「Testing」を含む例文一覧(14405)

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  • To provide a method and a device for insulation testing, which make it possible to inspect all defect parts where sounding winging coils are abnormally close to laminate coarse (at intervals of <1 mm) through nondestructive inspection in a mass-production process.
    健全な巻線コイルがラミネートコアに異常接近（１ｍｍ以内）した状態にある欠陥部分を、非破壊検査により量産工程で全数検査を可能にした絶縁試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • A DC power source is formed by a battery corresponding part 11 to be supplied to an inverter 15 as a test body and the a drive power source from the inverter 15 is supplied to a motor corresponding part 12 to perform testing of the inverter 15.
    バッテリ相当部１１で直流電源を形成し、この直流電源を供試体としてのインバータ１５に供給し、インバータ１５からの駆動電源をモータ相当部１２に供給して、インバータ１５の試験を行う。 - 特許庁
  • The fuel cell separator material is made of the graphite/hardened resin molded body, on the surface layer part of which, a hydrophilic treatment depending on the air blast treatment is applied, and a wet tension of the surface measured by using a wet tension testing liquid is 40 mN/m or higher.
    黒鉛／硬化樹脂成形体からなり、その表層部がエアブラスト処理による親水化処理が施され、濡れ張力試験液による表面の濡れ張力が４０ｍＮ／ｍ以上の燃料電池用セパレータ材。 - 特許庁
  • The coating amount of the microcapsules is in the range of 1-50 g/m^2, and the smoothness of the surface coated with the microcapsules is set at 20-600 sec when tested by a smoothness testing method using a Beck tester described in JIS-P8119.
    マイクロカプセルの塗工量は１ｇ／ｍ^2から５０ｇ／ｍ^2の範囲にあり、マイクロカプセルの塗工面の平滑度がＪＩＳ−Ｐ８１１９記載のベック試験器による平滑度試験方法で２０〜６００秒の範囲に設定する。 - 特許庁
  • The IC tester is characteristically constituted of: a memory for storing the test program composed of pass test and fail test; and performing means for controlling the testing part by performing either all of the test program or performing the pass test.
    本装置は、パステストとフェイルテストからなるテストプログラムを記憶する記憶部と、この記憶部のテストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、試験部を制御する実行手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁
  • To attain high testing efficiency by downsizing and simplifying a test apparatus in additionally installing field apparatuses such as signal lights in a railroad station yard on a signal maintenance system which controls the field apparatuses with an electronic interlock device.
    鉄道の駅構内における信号機等の現場機器の制御を電子連動装置を用いて行う信号保安システムに現場機器を増設して試験する際、試験装置を小型化、簡略化して、試験効率を向上を図る。 - 特許庁
  • This tire testing device 10 is equipped with the endless belt 16 having a belt surface 16S abutting on a tire T, and a primary side coil 18 of a linear motor for generating an eddy current and generating a running force on the endless belt 16.
    タイヤ試験装置１０は、タイヤＴに当接するベルト路面１６Ｓを有する無端ベルト１６と、無端ベルト１６に渦電流を発生させて走行力を生じさせるリニアモータの一次側コイル１８と、を備えている。 - 特許庁
  • To provide an anvil for a hardness testing machine for reducing the irregularity of measurement by attaching a sample support mechanism, which performs measurement even if a measuring person does not lay his hands, to a spot anvil.
    本発明は、測定者が手を添えなくても測定が行える試料支持機構をスポットアンビルに取り付けることにより、測定のばらつきを小さくすることができる硬さ試験機用アンビルを提供することを目的とするものである。 - 特許庁
  • The on-chip circuit forces and senses voltage in each DRAM storage capacitor, displays each storage capacitor charge leakage rate and enables a pulse testing method for calculating an electric charge transfer rate between a bit line of the DRAM cell and the storage capacitor.
    オン・チップ回路は、個々のＤＲＡＭ記憶キャパシタに電圧をフォースおよびセンスして、個々の記憶キャパシタ電荷漏洩率を表し、ＤＲＡＭセルのビットラインと記憶キャパシタとの間の電荷転送率を求めるパルス・テスト方法を可能にする。 - 特許庁
  • The testing station 12 includes a rotatable chuck assembly and a spindle assembly attached to the frame, and those are provided with an upper rim and a lower rim rotated to rotate the tire 20 while engaged with a tread of the tire 20.
    この試験ステーション（１２）は、フレームに取付けられた回転可能なチャックアセンブリ及び主軸アセンブリを備え、これらはタイヤ（２０）の踏面に係合してタイヤ（２０）を回転させるように回転される上側リム及び下側リムを備える。 - 特許庁
  • In addition, to obtain responses of the components corresponding to changes in the added operating parameters, the parameter adjuster sets the added parameters to one or a plurality of testing values in response to a command signal from the controller.
    さらに、加えられた動作パラメータの変化に対するこれらのコンポーネントの応答を引き出すために、パラメータ調整器は、コントローラからのコマンド信号に応答して、加えられた動作パラメータを１つまたは複数の試験値に設定する。 - 特許庁
  • To provide a power supply capable of discharging charges stored in the power supply during testing and maintenance without using large components, and a high-frequency circuit system equipped with the power supply.
    大型の部品を用いることなく、試験や保守時に電源装置に蓄積された電荷の放電を可能にして、作業の安全性を向上させることができる電源装置及びそれを備えた高周波回路システムを提供する。 - 特許庁
  • Thus, with the semiconductor memory device and the method for testing whether the ODT resistor is on/off during the data read mode, whether the ODT circuit is on/off during reading of data is tested.
    したがって、本発明によるデータ読出モードでＯＤＴ抵抗部のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法は、データが読出される間にＯＤＴ回路のオン／オフ如何をテストできる。 - 特許庁
  • To provide stable quality by predicting the number of read errors of a sync byte (SB) caused by very small defects even without testing based on a data block length for each user regarding a method for inspecting a storage disk device.
    ディスク型記憶装置の検査方法に関し，各ユーザに応じたデータブロック長で試験を行わなくても，微小欠陥によるシンクバイト（ＳＢ）のリードエラー発生個数を予測し，安定した品質の提供を可能にすることを目的とする。 - 特許庁
  • Reference installation of the assay cartridge in this instrument is made possible so as to feed the sample and reagent to the testing surface by a specified and flexible means, thereby supplying the sample type to be analyzed with specific assay protocol.
    本機器は、指定の、かつ、弾力的なやり方で、サンプルと試薬を、試験表面に搬送するよう、アッセイカートリッジを照合設置することが可能であり、それによって、分析されるサンプルの型に特異的なアッセイプロトコールを供給する。 - 特許庁
  • To provide a method for deciding necessity for exchanging a dialysis device by testing clearance of the dialysis device in a simple and reliable at- home blood dialysis system requiring minimum labor of a patient by automating all processes.
    全過程を自動化し最小の患者労力で簡単で信頼性のある在宅用血液透析システムにおいて透析器のクリアランス試験を行い前記透析器の交換の必要性を決定する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device testing apparatus capable of conducting highly reliable electrical characteristic tests, having a contact holder for precisely bringing the connecting leads of a semiconductor device into contact with contactors during the electrical characteristic tests.
    電気的特性試験の際、半導体デバイスの接続用リードを接触子に的確に接触させるコンタクト押さえを備え、信頼性の高い電気的特性試験を行うことができる半導体デバイスの試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing apparatus that reduces the number of unusable tester pins even when a pin multiplex function is used, and also reduces the number of processes for creating data necessary for generation of a test signal.
    ピンマルチプレクス機能を用いる場合であっても使用不可となるテスタピンの数を減らすことができ、且つ試験信号の生成に必要なデータ作成の作業工数を低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A humidifying device 10 included in the environmental testing device 1 includes a humidifier 11 storing water, a water supply pipe 18, a water discharge pipe 19 and humidification piping 20 connected to the water supply pipe 18 and having a pipe heater 21.
    環境試験装置１に含まれる加湿装置１０は、水を貯留する加湿器１１、給水管１８、排水管１９、及び、給水管１８に接続されると共にパイプヒータ２１が設けられた加湿配管２０を有する。 - 特許庁
  • To provide a test device for testing the characteristics of each semiconductor chip by bringing a probe into contact therewith from both surfaces of a semiconductor wafer, in which each semiconductor chip can be tested by heating the semiconductor wafer to a desired temperature.
    半導体ウエハの両面よりプローブを接触させて各半導体チップの特性を試験する試験装置において、所望の温度に半導体ウエハを加熱して各半導体チップを試験することができる試験装置を提案する。 - 特許庁
  • The gas sensor testing apparatus 1 includes ten gas room forming sections 23 with respective gas rooms 53, and the respective ten gas rooms 53 covering sensor containing sections 15 (gas inlet holes 13) for respective gas sensors 11.
    ガスセンサ検査装置１は、個別ガス室５３を有する１０個のガス室形成部２３を備えており、各ガスセンサ１１のセンサ収容部１５（ガス導入孔１３）をそれぞれ個別に覆う１０個の個別ガス室５３を備えている。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for drug-susceptibility testing that are effective in eliminating a medicine ineffective in inhibiting the activity of targeted cells and also makes it easy to select an effective medicine.
    対象とする細胞の活性を抑制する効果のない薬剤を排除するのに有効なだけではなく、効果のある薬剤を選択するのを容易とすることのできる薬剤感受性試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing device which can make even distribution of threshold voltage by accurately controlling threshold voltage distribution after writing data in a plurality of memory cells in a nonvolatile semiconductor memory device being electrically erasable and writable.
    電気的消去・書き込み可能な不揮発性半導体記憶装置における複数のメモリセルにデータを書き込み後の閾値電圧分布を正確に制御して閾値電圧の分布を揃えることができる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • This test selection circuit 10 is integrated in a semiconductor integrated circuit, and selects one out of a plurality of digital signals appearing in its inside, to be output to an outside via a test output terminal 114, when testing the semiconductor integrated circuit.
    テストセレクト回路１０は、半導体集積回路に集積化され、半導体集積回路のテスト時において、内部に現れる複数のデジタル信号から、ひとつを選択して外部にテスト出力端子１１４を介して出力する。 - 特許庁
  • Terminal devices 24, 34 connected to the network N transmit the diagnosis result of the self- diagnosis program function of the testing devices 20, 30 to the maintenance information providing server 12 corresponding to user operation, and acquires information on the defect generation spot.
    ネットワークＮに接続された端末装置２４，３４は、ユーザの操作に応じて試験装置２０，３０の自己診断プログラム機能の診断結果をメンテナンス情報提供サーバ１２へ送信して不良発生箇所に関する情報を得る。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing apparatus capable of concurrently generating an expectation value pattern and a determination mask pattern using pattern data stored in a pattern memory, thereby enhancing the flexibility in creating a test program and the efficiency of test.
    パターンメモリに記憶されたパターンデータを用いて期待値パターンと判定マスクパターンとを同時に生成することができ、これにより試験プログラム作成の自由度及び試験効率を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Biologically or pharmacologically active mixtures of compounds obtained from the same biological origin are standardized by testing products isolated by carrying out a plurality of different operations for producing a plurality of the products.
    複数の生成物を生産するための複数の異なる操作の実施により単離された生成物の試験により同一の生物原から得られる化合物の、生物学的または薬理学的に活性な混合物の標準化を行う。 - 特許庁
  • To provide an IC testing device with improved IC test reliability and productivity, its control method, and a storage medium by combining a plurality of ICs under an optional judgement criterion for performing the test.
    本発明の課題は、任意の判定基準下で複数のＩＣを組み合わせて試験を行うことにより、ＩＣ試験の信頼性と生産性を向上したＩＣ試験装置、その制御方法、及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁
  • This disk for testing reproduction has a transparent substrate 11 on which pits are formed and layers 12, 13 and 15 which are deposited on the transparent substrate 11 and have the same reflection characteristics as those of the layers consisting of the recording layer, protective layer and reflection layer of the reloadable disk recording medium.
    ピットが形成された透明基板１１と、透明基板１１上に成膜され、書き換え可能なディスク記録媒体の記録層、保護層及び反射層からなる層と同じ反射特性の層１２，１３，１５とを有する。 - 特許庁
  • To provide an integrated DSC/digital camcorder that enables testing and evaluation before final assembly and is also easy to assemble and disassemble so as to enhance productivity and the convenience of A/S and to provide a manufacturing method thereof.
    本発明は、最終セット組立の前に特性テストが可能であるだけではなく組立及び分離が容易で生産性及びＡ／Ｓの便利性を高めたＤＳＣ一体型デジタルカムコーダ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • The weathering fading test is carried out while controlling the test temperature by a thermometer of a color nearest to the color of the testing sample piece out of the respective panel thermometers of black, white, red, sky blue and yellow colors.
    黒色、白色、赤色、空色、黄色の各パネル温度計中、試験する試料片の色に最も近い色の温度計によって、試験温度を管理しながら耐候光試験を行うことを特徴とする耐候光試験方法。 - 特許庁
  • The other end 20b of the humidification piping 20 is opened between a dehumidification device 4 and an air heater 3 in an air conditioning chamber 1b of the environmental testing device 1, and the opening is set smaller than the surface area of the water stored within the humidifier 11.
    加湿配管２０の他端２０ｂは、環境試験装置１の空調室１ｂにおいて、除湿装置４と空気ヒータ３との間に開口し、当該開口は加湿器１１内に貯留される水の表面積よりも小さい。 - 特許庁
  • To provide a rotary electric machine for a dynamo testing device capable of preventing bearing lubrication oil from leaking out of a casing, together with a part of cooling air flow in a high-pressure state that is introduced into the casing.
    本発明は、ダイナモ試験装置用回転電機において、ケーシング内に導入された高圧状態の冷却空気流の一部と共に、軸受潤滑油がケーシング外に漏出してしまうのを防止することを課題としている。 - 特許庁
  • To provide a bus-bar protection relay device which reduces a power interruption range smaller than that of a conventional device at the occurrence of a bus-bar accident when the bus-bar protection relay device of a power plant is not in use because of maintenance and testing, and a bus-bar protection method.
    変電所の母線保護継電装置を点検や試験のため不使用中における母線事故発生時に従来より停電範囲を縮小する母線保護継電装置と母線保護方法を提供すること。 - 特許庁
  • To solve the problem that in a conventional self test, AD and DA converting circuits to be tested are used for testing and calibrating them at a low cost, while whether the self test method has a desired linearity or not can not be decided correctly when the converting circuits have opposite error characteristics mutually.
    ＡＤ変換回路およびＤＡ変換回路のテストおよび較正を低コストに実施するため、被測定対象であるＡＤ変換回路とＤＡ変換回路を互いに利用したセルフテスト方式が提案されている。 - 特許庁
  • (3) In the test set forth in paragraph 1, a specified measuring instrument shall pass if the structure of the specified measuring instrument for testing conforms to the technical standards specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry set forth in Article 71, paragraph 1, item 1.
    ３　第一項の試験においては、その試験用の特定計量器の構造が第七十一条第一項第一号の経済産業省令で定める技術上の基準に適合するときは、合格とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Article 69-29 A prefectural governor, when it is determined that it is necessary for ensuring the proper conduct of Examination Affairs, may give necessary orders for supervision concerning Examination Affairs to a Designated Testing Agency.
    第六十九条の二十九　都道府県知事は、試験事務の適正な実施を確保するため必要があると認めるときは、指定試験実施機関に対し、試験事務に関し監督上必要な命令をすることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • For these reasons, we do not recommend that you blindly track FreeBSD-STABLE, and it is particularly important that you do not update any production servers to FreeBSD-STABLE without first thoroughly testing the code in your development environment.
    このような理由から、わたしたちは盲目的に FreeBSD-STABLE を追いかけることを推奨しません。 特に、最初に開発環境でコードを十分に試験せずに プロダクション品質が要求されるサーバをFreeBSD-STABLE にアップグレードしてはいけません。 - FreeBSD
  • Generally, when internal control over financial reporting is ineffective due to material weaknesses, for the purpose of the Financial Statement Audit, the external auditor cannot apply sampling testing where he/she relies on Internal Control in accordance with the Audit Standards.
    一般に、財務報告に係る内部統制に重要な欠陥があり有効でない場合、財務諸表監査において、監査基準の定める内部統制に依拠した通常の試査による監査は実施できないと考えられる。 - 金融庁
  • However, the details of this system of local governance are not clear because there are few historical documents, and it is considered that it did not happen consistently throughout the area controlled by the Taira clan, but was a transient phenomena while testing ways for bushi to govern.
    ただし、こうした現地支配の形態は、関係史料が少ないため明らかでない部分もあるが、平氏支配地に一律で適用されたのではなく、武士による支配を模索する中で現れたに過ぎないとされている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • DEFECTIVE INFORMATION STORAGE, DEFECTIVE INFORMATION STORAGE PROCESSOR PROVIDED WITH THE SAME, DEFECTIVE INFORMATION STORAGE METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS PROVIDED WITH DEFECTIVE INFORMATION STORAGE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH DEFECTIVE INFORMATION STORAGE
    不良情報格納装置とその装置を備える不良情報蓄積処理装置、不良情報蓄積方法、不良情報格納装置を備える半導体装置試験装置、および不良情報格納装置を備える半導体装置 - 特許庁
  • To enable visually grasping a communication state and a signal waveform of a message in testing simultaneously on the time axis in a connection test for a mobile communication terminal by a simulated base station or the like.
    本発明の目的は、移動体通信端末の擬似基地局による接続試験等において、試験時のメッセージの交信状態及び信号波形を同一時間軸上で同時に、視覚的に把握できるようにすることである。 - 特許庁
  • To provide a laser scanning machining method by which the reduction of a machining material for testing for confirming the time required for setting of laser scanning conditions and the scanning conditions can be attained, and highly accurate laser scanning machining can be performed.
    レーザスキャン条件の設定に要する時間及びスキャン条件確認のための試験用加工材料の低減を図ることが可能で、かつ高精度なレーザスキャニング加工を行うことが可能なレーザスキャニング加工方法を提供する。 - 特許庁
  • The present invention implements improvements on the tester simulation apparatus performing the simulation by a DUT model simulating the operation of an object under test and a tester model simulating the operation of a tester in testing the object under test by the tester.
    本発明は、被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の動作をシミュレーションするＤＵＴモデルと、テスタの動作をシミュレーションするテスタモデルとによりシミュレーションを行うテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
  • Whether or not the thread has defective register/array is discriminated by separately testing functions of the respective threads, access to the register/array intrinsic to the thread is selectively disabled when a defect or some other reasons are present.
    各々のスレッドの機能を別々にテストして、スレッドが、欠陥のあるレジスタ／アレイを有するかどうかを識別し、もし欠陥があれば、又は他の理由によって、そのスレッドに固有のレジスタ／アレイへのアクセスを選択的に不能にする。 - 特許庁
  • To provide an abrasion testing machine for evaluating the abrasion of both or either of a piston ring and a piston ring groove, capable of evaluating the piston ring and the piston ring groove, in a state which is very close to the state used in actual machines.
    実機で使用される状態に極めて近似した状態でピストンリング、ピストンリング溝の評価を行うことができるピストンリングとピストンリング溝との双方又はいずれか一方の摩耗を評価する摩耗試験装置の提供。 - 特許庁
  • To provide a testing device of a power train for obtaining a reliable test result by giving accurate load torque corresponding to the transitional drive state of a vehicle for mounting the power train including a motor and a transmission.
    原動機及び変速機を含むパワートレインが搭載される車両の過渡的な走行状態に対応して正確な負荷トルクを付与し、信頼性の高い試験結果を得ることができるパワートレインの試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The cache control is configured to cause first information to be provided from the first cache to the processor in response to receiving a read transaction, from the processor, that includes an address in the portion of the memory during testing of the portion.
    キャッシュ制御部は、メモリの上記部分のテスト中にその部分のアドレスを含む読出しトランザクションをプロセッサから受け取ると、それに応じて、第１の情報が第１のキャッシュからプロセッサに提供されるようにするように構成される。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for supplying sand for sampling with which kneaded sand is supplied into a sand testing instrument without solidifying the kneaded sand and sticking to the device and also, varying the characteristic of the kneaded sand.
    混練砂を固まらせたり装置に付着させないで、かつ混練砂を性状変化をさせずに砂試験器へ供給することができるサンプリング用砂の砂供給方法及びその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and a method for efficiently testing a semiconductor integrated circuit by eliminating a loss time occurring whenever signals of address and data are output to an object under test having an automatic program function.
    自動プログラム機能を有する被試験対象に対してアドレス及びデータを出力する度に生ずる無駄時間を無くすことで効率的に試験を行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁
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