「X-Ray Diffraction」を含む例文一覧(997)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 19 20 次へ＞- Thus, titanyl phthalocyanine crystals having a peak at 27.2±0.2° in an X-ray diffraction diagram with Cu-Kα ray can be produced without using sulfuric acid or the like.
硫酸等を使用せずにＣｕ−Ｋα線によるＸ線回折図で２７．２±０．２°にピークをもつチタニルフタロシアニン結晶を製造できる。 - 特許庁 - To perform simultaneously X-ray diffraction measurement by a plurality of kinds of characteristic X-rays by irradiating a sample simultaneously with the plurality of kinds of characteristic X-rays.
複数種類の特性Ｘ線を同時に試料に照射して，複数種類の特性Ｘ線によるＸ線回折測定を同時に実施できるようにする。 - 特許庁 - Bragg diffraction of white and nonparallel X rays 21 generated from a main body 10 of an X-ray generator is conducted by the first crystal plate 31 to convert them into parallel X rays 40 and 41.
Ｘ線発生装置本体１０から発生した白色かつ非平行Ｘ線２１を、第1の結晶板３１でブラッグ回折させ、平行Ｘ線４０，４１にする。 - 特許庁 - That is to say, it is preferable if a diffraction peak can be obtained at diffraction angles 2θ within the range of 42° or more and 44° or less when the Si alloy powder is put under a powder X-ray diffraction measurement.
つまり、このＳｉ合金粉末について粉末Ｘ線回折測定を行うと、回折角度２θが４２°以上４４°以下の範囲内に回折ピークが得られることが好ましい。 - 特許庁 - The imaging device comprises an X-ray source 110, a diffraction grating 130 for diffracting X-rays emitted from the X-ray source 110, a shielding grating 150 for shielding a part of the X-rays diffracted by the diffraction grating 130 and a detector 170 for detecting intensity distribution of the X-rays having passed through the shielding grating 150.
撮像装置はＸ線源１１０とＸ線源１１０から出射したＸ線を回折する回折格子１３０と回折格子１３０によって回折されたＸ線の一部を遮る遮蔽格子１５０と遮蔽格子１５０を経たＸ線の強度分布を検出する検出器１７０とを有する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for stably supplying a phase diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer and an amplitude diffraction grating.
Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び振幅型回折格子を安定的に供給可能な製造方法を提供する。 - 特許庁 - Furthermore, the anode active material is capable of reaction with lithium, and has a reaction phase in which the half width of a diffraction peak obtained by X-ray diffraction is 1° or more.
また、負極活物質は、リチウムと反応可能であり、Ｘ線回折により得られる回折ピークの半値幅が１°以上である反応相を有する。 - 特許庁 - To provide an airtight sample holder for x-ray diffraction measurement which is a holder to be used for holding a measurement target sample in a measurement instrument in an airtight state in x-ray diffraction measurement and is capable of easily setting a sample and preventing occurrence of such a problem that diffraction from a portion such as an x-ray transmission window other than the sample may be detected.
Ｘ線回折測定において測定対象試料を気密状態で測定装置内に保持するために使用されるホルダーであって、試料のセットが容易で、かつＸ線透過窓等の試料以外の部分からの回折を検出する問題も生じさせないＸ線回折測定用気密試料ホルダーを提供する。 - 特許庁 - In the graphite sheet, the peak strength ratio (P100/002) of (100) diffraction peak to (002) diffraction peak and the peat strength ratio (P110/002) of (110) diffraction peak to (002) diffraction peak, both by X-ray diffraction method, are set at 10 or higher.
グラファイトシートにおいて、Ｘ線回折法による、（１００）回折ピーク及び（００２）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１００／００２）と、（１１０）回折ピーク及び（００２）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１１０／００２）とが１０以上に設定されている。 - 特許庁 - This X-ray diffraction measuring method is provided for measuring X-ray diffraction by transmitting incident X-rays through a sample 48 in a direction almost along a predetermined rotation axis Zs while rotating the sample 48 around the rotation axis Zs.
本発明のＸ線回折測定方法は、所定の回転軸線Ｚｓまわりに試料４８を回転させながらこの回転軸線Ｚｓに略沿った方向の入射Ｘ線を試料４８に透過させることにより、Ｘ線回折が測定される。 - 特許庁 - In the expression, I{420} represents an X-ray diffraction intensity of a crystal face {420} on the plate surface of the copper alloy plate material, and I_0{420} represents an X-ray diffraction intensity of the crystal face {420} of a standard powder of pure copper.
Ｉ｛４２０｝／Ｉ_0｛４２０｝＞１.０ ……（１） ここで、Ｉ｛４２０｝は当該銅合金板材の板面における｛４２０｝結晶面のＸ線回折強度、Ｉ_0｛４２０｝は純銅標準粉末の｛４２０｝結晶面のＸ線回折強度である。 - 特許庁 - The formula (1): orientation α=(180-Δβ)/180, provided that Δβ expresses a half width when the X-ray diffraction intensity distribution from 0 to 360° azimuth angle direction is measured by fixing a peak scattering angle in the X-ray diffraction measurement.
配向度α＝（１８０−Δβ）／１８０…（１）（但し、Δβは、Ｘ線回折測定によるピーク散乱角を固定して方位角方向の０〜３６０度までのＸ線回折強度分布を測定したときの半値幅を表す。） - 特許庁 - In the expression, β is an angle defined by an incident plane of the incident X-ray and one direction in a surface of the transparent support, and I is diffraction intensity at 2θ=8° in an X-ray diffraction chart measured at the angle β.
上記式中、βは、入射するＸ線の入射面と前記透明支持体面内のある１方向とのなす角度であり、Ｉは、角度βで測定したＸ線回折チャートにおける２θ＝８°での回折強度である。 - 特許庁 - That is, the crystal orientation property of the copper plated film 102 is controlled so that the rate of X-ray pattern diffraction strength I(111) of the (111) face of the copper plated film 102 to X-ray pattern diffraction strength I(220) of the (220) face of the copper plated film 102 can be set as I(220)/I(111)<0.2.
詳しくは、銅めっき膜１０２の（１１１）および（２２０）面のそれぞれのＸ線パターン回折強度Ｉ（１１１），Ｉ（２２０）の比が、Ｉ（２２０）／Ｉ（１１１）＜０．２となるように銅めっき膜１０２の結晶配向性を制御する。 - 特許庁 - An aqueous pigment dispersion contains a colorant, a dispersant and water, and is characterized in that the colorant is composed of an azo pigment represented by formula (1) or an azo pigment represented by formula (2) which has characteristic X-ray diffraction peaks at specific positions in CuKα characteristic X-ray diffraction.
ＣｕＫα特性Ｘ線回折における特定位置に特徴的Ｘ線回折ピークを有する、式（１）のアゾ顔料、又は式（２）のアゾ顔料を着色剤とした、分散剤、水を含む水系顔料分散物。 - 特許庁 - A calculator 19 detects a diffraction angle θ from an intensity distribution of the diffraction X-ray 5 measured by the detector 6, the diffraction angle when no influence of refraction of X-ray exists from the data of the angles α, θ is obtained, and an internal stress of the sample 3 is calculated base on the diffraction angle.
算出部１９は、Ｘ線検出器６で測定された回折Ｘ線５の強度分布から回折角度θを検出し、入射角度αと回折角度θのデータから、Ｘ線の屈折による影響がないときの回折角度を求め、それに基づいて試料３の内部応力を算出する。 - 特許庁 - The regenerated catalyst is subjected to an X-ray diffraction analysis and/or an X-ray photoelectron spectroscopic analysis of metal pieces to judge whether the regenerated catalyst is to be recovered.
得られた再生処理後の触媒について、金属種のＸ線回折分析及び／又はＸ線光電子分光分析を行い、触媒の回収の要否を判定する。 - 特許庁 - This catalyst for a fuel cell contains tungsten carbide for which a half-value width of the maximum diffraction peak in a region having a diffraction angle 2θ(±0.3°) of 40°-60° by an X-ray diffraction method (Cu-K_α ray) is not less than 0.80°.
Ｘ線回折法（Ｃｕ−Ｋ_α線）による回折角２θ（±０．３゜）が４０゜以上６０゜以下の領域における最大回折ピークの半値幅が、０．８０゜以上である炭化タングステンを含有する燃料電池用触媒。 - 特許庁 - To provide an X-ray diffraction quantifying device capable of performing extremely accurate calibration, by obtaining accurate diffraction, ray strength information from a base plate in a quantitation method by a base reference absorption diffraction method.
基底基準吸収回折法による定量法において基底板から正確な回折線強度情報を得ることを可能にすることにより、極めて正確な検量を行うことができるＸ線回折定量装置を提供する。 - 特許庁 - Crystals used in WDS spectrometers generally have curved rather than flat surfaces, thus increasing the efficiency of focusing the Bragg diffraction X-rays into the X-ray detector.
WDS分光器で使われる結晶は、一般的に平面というよりは湾曲していた(湾曲に作られてきた); その結果、X線検出器の中にブラッグ回折X線を集光する効率を増大させた。 - 科学技術論文動詞集 - It is preferable that the molding has a sheet shape and the intensity ratio, I_(002)/I_(110) of intensity I_(110) of a diffraction peak at a (110) plane of carbon to intensity I_(002) of a diffraction peak at a (002) plane in an X-ray diffraction chart obtained by irradiating X-ray in the thickness direction of the sheet, is ≤10.
成形体がシート状をなし、その厚み方向にＸ線を照射して得られる黒鉛粉末のＸ線回折図における炭素の（１１０）面の回折ピークの強度Ｉ_(110)に対する（００２）面の回折ピークの強度Ｉ_(002)の比Ｉ_(002)／Ｉ_(110)が１０以下であることが望ましい。 - 特許庁 - A positional change in intensity of a diffracted X-ray from the sample crystal 6 is detected via an X-ray image magnifying crystal 10 fixed within a diffraction angle range, using an optical system of an X-ray topograhpy arranged with the X-ray image magnifying crystal 10 in a rear stage of the sample crystal 6 of which the strain is measured.
ひずみを測定すべき試料結晶６の後段にＸ線像拡大用結晶１０を配置したＸ線トポグラフィの光学系を用いて、試料結晶６からの回折Ｘ線強度の場所的変化を、回折角度範囲に固定されたＸ線像拡大用結晶１０を介して検出する。 - 特許庁 - To provide an X-ray diffraction analyzing technique capable of simply acquiring the X-ray diffraction pattern equipped with the local structural data of a sample having a non-uniform crystal structure in a laboratory or on the spot by reducing the damping of intensity in a light path until the X-ray beam emitted from an X-ray tube arrives at a sample to the utmost.
Ｘ線管から出射されたＸ線ビームが試料に到達するまでの光路における強度の減衰を極力小さくすることにより、不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を、実験室や現場で短時間且つ簡単に取得することを可能とするＸ線回折分析技術を提供する。 - 特許庁 - This film has characteristics in that manganese nitride singly or manganese nitride and metallic manganese are identified by X-ray diffraction and that the film is used for a piston ring, a valve lifter, a compressor vane, etc.
この皮膜は,窒化マンガンあるいは窒化マンガンと金属マンガンがX線回折で同定され、ピストンリング、バルブリフタ、圧縮機のベーンなどに使用される。 - 特許庁 - To fix a sample with an arbitrary shape and thickness regardless of the shape and thickness of the sample in an X-ray diffraction device.
Ｘ線回折装置において、試料の形状や厚みに係わらず任意の形状や厚みの試料を固定する。 - 特許庁 - The integrated intensity of X-ray diffraction on a rolled surface of the copper alloy satisfy the relations (1): 30≤(I/I_0{220})/(I/I_0{200})≤95 and (2) 0.36≤2×(I/I_0{111})+(I/I_0{311})≤0.48.
（１）３０≦（Ｉ／Ｉ_0｛２２０｝）／（Ｉ／Ｉ_0｛２００｝）≦９５、（２）０．３６≦２×（Ｉ／Ｉ_0｛１１１｝）＋（Ｉ／Ｉ_0｛３１１｝）≦０．４８ - 特許庁 - The crystal of the L-psicose has angles of diffraction (2θ) of 15.2°, 18.8°, and 19.5° as main angles in powder X-ray diffractometry.
粉末Ｘ線回折法で主な回折角（２θ）として１５．２°、１８．８°および１９．５°を示すＬ−プシコースの結晶。 - 特許庁 - SINGLE CRYSTAL DIAMOND CUTTING TOOL, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER
単結晶ダイヤモンド切削刃具及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計用回折格子の製造方法 - 特許庁 - Orientational index = [34.56°/(31.88°+34.56°+36.36°)×100 (Each numerical value in the formula represents a strength at 2θ angle in X-ray diffraction).
配向性指数＝[34.56°／（31.88°＋34.56°＋36.36°）×１００…(１) （式中の各数値は、Ｘ線回折における２θ角の強度を表わす） - 特許庁 - The name of an element, characteristic X-ray type and diffraction order for state analysis are input to an input device 12.
入力装置１２から状態分析を行う元素の元素名、特性Ｘ線種及び回折次数を入力する。 - 特許庁 - Specifically, an optimum ageing condition is determined while a change of Ta-N coupling is observed by the X-ray diffraction method.
具体的には、Ｘ線回折法によりＴａーＮ結合の変化を観察しながら、最適なエージング条件を決める。 - 特許庁 - To provide a new X-ray photographing film capable of reliably photographing moire fringes without using a diffraction grating.
回折格子を用いることなくモアレ縞を確実に撮像することができる新たなＸ線撮像フイルムを提供する。 - 特許庁 - An intensity ratio [I(200)/I(111)] between crystal orientation faces (200) and (111) measured by X-ray diffraction of the nickel belt is set to ≥5.0.
ニッケルベルトのＸ線回折により測定される結晶配向面(200)と(111)の強度比〔Ｉ(200)/Ｉ(111)〕を５．０以上とする。 - 特許庁 - This invention relates to a crystal solid designated as IZM-1 which has a specific X-ray diffraction pattern.
本発明は、ＩＺＭ−１で指定された結晶固体であって、特定のＸ線回折図を有するものに関する。 - 特許庁 - The color filter has a colored layer, wherein the colored layer shows a diffraction peak of which the half-value width is ≥0.6° at a Bragg angle of 28±1° in an X-ray diffraction spectrum for a Cu-Kα ray.
着色層を有するカラーフィルタであって、該着色層が、Ｃｕ−Ｋα線に対するＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角２８±１°に、半値幅が０．６°以上の回折ピークを示すカラーフィルタ。 - 特許庁 - This active material for use in the second battery has β-FeOOH characterized in that in determination of X-ray diffraction using CuKα ray, a half width Y shows (211) plane diffraction peak of 0.2°<Y(2θ).
二次電池用活物質として、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折測定で、半値幅Ｙが０．２°＜Ｙ（２θ）の（２１１）面回折ピークを示すことを特徴とするβ—ＦｅＯＯＨを備える。 - 特許庁 - The X-ray diffraction device comprises: a casing 1 in which the samples are arranged; an X-ray irradiator 2 for radiating X-rays to the samples arranged in casing 1; an X-ray detector 3 for detecting the diffracted X-rays having transmitted through the samples; and the heater 4 that is arranged in the casing 1 and heats the samples arranged in this casing 1.
試料が配置されるケーシング1と、ケーシング1内に配置された試料にＸ線を照射するＸ線照射器2と、試料を透過した回折Ｘ線を検出するＸ線検出器3と、ケーシング1内に配置され、このケーシング1内に配置された試料を加熱するヒータ4とを備える。 - 特許庁 - When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane and a diffraction peak other than the diffraction peak corresponding to the (111) crystal plane are observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.
表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した回折ピークと、（１１１）結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察される。 - 特許庁 - There is provided the crystal of a hydrate of 3-(2-cyanophenyl)-5-(2-pyridyl)-1-phenyl-1,2-dihydropyridin-2-one, which shows a diffraction peak at a diffraction angle (2θ±0.2°) of 8.7° in a powder X-ray diffraction.
粉末Ｘ線回折において、回折角度（２θ±０．２°）８．７°に回折ピークを有する、３−（２−シアノフェニル）−５−（２−ピリジル）−１−フェニル−１，２−ジヒドロピリジン−２−オンの水和物の結晶。 - 特許庁 - To improve the measurement accuracy of the amount of adhesion of a metallic phase by improving X-ray diffraction intensity from the metallic phase contained in a plated layer in a method for measuring the amount of adhesion of the metallic phase contained in the plated layer using the X-ray diffraction method.
Ｘ線回折法を用いた、めっき層に含まれる金属相の付着量を測定する方法において、めっき層に含まれる金属相からの回折Ｘ線強度を高め、金属相の付着量の測定精度を向上させる。 - 特許庁 - The ceramic sintered compact has a perovskite structure, wherein a (002)/(200) ratio by X-ray diffraction after polarization is applied is ≥1.0 and a half-value width of (002) by X-ray diffraction after polarization is applied is ≥1.2.
ペロブスカイト型構造を有するセラミックス焼結体であって、分極を施した後のＸ線回折による（００２）／（２００）比が１．０以上であり、又分極を施した後のＸ線回折による（００２）の半値幅が１．２以上である焼結体。 - 特許庁 - The transition metal composite oxide has a maximum diffraction peak by a X-ray diffraction using CuKα-ray in 10°<2θ<20° as a single peak and does not have a peak with intensity of not less than 1/10 of the maximum diffraction peak in 20°<2θ<25°.
遷移金属複合酸化物は、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折での最大回折ピークが１０°＜２θ＜２０°に単一ピークとして存在し、且つ２０°＜２θ＜２５°に最大回折ピークの１／１０以上の強度のピークが存在しない。 - 特許庁 - The sample rotating mechanism is made up so as to rotate a sample held on the sample mount section 3 around an axis of rotation which intersects a prescribed axis ω in the X-ray diffraction system where an X-ray source and an X-ray detector are rotated on the axis ω.
試料回転機構は、所定のω軸を中心にＸ線源およびＸ線検出器が回転するＸ線回折装置に対し、当該ω軸と交差する回転軸を中心として、試料マウント部３に保持された試料を回転させる構成である。 - 特許庁 - A fiber formed product has a crystallization peak in the vicinity of an angle (2θ) of diffraction of 6-10° as a result of analysis by X-ray diffraction method and the formed product is composed of a crystallized single-wall carbon nanotube.
Ｘ線回折法による解析結果、回折角２θ＝６〜１０°付近に結晶化ピークを有する、結晶化した単層カーボンナノチューブからなる繊維成型体。 - 特許庁 - An example of a graph of diffraction intensity by an X-ray diffraction method of the obtained ITO film (as shown), and a strong peak corresponding to the (400) plane of ITO is observed.
選択図には得られたＩＴＯ膜のＸ線回折法による回折強度のグラフの一例を示し、ＩＴＯの（４００）面に対応する強いピークが観測されている。 - 特許庁 - (Step 1) A X-ray diffraction pattern of a titanium surface is measured in an condition that an X-ray incident angle is maintained at a low angle of two degree or less, which is in an initial state before maintaining it in an atmospheric environment.
（ステップ１）Ｘ線入射角度を２度以下の低角度に保った条件で大気環境中保持前である初期状態のチタン表面のＸ線回折図形の測定を行う。 - 特許庁 - By selecting the solar slit 12 and the collimator and selecting the function of the X-ray detector 21, X-ray diffraction and measurement can be performed under a proper condition regardless of the size of a crystal grain.
ソーラスリット１２とコリメータとを選択し、Ｘ線検出装置２１の機能を選択することにより、結晶粒の大小に拘わらず適正な条件でＸ線回折測定を行うことができる。 - 特許庁 - To provide an X-ray analyzing method for accurately obtaining X-ray diffraction data even from a contaminated destructed surface to enable the judgment of a destruction cause and an apparatus adapted thereto.
汚染された破壊面からでもＸ線回折情報を精度良く得ることにより、破壊原因の判定を可能にするＸ線解析方法及びその装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - The optional portion of the sample held by the transmission type sample holder or the reflection type sample holder can be arranged on the X-ray irradiation position of the X-ray diffraction apparatus by a driving force of the driving motor.
駆動モータの駆動力により、透過型試料ホルダまたは反射型試料ホルダに保持された試料の任意の部位をＸ線回折装置のＸ線照射位置へ配置することができる。 - 特許庁 - Preferably, the Ti-MWW layered precursor is one giving an X-ray diffraction pattern having values below and having a composition represented by general formula: xTiO_2-(1-x)SiO_2 (wherein x is a numerical value of 0.0001-0.1).
該Ｔｉ-ＭＷＷ層状前駆体としては、下記に示す値のＸ線回折パターンを有し、かつ一般式ｘTiO2・(1−x)SiO2（式中ｘは0.0001〜0.1の数値を表す。）で表される組成を有するものであることが好ましい。 - 特許庁
- 特許庁
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