METHOD AND DEVICE FOR TESTING DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY ダイナミックランダムアクセスメモリをテストする方法及び装置 - 特許庁
RESONANCE TEST METHOD AND BENDING DURABLE TESTING PROCESS 共振試験方法及び曲げ耐久試験方法 - 特許庁
SYSTEM FOR VIRUS ELIMINATION, ITS WASHING AND INTEGRITY TESTING ウイルス除去及び洗浄、完全性試験のシステム - 特許庁
SPECIMEN FORM FOR TESTING STRENGTH OF CEMENT PRODUCT AND METHOD FOR PREPARING SPECIMEN FOR TESTING THE SAME セメント製品強度試験用の供試体型枠及びセメント製品強度試験用の供試体の作製方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR DURABILITY OF INNER FACE BEAD ROLLING TOOL 内面ビード圧延工具の耐久性試験装置 - 特許庁
METHOD FOR ASSEMBLING AND TESTING MODULAR FUEL INJECTOR モジューラ燃料インジェクタの組立て及び試験方法 - 特許庁
To provide a testing device capable of effectively testing attrition of synchro ring and a gear cone. シンクロリングとギヤコーンの摩耗試験等を能率良く実施することができる試験装置を提供する。 - 特許庁
TESTING METHOD AND MEANS OF STRENGTH OF ERECTED MAST 立設されたマストの強度試験方法及び手段 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING RANDOM ACCESS MEMORY DEVICE ランダムアクセスメモリ装置をテストする方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR SIMULATION TESTING ON VAPOR- LIQUID TWO-PHASE LOW 気液二相流模擬試験方法および装置 - 特許庁
MEASURING APPARATUS, MEASURING METHOD, TESTING DEVICE AND PROGRAM 測定装置、測定方法、試験装置およびプログラム - 特許庁
GAS FEEDER FOR EVALUATION TESTING OF FUEL CELL 燃料電池の評価試験用ガス供給装置 - 特許庁
PUSHER AND ELECTRONIC PART-TESTING APPARATUS WITH THE SAME プッシャ及びこれを備えた電子部品試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING DEVICE FOR THE SAME 半導体装置、及び半導体装置の試験装置 - 特許庁
The test path extraction part 313 extracts the testing path and forms the testing path list 500. テスト対象パス抽出部313はテスト対象パスを抽出し、テスト対象パスリスト500を作成する。 - 特許庁
To shorten a testing time for a semiconductor device by means of a tester and to lower a testing cost for the semiconductor device. テスタによる半導体デバイスのテスト時間を短縮し、半導体デバイスのテスト費用を削減する。 - 特許庁
TESTING TIP, AND METHOD FOR EVALUATING CONNECTION RESISTANCE VALUE 試験用チップおよび接続抵抗値評価方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING PHYSIOLOGICAL FUNCTION AND TESTING FOOD 生理機能の計測方法及び試験用食品 - 特許庁
ELECTRICAL TESTER FOR TESTING ELECTRICAL TEST PIECE 電気試験片を試験するための電気試験装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT 集積回路をテストするための装置および方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE SAME 半導体装置、及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁
COMMUNICATION EQUIPMENT, ITS TESTING METHOD AND TEST PROGRAM 通信装置とその試験方法、及び試験プログラム - 特許庁
TESTING METHOD USING SIMULATED FLUID, AND ITS DEVICE 模擬流体を用いた試験方法及びその装置 - 特許庁
TESTING METHOD IN IP SERVICE, AND SYSTEM THEREOF IPサービスにおける試験方法、およびそのシステム - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING NUCLEAR FUEL PELLET 原子力燃料ペレットの検査方法および装置 - 特許庁
To provide an integrated circuit and a testing method to reduce the deterioration of an output signal for testing. 試験用出力信号の劣化を低減するための集積回路及び試験方法を提供する。 - 特許庁
SOCKET BOARD CIRCULATING STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING SYSTEM 半導体デバイステストシステムのソケットボード循環構造 - 特許庁
An LSI chip is provided with an internal circuit FLM of a testing object DUT, and a testing circuit BIST. LSIチップは、テスト対象DUTである内部回路FLMと、テスト回路BISTとを具備する。 - 特許庁
To manufacture a testing chip and analyze measurement data obtained by the testing chip in easy manner. 試験用チップの製造、及び当該試験用チップより得られる計測データの解析を簡易に行う。 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CONSOLIDATION OF GROUND MATERIAL AND ITS DEVICE 地盤材料の圧密試験方法及びその装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING SIMILARITY BETWEEN SEQUENCE DATA 系列データ間の類似性検査方法及び装置 - 特許庁
TEST APPARATUS AND TESTING METHOD USING TEST APPARATUS 試験装置及び試験装置を用いた試験方法 - 特許庁
EDGE SIGNAL GENERATING SYSTEM AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS エッジ信号生成装置及び半導体試験装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MULTIPLE-FREQUENCY ENCODER 多周波符号器の試験システムおよび試験方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUITS 半導体集積回路の試験装置、試験方法 - 特許庁
To realize shortening of testing period with high efficiency. 試験効率化による時間短縮を可能とする。 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR TESTING INFORMATION PROCESSOR 情報処理装置の試験方法および試験システム - 特許庁
FLAME SENSOR AND TESTING DEVICE FOR OPERATION OF FLAME SENSOR 火災感知器及び火災感知器の作動試験器 - 特許庁
SPECTROPHOTOMETER AND TESTING METHOD THEREFOR 分光光度計および分光光度計の検定方法 - 特許庁
ENVIRONMENTAL TESTING APPARATUS AND OBSERVATION WINDOW WITH OPERATION HOLE 操作孔付き観測窓及び環境試験装置。 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CLARITHROMYCIN RESISTANCE OF HELICOBACTER PYLORI ヘリコバクター・ピロリ菌のクラリスロマイシン耐性検査方法 - 特許庁
To provide a peel strength testing method advantageous to ensure measuring accuracy and a peel strength testing jig used therein. 測定精度を確保するのに有利な剥離強さ試験方法及び剥離強さ試験治具を提供する。 - 特許庁
The present invention relates to the shear testing device (12) for testing the strength of attachment between a bond part (302) and a substrate (300). 本発明は、結合部(302)と基板(300)との間の取付け強度を試験する剪断試験装置(12)に関する。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING DEW-POINT CORROSION ACCELERATION 露点腐食促進試験方法及び試験装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TENSILE STRENGTH 引張強度試験方法及び引張強度試験器 - 特許庁
EVALUATION/TESTING METHOD OF FILTER CLOTH FOR FILTRATION TYPE DUST COLLECTOR 濾過式集塵機用濾布の評価試験方法 - 特許庁
To provide a testing device capable of testing a plurality of paths using the same program of same pattern. 同一のパターンプログラムを用いて、複数パスの試験を行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁