「Unit test」を含む例文一覧(1133)

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  • A manipulator 100 is provided for positioning an interface unit of the automatic test system 104.
    自動試験システム（１０４）のインタフェースユニットを位置付けるマニピュレータ（１００）を開示する。 - 特許庁
  • A test area discrimination unit 1006 determines a text area in the decoded image data.
    テキスト領域判別部１００６は、復号した画像データ中のテキスト領域の判定する。 - 特許庁
  • METHOD AND LABORATORY SYSTEM FOR HANDLING SAMPLE TEST TUBE, AND IMAGE ANALYZING UNIT
    試料試験管を取り扱う方法および研究室システム並びに画像解析ユニット - 特許庁
  • INSERT OPENING UNIT FOR TEST TRAY AND INSTALLATION METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THE SAME
    テストトレイ用インサート開放ユニット及びこれを用いた半導体素子の装着方法 - 特許庁
  • ANALOG SIGNAL PROCESSING CIRCUIT, A/D CONVERTER, SEMICONDUCTOR DEVICE TEST UNIT AND OSCILLOSCOPE
    アナログ信号処理回路、ＡＤ変換装置、半導体デバイス試験装置およびオシロスコープ - 特許庁
  • To divide the test scripts of a software program into parts by using processing on one picture as a unit.
    ソフトウェア・プログラムのテスト・スクリプトを一画面での処理を単位に部品化すること。 - 特許庁
  • To check validity of database update system processing in a unit test.
    単体テストにおいてデータベース更新系処理の正当性をチェックすることを可能にする。 - 特許庁
  • There are several testing options available to you that make it easy to unit test your application.
    使用可能なテストのオプションはいくつかあり、アプリケーションの単体テストが簡単になります。 - NetBeans
  • A test case is the smallest unit of testing. It checks for a specific response to a particular set of inputs.
    テストケースはテストの最小単位で、各入力に対する結果をチェックします。 - Python
  • The vocational qualification test evaluation system 1 is provided with an arithmetic unit 11 and a storage device 12.
    適性検査評価システム１は、演算装置１１と、記憶装置１２とを備える。 - 特許庁
  • To provide a multi probe card unit, a probe test device including the same, their manufacturing methods and a method of using the probe test device.
    マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法を提供する。 - 特許庁
  • A test signal generation unit 600 generates a test signal having a level higher than a signal level of normal sensitivity of a reception circuit 330 by a prescribed level.
    テスト信号生成部600は、受信回路330の規定感度となる信号レベルより所定分高いレベルのテスト信号を生成する。 - 特許庁
  • After the application program is completed, the application program is run on the test environment using the virtual unit for performing an interlocking test.
    アプリケーションプログラムが完成したなら、仮想ユニットを用いたテスト環境上でアプリケーションプログラムを動作させ、連動テストを実施する。 - 特許庁
  • The test unit 2 executes test, by electrically making contact with electrodes 11 of the semiconductor package 1 on the tray 3.
    このテスト装置２は、トレイ３に載置された状態の半導体パッケージ１の電極１１と電気的に接触してテストを実行する。 - 特許庁
  • An electrical characteristics test using a BGA-type IC is made by making the outer leads 5a have continuity temporarily with electrodes for the test of a testing unit.
    このＢＧＡ型ＩＣの電気的特性試験は、アウターリード５ａと試験装置のテスト用電極を一時的に導通させて行う。 - 特許庁
  • The quantity of initial unit cement, the quantity of a unit coarse aggregate and a polymer admixture are set in predetermined quantities, and the quantity of unit water is changed within a specified range, thus preparing a test piece.
    初期単位セメント量、単位粗骨材量、ポリマー系混和材を一定量とし、単位水量を所定範囲で変化させて供試体を作成する。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and method for reducing the traffic over the communication bus (31) between the host processing unit and an emulator server unit during the test of a target processing unit (36).
    ターゲット処理ユニットのテスト中に、ホスト処理ユニットとエミュレータ・サーバ・ユニットの間の通信バスのトラフィックを減らす装置と方法を提供する。 - 特許庁
  • At this time, the primality testing unit uses a reconstruction unit to change the representation of prime candidates and the primality testing unit performs a primality test using the representation after change.
    このとき、再構成ユニットを使用して素数候補の表現が変換され、変換された表現形態を用いて素数性判定テストユニットが判定する。 - 特許庁
  • The system is provided with a clock generating unit which has a test circuit corresponding to a device to be tested having a test circuit responding to a test signal and which supplies first clocks corresponding to operational frequencies of a test device being normal and the device to be tested to the test device and the device to be tested.
    テスト信号に応答するテスト回路を有する被テストデバイスに対応したテスト回路を持ち、正常とされたテストデバイス、被テストデバイスの動作周波数に対応した第１クロックをテストデバイス及び被テストデバイスに供給するクロック生成装置を設ける。 - 特許庁
  • In an upstream side OXC (optical cross connect) node, a topology detection message (test message) created by a control signal terminating unit 14 is converted into an optical signal by an O/E converting unit 15, and is given to an optical transmission IF (intermediate frequency) unit 18.
    上流側ＯＸＣノードでは，制御信号終端部１４により作成されたトポロジ検出メッセージ（Testメッセージ）は，Ｏ／Ｅ変換部１５により光信号に変換されて光送信ＩＦ部１８に与えられる。 - 特許庁
  • To restrain the increase in the cost of a burn-in test and in the unit price of chip by making a burn-in test pattern capable of enhancing the activation ratio able to be set in a short time in the burn-in test for a logical LSI.
    ロジックLSI のバーンインテストに際して、活性化率を高めることが可能なバーンインテストパターンを短時間で設定でき、バーンインテストのコストアップひいてはチップ単価の高騰を抑制する。 - 特許庁
  • The server device estimates the quality of audio and/or video indicated by the test data received by the reception-side terminal unit, based on the received test data and stored test data.
    サーバ装置は、受信された試験データと、記憶されている試験データと、に基づいて、受信側端末装置が受信した試験データが表す音声及び／又は映像の品質を推定する。 - 特許庁
  • On an optical disc, a test pattern including a first test mark longer than the shortest mark in the modulation code by one recording unit length and a second test mark longer than the shortest mark by two recording unit lengthes or more is recorded with plural of recording conditions (step S2).
    光ディスクに、変調符号における最短マークより１記録単位長い第１テストマークと、最短マーク長より２記録単位長以上長い第２テストマークとを含むテストパターンを複数の記録条件で記録する（ステップＳ２）。 - 特許庁
  • A psychiatric disorder determination processing unit 26 compares a CVRR before a loading test calculated by the CVRR calculation unit 25 with a CVRR after the loading test and, when the CVRR after the loading test is smaller than the CVRR before the loading test, determines that there is a possibility of the psychiatric disorder.
    精神疾患判定処理部２６は、ＣＶＲＲ算出部２５により算出された負荷試験前のＣＶＲＲと負荷試験後のＣＶＲＲを比較し、負荷試験後のＣＶＲＲが負荷試験前のＣＶＲＲより小さい場合に精神疾患の可能性があると判定する。 - 特許庁
  • A test container is fitted onto a section to be tested on the lining in the water, an ejector is actuated by a negative pressure generating unit to drain the water in the test container and keep the negative pressure condition in the test container, and a foaming liquid injection unit is actuated to squirt a foaming liquid at the lining face of the test container.
    水中ライニングの検査対象部分に検査容器を装着し、負圧発生ユニットによりエゼクタを作動させ、検査容器内の水を排出し、検査容器内を負圧状態に保ち、発泡液注入ユニットを作動し、検査容器内のライニング面に発泡液を噴射する。 - 特許庁
  • An automatic test device 1 includes a test procedure execution engine part 12 for performing the automatic test of a picture program 23 of a programmable display unit 2 by reading a test scenario 11 in which the operation procedure of the programmable display unit 2 and a procedure for confirming the response display state and the timing are written.
    自動試験装置１は、プログラマブル表示器２の操作手順とその応答表示状態を確認するための手順とそのタイミングを記した試験シナリオ１１を読み込んで同表示器２の画面プログラム２３の自動試験を行う試験手順実行エンジン部１２を含む。 - 特許庁
  • This event type test system has a plurality of pin units assigned to a device pin to be tested, a test finishing signal generator for generating a signal for indicating finishing of the test for a corresponding pin unit independently of the other pin unit, and a system controller for controlling an entire operation of the event type test system.
    イベント型テストシステムは、被試験デバイスピンに割り当てられる複数のピンユニットと、対応するピンユニットについてのテストの終了を示す信号を他のピンユニットと独立して発生するテスト終了信号発生器と、イベント型テストシステムの全体的動作を制御するシステムコントローラとを有する。 - 特許庁
  • The composite deterioration testing apparatus 1 for performing the deterioration test of a test target is equipped with an expansion and contraction control unit 3 for imparting expansion and contraction force to the test target 2 and a weather factor control unit for imparting the deterioration factor caused by the weather to the test target 2.
    試験対象物の劣化試験を行う複合劣化試験装置において、試験対象物に伸縮力を付与する伸縮制御装置と、試験対象物に天候に起因する劣化因子を付与する天候因子制御装置と、を備えている、複合劣化試験装置 - 特許庁
  • In a communication terminal apparatus having a first wireless unit and a second wireless unit, the first wireless unit or the second wireless unit transmits a test signal to the other wireless unit, and the other wireless unit receives the test signal and demodulates the received test signal; if the demodulation result is normal, it is discriminated that modulation and demodulation by the first wireless unit is being carried out in a normal manner.
    第１の無線機及び第２の無線機を有する通信端末装置の、前記第１の無線機又は前記第２の無線機が、他方の無線機に対してテスト信号を送信し、前記他方の無線機が、前記テスト信号を受信し、受信した前記テスト信号を復調し、前記復調の結果が正常であれば前記第１の無線機の変復調が正常に行われていると判別する。 - 特許庁
  • The test signal inspection unit 42B is provided in a second device 2B and transmits a response signal A indicating whether or not the test signal A is received correctly to an I/O power supply control unit.
    テスト信号検査部４２Ｂは、第２のデバイス２Ｂに設けられ、テスト信号Ａが正しく受信されたか否かを示す応答信号ＡをＩ／Ｏ電源制御部へ送信する。 - 特許庁
  • The system for testing the semiconductor device comprises the steps of referring to a table 710 of a test pattern signal, by using a test result of a sample testing unit 110, and outputting testing conditions to a wafer level burn-in testing unit 210.
    サンプルテスト試験装置１１０の試験結果を用いて、テストパターン信号のテーブル７１０を参照し、テスト条件をウェハレベルバーンインテスト試験装置２１０に出力する。 - 特許庁
  • A switch SW is connected to the A side, and the viewing object distance L1 is detected (12) using a test signal from a test signal generation unit 16 and stored in an operation unit 13.
    スイッチＳＷをＡ側に接続し、テスト信号生成部１６からのテスト信号を用いて視聴対象物距離Ｌ１を検出し（１２）、これを演算部１３で記憶する。 - 特許庁
  • The test finishing signal for each pin unit is selected under a condition specified by the system controller, and the selected test finishing signal is supplied to the system controller and the other pin unit.
    各ピンユニットのテスト終了信号は、システムコントローラにより指定された条件により選択され、その選択されたテスト終了信号は、システムコントローラ及び他のピンユニットに供給される。 - 特許庁
  • To simplify a noise test capable of preventing surely breakage of an internal unit even when insulation between a noise application terminal of a device to be tested and the internal unit is imperfect, and having many test patterns.
    被試験装置のノイズ印加端子と内部ユニットとの間の絶縁が不完全な場合にも内部ユニットの破損を確実に防止でき、しかも試験パターンの多いノイズ試験を簡易にする。 - 特許庁
  • Then, the displayable period calculation unit 210 calculates a displayable period using the read-out first test end information and second test necessity information, a first test period stored in first test period storage means 212, and a second test period stored in second test period storage means 212.
    そして表示可能期間算出部２１０は、読み出した一次考査終了情報及び二次考査要否情報、一次考査期間記憶手段２１２が記憶している一次考査期間、並びに二次考査期間記憶手段２１２が記憶している二次考査期間を用いて、表示可能期間を算出する。 - 特許庁
  • In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.
    この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁
  • A plurality of friction test parts, each comprising a test disk drive unit part 12 for rotating a test disk and a friction force measuring part 14 for measuring friction force while pressing a pad test piece against the test disk, are disposed so as to surround a motor from positions substantially equally spaced from the motor and lying in lateral directions of the motor for rotating the test disks.
    試験円板を回転させる試験円板駆動ユニット部１２と、パッド試験片を試験円板に押圧すると共に摩擦力を測定する摩擦力測定部１４からなる複数の摩擦試験部を、試験円板を回転させるモータの横方向で、かつモータから略等距離の位置にモータを取り囲む様に配置する。 - 特許庁
  • A test module tests for a second controller defined storage unit corresponding to the first controller defined storage unit.
    検査モジュールは、第１のコントローラの定義済みストレージ・ユニットに対応する第２のコントローラの定義済みストレージ・ユニットについて検査する。 - 特許庁
  • A test circuit conducting the starting test of the oscillation circuit where a quartz oscillator is oscillated is provided with an oscillator to be tested, and a control unit.
    これは発振器の起動試験装置のＯＮ−ＯＦＦ回路が遅いため、規定された試験回数を行うのに時間がかかる問題があった。 - 特許庁
  • Thus, only the subscriber test unit 7 at the POTS side exchange facility can conduct the subscriber line test of the xDSL subscriber circuit 9.
    このため、ＰＯＴＳ側交換設備の加入者試験装置７のみでｘＤＳＬ加入者回路９の加入者線試験ができる。 - 特許庁
  • A test pattern (line pattern) on a recording medium is read (S80), and a corresponding position of the test pattern is acquired by a pixel unit of reading pixel pitch (S82).
    記録媒体上のテストパターン（ラインパターン）を読み取り（Ｓ８０）、読取画素ピッチの画素単位でテストパターンの対応位置を取得する（Ｓ８２）。 - 特許庁
  • In order to test the continuity of the wire harness manufactured on an assembly diagram board 20, a continuity test unit 33 is connected with the wire harness.
    組立図板２０で製造されるワイヤーハーネスの導通を検査するためにワイヤーハーネスと接続される導通検査ユニット３３を設ける。 - 特許庁
  • The transmission unit 3 can transmit a radio wave by switching an operation wave used for normal operation and a test wave used for a test of the wireless device 2.
    送信部３は、通常の運用に使用する運用波と、無線装置２の試験に使用する試験波とを切り替えて送信可能である。 - 特許庁
  • To provide a unit for substrate connection test which is easy in a check of connection state, and enables a substrate connection test at a substrate center.
    接続状態のチェックが容易であると共に、基板中央部での基板接続試験の可能な基板接続試験用ユニットを提供すること。 - 特許庁
  • A test determination unit 131 determines whether a fault diagnostic test can be performed based on a time period until next communication data is input.
    テスト可否判定部１３１は、次の通信データが入力されるまでの時間を基に、故障診断テストを行えるか否かを判定する。 - 特許庁
  • To monitor whether an analysis region of a test element is positioned in an analysis position in a test element receptacle relative to the analysis unit.
    テストエレメントの分析領域が、テストエレメント容器中の分析ユニットに対する分析位置中に位置決めされているかどうかをモニタリングする。 - 特許庁
  • Based on given output instruction data, a test information generating unit 11 generates first test information and second test information in the case of carrying out drawing expansion of the first test information in an actual-image output device 3, and a target image output device 2 outputs the first and second test information.
    与えられた出力指示データに基づいて、第１の試験情報と、第１の試験情報を実画像出力装置３で描画展開した場合の第２の試験情報を試験情報生成部１１で生成して目標画像出力装置２に出力させる。 - 特許庁
  • When the designated operation mode is an independent test mode for performing mutually different tests independently by each of the plurality of test modules, the central processing unit controls the plurality of test modules in parallel by switching the plurality of test processes relative to each test module and executing it.
    一方、指定された動作モードが、複数の試験モジュールの各々により互いに異なる試験を独立して行わせる独立試験モードである場合には、複数の試験用プロセスを試験モジュール毎に切り替えて実行することにより複数の試験モジュールを並行して制御する。 - 特許庁
  • In normal test mode, the test controller 100 has top priority, but when the functionality of the master of the master logic unit is tested by the test controller 100, the test controller receives a priority access signal in master test mode so as to allocate the top priority to one master logic unit and the master logic unit accesses the bus to generate a test process request.
    通常の試験モードでは、前記試験制御装置は、最高の優先順位を有しているが、マスター試験モードでは、１つの前記マスター論理ユニットのマスターの機能性が前記試験制御装置により試験される時、前記アービタは、最高の優先順位を前記1つマスター論理ユニットに割り当てるために優先アクセス信号を受信して前記1つのマスター論理ユニットが前記バスにアクセスして試験処理要求を発生できるようにする。 - 特許庁
  • Then, a test data generation unit generates test data for each data item according to at least one of the attribute indicated by the data type acquired by the database information acquisition unit or the screen information acquisition unit and the reference relation indicated by the reference information acquired by the database information acquisition unit.
    そして、テストデータ生成部が、データの項目ごとに、データベース情報取得部又は画面情報取得部によって取得されたデータ種別の属性及び参照情報の参照関係のうち少なくとも一方に応じたテストデータを生成する。 - 特許庁
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