「Testing」を含む例文一覧(14414)

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  • SIGNAL INPUT AND OUTPUT DEVICE, TESTING DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE
    信号入出力装置、試験装置および電子デバイス - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TESTING NONVOLATILE MEMORY, AND PROGRAM
    不揮発性メモリの試験方法及び装置及びプログラム - 特許庁
  • TEMPERATURE CONTROL SYSTEM FOR THERMAL SHOCK TESTING DEVICE
    冷熱衝撃試験装置における温度制御方式 - 特許庁
  • To provide a method for testing azoospermia characterized by comprising detecting a genetic polymorphism.
    無精子症の新規の検査方法を提供する. - 特許庁
  • GAMMA VOLTAGE GENERATING APPARATUS AND METHOD OF TESTING GAMMA VOLTAGE
    ガンマ電圧生成装置、及びガンマ電圧テスト方法 - 特許庁
  • GAS LEAKAGE ALARM TESTING METHOD AND GAS LEAKAGE ALARM
    ガス漏れ警報器の試験方法、及びガス漏れ警報器 - 特許庁
  • COMPLEMENTARITY TESTING METHOD AND GOLD PARTICLE FOR USE IN THE METHOD
    相補性試験方法及びそれに用いる金粒子 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTION OF TIMING OF SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS
    半導体試験装置のタイミング補正方法及び装置 - 特許庁
  • To provide a testing method and a testing apparatus for accurately evaluating damage generated in ironing.
    しごき加工時に発生する損傷を的確に評価することが可能な試験方法および装置を提供する。 - 特許庁
  • STATIONARY INDUCTION ELECTRIC MACHINE AND ITS VOLTAGE BREAKDOWN TESTING METHOD
    静止誘導電気機器及びその耐電圧試験方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTING SUBSTRATE, AND DEFECTIVE CONTACT DETERMINING METHOD
    半導体試験基板および接触不良判定方法 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ROTARY BALANCE OF CRANKSHAFT
    クランク軸の回転バランス試験装置および試験方法 - 特許庁
  • GAS-INSULATION SWITCHING DEVICE AND WITHSTAND VOLTAGE TESTING METHOD THEREFOR
    ガス絶縁開閉装置及びその耐電圧試験方法 - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路のテスト方式及びその方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR TESTING INSULATION PERFORMANCE OF GAS INSULATED APPARATUS
    ガス絶縁機器の絶縁性能試験方法及び装置 - 特許庁
  • COAT MEMBRANE ADHESIVE PERFORMANCE EVALUATION TESTING METHOD OF SPECTACLE LENS
    眼鏡レンズのコート膜密着性能評価試験方法 - 特許庁
  • DIAGNOSTIC APPARATUS, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND TESTING APPARATUS SYSTEM
    診断装置、プログラム、記録媒体、及び試験装置システム - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING THERAPEUTIC OR PROPHYLACTIC AGENT OF OSTEOPOROSIS
    骨粗鬆症の治療または予防剤の試験方法 - 特許庁
  • TEST PULSE GENERATION METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ELECTRONIC APPARATUS
    電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステム - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a method therefor which can achieve a reduction in testing time.
    試験時間の短縮を図ることのできる半導体集積回路試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
    半導体装置とその試験方法及び製造方法 - 特許庁
  • TESTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND PROBE CARD
    半導体集積回路装置テストシステムおよびプローブカード - 特許庁
  • FAILURE DETECTION METHOD, TESTING CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE
    故障検出方法、試験回路及び半導体装置 - 特許庁
  • CONTACTOR FOR ELECTRONIC COMPONENT AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT
    電子部品用コンタクタ及び電子部品の試験方法 - 特許庁
  • MULTI-STROBE GENERATING DEVICE, TESTING DEVICE AND ADJUSTING METHOD
    マルチストローブ生成装置、試験装置、及び調整方法 - 特許庁
  • MOUNTING METHOD OF TESTING TIRE, RIM FOR MOUNTING OF TESTING TIRE, AND METHOD AND DEVICE FOR DETERMINATION OF RIM FITTING ABILITY OF TIRE
    試験タイヤの装着方法、試験タイヤ装着用リム、及び、タイヤのリムフィット性の判定方法とその装置 - 特許庁
  • LSI TESTER, LSI TESTING METHOD AND LSI DEVICE
    ＬＳＩテスタ及びＬＳＩテスト方法及びＬＳＩデバイス - 特許庁
  • METHOD OF TESTING WELD CRACK OF ALUMINUM ALLOY EXTRUDED PROFILE
    アルミニウム合金押出形材の溶接割れ試験方法 - 特許庁
  • MAINTENANCE SYSTEM AND METHOD OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
    半導体試験装置の保守システムおよび保守方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING LEAK CURRENT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    リーク電流試験方法及び半導体集積回路 - 特許庁
  • METHOD FOR INSTALLING OR TESTING SOFTWARE FOR COMPUER SYSTEM
    コンピュータシステムのソフトウエアインストールおよび、または試験方法 - 特許庁
  • To provide an IC testing apparatus for shortening its test time and to provide a method of controlling the IC testing apparatus.
    ＩＣ試験装置の試験時間を短縮するＩＣ試験装置およびその制御方法を提供する。 - 特許庁
  • NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TESTING METHOD
    不揮発性半導体記憶装置、及びそのテスト方法 - 特許庁
  • IC TESTING DEVICE, ITS CONTROL METHOD, AND STORAGE MEDIUM
    ＩＣ試験装置、その制御方法、及び記憶媒体 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF TESTING DELAY THEREOF
    半導体集積回路およびその遅延検査方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTER, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY
    半導体試験装置および半導体メモリの試験方法 - 特許庁
  • TESTING APPARATUS AND TEST METHOD FOR CMOS INTEGRATED CIRCUIT
    ＣＭＯＳ集積回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁
  • SHIFT CLOCK GENERATION DEVICE, TIMING GENERATOR AND TESTING DEVICE
    シフトクロック発生装置、タイミング発生器、及び試験装置 - 特許庁
  • To shorten testing time and drop a weight safely.
    試験時間が短く、安全に錘を落下させること。 - 特許庁
  • LEAK TESTING METHOD FOR POROUS FILM HAVING ASYMMETRIC STRUCTURE
    非対称構造を有する多孔質膜のリークテスト法 - 特許庁
  • To provide an apparatus and a method for testing an environment which prevents condensation on a circuit board in a testing chamber.
    試験室内の回路基板への結露を防止する環境試験装置及び環境試験方法を提供する。 - 特許庁
  • NUCLEIC ACID AND METHOD FOR TESTING CANCERATION USING THE SAME NUCLEIC ACID
    核酸及び該核酸を用いた癌化検定方法 - 特許庁
  • Claim for Examination pertaining to Disposition to the Designated Testing Agency
    指定試験機関の処分についての審査請求 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • 3. Machines capable of testing imbalance on 2 or more planes
    （三）　二面以上での不釣合いを試験できるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Section 3 Testing of Organisms (Article 16-Article 24)
    第三節　生物検査（第十六条—第二十四条） - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • A semiconductor testing system and a semiconductor manufacturing apparatus are constituted using the semiconductor testing device.
    また、この半導体テスト装置を用いて半導体テストシステムおよび半導体製造装置を構成するようにした。 - 特許庁
  • INTAKE SHIELDING DEVICE AND RAMJET ENGINE COMBUSTION TESTING EQUIPMENT
    インテーク遮蔽装置及びラムジェットエンジン燃焼試験装置 - 特許庁
  • PROBER FOR TESTING ELECTRONIC DEVICE ON LARGE-AREA SUBSTRATE
    大面積基板上での電子デバイス検査のためのプローバ - 特許庁
  • (iii) Name and location of the testing laboratory accredited
    三　登録を受けた試験所の名称及び所在地 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • UNDERWATER SENSOR AND ITS TESTING METHOD
    水中探知装置および水中探知装置のテスト方法 - 特許庁
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