DEVICE AND METHOD FOR TESTING GAS VALVE FOR CYLINDER ボンベ用ガスバルブの試験装置及び試験方法 - 特許庁
SAMPLE-PREPARING DEVICE FOR TESTING SOLDERING MATERIAL はんだ付材料試験用の試料作成装置 - 特許庁
CIRCUIT FOR TEST BOARD IN BURN-IN TESTING SYSTEM バーンイン試験システムにおける試験ボード用回路 - 特許庁
CONTROL SEQUENCE GENERATING METHOD IN VoIP SERVICE, TESTING METHOD USING THE SAME, TESTING AND CAPTURING DEVICE USED FOR TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM FOR IMPLEMENTING TESTING AND CAPTURING DEVICE VoIPサービスにおける制御シーケンス生成方法、該方法を用いる試験方法、該試験方法に用いる試験装置及びキャプチャ装置、及び該試験装置及びキャプチャ装置を実現するためのコンピュータプログラム - 特許庁
To provide an electric wire flexibility testing device and its testing method, capable of carrying out testing at a high measurement accuracy, inexpensively, without twisting of wires during testing, and with little fluctuation of measurement. 低コストで、試験中に電線が捩れることなく、計測のバラつきが少なく、高い計測精度で試験を行うことができる電線の耐屈曲性試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁
INCREASE OF INTERNAL CLOCK FOR SHORTENING TESTING TIME テスト時間短縮のための内部クロックの増大 - 特許庁
IC-TESTING DEVICE FOR MOUNTING TIMING RETENTION FUNCTION タイミング保持機能を搭載したIC試験装置 - 特許庁
SERIAL SIGNAL GENERATING APPARATUS AND DEVICE-TESTING APPARATUS シリアル信号生成装置及びデバイス試験装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING AND ADJUSTING MICROWAVE SEMICONDUCTOR DEVICE マイクロ波半導体装置の試験調整方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE 半導体装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁
JIG AND METHOD FOR TESTING LIFETIME 寿命試験用治具及び寿命試験方法 - 特許庁
METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING HORIZONTAL LOADING IN PIT 孔内水平載荷試験方法及びその装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING BURN-IN BOARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE バーンインボード及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
To provide a small testing machine for testing tensile strength of a small-sized material, placed on a table in a laboratory or the like, in a material testing machine for testing tensile strength or the like of materials. 材料の引張強度等を試験する材料試験機において、実験室等における卓上に載置して小形、小片の材料について引張強度を試験する小形試験機を提供する。 - 特許庁
SPINDLE STRUCTURE AND TIRE TESTING MACHINE WITH THE SAME スピンドル構造およびこれを備えたタイヤ試験機 - 特許庁