「Testing」を含む例文一覧(14414)

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  • FLOOR MAGNIFICATION TESTING METHOD FOR BUILDING STRUCTURAL ELEMENT
    建築物構造要素の床倍率試験方法 - 特許庁
  • STRUT FIXING DEVICE IN AUTOMATIC PENETRATION TESTING MACHINE
    自動貫入試験機における支柱固定装置 - 特許庁
  • LITHOGRAPHY METHOD AND METHOD FOR TESTING LITHOGRAPHY DEVICE
    リソグラフィ方法及びリソグラフィ装置の試験方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR CHIP AND TESTING METHOD THEREFOR
    半導体チップおよび半導体チップのテスト方法 - 特許庁
  • TRACTION DOLLY DEVICE FOR VEHICLE IMPACT TESTING DEVICE
    車両衝突試験装置の牽引ドーリー装置 - 特許庁
  • LOAD CALIBRATION JIG FOR INSTRUMENTATION IMPACT TESTING DEVICE
    計装化衝撃試験装置用荷重較正治具 - 特許庁
  • PROBE CARD AND IC TESTING DEVICE USING IT
    プローブカードおよびこれを用いたIC試験装置 - 特許庁
  • INDENTATION DEPTH MEASURING MECHANISM AND MATERIAL TESTING MACHINE
    押込み深さ計測機構及び材料試験機 - 特許庁
  • The person testing the wheelchair wore electrodes on his head.
    車いすの試行者は頭に電極を付けた。 - 浜島書店 Catch a Wave
  • TESTING METHOD OF CONTACTING NOISE PERFORMANCE OF PAVING BODY
    舗装体の接触騒音性能の試験方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR TESTING AIRTIGHTNESS OF AIRTIGHT DOOR
    気密扉の気密性試験方法と試験装置 - 特許庁
  • TEST BOARD FOR TESTING CONTINUITY IN POWER SOURCE/GND TERMINAL
    電源/GND端子導通試験用テストボード - 特許庁
  • REMOTE TEST EQUIPMENT FOR PLANT AND ITS TESTING METHOD
    プラント遠隔試験装置およびその試験方法 - 特許庁
  • EDGE FAULT DETECTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR TESTING EQUIPMENT
    半導体試験装置のエッジ不良検出装置 - 特許庁
  • DIGITAL/ANALOG CONVERSION APPARATUS, AND DC TESTING DEVICE
    デジタルアナログ変換装置及び直流試験装置 - 特許庁
  • RELIABILITY TESTING APPARATUS AND METHOD
    信頼性試験装置および信頼性試験方法 - 特許庁
  • QUALITY CONTROLLING AND TESTING METHOD OF CEMENT IMPROVED GROUND
    セメント改良地盤の品質管理試験方法 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TESTING ERROR IN MICROPROCESSOR
    マイクロプロセッサのエラーをテストする方法および装置 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR TESTING FPGA-MOUNTED BOARD
    FPGA搭載ボードのテスト方法とテスト装置 - 特許庁
  • TESTING DEVICE AND METHOD OF POWER CONVERTER
    電力変換器の試験装置および試験方法 - 特許庁
  • HARDNESS TESTING INSTRUMENT, AND CALIBRATION METHOD THEREOF
    硬さ試験機及び硬さ試験機の校正方法 - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR TESTING LOGIC CIRCUIT
    論理回路テスト装置及び論理回路テスト方法 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR COMPONENT
    半導体部品の試験方法および試験装置 - 特許庁
  • ETCHING ACCURACY EVALUATING METHOD AND TESTING SUBSTRATE THEREFOR
    エッチング精度評価方法およびそのテスト基板 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING GAS VALVE FOR CYLINDER
    ボンベ用ガスバルブの試験装置及び試験方法 - 特許庁
  • SAMPLE-PREPARING DEVICE FOR TESTING SOLDERING MATERIAL
    はんだ付材料試験用の試料作成装置 - 特許庁
  • CIRCUIT FOR TEST BOARD IN BURN-IN TESTING SYSTEM
    バーンイン試験システムにおける試験ボード用回路 - 特許庁
  • CONTROL SEQUENCE GENERATING METHOD IN VoIP SERVICE, TESTING METHOD USING THE SAME, TESTING AND CAPTURING DEVICE USED FOR TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM FOR IMPLEMENTING TESTING AND CAPTURING DEVICE
    VoIPサービスにおける制御シーケンス生成方法、該方法を用いる試験方法、該試験方法に用いる試験装置及びキャプチャ装置、及び該試験装置及びキャプチャ装置を実現するためのコンピュータプログラム - 特許庁
  • To provide an electric wire flexibility testing device and its testing method, capable of carrying out testing at a high measurement accuracy, inexpensively, without twisting of wires during testing, and with little fluctuation of measurement.
    低コストで、試験中に電線が捩れることなく、計測のバラつきが少なく、高い計測精度で試験を行うことができる電線の耐屈曲性試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁
  • INCREASE OF INTERNAL CLOCK FOR SHORTENING TESTING TIME
    テスト時間短縮のための内部クロックの増大 - 特許庁
  • IC-TESTING DEVICE FOR MOUNTING TIMING RETENTION FUNCTION
    タイミング保持機能を搭載したIC試験装置 - 特許庁
  • SERIAL SIGNAL GENERATING APPARATUS AND DEVICE-TESTING APPARATUS
    シリアル信号生成装置及びデバイス試験装置 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING AND ADJUSTING MICROWAVE SEMICONDUCTOR DEVICE
    マイクロ波半導体装置の試験調整方法 - 特許庁
  • TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁
  • JIG AND METHOD FOR TESTING LIFETIME
    寿命試験用治具及び寿命試験方法 - 特許庁
  • METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING HORIZONTAL LOADING IN PIT
    孔内水平載荷試験方法及びその装置 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING BURN-IN BOARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE
    バーンインボード及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
  • To provide a small testing machine for testing tensile strength of a small-sized material, placed on a table in a laboratory or the like, in a material testing machine for testing tensile strength or the like of materials.
    材料の引張強度等を試験する材料試験機において、実験室等における卓上に載置して小形、小片の材料について引張強度を試験する小形試験機を提供する。 - 特許庁
  • SPINDLE STRUCTURE AND TIRE TESTING MACHINE WITH THE SAME
    スピンドル構造およびこれを備えたタイヤ試験機 - 特許庁
  • PRESSURE LEAKAGE TESTING DEVICE OF REACTOR PRESSURE VESSEL
    原子炉圧力容器の耐圧漏洩試験装置 - 特許庁
  • TESTING METHOD AND DEVICE FOR EMERGENCY STOPPING DEVICE
    非常止め装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁
  • HISTORY INFORMATION RECORDER FOR DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR
    半導体試験装置の履歴情報記録装置 - 特許庁
  • TESTING ARRANGEMENT FOR LOOSENESS OF SCREW FOR FIXING TARPAULIN FOR ROOF
    屋根防水シート固定ねじの緩み試験装置 - 特許庁
  • AUTOMATIC DETECTION AND TESTING OF NEW NETWORK CONNECTION
    新規ネットワーク接続の自動検出および試験 - 特許庁
  • VOICE ALARM SYSTEM HAVING SHORT-CIRCUIT TESTING FUNCTION
    短絡試験機能を有した音声警報システム - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR TESTING CIRCUIT ON WAFER
    ウエハ上の回路を試験するシステム及び方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME
    半導体集積回路及びその試験手法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND ITS PATH DIAGNOSING METHOD
    半導体試験装置とその経路診断方法 - 特許庁
  • FEELING CHARACTERISTIC TESTING DEVICE FOR PUSH-IN TYPE SWITCH
    押し込み式スイッチのフィーリング特性試験装置 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING CONTINUOUSLY VARIABLE TRANSMISSION
    無段変速機の検査装置および検査方法 - 特許庁
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