A transmission side slave unit A21 transmits a test signal to the other slave units A11 to A13, the other slave units A11 to A13 for receiving the test signal detect the electric field strength of the test signal and transmit a return signal to the transmission side slave unit A21. 送信側子機A21は、他の子機A11〜A13に対してテスト信号を送信し、テスト信号を受信した他の子機A11〜A13は、前記テスト信号の電界強度を検出するとともに、返信信号を前記送信側子機A21に送信する。 - 特許庁
TEST OR INSPECTION METHOD FOR WATER SUPPLY PIPE FOR DRY TYPE FIRE EXTINGUISHING AND WATER SUPPLY AND SUCTION UNIT FOR USE IN IT 乾式消火用送水管の試験又は点検方法とその方法に用いる送吸水ユニット - 特許庁
A test voice is collected by a sound collection unit, and the sound collection result is transmitted to an echo detection part 250. テスト音声は、集音ユニットで集音され、集音結果がエコー検出部250へ送られる。 - 特許庁
To perform a test further close to actual traveling in a device for supporting development of traveling control unit. 走行制御ユニットの開発支援装置において、より実際の走行に近い試験を可能にする。 - 特許庁
The server device transmits the test data indicating audio and/or video to the transmission-side terminal unit (112). サーバ装置は、音声及び/又は映像を表す試験データを送信側端末装置へ送信する(112)。 - 特許庁
To supply lubricant to a bearing device on the side of a driver at unittest of a main electric motor. 主電動機の単体試験時に、駆動装置側の軸受装置への潤滑油の供給を可能とする。 - 特許庁
When the inter-bus information in the continuity test processing unit is not matched, it is determined that an error is caused. この連続検定処理部における各バス間の情報が不一致の場合にエラーとの判定を行う。 - 特許庁
The plug detection unit can operate so as to detects the fitting state using intermittent test signal. プラグ検出ユニットは、間欠試験信号により嵌合状態を検出するよう作動可能である。 - 特許庁
A power supply unit 10 alternately energizes the semiconductor device TE under test and the resistor part DE. 電源部10は、試験対象の半導体装置TEと抵抗部DEとに交互に通電する。 - 特許庁
A continuity test processing unit for comparing and testing inter-bus information of each system is connected to each system. 各系統には各系統のバス間の情報を比較して検定する連続検定処理部を接続する。 - 特許庁
Relating to the controller, a sequential mode or a test mode where unit constitution parts are individually operated is selected and executed. シーケンシャルモード、又は単位構成部品を単独で動作させるテストモードを選択時に実行する。 - 特許庁
A control unit 11 of a test device 1 outputs a signal for controlling testing of an integrated circuit 6. テスト装置1の制御部11は、集積回路6のテストを制御するための信号を出力する。 - 特許庁
The testunit A, comprising the first and second processes 1 and 2, is repeated a predetermined number of times. そして、第1の工程1と第2の工程2とからなる試験単位Aを所定回数繰り返す。 - 特許庁
The pin assign converter 90 converts the logic pin number into the physical pin number of the testunit 22 before outputting. ピンアサインコンバータ90は、論理ピン番号を、試験ユニット22の物理ピン番号に変換して出力する。 - 特許庁
A control rod friction measurement test device 28 is connected to communicate with a hydropressure control unit 19. 水圧制御ユニット19と連通するように制御棒摩擦測定試験装置28を接続する。 - 特許庁
To speedily and efficiently test a control program of an electronic control unit(ECU) loaded on a vehicle. 車両に搭載されるECU(電子制御装置)の制御プログラムを迅速かつ効率的にテストする。 - 特許庁
To reduce unittest man-hours for a UI layer in the case of separately developing a UI layer and an AP layer. UI層とAP層を分離開発する際、UI層に対するユニットテスト工数を削減する。 - 特許庁
An image photographer 2 photographs a test image projected on an image display unit 3, and generates a photographed data. 画像撮影部2は、画像表示部3に投影されたテスト画像を撮影し、撮影データを生成する。 - 特許庁
The testing device 100 is equipped with a unit 102 for tests housing a large number of test cards 104. 試験装置100は、多数のテスト用カード104が収容された試験用ユニット102を備える。 - 特許庁
A printer draws unit patterns 31a-31f constituting the test pattern by one outward trip scanning. プリンタは、1回の往路走査により、テストパターンを構成する単位パターン31a〜31fの描画を行う。 - 特許庁
A testunit 950 is provided for testing the selected part of the coefficient register for each coefficient expression. 係数レジスタの選択部分を各係数表現に対してテストするテストユニット950が設けられる。 - 特許庁
For Rails projects, and in many other cases, Auto Test can determine the unit tests that need to be run.
Rails プロジェクトやその他多くの場合、自動テストは実行する必要のある単体テストを判別できます。 - NetBeans
If it cannot make this determination, Auto Test defaults to running all unit tests.
自動テストがこの判別を行うことができない場合は、すべての単体テストをデフォルトで実行します。 - NetBeans
The LAPD terminator is provided with: an LAPD termination unit 116; and a test frame conversion part 120. LAPD終端装置に、LAPD終端部116と、試験フレーム変換部120とを設ける。 - 特許庁
A test indicator includes one of body cases 10A-10D; a movement unit 20 to be stored inside one of the body cases 10A-10D; and a dial unit 40. 本体ケース10A〜10Dと、この本体ケース10A〜10D内に収納されるムーブメントユニット20と、ダイヤルユニット40とを備える。 - 特許庁
A main unit 30 of a test instrument is connected to one terminal side of a cable 32 to be tested, and a remote unit 34 is connected to another terminal side of the cable 32 to be tested. 試験機器の主ユニット30を、被試験ケーブル32の一端側に接続し、遠隔ユニット34を、被試験ケーブル32の他端側に接続する。 - 特許庁
Further, by performing a voltage measuring test when the test target is provided with a power supply circuit and is recognized as a test target, a voltage measuring test can be performed even with a comparatively inexpensive tester having constraints in a voltage measuring unit without using an expensive tester. さらに、電源回路を備え検査対象と認識された時に電圧測定検査を行うことにより、高価なテスターを用いることなく、電圧測定ユニットに制約のある比較的安価なテスターにおいても、電圧測定検査を行うことができる。 - 特許庁
The test tape unit for especially testing blood sugar is equipped with an analyzing test tape 12, a storage coil 14 for washing an unused test tape 12, a winding coil 18 for winding the used test tape 12 and a tape guide part 16 for exposing the test tape part 20 at a measuring region 22 for coating body fluids. 分析用の試験テープ12と、未使用の試験テープ12の洗浄用の貯蔵コイル14ならびに使用した試験テープ12の巻付用の巻付コイル18と、体液の塗布用の測定部位22での試験テープ部分20の曝露用のテープガイド部16とを備える特に血糖試験用の試験テープユニットに関する。 - 特許庁
In a test conducting state, a relay contact (not shown) is switched and the metal line 11 is connected to a metal line testunit 122 at this side of a splitter circuit, then the test is conducted with high accuracy. 試験を行う状態では、図示しないリレー接点が切り替わって、スプリッタ回路の手前側でメタリック回線111がメタリック回線試験機122に接続されるので、試験を高精度で行うことができる。 - 特許庁
This testing device is equipped with a plurality of test modules for testing a plurality of devices to be tested, and the central processing unit for controlling test operation of the plurality of test modules based on a designated operation mode. 複数の被試験デバイスの試験を行う複数の試験モジュールと、指定された動作モードに基づいて複数の試験モジュールの試験動作を制御する中央処理装置とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁
The main control unit changes test value to be changed shown by information to be changed, associated with the first test value or the second test value in advance, on the basis of the generated expected value changing data. 主制御部は、前記第1検査値又は第2検査値に予め対応付けられた変更対象情報が示す変更対象の検査値を、前記生成した期待値変更用データに基づいて変更する。 - 特許庁
To achieve a base unit carriage capable of easily aligning a direction with the front of a test head after a base unit is loaded without previously aligning the direction when the base unit is loaded on the carriage. ベースユニットを台車に載せる時に予め、向きを合わせておかなくても、搭載後に容易にテストヘッドの正面に向きを合わせられるベースユニット搬送台車を実現する。 - 特許庁
A phase comparison is performed between the comparison pulse and the test pulse in which the unit delay amount is provided through the delay line, to determine a unit delay control value corresponding to the unit delay amount. そして比較用パルスと、ディレイラインを経て単位遅延量が与えられたテストパルスとの位相比較を行い、単位遅延量に相当する単位遅延制御値を判定する。 - 特許庁
In the case of carrying out a unittest of the memory chip 2, a test program which is written in programming language for an LSI tester for testing the memory chip 2 by a unit is converted to machine language executable by a CPU 4. メモリチップ2の単体検査を実施する場合、まずLSIテスタ用のプログラム言語で記述されたメモリチップ2を単体で検査するためのテストプログラムを、CPU4によって実行可能な機械語データに変換する。 - 特許庁
In the step S230, the control unit outputs from a speaker the audio data for the test mode read from the flash memory and displays on a display unit the display data for the test mode read from the flash memory. S230ステップにおいて、制御部は、前記フラッシュメモリから読み込んだテストモード用の音声データをスピーカから出力させると共に、前記フラッシュメモリから読み込んだテストモード用の表示データを表示部に表示させる。 - 特許庁
The operation mode control unit 4 is used when the sensor LSI 50 is tested, and outputs to the operation timing generation unit 5 a mode control signal Sms designating either an operation test mode or an intermittent operation test mode. 動作モード制御部4は、センサLSI50のテスト工程のときに用いられ、間欠動作テストモードと動作テストモードいずれかを指定するモード制御信号Smsを動作タイミング生成部5に出力する。 - 特許庁
A source unit (102) connected to one point of a tested packet-switched network (104) generates a test packet stream, and transmits the test packet stream to an analysis unit (106) connected to another point of the network. 被試験パケット交換ネットワーク(104)の1つのポイントに接続されたソースユニット(102)が、試験パケットストリームを生成し、該試験パケットストリームをネットワークの他のポイントに接続された分析ユニット(106)に送信する。 - 特許庁
The mode control unit controls to supply the output of the display signal processing unit to the data voltage supply unit in a display mode; while in a light emission characteristics detection mode, the control unit controls to supply a test signal to the data voltage supply unit and supplies an output of the light emission characteristics detection unit to the memory. モード制御部は、表示モードでは、表示信号処理部の出力をデータ電圧供給部に供給し、発光特性検出モードでは、テスト信号をデータ電圧供給部に供給し、発光特性検出部の出力をメモリに供給するように制御する。 - 特許庁
To provide a test system precisely estimating a quality of audio and/or video indicated by test data received by a terminal unit from other terminal units. 端末装置が他の端末装置から受信した試験データが表す音声及び/又は映像の品質を高い精度にて推定することが可能な試験システムを提供すること。 - 特許庁
To provide a unittest support device and a program therefor achieved in a function to automatically generate a minimum required test program when a stub is replaced with an actual program. スタブを実プログラムに置き換えた際に最低限必要となるテストプログラムを自動生成する機能を実現した単体テスト支援装置およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a low-cost type discrimination unit distinguishing the type of an imaged test subject with high accuracy by processing a taken image of the test subject imaged by a camera. カメラで撮像している被検者の撮像画像を処理し、撮像されている被検者の類型を精度よく判別する安価な類型判別ユニットを提供する。 - 特許庁
To provide a memory test system and a relief arithmetic unit, which reduces their costs and also reduces a user's work, thereby having an improved test efficiency. コストの低減を図ることができるとともに、ユーザの作業を軽減して試験効率を向上させることができるメモリ試験システム及び救済演算装置を提供する。 - 特許庁
When a main control unit switches a data class, it extracts a first test value or a second test value corresponding to the data class of authentication information to be generated next time. 主制御部はデータ種別を切り替える場合、次回生成する認証情報のデータ種別に対応した第1検査値又は第2検査値を抽出する。 - 特許庁
The testunit tests in parallel a test block including designated one or more circuit blocks of a semiconductor integrated circuit having a plurality of circuit blocks which can be tested singly. 試験部)は、単独で試験可能な回路ブロックを複数備える半導体集積回路の指定された1または複数の回路ブロックを含む試験ブロックを並列に試験する。 - 特許庁
The voice line in the voice switch has a connection to a first metallic line test bus connected to the voice switch metallic line testunit via a first relay set. 音声交換機内の音声回線カードは、第一リレー群を介して音声交換機メタル回線テストユニットに接続された第一メタル回線テストバスに接続されている。 - 特許庁
Next, the latent image carrier 2 and the intermediate transfer unit are brought into contact with each other again, and a test pattern 2 is generated on the latent image carrier 2 in the same condition as the test pattern 1. 次に、再び潜像担持体2と中間転写ユニットとを当接し、テストパターン1を作成した時と同じ条件で、潜像担持体2上にテストパターン2を作成する。 - 特許庁
When a test button of an intercom master unit 1 connectable with an intercom slave 2 is pressed, an inspection signal is transmitted to the fire alarm 3 to request an operation confirmation test. ドアホン子器2との間で通話を可能とするインターホン親機1のテスト釦が押下されると、火災警報器3に点検信号を送信して動作確認テストを要求する。 - 特許庁
The test pattern 33 is read out by means of a scanner 31, and an arithmetic unit 32 measures the luminance of three colors RGB for each dot in the line width direction of the test pattern 33 thus read out. スキャナ31でテストパターン33を読み取り、演算装置32で読み取ったテストパターン33のライン幅方向の1ドット毎にRGB3色の輝度を測定する。 - 特許庁
A DC unit 3 performs a DC test (DC current precision test) for measuring the output voltage, current applied voltage, and voltage applied current of the measured device 2. DCユニット3は、被測定デバイス2の出力電圧測定,電流印加電圧測定及び電圧印加電流測定を行うDCテスト(直流精度試験)を行う。 - 特許庁
Thus, air for testing is injected while monitoring an air pressure inside the air pipe 1A by using the test jig and the test adjustment of this heat sensing unit 1C is performed. これにより、試験治具を用いて空気管1A内の空気圧を監視しながら試験用の空気を注入し、熱感知ユニット1Cの試験調整ができる。 - 特許庁