、半導体試験装置に関し、例えば論理回路の動作を試験に適用して、測定可能なチャンネル数の減少を有効に回避してピンマルチにより試験することができるようにする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device wherein a semiconductor element and an external electrode are connected by lead wiring, and which can prevent the occurrence of areas not filled by a sealing resin and can ease testing processes. 半導体素子と外部電極とがリード配線で接続された半導体装置において、封止樹脂の未充填領域の発生を防ぎ、かつ試験工程が容易な半導体装置を提供する。 - 特許庁
This testing device includes a reservoir 14 for including the fluid, an aerator device 22 for generating air entrainment in the fluid, and a densimeter 26 for measuring the effect of the air entrainment relative to a fluid density. 本試験装置は、流体を含むためのリザーバ14と、流体に空気飛沫同伴させるエアレータ装置22と、流体密度に対する空気飛沫同伴の効果を測定する密度計26とを含む。 - 特許庁
To provide a collision-testing device, capable of reproducing in a simulating manner drop of a robot arm having a comparatively heavy load with a simple constitution, and of performing easily a high-accuracy collision test. 簡単な構成でありながら荷重の比較的大きいロボットアームの落下を模擬的に再現することができ、精度の高い衝突試験が容易に行える衝突試験装置を提供する。 - 特許庁
A load testing device 9 independently sets call processing signaling to a node B device 4 and a load of user data communication by a radio control part 9a and a user data preparation/inspection part 9b. 負荷試験装置9では無線制御部9a及びユーザデータ生成/検査部9bによって、ノードB装置4に対する呼処理シグナリング及びユーザデータ通信の負荷を独立に設定する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing apparatus, capable of making an input test pattern associate with an abnormality of voltage in detecting the abnormality of the voltage, when the test pattern is input into a device. テストパターンをデバイスに入力した時の電圧の異常を検出する際に、入力テストパターンと電圧の異常との対応付けをすることができる半導体試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a device and method for testing a circuit component for performing a load test at an optional timing without depending on the timing of a test signal to a circuit component as an object to be tested. 被試験体である回路部品に対して試験信号のタイミングに依存することなく任意のタイミングで負荷試験を行うことができる回路部品試験装置および方法を提供する - 特許庁
The semiconductor-testing device has been improved, which tests a liquid crystal drive driver, incorporating a relay for connecting output from the positive-electrode amplifier and negative-electrode amplifier provided for each pin to the pin. ピンごとに設けられる正極アンプ、負極アンプからの出力をピンに接続させるリレーを内蔵した液晶駆動ドライバの試験を行なう半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
To solve the problem that tests require time and labor as the tests are performed by activating only one clock when testing an integrated circuit operated by a plurality of clock signals at normal operation. 通常動作において、複数のクロック信号によって動作する集積回路をテストするとき、1つのクロックだけを起動することによってテストするため、テストにかかる手間および時間がかかる。 - 特許庁
To provide a probe card preventing a probe from burning by protecting it from overcurrent generated for a short time until a protection circuit disposed in a test head or a tester of a testing apparatus is activated. 検査装置のテストヘッドあるいはテスタに設けられた保護回路が作動するまでの短時間に生じる過電流からプローブを保護し、針焼けを防止することが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁
The jaw heating element of the handpiece 12 with which a thermal tissue operation system 10 is provided is consecutively tested by applying a testing heater power signal to the jaw heating element betweentimes of individual thermal tissue operations. 熱組織手術システム10の備えるハンドピース12のジョー加熱素子は、個別の熱組織手術の合間に試験用ヒーター電力信号をジョー加熱素子に印加することにより継続的にテストされる。 - 特許庁
To provide a convenient in vitro membrane protein expression system using an inhibitor of drug efflux pump proteins and heterologous cells for testing other drug resistance-relating cell membrane proteins. 薬剤排出ポンプ蛋白質の阻害物質や異なる種由来の薬剤耐性に関連する他の細胞膜蛋白質を試験するための細胞を用いた簡便なin vitro膜蛋白質発現系を提供する。 - 特許庁
To provide a gamma ray irradiation testing device which carries out a radiation irradiation test, utilizing effectively a radiation emitted from a radioactive waste, using an existing storage facility for the radioactive waste. 既存の放射性廃棄物の保管施設を用いて、放射性廃棄物から放射される放射線を有効利用して放射線の照射試験が行えるガンマ線照射試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device capable of supplying test signals to a plurality of tested devices formed on the same substrate to conduct tests, and capable of determining accurately the qualities of the plurality of tested devices. 同一基板上に形成された複数の被試験デバイスに試験信号を供給して試験し、複数の被試験デバイスの良否判定を正確に行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁