「Testing」を含む例文一覧(14414)

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  • RADIATION IRRADIATION TESTING MACHINE FOR USE IN NUCLEAR REACTOR
    原子炉内に用いられる放射線照射試験装置 - 特許庁
  • SUBSCRIBER LINE TERMINAL DEVICE AND RETURN TESTING METHOD
    加入者線端局装置および折り返し試験方法 - 特許庁
  • TESTING DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR EXCHANGE CONTROLLER
    交換機制御装置の試験装置、方法及びプログラム - 特許庁
  • TRIP LOCKING TERMINAL AND OPERATION VERIFYING TESTING MACHINE USED THEREIN
    トリップロック端子及びこれに用いる動作確認試験機 - 特許庁
  • SYSTEM FOR TESTING AND CLEANING REMOVABLE MEDIUM DRIVE
    取り外し可能媒体ドライブのテストおよびクリーニングシステム - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR REMOTELY TESTING MOBILE UNIT
    移動機リモート試験システム及び移動機リモート試験方法 - 特許庁
  • VIBRATION TESTING DEVICE AND MODE ANALYSIS METHOD USING THE SAME
    振動試験装置とこれを用いたモード解析方法 - 特許庁
  • PRESSURE TESTING METHOD AND KNOCKING METHOD OF CATHODE- RAY TUBE
    陰極線管の耐圧試験方法及びノッキング方法 - 特許庁
  • ATM TESTING DEVICE, ATM TESTING METHOD USED FOR THE SAME AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM THEREFOR
    ATM試験装置及びそれに用いるATM試験方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
  • TESTING SYSTEM OF DEVICE FOR DRIVING LOADS AND CONTROL METHOD THEREFOR
    負荷駆動装置の試験システムおよびその制御方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING MANY WORD LINES OF SEMICONDUCTOR MEMORY ASSEMBLY
    半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法 - 特許庁
  • To reduce the time required for testing a semiconductor device.
    半導体装置の検査に要する時間を短縮する。 - 特許庁
  • METHOD OF TESTING WIRELESS TRANSMISSION CHARACTERISTICS OF RADIO TERMINAL EQUIPMENT
    無線端末装置の無線送信特性試験方法 - 特許庁
  • TESTING DEVICE OF WEIGHT COMPOSITE LOAD AND ITS TEST METHOD
    荷重複合負荷の試験装置、及び、その試験方法 - 特許庁
  • LANDING DEVICE TESTING APPARATUS OF FLYING BODY AND QUICK RELEASE MECHANISM
    飛行体の降着装置試験機器とクイックリリース機構 - 特許庁
  • DATA SAMPLING SYSTEM OF PIPING ULTRASONIC FLAW DETECTION TESTING DEVICE
    配管超音波探傷試験装置のデータ採取システム - 特許庁
  • METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP, TESTER, AND PROBE CARD
    半導体チップの検査方法、検査装置、及びプローブカード - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT FOR DRIVING MOTOR AND METHOD FOR TESTING
    モータ駆動用半導体集積回路およびテスト方法 - 特許庁
  • To provide a crack testing method for pneumatic tires capable of suppressing an increase in a testing time by promoting ozone depletion.
    オゾン劣化を促進させて試験時間の増加を抑えうる空気入りタイヤのクラック試験方法を提供する。 - 特許庁
  • SCREED AND METHOD FOR TESTING GAS SEALABILITY OF THE SCREED
    スクリード装置及びスクリード装置のガスシール性検査方法 - 特許庁
  • TESTING DEVICE OF ATTRACTION-INHIBITING ACTIVITY OF FLYING PEST INSECT, AND METHOD FOR TESTING ATTRACTION-INHIBITING ACTIVITY OF FLYING PEST INSECT
    飛翔害虫の誘引阻害活性試験装置、並びに、飛翔害虫の誘引阻害活性試験方法 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路のテスト装置とそのテスト方法 - 特許庁
  • DURABILITY TESTING APPARATUS FOR VEHICLE SEAT AND SEAT ATTACHMENT
    車両用シート及びシート取付部の耐久試験装置 - 特許庁
  • SYSTEM FOR TESTING EXTENSION IO COMBINATION VIA NETWORK
    ネットワークを介した拡張IO組み合わせ試験方式 - 特許庁
  • TESTING SYSTEM, OUTPUT LEVEL SETTING DEVICE AND TEST METHOD
    試験システム、出力レベル設定装置及び試験方法 - 特許庁
  • METHOD FOR MEASURING IMPACT ABSORPTION ENERGY USING DROPPING WEIGHT TYPE IMPACT TESTING MACHINE, AND DROPPING WEIGHT TYPE IMPACT TESTING MACHINE
    落錘式衝撃試験機を用いた衝撃吸収エネルギーの測定方法および落錘式衝撃試験機 - 特許庁
  • NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND TESTING METHOD THEREFOR
    半導体不揮発性記憶装置およびその試験方法 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING IC, AND STORAGE MEDIUM
    IC試験装置、IC試験方法、及び記憶媒体 - 特許庁
  • The testing apparatus is designed to be a component used in a durability/fatigue testing unit.
    試験装置は、耐久性/疲労の試験ユニットの中において用いられる構成要素となるように、設計されている。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TESTING PARKING MECHANISM OF AUTOMATIC TRANSMISSION
    オートトランスミッションのパーキング機構試験方法及び装置 - 特許庁
  • TESTING METHOD AND DEVICE OF TUNNELING MAGNETORESISTIVE EFFECT ELEMENT
    トンネル磁気抵抗効果素子の試験方法及び装置 - 特許庁
  • LOADING TEST METHOD FOR GROUND ANCHOR AND TESTING APPARATUS THEREFOR
    グラウンドアンカーの載荷試験方法及びその試験装置 - 特許庁
  • This component testing device includes two conveyance hands 50A, 50B for conveying the electronic component T to a component testing part.
    部品試験装置は部品試験部に電子部品Tを搬送する2つの搬送ハンド50A,50Bを有する。 - 特許庁
  • HEAT FLOW PHENOMENON SIMULATING METHOD AND SIMULATING TESTING APPARATUS
    熱流動現象の模擬方法及び模擬試験装置 - 特許庁
  • METHOD OF TESTING REWRITE STRESS OF NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY
    不揮発性半導体メモリの書換ストレス試験方法 - 特許庁
  • SPECIMEN FOR TESTING GAS PERMEABILITY AND METHOD FOR EVALUATING GAS PERMEABILITY
    ガス透過性試験片及びガス透過性評価方法 - 特許庁
  • CORROSION TESTING METHOD OF METALLIC MATERIAL FOR SHIP BALLAST TANK
    船舶バラストタンク用金属材料の腐食試験方法 - 特許庁
  • To measure the profile of a testing object without moving the testing object along the light axis of an objective lens.
    対物レンズの光軸に沿って、被検物を移動することなく、被検物の形状を測定できるようにする。 - 特許庁
  • APPARATUS FOR PREVENTING DEW CONDENSATION IN SAMPLING HOSE FOR MASK MAN TESTING DEVICE
    マスクマンテスト装置サンプリングホース内の結露防止装置 - 特許庁
  • To provide a tire noise testing device acquiring higher-accuracy tire noise test results.
    より精度の高いタイヤ騒音試験結果を得る。 - 特許庁
  • To provide a collision testing apparatus capable of easily reproducing a collision, and a collision testing method.
    衝突の再現を容易に行うことができる衝突試験装置及び衝突試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a self-cleaning socket for testing package components.
    セルフクリーニング式パッケージ部品試験用ソケットの提供。 - 特許庁
  • To provide a testing device and a testing method for easily and safely evaluating the load bearing insulation characteristics of a film.
    フィルムの耐荷重絶縁特性を簡易かつ安全に評価し得る試験装置、並びに試験方法を提供する。 - 特許庁
  • SIGNAL DRIVER, AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS USING THE SAME
    信号ドライバおよびそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁
  • HOSE PRESSURE RESISTANCE TESTING METHOD, HOSE PRESSURE RESISTANCE TESTING APPARATUS, AND HIGH-PRESSURE AUTOMATIC SELECTOR VALVE USED FOR THE SAME
    ホース耐圧試験方法,ホース耐圧試験装置及びホース耐圧試験装置に用いる高圧自動切替え弁 - 特許庁
  • This is an improved IC tester for testing a test object by a plurality of testing modules.
    本発明は、複数の試験モジュールにより被試験対象の試験を行うICテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • HOSE-MOUNTING TOOL IN HYDRAULIC SHOCK PRESSURE-TESTING MACHINE
    油圧衝撃圧力試験機におけるホース取付け治具 - 特許庁
  • IMPROVED GROUND TESTING METHOD AND UNSOLIDIFIED SAMPLE COLLECTOR
    改良地盤の試験方法および未固化試料採取器 - 特許庁
  • TESTING DEVICE OF POWER TRANSMISSION SYSTEM, AND ITS CONTROL METHOD
    動力伝達系の試験装置とその制御方法 - 特許庁
  • To provide a sample collection apparatus and a testing apparatus.
    サンプル収集装置および試験装置を提供する。 - 特許庁
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