JIG FOR RECOVERY OF CLEANING SOLVENT OF FILTRATION TESTING IMPLEMENT ろ過試験器具の洗浄溶剤の回収用治具 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR APPARATUS 半導体装置を試験するための装置及び方法 - 特許庁
METHOD FOR GENERATING APPROXIMATE WAVEFORM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE 近似波形生成方法及び半導体試験装置 - 特許庁
TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT AND ITS TESTING DEVICE 半導体素子の試験方法及びその試験装置 - 特許庁
CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT 半導体集積回路のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁
COMPUTER TESTING METHOD, PROGRAM AND INFORMATION PROCESSING APPARATUS コンピュータ試験方法,プログラムおよび情報処理装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING PUMPING OUT OF HEAT TRANSFER GREASE 伝熱グリースのポンピングアウト試験装置及び方法 - 特許庁
This environment testing device 1 cools or heats the testing object 3 placed on a work placing surface 4a controlled in the prescribed temperature by a work placing surface temperature control mechanism 5, and transfers the testing object to a prescribed testing temperature. 環境試験装置1ではワーク載置面温度制御機構5によって所定温度に制御されているワーク載置面4aに載せた被試験品3が冷却あるいは加熱されて所定の試験温度に移行する。 - 特許庁
TIMING SIGNAL GENERATOR AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS タイミング信号生成装置及び半導体試験装置 - 特許庁
TEST SYSTEM FOR ELECTRONIC APPARATUS HAVING SELF-TESTING FUNCTION 自己試験機能を有する電子装置の試験方式 - 特許庁
To obtain a testing device for a colorimeter which reduces an error. エラーを削減する比色計用試験器具を得る。 - 特許庁
CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE 半導体装置の試験回路およびその試験方法 - 特許庁
IC SOCKET AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE ICソケット及び半導体集積回路試験装置 - 特許庁
The semiconductor testing device 1 includes a testing device body 10 for testing a DUT 40, and a signal waveform display device 20 for displaying a signal waveform acquired by a test performed by the testing device body 10. 半導体試験装置1は、DUT40の試験を行う試験装置本体10と、試験装置本体10によって行われた試験で得られた信号の波形を表示する信号波形表示装置20とを備える。 - 特許庁
DRIVER COMPARATOR CIRCUIT AND TESTING APPARATUS USING THE SAME ドライバ・コンパレータ回路およびそれを用いた試験装置 - 特許庁
METHODS AND DEVICES FOR RELEVANCY TESTING OF IDENTIFIER 識別子の関連性テストのための方法及び装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TESTING PROCESS 半導体集積回路装置およびその試験方法 - 特許庁
PIN ELECTRONICS CIRCUIT AND TESTING APPARATUS USING THE SAME ピンエレクトロニクス回路およびそれを用いた試験装置 - 特許庁
To easily and promptly perform testing of biodiesel fuel. バイオディーゼル燃料の検査を簡易迅速に行なう。 - 特許庁
REAGENT AND SAMPLE HANDLING DEVICE FOR AUTOMATIC TESTING SYSTEM 自動試験システム用の試薬およびサンプル処理装置 - 特許庁
INFORMATION PROCESSING METHOD FOR CLINICAL TESTING OF NEW MEDICINE 新薬の臨床試験のための情報処理方法 - 特許庁
RHEOLOGY TESTING METHOD OF LIQUID SUBSTANCE AND DEVICE THEREFOR 液状物質のレオロジー試験方法及びその装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ARRAY OF ELECTRODE 電極のアレイを試験するための装置及び方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS TESTING METHOD 半導体集積回路装置およびその検査方法 - 特許庁
DRIVER CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS USING IT ドライバ回路及びそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁
To provide reproducibility in testing conditions of submergence test. 水没試験の試験条件に再現性を持たせる。 - 特許庁
Testing to isolate and identify the pathogen continues. 病原体を分離させて 特定するテストを続ける - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
So, as a first step to testing these questions そこで この疑問を検証する第一段階として - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
I wish we had time for testing, but we don't. テストの時間があればよいですが 今はありません - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
That was going to require a lot of testing. 多くの試行錯誤が必要だと考えられました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Not testing love and perhaps trusting 愛を試しちゃいけないって 正しいかもしれないけど - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
And we have to think carefully when we're testing 試験については注意深く考えねばなりません - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
You candidates have reached the final stage of the testing process. あなた方の候補者が 最終選考に残った - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
And then determine what further testing should be done さらにどのような検査が必要かを判断します - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Now in the last few years, we actually have done some good testing. 過去数年はしっかりと検査を行いました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
they agreed to end the testing of atomic weapons
彼らは核兵器の実験をやめることに合意した - 日本語WordNet
early testing stage of a software or hardware product
ソフトウェアまたはハードウェア製品の初期のテスト段階 - 日本語WordNet
an act of testing one's strength or ability
体力や能力がどの程度であるかをためすこと - EDR日英対訳辞書
the action of testing the abilities of a student in a correspondence course, called screening
通信教育生の適格審査をすること - EDR日英対訳辞書
DEVICE AND METHOD FOR TESTING CONTINUITY OF ELECTRONIC COMPONENT 電子部品の導通試験装置及び該試験方法 - 特許庁