「Unit test」を含む例文一覧(1133)

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  • The wireless device 2 can switch an operation mode which notifies the user that the transmission unit 3 has transmitted the operation wave and the reception unit 4 has received the operation wave, and an inspection mode which notifies the user that the transmission unit 3 has transmitted the test wave and the reception unit 4 has received the test wave.
    無線装置２は、送信部３が運用波を送信し、受信部４が運用波を受信した旨を通知する運用モードと、送信部３が試験波を送信し、受信部４が試験波を受信した旨を通知する点検モードとを切り替え可能である。 - 特許庁
  • A burn-in apparatus comprises a thermostat apparatus 1, a control unit 2, and a plurality of test units 3.
    恒温槽装置１、制御装置２、複数のテストユニット３よりバーンイン装置を構成する。 - 特許庁
  • TEMPERATURE TEST SYSTEM FOR ELECTRONIC APPARATUS AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME AND TEMPERATURE CONTROL UNIT AND PROGRAM
    電子機器の温度試験システムとその制御方法および温度調整装置ならびにプログラム - 特許庁
  • Test data input time series compression circuit 1-3 has a flag register, a data register and a computing unit.
    テストデータ入力時系列圧縮回路１−３は、フラグレジスタ、データレジスタ、及び演算器を有する。 - 特許庁
  • The test structure of a semiconductor device includes a transistor 150, a dummy transistor 160 and a pad unit.
    半導体装置のテスト構造物は、トランジスタ１５０、ダミートランジスタ１６０、及びパッドユニットを具備する。 - 特許庁
  • A sensor unit for measuring light reflectance is preferably used for positioning the test element.
    テストエレメントの位置決め（ポジションニング）には光反射率を測定するセンサユニットの使用が好ましい。 - 特許庁
  • A washing and drying unit 54 for washing and drying the test piece is arranged to treatment tank 16.
    処理槽１６に、試験片の洗浄・乾燥を行なう洗浄・乾燥ユニット５４が配設される。 - 特許庁
  • First, the inking behavior of the printing unit of a multicolor printing rotary press is investigated by using the test plate.
    まず、テスト版を用いて、多色刷り輪転印刷機の印刷ユニットのインキ着け挙動を調べる。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor storage unit in which a fault eliminating rate in a burn-in test is improved.
    バーンイン試験における不良除去率を向上させた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
  • In the test mode, whether or not a signal input/output function of the control unit 10 is good is inspected.
    そして、そのテストモードで制御ユニット１０の信号入出力機能の良否を検査する。 - 特許庁
  • A frame identification code generating unit 2 extracts a frame ID from a test video image and generates its QR code.
    フレーム識別コード生成部２は、試験映像からフレームIDを抽出し、そのQRコードを生成する。 - 特許庁
  • The pin unit for testing comprises a coil spring 12, a movable piece 20, a supporting part 30, and a test pin 40.
    テスト用ピンユニットは、コイルバネ１２と、可動片２０と、保持部３０と、テストピン４０とを備える。 - 特許庁
  • A printer draws unit patterns 31a to 31f which constitute a test pattern by forward stroke scanning.
    プリンタは、往路走査によりテストパターンを構成する単位パターン３１ａ〜３１ｆを描画する。 - 特許庁
  • A test processing unit 202 for detecting failures in a high-speed phase circuit 210 is built in a device.
    高速位相回路部２１０の不良を検出するテスト処理部２０２をデバイスに内蔵させる。 - 特許庁
  • To provide an electronic unit that can efficiently perform test without leading to increase in cost.
    コストアップを招来することなく効率良く検査を行うことができる電子ユニットを提供する。 - 特許庁
  • DEVICE STATE INFORMATION EXTRACTION METHOD, DEVICE STATE TEST UNIT, NETWORK DEVICE AND SERVICE DIAGNOSTIC SYSTEM
    機器状態情報抽出方法、機器状態試験装置、ネットワーク機器及びサービス診断システム - 特許庁
  • A server test information communication unit 12 which receives the test signals and measures the communication interval of the test signals sent from each of the communication equipments 1 of the subscribers' homes and a non-connection equipment information acquisition unit 14 which detects the communication equipments 1 whose communication intervals detected by the server test information communication unit 12 are equal to or longer than the prescribed time are provided to the server 10.
    サーバー１０側には、テスト信号の受信を行い、各通信機器１毎にテスト信号の通信間隔を計測するサーバー側テスト情報通信部１２と、サーバー側テスト情報通信部１２で得られた通信間隔が所定の時間以上である通信機器を検出する非接続機器情報取得部１４を設ける。 - 特許庁
  • The control unit 18 displays figures for an eye test on the display unit 11, and executes the eye test for a user by monitoring a key input signal from the operating unit 12 at that time, and determines the grade of eyesight of the user.
    制御部１８は、表示部１１に視力検査用の図形を表示すると共に、そのときの操作部１２からのキー入力信号をモニタすることによってユーザの視力検査を行い、当該ユーザの視力の程度を判定する。 - 特許庁
  • A test sheet embedding the setting information of the device beforehand as an invisible image, is set to an original reading unit 3, reading the original image of the test sheet is performed, and a control unit 2 temporarily stores the original image in a memory unit 4.
    あらかじめ装置の設定情報を不可視画像として埋め込んだテストシートを原稿読取部３にセットし、そのテストシートの原稿画像の読み取りを行い、制御部２は記憶部４に原稿画像を一時記憶する。 - 特許庁
  • In the formula (I), W0 is the test piece width of the steel panel, TS is the tensile strength of the steel panel and A is 0.00287×t0+0.0702 (wherein a unit of t0, t1 and W0 is mm and a unit TS is MPa and a unit of Pmax is N).
    Pmax／（t_1×W_0×TS) ≦Ａ×Ｒ （Ｉ） W_0：鋼板の試験片幅 TS：鋼板の引張強度 Ａ＝0.00287 × to ＋0.0702(t_0、t_1、W_0の単位はｍｍ、TSの単位はＭＰａ、Pmaxの単位はＮ） - 特許庁
  • The ejection operation of the ink by the recording head 202 is controlled on the basis of the test pattern of the first test pattern and the second test pattern which has a smaller placement amount of the ink per unit area.
    そして、第一のテストパターンと第二のテストパターンとのうち、単位面積当たりのインクの打ち込み量の少ない方のテストパターンに基いて記録ヘッド２０２によるインクの吐出動作が制御される。 - 特許庁
  • Each test unit receives the analog output signals of M driving units and selects one of them as a test signal according to a select signal and sends a status signal representing abnormality to a external tester in the case of a voltage of the test signal being higher than a high reference voltage or lower than a low reference voltage.
    テスト信号の電圧がハイ参考電圧より高いか或いはロー参考電圧より低い時、テストユニットは異常を代表する状態信号を外接のテスターに送る。 - 特許庁
  • The test frame transmission unit generates a test frame having the MAC address of its own device set as a destination address and a transmission source address, and periodically transmits the generated test frame from an arbitrary port.
    試験フレーム送信部は、送信先アドレスおよび送信元アドレスに自装置のＭＡＣアドレスを設定した試験フレームを生成し、生成した試験フレームを任意のポートから定期的に送信する。 - 特許庁
  • Burn-in of the number of times of burn decided in this number of times deciding test are performed, after that, a function test is performed with the test object device unit, and a burn-in defect rate is monitored (step SP5, SP6).
    この回数決定テストにおいて決定されたバーンイン回数のバーンインを実施し、その後、テスト対象デバイス単位で機能テストを行なって、バーンイン不良率をモニタする（ステップＳＰ５，ＳＰ６）。 - 特許庁
  • A test chart control section 204 determines whether the reconfiguration request of test chart specifications has been received from a terminal unit 2, or the like, and whether it triggered the reconfiguration of a preset test chart.
    テストチャート制御部２０４は、端末装置２等からテストチャート仕様の再構成依頼を受け付けたか否か、及び予め設定されているテストチャート再構成の契機となったか否かを判断する。 - 特許庁
  • The main control unit changes test value to be changed shown by information to be changed, associated with the first test value or the second test value in advance, on the basis of the generated expected value changing data.
    主制御部は、第１検査値又は第２検査値に予め対応付けられた変更対象情報が示す変更対象の検査値を、前記生成した期待値変更用データに基づいて変更する。 - 特許庁
  • To provide a base station test apparatus that executes performance test associated with communication propriety between an installed base station and a prescribed mobile unit through a virtual space without the need for a test personnel to move over a wide range area.
    試験者が広範囲なエリアを移動せずに、設置された基地局と所定の移動機との通信可否に係る性能試験を仮想空間にて行う基地局試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A test chart T is captured while the lens unit 9 faces a reference imaging element 21, and the lens unit 9 is positioned at the just-focus position.
    レンズユニット９を基準撮像素子２１に対向させてテストチャートＴを撮像し、ジャストフォーカス位置にレンズユニット９を位置決めする。 - 特許庁
  • As noted, Auto Test runs either the appropriate unit tests or all unit tests when files are modified.
    前に説明したように、ファイルが変更されると、自動テストは適切な単体テストまたはすべての単体テストのいずれかを実行します。 - NetBeans
  • A characteristic line extraction unit 105 extracts a characteristic line of a test object from data of a test object image taken by an imaging device being in a predetermined attitude.
    特徴線抽出部１０５は、撮像装置が所定の姿勢で検査対象を撮像した画像データから検査対象の特徴線を抽出する。 - 特許庁
  • To minimize wirings used exclusively to test between the physical layers, when designing a test circuit for a single unit of function blocks to be built, in an integrated semiconductor circuit.
    半導体集積回路に内蔵する機能ブロックの単体テストのテスト回路設計において、物理階層間のテスト専用配線数を最小にする。 - 特許庁
  • To automate a unit test and a function test, and to enhance reliability of incorporated software and development efficiency.
    単体テスト，機能テストの自動化を実現し、組み込みソフトウェアの信頼性および開発効率を向上することができる組み込みソフトウェアのテストシステムを提供する。 - 特許庁
  • If a test related to a medical report is identified, information designated from a DICOM object belonging to the test is acquired by a data acquisition unit 23.
    医用レポートに関連する検査を特定すると、データ取得部２３によって前記検査に属するＤＩＣＯＭオブジェクトから指定された情報を取得する。 - 特許庁
  • The selection unit, when the test block includes a circuit block which has been determined to be faulty operation, divides the test block into a plurality of block groups.
    選択部は、試験ブロックが判定部によって動作不良と判定された回路ブロックを含むとき、試験ブロックを複数のブロック群に振り分ける。 - 特許庁
  • To provide a flat display inspecting method capable of performing a visual test and a gross test successively with a single apparatus, and to provide a unit for flat display inspection.
    ビジュアルテスト及びグロステストを一つの装備で順次に行える平板型ディスプレイ検査方法及び平板型ディスプレイ検査用ユニットを提供する。 - 特許庁
  • To provide a memory device in which a test data setting time can be shortened by write-in with one word unit and the degree of freedom of test data setting is high.
    １ワード単位での書込によりテストデータ設定時間の短縮が可能で、且つ、テストデータ設定の自由度が高いメモリ装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a power supply current measuring unit arranged on a semiconductor test system and capable of accurately measuring the power supply current of a device under test at a high speed.
    半導体試験システムに備えられ、被試験デバイスの電源電流を高速でかつ正確に測定できる電源電流測定ユニットを提供する。 - 特許庁
  • To retry your unit test to see if the changes create the desired effect, right-click the rubyweblog node and choose Test from the pop-up menu.
    単体テストを再試行し、この変更が目的どおりの結果を作成することを確認するには、「rubyweblog」ノードを右クリックし、ポップアップメニューから「テスト」を選択します。 - NetBeans
  • The BIST unit writes test data in the memory, and by comparing the test data output from the memory with expected data, determines a failure cell address in the memory.
    ＢＩＳＴ部はメモリにテストデータを書き込み、メモリから出力されるテストデータと予想データとを比較してメモリ内部の欠陥セルアドレスを判断する。 - 特許庁
  • A first step is executed during production of a camera unit and preferably includes photographing and analyzing an image of a test chart that of a gray test chart.
    第１の段階はカメラユニットの生産中に行われ、好ましくは灰色試験チャートである試験チャートの画像を撮影し、解析することを含む。 - 特許庁
  • A test harness is a collection of software code and test data that runs the program unit under varying conditions, all the while monitoring the unit's behavior and outputs.
    テストハーネスは、ソフトウェアコードの集まりで、プログラムユニットを動かすデータをさまざまな条件下でテストし、その間にユニットの動作と出力を監視します。 - NetBeans
  • To provide an electric test unit which mounts an electronic component very accurately on a contact performing an electric test, and an electric component inspection device provided with the same.
    電気テストを行うコンタクトに対して高い精度で電子部品を載置する電気テストユニット及びそれを備えた電気部品検査装置を提供する。 - 特許庁
  • A test signal generator 66 generates a test signal which can be inputted into the integrated circuit 6 in accordance with an input of the signal outputted from the control unit 11.
    テスト信号発生部６６は、制御部１１から出力された信号の入力に応じて、集積回路６に入力可能なテスト信号を発生する。 - 特許庁
  • Setting values inputted to items 'REC#1' and 'REC#2' of a spreadsheet 1 for input are made into text data and preserved as test data and at the time of unit module test, the preserved test data are read out and supplied to a module to be tested by a driver 3 for test.
    入力用スプレッドシート１の項目「REC#1」，「REC#2」に入力された設定値をテキストデータ化して試験データとして保存し、単体モジュール試験時に、試験用ドライバ３が保存した試験データを読み出し、被試験モジュール３へ供給する。 - 特許庁
  • The semiconductor integrated circuit includes a processor having a scan chain, a processor control unit for causing the processor to execute an application, and a scan test control unit for controlling the scan test of the processor.
    本発明にかかる半導体集積回路は、スキャンチェーンを有するプロセッサと、プロセッサにアプリケーションを実行させるプロセッサ制御部と、プロセッサのスキャンテストを制御するスキャンテスト制御部と、を有する。 - 特許庁
  • On the other hand, an image printer prints the test print, and the printed test print is carried by a carry part and inserted by an insertion unit in an accommodation space of an accommodation unit provided in a delivery device.
    これに対して、画像プリント装置はテストプリントをプリントし、プリントされたテストプリントは搬送部により搬送され、挿入ユニットにより引渡装置に備えられた収容ユニットの収容空間に挿入される。 - 特許庁
  • Image data 54 of a substrate 1 are acquired by using a scanning head 16 of a test unit 14 which scans the substrate 1 with its line sensor 34, and read into an image memory 44 of a main unit 12 as a test image 41.
    試験ユニット１４の走査ヘッド１６は基板１をラインセンサ３４により走査して基板１の画像データ５４を取得し、メインユニット１２の画像メモリ４４内に検査画像４１として書き込む。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device provided with a timing generator capable of reducing remarkably a circuit scale for realizing generation functions for both a tester channel required to generate a test pattern by a unit of a test rate, and a tester channel required to generate a test pattern having a unit of prescribed integral-times of the test rate.
    テストレート単位に試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルと、前記テストレートの所定整数倍単位の試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルとの両方の発生機能を実現するための回路規模を大幅に低減可能とするタイミング発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • On the client side 2 remote from a test site 1 for testing a protection relay system 4, a means 7 for relaying a test unit 5 and personal computers 8 and 9 at the test site 1 is arranged with terminals 32, 33 and 34 being transmitted with the conditions of a test performed at the test site 1 and test data in real time through a router 13 and a modem 12.
    保護継電装置４の試験をおこなう試験地１と離間した顧客側２に、試験地１で試験装置５とパソコン８、９とを中継している中継手段７に、ルータ１３とモデム１２を介して、試験地１でおこなわれている試験の状態や試験データがリアルタイムで送られてくる端末装置３２、３３、３４を配置する。 - 特許庁
  • The LMP control unit 13 on the downstream side OXC node is designed to select one of data channels of the optical reception IF unit 17, and to control the O/E-converting unit 15 and the control signal terminating unit 14 to be each transmitted the test message to be received through the selected data channel.
    一方，下流側ＯＸＣノードのＬＭＰ制御部１３は，光受信ＩＦ部１７のデータチャネルの１つを選択し，選択したデータチャネルにより受信されるTestメッセージがＯ／Ｅ変換部１５および制御信号終端部１４に与えられるように制御する。 - 特許庁
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