「Testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 80 81 82 83 84 85 86 87 88 .... 288 289 次へ＞- When all testers are available, a testing control portion 230 controls execution of testing.
全て使用可能である場合、試験実行制御部２３０は、試験を実行するための制御を行う。 - 特許庁 - DRIVE CIRCUIT FOR DISPLAY DEVICE, AND METHOD OF TESTING THE SAME
表示装置の駆動回路及びそのテスト方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING MONITORING CONTROL SYSTEM
監視制御システムの試験装置及び試験方法 - 特許庁 - ANTIBODY TO BOVINE MYOGLOBIN PARTIAL PEPTIDE AND METHOD FOR TESTING USING THE ANTIBODY AND KIT FOR TESTING
ウシミオグロビン部分ペプチドに対する抗体、及び当該抗体を用いた検査方法並びに検査用キット - 特許庁 - LEVER TYPE DISPLACEMENT MEASURING APPARATUS AND MATERIAL TESTING MACHINE
レバー式変位計測装置および材料試験機 - 特許庁 - TESTING APPARATUS, PROGRAM, MEMORY MEDIUM, AND TEST METHOD
試験装置、プログラム、記憶媒体、および、試験方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路のテスト方法とその装置 - 特許庁 - EMBEDDING TRAY FOR PREPARING PATHOLOGICAL TISSUE TESTING SPECIMEN
病理組織検査標本作成用の包埋トレイ - 特許庁 - In this IC testing system, an IC testing device 150 impresses a test pattern signal to a tested IC.
ＩＣ試験システム１０において、ＩＣ試験装置１５０は、被試験ＩＣに試験パターン信号を印加する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD OF TESTING THEREOF
半導体メモリおよび半導体メモリの試験方法 - 特許庁 - DRIVER CONTROL SIGNAL GENERATING CIRCUIT AND IC TESTING DEVICE
ドライバ制御信号生成回路・ＩＣ試験装置 - 特許庁 - INTERFACE, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME
インターフェース、及びそれを用いた半導体テスト装置 - 特許庁 - INFORMATION NOTIFICATION SERVICE TESTING SYSTEM AND ITS DEVICE
情報通知系サービス試験方式及びその装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT
集積回路を試験するための方法および装置 - 特許庁 - DSP CARD TESTING DEVICE AND METHOD FOR MONITORING FAILURE INFORMATION IN DSP CARD TESTING DEVICE
ＤＳＰカード試験装置およびＤＳＰカード試験装置における故障異常情報のモニタ方法 - 特許庁 - CONTROL METHOD OF TEMPERATURE TESTING DEVICE AND ITS DEVICE
温度試験装置の制御方法およびその装置 - 特許庁 - CAPACITANCE TYPE DISPLACEMENT GAUGE AND MATERIAL TESTING MACHINE
静電容量式変位計および材料試験機 - 特許庁 - VEHICLE COLLISION TESTING DEVICE, AND CAMERA ATTACHING FRAME
車両衝突試験装置及びカメラ取付架台 - 特許庁 - PRESSURE RESISTANCE TESTING MACHINE FOR INSPECTING INDOOR FIRE HYDRANT HOSE
屋内消火栓ホースの点検用耐圧試験機 - 特許庁 - To enhance the accuracy of semiconductor testing by calibration without substantially affecting the length of time required for testing.
試験時間に大きな影響を与えることなく、校正により半導体試験の精度を向上させる。 - 特許庁 - FREE JET HYPERSONIC WIND TUNNEL TESTING APPARATUS
自由噴流式極超音速風洞試験装置 - 特許庁 - To provide a testing fixture of a wireless sensor capable of easily testing the wireless sensor.
無線式感知器の試験を容易に行うことができる、無線式感知器の試験用治具を提供すること。 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT BY AUTOMATIC TEST DEVICE
自動テスト装置で、集積回路をテストする方法 - 特許庁 - To provide a testing apparatus which is capable of testing a vehicular module before mounting in a vehicle.
車両に取り付ける前に車両用モジュールを検査することができる検査装置を提供する。 - 特許庁 - TESTING DEVICE OF PLL CIRCUIT AND ITS TEST METHOD
ＰＬＬ回路のテスト装置およびそのテスト方法 - 特許庁 - FATIGUE TESTING MACHINE AND ITS VARIABLE GAIN CALIBRATING METHOD
疲労試験機およびその可変ゲイン校正方法 - 特許庁 - DETECTION DEVICE, ANALOG MODULATION CIRCUIT AND TESTING DEVICE
検出装置、アナログ変調回路、及び試験装置 - 特許庁 - FORM FOR MOLDING SPECIMEN FOR TESTING CONCRETE STRENGTH
コンクリート強度試験用供試体成形用型枠 - 特許庁 - To provide an exchange testing system which can prepare a testing procedure manual, even when the address of station data is not known.
局データのアドレスを知らなくても試験手順書を準備できる交換機試験システムを提供する。 - 特許庁 - TEST DEVICE, REACTION APPARATUS, AND METHOD OF TESTING REACTION
試験デバイス、反応装置及び反応試験方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SERVICE TRANSFER
サービス移動試験装置、及び、サービス移動試験方法 - 特許庁 - At this time, the testing machine body 10 is not driven.
このとき試験機本体１０は駆動されない。 - 特許庁 - SHORT-CIRCUITING DEVICE FOR TESTING OF POWER CONVERTER
電力変換装置の試験用回路短絡装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC HEAD SERVICE LIFE
磁気ヘッドの寿命を試験する方法及び装置 - 特許庁 - LOAD MOVEMENT TESTING APPARATUS AND METHOD
荷重移動試験装置及び荷重移動試験方法 - 特許庁 - CURRENT MEASURING APPARATUS, TESTING DEVICE AND TEST METHOD
電流測定装置、試験装置、及び試験方法 - 特許庁 - SPECIMEN HEATING DEVICE OF RECIPROCATING ABRASION TESTING DEVICE
往復動摩耗試験装置の試験片加熱装置 - 特許庁 - CT TEST PLUG-TESTING DEVICE FOR PROTECTION RELAY BOARD AND PT TEST PLUG-TESTING DEVICE FOR PROTECTION RELAY BOARD
保護継電器盤用ＣＴテストプラグ試験装置及び保護継電器盤用ＰＴテストプラグ試験装置 - 特許庁 - DUPLEX BUS CONFIGURATION SYSTEM AND COMMUNICATION/TESTING METHOD
二重化バス構成システムおよび通信・試験方法 - 特許庁 - TESTING DEVICE, PERFORMANCE BOARD, AND BOARD FOR CALIBRATION
試験装置、パフォーマンスボード、および、キャリブレーション用ボード - 特許庁 - QUADRUPOLAR NUCLEAR EQUIPMENT FOR TESTING SAMPLES AND ITS METHOD
サンプルをテストする四極子核装置および方法 - 特許庁 - To provide a circuit testing equipment capable of efficiently testing a circuit.
本発明は、効率よく回路を試験することができる回路試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a tire testing facility which tests a tire.
タイヤを試験するタイヤ試験施設を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING STRENGTH OF CERAMIC TUBE
セラミックス管の強度試験方法及びその装置 - 特許庁 - CONNECTOR, SEMICONDUCTOR PART INSTALLATION SYSTEM, AND TESTING EQUIPMENT
コネクタ、半導体部品取付装置、及び試験装置 - 特許庁 - SIGNAL GENERATING DEVICE, TESTING DEVICE, AND PLL CIRCUIT
信号発生装置、試験装置、及びＰＬＬ回路 - 特許庁 - VIBRATION TESTING APPARATUS AND SUPPORT TOOL FOR VIBRATION TEST
振動試験装置及び振動試験用支持治具 - 特許庁 - COOLING WATER TANK FOR WATER-COOLED SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
水冷式半導体試験装置の冷却水タンク - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体デバイスのテスト装置およびそのテスト方法 - 特許庁 - VOICE OUTPUT METHOD IN TESTING DEVICE, TESTING DEVICE, AND RECORD MEDIUM STORING TEST CONTROL PROGRAM
試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体 - 特許庁
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