「X-Ray Diffraction」を含む例文一覧(997)
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Ｘ線回折法を用いためっき層中の合金相付着量の測定方法及び装置 - 特許庁 - CAPILLARY ROTATION APPARATUS, X-RAY DIFFRACTION APPARATUS USING THE SAME, AND RAMAN SPECTROMETRY ANALYZER
キャピラリー回転装置並びにこれを用いたＸ線回折装置及びラマン分光分析装置 - 特許庁 - The solid crystal, called COK-7, has a specific X-ray diffraction pattern.
本発明は、ＣＯＫ−７と称される、特定のＸ線回折図を有する固体結晶に関する。 - 特許庁 - The α-crystal form of the compound represented by formula (I) shows a characteristic powder X-ray diffraction pattern.
その粉末Ｘ線回折パターンを特徴とする、式（Ｉ）の化合物のα結晶型。 - 特許庁 - To provide an X-ray photographing apparatus and X-ray photographing method capable of photographing an image with high accuracy regardless of misalignment of diffraction grating.
回折格子のずれに拘わらず、高精度の撮影画像を得ることが可能なＸ線撮影装置およびＸ線撮影方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an oblique entrance type multilayer diffraction grating spectroscope which has high diffraction efficiency and high heat resistance in an X-ray range having the energy of 1-3 keV (the wavelength: 0.4-1.2 nm) and in which a multilayer film is applied to a diffraction grating and the total reflection of an obliquely-entranced X-ray is utilized.
1-3keV（波長：0.4-1.2nm）のエネルギーをもつX線領域において、高い回折効率および高い耐熱性をもつ、回折格子に多層膜を適用した斜入射による全反射を利用した斜入射型の多層膜回折格子分光器を提供する。 - 特許庁 - This invention relates to: the azo pigment that is represented by formula (1) and has characteristic X-ray diffraction peaks at 7.5°, 25.8° and 26.9° of Bragg angle (2θ±0.2°) in CuKα characteristic X-ray diffraction; or an tautomer thereof.
ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．５°、２５．８°及び２６．９°に特徴的Ｘ線回折ピークを有する下記式（１）で表されるアゾ顔料、又はその互変異性体。 - 特許庁 - In the evaluation method for evaluating a silicon wafer that has been subjected to heat treatment, the X-ray diffraction intensity of the silicon wafer is measured by an X-ray diffraction method, thus evaluating the IG capability of the silicon wafer.
熱処理後のシリコンウェーハの評価方法であって、Ｘ線回折法によりシリコンウェーハのＸ線回折強度を測定することによって当該シリコンウェーハのＩＧ能力を評価するようにした。 - 特許庁 - The azo pigment, or a tautomer thereof, is represented by formula (1) and has distinctive X-ray diffraction peaks at Bragg angles (2θ±0.2°) of 7.2°, 13.4°, 15.0° and 25.9° in CuKα characteristic X-ray diffraction.
ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．２°、１３．４°、１５．０°及び２５．９°に特徴的Ｘ線回折ピークを有する下記式（１）で表されるアゾ顔料、又はその互変異性体。 - 特許庁 - This azo pigment is a compound represented by formula (1), in which the Bragg angle (2θ±0.2°) in CuKα characteristic X-ray diffraction includes its own X-ray diffraction peak at 6.6° and 25.7°, and its tautomer.
ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が６．６°及び２５．７°に特徴的Ｘ線回折ピークを有する下記式（１）で表されるアゾ顔料、又はその互変異性体。 - 特許庁 - Cellulose I type crystallinity degree (%)=[(I_22.6-I_18.5)/I_22.6]×100 (1) [wherein I_22.6 represents the diffraction intensity of lattice plane (plane 002) (diffraction angle 2θ=22.6°) and I_18.5 represents the diffraction intensity of amorphous part (diffraction angle 2θ=18.5°) in X-ray diffraction].
セルロースＩ型結晶化度（％）＝〔（Ｉ_22.6−Ｉ_18.5）／Ｉ_22.6〕×１００ （１）〔Ｉ_22.6は、Ｘ線回折における格子面（００２面）（回折角２θ＝２２．６°）の回折強度、及びＩ_18.5は、アモルファス部（回折角２θ＝１８．５°）の回折強度を示す〕 - 特許庁 - An X-ray detector 20 detects separately a diffraction X-ray coming out of the first sample domain irradiated with a characteristic X-ray of Co and a diffraction X-ray coming out of the second sample domain irradiated with a characteristic X-ray of Cu, being of a position sensitive type at least in the Z-direction, for example, a two-dimensional CCD sensor capable of TDI operation.
Ｘ線検出器２０は，Ｃｏの特性Ｘ線が照射された第１試料領域から出てくる回折Ｘ線とＣｕの特性Ｘ線が照射された第２試料領域から出てくる回折Ｘ線とを分離して検出できるような，少なくともＺ方向に位置感応型のＸ線検出器であり，例えば，ＴＤＩ動作が可能な２次元ＣＣＤセンサである。 - 特許庁 - The copper conductor for the audio/video signal is formed so that an X-ray diffraction intensity I (111) of a (111) face and the X-ray diffraction intensity I (200) of a (200) face at irradiating the X-ray to the cross-section satisfies I (111)≥15×I (200).
オーディオ・ビデオ信号用銅導体は、横断面にＸ線を照射したときの（１１１）面のＸ線回折強度Ｉ（１１１）と（２００）面のＸ線回折強度Ｉ（２００）とがＩ（１１１）≧１５×Ｉ（２００）の関係を満たすように形成されている。 - 特許庁 - The obtained silicon oxide becomes noncrystalline SiO_x (x<1) which does not show a diffraction peak derived from metal silicon and silicon dioxide in X-ray diffraction measurement.
得られた珪素酸化物は、Ｘ線回折測定において金属珪素および二酸化珪素に由来する回折ピークを示さない、非結晶質のＳｉＯ_x（ｘ＜１）となる。 - 特許庁 - This polymorphic crystal exhibits strong diffraction peaks at 17.7, 18.9, 19.3, 20.2, 20.7, 21.3 and 25.5 degree at a diffraction angle (2θ±0.1) in a powder X-ray diffraction figure.
粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、１７．７、１８．９、１９．３、２０．２、２０．７、２１．３および２５．５度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁 - In other words, a diffraction peak can not be observed in a X-ray diffraction spectrum of the electric charge blocking layer 105, or a half width of the highest diffraction peak therein is ≥5 degrees.
または、電荷ブロッキング層１０５のＸ線回折スペクトルにおいて回折ピークが現れない、もしくはその中で最大となる回折ピークの半値幅が５°以上とする。 - 特許庁 - The anode material contains a carbonaceous material having a diffraction peak between 2θ diffraction angles of 30 to 32° in an X-ray (CuKα) powder diffraction pattern.
負極材料は、Ｘ線（ＣｕＫα）粉末回折パターンにおける２θ回折角３０度〜３２度の間に回折ピークを有する炭素質材料を含有する。 - 特許庁 - This polymorphic crystal exhibits strong diffraction peaks at 5.0, 16.1,18.8,19.1,20.7,21.1 and 23.9 degree at a diffraction angle (2θ±0.1 in a powder X-ray diffraction figure.
粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、５．０、１６．１、１８．８、１９．１、２０．７、２１．１および２３．９度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁 - To provide an apparatus where an x-ray diffraction and a computed tomography are combined, and to provide a method.
Ｘ線回折（ＸＲＤ）及びコンピュータトモグラフィ（ＣＴ）を組み合わせた装置及び方法に関する。 - 特許庁 - This magnesium omeprazole has a degree of crystallinity higher than 70% determined by X-ray powder diffraction.
Ｘ線粉末回折によって測定して７０％より高い結晶化度を有するオメプラゾールマグネシウム。 - 特許庁 - To perform X-ray diffraction measuring and thermal analytical measuring at the same time with respect to a plurality of samples.
複数の試料について，同時にＸ線回折測定と熱分析測定を実施できるようにする。 - 特許庁 - An X-ray diffraction pattern of the composite metal cyanide complex catalyst involved in this invention is represented by the figure.
本発明に係る複合金属シアン化物錯体触媒の例のＸ線回折パターンを図に示す。 - 特許庁 - A plurality of diffraction spots 34 of the monocrystal sample are recorded on a two-dimensional X-ray recording region.
２次元のＸ線記録領域上に単結晶試料の回折斑点３４を複数個記録する。 - 特許庁 - The X-ray detector 20 is a unidimensional position response type within the plane parallel to the diffraction plane.
Ｘ線検出器２０は、回折平面に平行な平面内において１次元の位置感応型である。 - 特許庁 - The X-ray diffraction measurement method for a water-containing crystal includes a process of encapsulating a crystal in a water-soluble polymer.
結晶を水溶性ポリマーで包み込む工程を含む含水結晶のＸ線回折測定方法。 - 特許庁 - In a powder X-ray diffraction pattern of the lithium composite metal oxide by powder X-ray diffractometry in the diffraction angle 2θ of 10° to 90° using CuKα as the source, a diffraction peak (diffraction peak A) is present in the diffraction angle 2θ of 20° to 23°.
ＣｕＫαを線源とし、かつ回折角２θの測定範囲を１０°以上９０°以下とする粉末Ｘ線回折測定により得られるリチウム複合金属酸化物の粉末Ｘ線回折図形において、２θが２０°以上２３°以下の範囲に回折ピーク（回折ピークＡ）を与えることを特徴とするリチウム複合金属酸化物。 - 特許庁 - The unnecessary diffraction X-ray included in the diffraction X-ray beam is removed by a pinhole 109, and only diffraction light 108 from the irradiation area of the Bessel beam on the sample 106 is made to get incident into a detector 110, so as to measure intensity thereof.
そして、回折Ｘ線ビームに含まれる不要な回折Ｘ線をピンホール１０９により除去して、試料１０６上のベッセルビームの照射領域からの回折光１０８のみを検出器１１０に入射させて強度測定を行なう。 - 特許庁 - The integrated intensity of the diffracted X-ray on the X-ray recording region is determined in a region inside the intensity calculation frame 26, and the result is used as the intensity of the diffraction spot 34.
強度算出枠２６の内側の領域で，Ｘ線記録領域上の回折Ｘ線の積分強度を求めて，これを回折斑点３４の強度とする。 - 特許庁 - A surface 24A of a test specimen 24 is irradiated with X-ray and a strain of the test specimen 24 is measured from a diffraction angle 2θ of the diffracted X-ray transmitting through the test specimen 24.
試験片２４の表面２４ＡにＸ線を照射し、試験片２４を透過した回折Ｘ線の回折角２θから試験片２４のひずみを測定する。 - 特許庁 - To calibrate the intensity of X-rays with high accuracy for a short time in quantitative analysis by an X-ray diffraction method using a monochromator.
モノクロメータを用いたＸ線回折法での定量分析において、短時間で高精度なＸ線強度の較正を実現する。 - 特許庁 - Further, the X-ray diffraction peak ratio between the ζ-phase and δ1 phase, (ζ/δ), is made to <0.2 or the area ratio of the ζ-phase in the surface layer is made to <10%.
また、ζ相とδ_1相のX線回折ピーク比率（ζ/δ）が0.2未満、あるいは表層のζ相面積率が10%未満である。 - 特許庁 - The crystal transformation index of the insulating layer, which is obtained from the diffraction intensity by an X-ray diffraction method, is at least a predetermined value, and preferably at least 0.6.
絶縁層のＸ線回折法の回折強度から求まる結晶変換指数が所定の値以上、好ましくは、０．６以上とする。 - 特許庁 - The powder X-ray diffraction diagram is measured by using an X'Celerator detector and a PANalytical X' Pert Pro diffracting device and the diagram is represented by items of ray position, ray height, ray range, ray width in half height and face-to-face dimension.
Ｘ’Ｃｅｌｅｒａｔｏｒ検出器とともにＰＡＮａｌｙｔｉｃａｌ Ｘ’Ｐｅｒｔ Ｐｒｏ回折装置を用いて測定され、光線位置、光線高、光線範囲、半分の高さにおける光線幅および面間距離の項目で表される。 - 特許庁 - Intensity (I) of a (200) plane obtained by X-ray diffraction of a rolled surface, after it is recrystallized through annealing satisfies I/I0<20, where (I0) is the intensity of the (200) plane obtained by X-ray diffraction of fine powder copper.
焼鈍を行って再結晶組織にした後の圧延面のＸ線回折で求めた（２００）面の強度（Ｉ）が、微粉末銅のＸ線回折で求めた（２００）面の強度（Ｉ_０）に対し、 Ｉ／Ｉ_０＜２０である。 - 特許庁 - To surely obtain an X-ray diffraction profile derived from a thin film formed on the surface of a base material having a periodic structure in which a crystal structure or a molecular structure is oriented in a specific direction, by the X-ray diffraction measurement.
Ｘ線回折測定により、結晶構造または分子構造が特定方向に配向した周期構造を有した基材表面に形成された薄膜由来のＸ線回折プロファイルを確実に得る。 - 特許庁 - A convenient technique capable of observing simultaneously the magnetostriction and the magnetization in the same area of the sample is provided, by combining newly a technique for measuring magnetostriction by an X-ray diffraction method and an X-ray magnetic diffraction method.
Ｘ線回折法による磁歪計測の手法とＸ線磁気回折法とを新たに組み合わせることで、磁歪と磁化とを試料の同領域について同時に観測できる便利な手法を開発した。 - 特許庁 - To improve the wavelength resolution of a characteristic X-ray used for analysis and the ratio of characteristic X-ray to background by using only a valid diffraction area of a dispersive crystal in an X-ray spectrometer using the curved dispersive crystal.
湾曲分光結晶を用いるＸ線分光器において、分光結晶の有効回折領域のみを使用するようにして、分析に用いる特性Ｘ線の波長分解能、特性Ｘ線対バックグランド比の向上を図る。 - 特許庁 - The X-ray imaging element 11 includes an X-ray conversion element 111 having a pattern equivalent to a diffraction grating formed of a material generating visible light by absorbing the X-ray, and an imaging element 112 for imaging the visible light.
Ｘ線撮像素子１１は、Ｘ線を吸収して可視光を発生する材料で形成された回折格子に相当するパターンを有するＸ線変換素子１１１と、可視光を撮像する撮像素子１１２とを含む。 - 特許庁 - An X-ray imaging unit 11 is placed in a position at an approximate Talbot distance L from a diffraction grating for Talbot and is a unit for imaging X-rays diffracted by the diffraction grating for Talbot.
Ｘ線撮像ユニット１１は、タルボ用回折格子から略タルボ距離Ｌ離れた位置に配置され、タルボ用回折格子によって回折されたＸ線を撮像するためのユニットである。 - 特許庁 - It is desirable that the crystallite diameter of the magnetite as measured by an X-ray diffraction method is 60-90 nm.
Ｘ線回折法で測定されたマグネタイトの結晶子径が６０〜９０ｎｍであることが好適である。 - 特許庁 - Further, the inspection method of the crystal axis in the screening step is one utilizing an X-ray diffraction phenomenon.
更に、選別工程における結晶軸の検査方法は、Ｘ線の回折現象を利用した方法とする。 - 特許庁 - METHOD OF FINDING EXPERIMENTALLY ELECTROSTATIC POTENTIAL BY MEM STRUCTURAL ANALYSIS OF X-RAY DIFFRACTION DATA OF CRYSTAL SUBSTANCE
結晶物質のＸ線回折データのＭＥＭ構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法 - 特許庁 - To provide an X-ray diffraction apparatus, capable of easily adjusting the crystal azimuth of a single-crystal sample with high accuracy.
単結晶試料の結晶方位を容易かつ高精度に調整可能なＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁 - In the copper alloy, the integrated intensity ratio I {200}/I{111} obtained by X-ray diffraction regarding a rolling face is ≤1.5.
圧延面についてのＸ線回折により求まる積分強度比Ｉ｛２００｝／Ｉ｛１１１｝が１.５以下である銅合金。 - 特許庁 - The crystalline form IV of a compound of formula (I) is characterized by its powder X-ray diffraction diagram.
その粉末Ｘ線回折図表により特徴付けられる、式（Ｉ）：で示される化合物の結晶形態IV。 - 特許庁 - To provide an apparatus capable of easily performing measurement of small angle scattering, X-ray diffraction, or reflectance by use of one apparatus.
一台の装置で、小角散乱、Ｘ線回折、反射率測定等を容易に行える装置を提供する。 - 特許庁 - (2) When a half-value width of a diffraction peak b in which a diffraction angle 2θ in powder X-ray diffraction measurement using CuKα_1 rays exists around 43.5° is FWHMb, an X-ray half-width value ratio XFab value stipulated in a formula (1) below is to be 1 or less.
（ロ）ＣｕＫα_１線を使用した粉末Ｘ線回折測定における回折角２θが４３．５°付近に存在する回折ピークｂの半価幅をＦＷＨＭｂとした時に、下記式（１）で規定されるＸ線半価幅比ＸＦａｂ値が１以下である。 - 特許庁 - A series of processes ranging over crystallization in a capillary, cryoprotectant processing and diffraction data collection by X-ray diffraction measurement is carried out using the capillary having a contraction area for preventing a crystal of a size suitable for the X-ray diffraction measurement from flowing out.
Ｘ線回折測定に適した大きさの結晶の流出を防止する絞り領域を有するキャピラリーを用いて、その内部で結晶化、クライオプロテクタント処理およびＸ線回折測定による回折データ収集までの一連の工程を行う。 - 特許庁 - The fiber-like porous silica particles has an X-ray diffraction peak at a diffraction angle of 0.5 to 5°(CuKα), the X-ray diffraction peak showing a regular arrangement structure of the pores, and has the maximum value of pore diameter distribution in the pore diameter range of ≥8 nm.
繊維状多孔質シリカ粒子であって、回折角０．５乃至５度（ＣｕＫα）に細孔の規則配列構造を示すＸ線回折ピークを有し且つ細孔径８ｎｍ以上に細孔径分布の極大を有する繊維状多孔質シリカ粒子とする。 - 特許庁 - This perylene hybrid pigment is characterized in that an X-ray diffraction pattern of the pigment obtained by including one or more metal atoms has the diffraction peaks at 6.2, 10.1 and 12.2 expressed in terms of 2θ (2θ±0.2) angles in the Cu-Kα characteristic X-ray diffraction.
１つ以上の金属原子を含有させて得られる顔料のＸ線回折パターンがＣｕ−Ｋα特性Ｘ線回折の２θ（２θ±０．２）角度で少なくとも６．２、１０．１、１２．２、に回折ピークを有することを特徴とするペリレン混成顔料。 - 特許庁
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