「Testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 93 94 95 96 97 98 99 100 101 .... 288 289 次へ＞- METHOD FOR EVALUATING AND TESTING RESISTANCE TO ADHESION TO DUST AND SLAG
ダスト，スラグに対する難付着性評価試験方法 - 特許庁 - To realize a memory-testing device which reduces time required for testing by mounting a plurality of fail memories on it.
複数のフェイルメモリを設け、試験時間の短縮を図るメモリ試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁 - a scientific hypothesis that survives experimental testing becomes a scientific theory
実験を通った科学的仮定は科学理論となった - 日本語WordNet - SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR CHIP SORTING DEVICE
半導体試験装置および半導体チップ選別装置 - 特許庁 - ANTI-REFRACTION PROPERTY TESTING METHOD AND ANTI-REFRACTION PROPERTY TESTER
耐屈折性試験方法及び耐屈折性試験装置 - 特許庁 - SYSTEM FOR TESTING ARITHMETIC PROCESSOR IN MULTIPROCESSOR SYSTEM
マルチプロセッサシステムにおける演算処理装置の試験方式 - 特許庁 - BEAM PATH TESTING METHOD, WAVEFORM ANALYZER, AND PROGRAM
光線路試験方法、波形解析装置およびプログラム - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路の試験システム及び試験方法 - 特許庁 - CIRCUIT DETERIORATION TESTING DEVICE AND CIRCUIT DETERIORATION TEST METHOD
回路劣化試験装置および回路劣化試験方法 - 特許庁 - SYSTEM FOR TESTING DIGITAL LINE CIRCUIT FOR 2W MULTIFUNCTIONAL TELEPHONE SET
２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路試験方式 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL
半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁 - TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路のテスト装置およびテスト方法 - 特許庁 - METHOD AND KIT FOR TESTING VIRAL LATENT INFECTION
ウイルス潜伏感染の検査方法および検査用キット - 特許庁 - The present invention has improved a semiconductor testing apparatus testing a test object with a test head.
本発明は、被試験対象をテストヘッドにより試験する半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁 - TESTING METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路の試験方法及びその装置 - 特許庁 - LSI TESTING APPARATUS AND ITS TIMING CALIBRATING METHOD
ＬＳＩ試験装置およびそのタイミングキャリブレーション方法 - 特許庁 - To achieve high speed antenna testing and analysis where the size of data acquired during the antenna performance verification testing is reduced.
アンテナの性能確認試験で取得されるデータサイズを低減し、試験及び解析の高速化を図ること。 - 特許庁 - SYSTEM CONTROLLER, SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING INTERFACE
システムコントローラ、半導体装置、及びインターフェイス試験方法 - 特許庁 - CAM CABABLE OF TESTING PRESENCE OF DEFECT OF PRIORITY ENCODER, AND METHOD OF TESTING PRESENCE OF DEFECT OF PRIORITY ENCODER
優先順位エンコーダの欠陥有無テストが可能なＣＡＭ及び優先順位エンコーダの欠陥有無テスト方法 - 特許庁 - To provide a heater capable of obtaining better results in both runaway testing and heat cycle testing.
暴走試験およびヒートサイクル試験の双方においてよりよい結果を得ることができるヒータを提供すること。 - 特許庁 - ZIF CONNECTOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING ABOVE
ＺＩＦコネクタ及びこれを用いた半導体試験装置 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING CIRCUIT USING SHARED BANDWIDTH TEST BUS
共有帯域幅試験バスを用いた回路試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR ACTIVATING GAS DIFFUSION ELECTRODE AND TESTING METHOD
ガス拡散電極の活性化方法及び試験方法 - 特許庁 - ELEVATOR TESTING METHOD, ITS AUXILIARY DEVICE, AND ELEVATOR DEVICE
エレベーター試験方法、その補助装置及びエレベーター装置 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device capable of testing test elements with high frequency modulation drive.
高周波変調駆動により被試験素子の試験を行うことができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a circuit pack self-testing system adapted to testing on an electronic device of a circuit pack.
回路パックの電子デバイス上で試験を行うように適合された回路パック自己試験システムを提供する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TESTING QUANTITY OF ARTIFICIAL AIR OF CONCRETE
コンクリ−トの人工空気量試験方法及び装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路のテスト方法およびテスト装置 - 特許庁 - DIGITAL CIRCUIT DEVICE, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE
ディジタル回路装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁 - SVC CONNECTION CONTROL TESTING METHOD, STORAGE MEDIUM STORING SVC CONNECTION CONTROL TESTING PROGRAM AND NODE DEVICE
ＳＶＣコネクション制御試験方法、ＳＶＣコネクション制御試験プログラムを記録した記憶媒体およびノード装置 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RAILROAD REMOTE RADIO
鉄道遠隔無線を試験するシステムおよびその方法 - 特許庁 - NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD AND DEVICE OF SHOT PEENING TREATED SURFACE
ショットピーニング処理面の非破壊検査方法及び装置 - 特許庁 - VISCERAL FAT OBESITY TESTING APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD
内臓脂肪肥満検査装置及びその制御方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TESTING NUCLEAR QUADRUPOLE RESONANCE
核四重極共鳴を試験する方法および装置 - 特許庁 - To provide technology for appropriately testing an SIP server.
ＳＩＰサーバを適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, DATA COLLECTION METHOD AND PROGRAM
半導体試験装置、データ収集方法及びプログラム - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit provided with a shift-scan type testing circuit that can be shortened in testing time.
試験時間の短縮が可能なシフトスキャン方式の試験回路を備えた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - DC MODULE AND SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE USING THE SAME
ＤＣモジュールおよびそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TESTING EXPANSIBILITY OF STEEL SLAG
鉄鋼スラグの膨張性を試験する方法および装置 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SHORTEST TIME BIT ERROR RATE
最短時間ビット誤り率のテスト方法及びシステム - 特許庁 - WIRE TESTING STRUCTURE (WIRE TESTING STRUCTURE DETERMINING OPEN CIRCUIT AND SHORT-CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR DEVICE) AND METHOD THEREFOR
配線試験構造および方法（半導体デバイス中の開路および短絡を決定する配線試験構造） - 特許庁 - To provide a semiconductor testing apparatus capable of improving testing efficiency by shortening a startup time.
起動時間を短縮することにより試験効率を向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - TOOL FOR SETTING CROSSHEAD STOP POSITION AND MATERIAL TESTING MACHINE
クロスヘッド停止位置設定用治具および材料試験機 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, PROBE NEEDLE THEREOF, AND PLATE OF SEMICONDUCTOR LASER TESTING DEVICE
半導体レーザ試験装置のプローブ針および半導体レーザ試験装置のプレートならびに半導体レーザ試験装置 - 特許庁 - PACHINKO MACHINE OF NORMAL MACHINE TYPE AND ITS TRIAL HITTING AND TESTING SYSTEM
普通機タイプのパチンコ機及びその試射試験システム - 特許庁 - IC TESTING SYSTEM AND ITS CONTROL-SOFTWARE CONTROL METHOD
ＩＣ試験システム及びその制御ソフトウェア管理方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, PERFORMANCE BOARD, AND INTERFACE PLATE
半導体試験装置、パフォーマンスボードおよびインターフェースプレート - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR BUMP ELECTRODE
半導体バンプ電極の試験方法および試験装置 - 特許庁 - THERMAL THROTTLING CONTROL FOR TESTING OF REAL-TIME SOFTWARE
リアルタイム・ソフトウェアの試験のためのサーマル・スロットリング制御 - 特許庁 - PROBE CARD AND APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER
プローブカード、半導体ウェハの試験装置及び試験方法 - 特許庁
