「atomic method」を含む例文一覧(635)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 次へ＞- MICROFABRICATION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁 - ATOM INTERFEROMETER AND ATOMIC INTERFERENCE MEASURING METHOD
原子干渉計および原子干渉測定方法 - 特許庁 - AUTOSAMPLER, ATOMIC ABSORPTION PHOTOMETER, AND PRETREATMENT METHOD
オートサンプラ，原子吸光光度計、および前処理方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR HIGH SPEED ATOMIC LAYER DEPOSITION
高速原子層めっきのための方法及び装置 - 特許庁 - The apparatus 200 for forming atomic layer deposition film forms an atomic layer deposition film on a base body according to an atomic layer deposition method.
原子層堆積法によって基体上に原子層堆積膜を形成する原子層堆積膜の形成装置２００である。 - 特許庁 - INSPECTING METHOD AND SYSTEM FOR ATOMIC NUCLEAR FUEL ROD
原子核燃料棒の検査方法及び検査システム - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR HYDROGEN GENERATION USING ATOMIC REACTOR
原子炉を利用した水素発生システム及び方法 - 特許庁 - ATOMIC OSCILLATOR AND METHOD OF STABILIZING FREQUENCY THEREOF
原子発振器およびその周波数安定化方法 - 特許庁 - FLAMELESS ATOMIC ABSORPTION SPECTROMETRY AND ALUMINUM ANALYSIS METHOD
フレームレス原子吸光法によるアルミニウムの分析方法 - 特許庁 - REPAIRING METHOD, WELDING METHOD FOR REPAIR, AND WELDING METHOD FOR REPAIR OF ATOMIC POWER PLANT
補修法と補修溶接法及び原子力プラントの補修溶接法 - 特許庁 - ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE AND MICROPROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡微細加工装置及び原子間力顕微鏡を用いた微細加工方法 - 特許庁 - CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING INTERATOMIC FORCE
原子間力顕微鏡用のカンチレバー、原子間力顕微鏡、および、原子間力の測定方法 - 特許庁 - METHOD OF FORMING THIN FILM USING ATOMIC-LAYER VACUUM DEPOSITION
原子層蒸着法を用いた薄膜形成方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR COOLING NEUTRAL ATOMIC GAS
中性原子気体の冷却方法および冷却装置 - 特許庁 - OXIDATION TREATMENT METHOD OF ALUMINUM-BASED METAL ATOMIC ENERGY WASTE
アルミニウム系金属原子力廃棄物の酸化処理法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR FORMING MATERIAL LAYER FROM ATOMIC GAS
原子ガスから材料層を形成する方法と装置 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING GAS CELL, GAS CELL, AND RUBIDIUM ATOMIC OSCILLATOR
ガスセルの製造方法、ガスセル及びルビジウム原子発振器 - 特許庁 - METHOD OF ADSORPTION REMOVAL OF ATOMIC HYDROGEN AND APPARATUS THEREFOR
原子状水素吸着除去方法およびその装置 - 特許庁 - To provide a high-k silicate atomic layer deposition method in ALD.
高-ｋケイ酸塩原子層堆積法を提供する。 - 特許庁 - METHOD OF FORMING TANTALUM OXIDE FILM UTILIZING PLASMA ATOMIC LAYER DEPOSITION METHOD
プラズマ原子層蒸着法を利用したタンタル酸化膜形成方法 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING BARRIER METAL FILM UTILIZING ATOMIC LAYER DEPOSITION METHOD
原子層蒸着方法を利用した障壁金属膜の製造方法 - 特許庁 - FILM FORMING METHOD USING ATOMIC LAYER DEPOSITION METHOD AND ITS FILM FORMING DEVICE
原子層成長法を用いた成膜方法及びその成膜装置 - 特許庁 - MATERIAL COATED WITH METAL SINGLE ATOMIC LAYER AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
金属単原子層被覆材料及びその製造方法 - 特許庁 - FLAME TYPE ATOMIC ABSORPTION PHOTOMETER AND FAULT INSPECTION METHOD THEREOF, AND FLAME TYPE ATOMIC ABSORPTION SPECTROSCOPY METHOD
フレーム式原子吸光光度計、フレーム式原子吸光光度計の故障点検方法及びフレーム式原子吸光分析方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING ATOMIC EXCITATION BEHAVIOR AND STORAGE MEDIUM
原子励起挙動解析装置、方法及び記憶媒体 - 特許庁 - VERTICAL SECTION MACHINING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡を用いた垂直断面加工方法 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPIC INSPECTION
原子間力顕微鏡検査用のプローブを製造する方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD FOR CLUSTER SIZE OF WATER BY INTER ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間顕微鏡による水のクラスタ—サイズ測定方法 - 特許庁 - METHOD FOR MODIFYING PHOTOMASK USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡を使用したフォトマスク修正方法 - 特許庁 - DUAL CHIP ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE AND MANUFACTURING METHOD FOR IT
デュアルチップ原子間力顕微鏡プローブとその製造方法 - 特許庁 - ATOMIC LAYER VAPOR DEPOSITION APPARATUS UTILIZING NEUTRAL BEAM AND ATOMIC LAYER VAPOR DEPOSITION METHOD UTILIZING THE APPARATUS
中性ビームを利用した原子層蒸着装置及びこの装置を利用した原子層蒸着方法 - 特許庁 - METHOD OF DEPOSITING SILICON DIOXIDE LAYER ON SUBSTRATE BY ATOMIC LAYER DEPOSITION METHOD
原子層堆積法によって基板に二酸化シリコン層を堆積する方法 - 特許庁 - ATOMIC OSCILLATOR, METHOD OF CONTROLLING TEMPERATURE THEREOF, PASSIVE ATOMIC OSCILLATOR, AND METHOD OF CONTROLLING TEMPERATURE THEREOF
原子発振器、受動形原子発振器、原子発振器の温度制御方法及び受動形原子発振器の温度制御方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR FORMING SAMPLE BY QUANTUM EFFECT ATOMIC SEPARATION
量子効果原子剥離による試料作成方法及び装置 - 特許庁 - WORKING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE FINE WORKING DEVICE
原子間力顕微鏡微細加工装置を用いた加工方法 - 特許庁 - FURNACE-TYPE ATOMIC ABSORPTION SPECTROPHOTOMETER AND ITS ADJUSTING METHOD
ファーネス式原子吸光分光光度計及びその調整方法 - 特許庁 - WORKING DEVICE AND WORKING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡を用いた加工装置及び加工方法 - 特許庁 - To provide an atomic oscillator which implements satisfactory characteristics and a method of manufacturing the atomic oscillator.
優れた特性を発揮することのできる原子発振器および原子発振器の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - SUBMERGED CELL, ATOMIC FORCE MICROSCOPE HAVING THE SAME AND MEASURING METHOD USING THE ATOMIC FORCE MICROSCOPE
液中セルと該液中セルを有する原子間力顕微鏡、及び該原子間力顕微鏡による測定方法 - 特許庁 - To provide a method of removal of atomic hydrogen in which any atomic hydrogen can be removed and an apparatus therefor.
原子状水素を除去することができる原子状水素除去方法およびその装置を提供する。 - 特許庁 - TUNING FORK TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE, ITS ADJUSTING METHOD AND ITS MANUFACTURING METHOD
音叉型原子間力顕微鏡プローブ、その調整方法及び製造方法 - 特許庁 - MAGNETIC SENSING METHOD, ATOMIC MAGNETOMETRIC SENSOR, AND MAGNETIC RESONANCE IMAGING APPARATUS
磁気センシング方法、原子磁気センサ、及び磁気共鳴イメージング装置 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF RUBIDIUM LAMP, THE RUBIDIUM LAMP AND RUBIDIUM ATOMIC OSCILLATOR
ルビジウムランプの製造方法、ルビジウムランプ及びルビジウム原子発振器 - 特許庁 - ATOMIC ABSORPTION ANALYSIS METHOD AND APPARATUS OF SUSPENDED PARTICLES IN AIR
気体中の浮遊粒子の原子吸光分析方法および装置 - 特許庁 - REDUCTIVE NITROGEN COMPOUND INJECTING OPERATION METHOD FOR ATOMIC POWER PLANT
原子力プラントの還元性窒素化合物注入運転方法 - 特許庁 - SAMPLE MEASURING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASURING SYSTEM THEREFOR
原子間力顕微鏡を用いた試料測定方法およびシステム - 特許庁 - STRESS CORROSION CRACK PREVENTION METHOD FOR ATOMIC REACTOR-INSIDE PIPING WELDED PART
原子炉内部配管溶接部の応力腐食割れ防止方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR USING SOLUTION BASED PRECURSORS FOR ATOMIC LAYER DEPOSITION
原子層堆積に溶液系前駆体を用いる方法及び装置 - 特許庁 - An atomic layer deposition method for depositing an oxide thin film is provided.
酸化物薄膜を堆積する原子層堆積法が提供される。 - 特許庁 - METHOD FOR RECONSTITUTING THREE-DIMENSIONAL ATOMIC ARRANGEMENT FROM ELECTRONIC HOLOGRAM
電子ホログラムから立体的な原子配列を再構成する方法 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
