「diffraction」を含む例文一覧(7687)
＜前へ 1 2 .... 126 127 128 129 130 131 132 133 134 .... 153 154 次へ＞- To provide a method of manufacturing an organic electroluminescence light emitting device, capable of improving the reliability of an organic electroluminescent device by arranging a diffraction grating in the vicinity of an organic light emitting layer only by adhesion without causing any damage to the element.
素子に何らのダメージを与えることなく、接着のみで回折格子を有機発光層の近傍に配置して、有機エレクトロルミネッセンス素子の信頼性を向上することができる有機エレクトロルミネッセンス発光装置の製造方法の提供。 - 特許庁 - To provide a linear encoder, a linear motor, a linear motor system, a main scale and a method for manufacturing the linear encoder which can detect an absolute position improved in detection accuracy by utilizing diffraction interference light, and can facilitate designing, development, manufacturing or the like.
回折干渉光を利用して検出精度を向上させた絶対位置の検出を可能とし、設計・開発・製造等を容易にすることができるリニアエンコーダ、リニアモータ、リニアモータシステム、メインスケール及びリニアエンコーダの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - Only when an inclination angle of a diffraction grating plate and a wavelength of the interference light satisfy a prescribed relationship, the interference light between the target light and the reference light is incident into an imaging camera 28 to form an interference fringe image on an imaging device 29.
被検光と参照光との干渉光は、回折格子板の傾斜角度と干渉光の波長とが所定の関係を満たす場合のみ撮像カメラ２８内に入射し、撮像素子２９上に干渉縞画像が形成される。 - 特許庁 - The film thickness measuring device 1 is equipped with xenon flash tube 11a and 11b radiating incandescent light for irradiating to measured film F, spectrometers 14a and 14b breaking reflected light of incandescent light into spectrum by diffraction to acquire reflective spectrum, and an operation section 15.
膜厚測定装置１は、被測定フィルムＦに照射する白色光を発光するキセノンフラッシュランプ１１ａ，１１ｂと、白色光の反射光を分光して反射分光スペクトルを得る分光器１４ａ，１４ｂと、演算部１５とを備える。 - 特許庁 - To obtain a diffraction element which is small-sized and superior in mass-productivity and durability, can output two or more separated light beams in the same direction, and does not change the propagation direction of diffracted light large even in the case of variation in operation environmental temperature.
回折素子であって、小型で量産性、耐久性に優れ、また２つ以上の分離光を同一方向に取り出すことができ、さらに動作環境温度の変化に対しても回折光の伝播方向を大きく変えない回折素子を得る。 - 特許庁 - A hologram 16 for a signal is formed on one of surfaces of a rectangular body of an optical member 13, and a diffraction grating 17 is formed on a surface facing the surface, of the surfaces of the rectangular body of the optical member 13, with the hologram 16 for a signal formed thereon.
信号用ホログラム１６は、光学部材１３の長方体の面の中の１面に形成され、回折格子１７は、光学部材１３の長方体の面のうち、信号用ホログラム１６が形成される面に対向する面に形成される。 - 特許庁 - The SiC formed material is formed by a CVD method and has crystallite diameters of 36 to 54 nm, measured by X-ray diffraction, half- value width of (111) face in the range of 0.155 to 0.224° and a electrical resistivity of 1 to 106 Ωm.
ＣＶＤ法により形成され、Ｘ線回折によって測定した結晶子径が３６〜５４nmであって、（１１１）面の半価幅が０．１５５〜０．２２４°の範囲にあり、電気抵抗率が１〜１０^6 Ωm であることを特徴とするＳｉＣ成形体。 - 特許庁 - To provide an optical reproducing device to obtain a reproduced image having a high SNR by reducing noise caused in a reproduction process when a holograph reproducing method for obtaining a reproduced image by applying a DC component to diffraction light is implemented in a collinear manner.
回折光に直流成分を付与して再生像を得るホログラム再生方法をコリニア方式で実施する場合に、再生過程で発生するノイズを低減して、ＳＮＲの高い再生像を得ることができる光再生装置を提供する。 - 特許庁 - A diffraction structure 10 having a cycle-structure is provided at one of the pair of the electrode 2, 3, and the form of the cycle-structure for any given place has nearly the same cycle with rays emitted to all directions from the light-emitting layer 4.
一対の電極２、３の一方に、周期構造を有する回折構造体１０が設けられ、任意の場所での前記周期構造の形状は、発光層４から発せられるほぼ全ての方向の光線に対して略同一の周期を有する。 - 特許庁 - This dull polyester-based yarn contains 0.1-5.0 wt.% of a monocarboxylic acid metal salt compound having 4-30 constitutent carbon atoms and has ≥80% degree of orientation measured by X-ray diffraction and 1.320-1.365 g/cm3 density.
構成炭素数４〜３０のモノカルボン酸金属塩化合物を０．１〜５．０重量％含み、Ｘ線回折によって測定された配向度が８０％以上、密度が１．３２０〜１．３６５ｇ／ｃｍ^3の範囲である、艶消しポリエステル系繊維。 - 特許庁 - The diffraction grating 30 that a change of its thickness imparting a phase difference to the beam transmitting through is distributed two- dimensionally diffracts the inputted beam to branch it to plural diffracted beams going in the directions different from each other on the same plane each other.
回折格子３０は、透過する光に対し位相差を与える厚みの変化が２次元的に分布しており、入力した光を回折させ、互いに同一平面上であって互いに異なる方向に進む複数の回折光に分岐する。 - 特許庁 - To solve the problem that in an optical fiber sensor forming FBG (optical fiber Bragg diffraction grating), breakage strength lowers as compared with a normal coated optical fiber, is weak to impact, and a sensing range of a physical amount is difficult to widen.
ＦＢＧ（光ファイバブラッグ回折格子）を形成した光ファイバセンサは、破断強度が通常の光ファイバ素線に比べて低下し、衝撃に対しても弱くなっており、物理量の検知範囲を広くするのが難しいのでこの問題を解決する。 - 特許庁 - The diffraction device has a grating structure with at least two kinds of gratings superposed, and at least one kind of grating in the gratings has a micro periodic structure smaller than the wavelength for use on the whole incident face for light.
少なくとも２種類の格子部を重ね合わされた格子構造を持ち、該格子部の少なくとも１種類の格子部がその光入射面の全てにおいて使用波長より小さな微細周期構造を有していることを特徴としている。 - 特許庁 - Then an uncured first optical material resin is charged between the second lens member and a formation region of the diffraction grating form and further the first lens member and the second lens member are stuck to each other by curing the first optical material resin.
そして、回折格子形状の形成領域と第２レンズ部材との間に未硬化の第１光学材料樹脂を充填するとともに、該第１光学材料樹脂を硬化させて第１レンズ部材および第２レンズ部材を貼り合わせる。 - 特許庁 - The filter with a wavelength monitor comprises: a Mach-Zehnder interferometer (MZI) having two inputs and two outputs; and two arrayed waveguide diffraction gratings (AWG) connected to the two outputs of the MZI.
本発明の一実施形態による波長監視付きフィルタは、２つの入力と２つの出力を有するマッハツェンダー干渉計（ＭＺＩ）と、前記２つの出力に接続された２つのアレイ導波路回折格子（ＡＷＧ）とから構成される。 - 特許庁 - As an optical intensity control means, a variation on optical intensity in the 0th diffracted light of an acousto-optical element (AOM) is controlled by controlling diffraction efficiency using the AOM, and further, the 0th diffracted light is shaped by a spatial frequency filter.
光強度制御手段としては、音響光学素子（ＡＯＭ）を用いて回折効率を制御することでＡＯＭの０次回折光における光強度変化量を制御し、さらに０次回折光を空間周波数フィルタで整形する。 - 特許庁 - The powder X-ray diffraction diagram is measured by using an X'Celerator detector and a PANalytical X' Pert Pro diffracting device and the diagram is represented by items of ray position, ray height, ray range, ray width in half height and face-to-face dimension.
Ｘ’Ｃｅｌｅｒａｔｏｒ検出器とともにＰＡＮａｌｙｔｉｃａｌ Ｘ’Ｐｅｒｔ Ｐｒｏ回折装置を用いて測定され、光線位置、光線高、光線範囲、半分の高さにおける光線幅および面間距離の項目で表される。 - 特許庁 - Such a substrate having an uneven shape is used that the polarity does not become at least reverse when the reflectance is changed by the distance effect and the diffraction effect of the reflected light from the uneven part in a state that the near field light is propagated.
近接場光が伝播している状態で、距離効果による反射率変化と凹凸からの反射光の回折効果による反射率変化の極性が少なくとも逆極性にならない凹凸形状を有する基板を使用する。 - 特許庁 - At the time of reproducing a CD-ROM, a diffraction element 2 divides the light emitted from a light source 1 being a semiconductor laser into three beams, a beam splitter 3 further branches the beams, and the branched beams are focused on an optical disk 7 through the objective lenses 5.
ＣＤ−ＲＯＭの再生時には、半導体レーザである光源１から出射された光を回折素子２により３ビームに分割し、さらにビームスプリッタ３により分岐して、対物レンズ５を通して光ディスク７へ集光する。 - 特許庁 - To provide a hologram master plate with which a hologram with good color reproducibility can easily be duplicated without variance or irregularity in diffraction efficiency and diffracting direction by colors when a hologram is duplicated by a hologram duplicating method to hologram photosensitive materials differing in R, G, and B sensitivity, and its manufacturing method.
ＲＧＢで感度の異なるホログラム感光材料にホログラム複製法により複製する場合に各色で回折効率、回折方向のバラツキ、ムラがなく色再現性の良いホログラムを容易に複製可能なホログラム原版とその作製方法。 - 特許庁 - The hologram element 17 has a plurality of diffraction regions and the light receiving elements (18 to 23) are arranged along an extension line connecting light outgoing positions of the two first and second semiconductor lasers (11, 14) while being separated from the lasers (11, 14) to both sides of the lasers.
ホログラム素子１７は複数の回折領域を有し、受光素子（１８〜２３）は、第１，第２の半導体レーザ（１１，１４）と離間して両側に、２つの半導体レーザ（１１，１４）の光出射位置を結ぶ延長線に沿って配列されている。 - 特許庁 - A diffraction X-ray pattern is accurately read since an incident X-ray 2 serving as a reference is recorded in the position sensitive X-ray detector, by thinning a film thickness of the measured sample to measure the diffracted X-ray by the transmission X-ray.
測定試料の膜厚を薄くして透過Ｘ線で回折Ｘ線を測定することにより、基準となる入射Ｘ線２も位置感応型Ｘ線検出器に記録されるため、回折Ｘ線パターンを正確に読み取ることができる。 - 特許庁 - Next, the transmissive diffraction element 105 is moved outside the light path, and measuring the interference fringe is repeated by varying the distance between a pin hole PH and the tested surface 108a to obtain the orbicular data (partial profile) for all surface of the tested surface 108a.
次に、透過型回折素子１０５を光路外に移動させて、ピンホールＰＨと被検面１０８ａとの距離を変化させて干渉縞を計測することを繰り返し、被検面１０８ａ全面について輪帯データ（部分プロフィル）を取得する。 - 特許庁 - A second area 502b is equivalent to NA 0.45-0.65 of the HD, DVD systems 117, 127 from the CD system, divides the first light flux into the ones for transmission and diffraction, diffracts the second light flux, does not condense the third light flux to the CD system.
２番目の領域５０２ｂは、ＣＤ系からＨＤ，ＤＶＤ系１１７，１２７のＮＡ０．４５〜０．６５に相当し、第１の光束を透過と回折するものに分け、第２の光束は回折、第３の光束はＣＤ系に集光させず。 - 特許庁 - This optical head apparatus is constituted so that temperature compensation is performed by forming the diffraction element at only the outer circumferential part of the objective lens, an optical disk for CD is used with smaller magnification than that the third order spherical aberration is made 0 and residual aberration is compensated by phase level difference.
回折素子を対物レンズ外周部のみに形成することにより温度補償を行い、ＣＤ用光ディスクは３次球面収差を０にするよりも小さい倍率で使用し、残存収差を位相段差で補正するように構成する。 - 特許庁 - A spatial light modulator 2 modulates light of a light source 1 according to a recording signal, a diffraction grating 3 generates a plurality of diffracted lights of different orders from the light modulated by the spatial light modulator, and the diffracted lights are recorded on a hologram recording medium 4.
空間光変調器２が光源１の光を記録信号で変調し、回折格子３が空間光変調器により変調された光から、次数が異なる複数の回折光を発生させてホログラム記録媒体４に記録する。 - 特許庁 - Since distributions of light intensity in the main beam and the sub beams when making incident on the object lens 6 differ by the operation of the diffraction optical element 3, zero cross points of the focus error signals in the main beam and the sub beams are deviated when the deviation in substrate thickness exists in the disk 7.
回折光学素子３の作用により、メインビームとサブビームでは対物レンズ６に入射する際の光強度分布が異なるため、ディスク７に基板厚ずれがある場合、メインビームとサブビームではフォーカス誤差信号のゼロクロス点がずれる。 - 特許庁 - The raw-material coal composition includes the volatile matter of 6.0 to 15 mass% and shows an average interlayer distance d_002 of the plumbago crystal obtained through the X-ray diffraction is 0.3445 nm or less.
揮発分が６．０〜１５質量％であり、かつＸ線回折によって求められる黒鉛結晶の平均層間距離ｄ_００２が０．３４４５ｎｍ以下であることを特徴とする、電気二重層キャパシタの電極用炭素材の原料炭組成物。 - 特許庁 - When calculating the excitation amplitude, the electromagnetic amplitude of the convergence rays of light is corrected based on the projection of electric field components vertical to the light beam of the convergence rays of light on a wave source face, and the calculation formula of Fraunhofer diffraction is calculated, based on the corrected electric field amplitude.
励振振幅の算出にあたって、集束光の光線に垂直な電界成分の波源面への投射に基づき集束光の電界振幅を補正し、補正した電界振幅に基づきフラウンホーファー回折の算出式を計算する。 - 特許庁 - The iron phosphate lithium has a particle size distribution, which measured with laser diffraction/dispersion method is a normal distribution mathematically, a median of the above particle size distribution of 5.3 μm or less, and the particle diameter from the minimum particle diameter to 10%, of 2.2 μm or less.
鉄リン酸リチウムは、レーザ回折・散乱方式により測定した粒度分布が、数学的に正規分布であり、前記粒度分布の中央値が５．３μｍ以下であり、かつ、最小粒径から１０％までの粒子粒径が２．２μｍ以下である。 - 特許庁 - To provide an optical recording medium, which utilizes a new organic thin film (a monomolecular film) having an order structure of nano meter size and with which recording is reproduced by a recording density unrealizable with the conventional optical disk and surpassing the diffraction limit of a pickup lens.
ナノメータサイズの秩序構造を持つ新規な有機薄膜（単分子膜）を利用した、従来の光ディスクでは実現不可能な、ピックアップレンズの回折限界を超えた記録密度で記録再生可能な光記録媒体とその製造方法の提供。 - 特許庁 - After the gold thin film 21 of about 0.2 μm in film thickness is formed by vacuum deposition on a grating surface of a master diffraction grating 12, a first aluminum thin film 22 of about 0.01 μm in film thickness is formed by vacuum deposition on the gold thin film 21.
マスター回折格子１２の格子面に、膜厚が０．２μｍ程度の金薄膜２１を真空蒸着によって形成した後、金薄膜２１の上に真空蒸着によって膜厚が０．０１μｍ程度の第１アルミニウム薄膜２２を形成する。 - 特許庁 - Thereby, since an assembling position can be adjusted so as to be perpendicular to a radius direction of the optical recording medium 32 making visible one side of the substrate as a guiding index, adjustment of the assembling position of the diffraction grating 8 is extremely easily performed.
このことによって、目視可能な基板の一辺を案内指標として、光記録媒体３２の半径方向に垂直になるように組立位置を調整することができるので、回折格子８の組立位置調整が極めて容易になる。 - 特許庁 - The particles of the seed crystal are obtained by pulverizing unpulverized metal compound particles and have a half-width (H) of a main peak in a range in which 2θ is ≥45 and ≤70° of ≥1.06 times of the half-width (Ho) measured before being pulverized, in an X-ray diffraction spectrum.
種晶粒子：未粉砕の金属化合物粒子を粉砕して得られ、Ｘ線回折スペクトルにおける４５°≦２θ≦７０°の範囲のメインピークの半値幅(Ｈ)が粉砕前の半価幅(Ｈ_0)に対して１．０６倍以上である種晶粒子 - 特許庁 - A line sensor 6 detects the component of a P-polarization beam to the surface of the substrate 1 to be inspected in reflection light, scattered light, and diffraction light in the optical axis, where a light reception angle β1 is an acute angle and a difference angle from the beam is less than 30°.
ラインセンサ６は、受光角β１が鋭角で、かつ、前記ビームとの差角が３０°以内となる光軸にて、反射光、散乱光、および回折光中の被検査基板１の表面に対してＰ偏光の成分を検出する。 - 特許庁 - This manufacturing method of a semiconductor element includes processes of: forming an optical guide layer on a substrate; forming a cap layer on the optical guide layer; and forming openings in partial parts of the optical guide layer and the cap layer to form a diffraction grating from the part of the optical guide layer.
基板上に光ガイド層を形成する工程と、該光ガイド層上にキャップ層を形成する工程と、該光ガイド層の一部が該回折格子を形成するように該光ガイド層と該キャップ層の一部に開口部を形成する工程とを備える。 - 特許庁 - To reduce with superior reproducibility in-plane uniformity of a TaN film to be used as a barrier layer of a semiconductor element by a method wherein the peak intensity in a specified direction measured by an X rays diffraction method is specified on the surface of a sputtering target composed of high pure TaN.
Ｃｕ配線のバリア層などとして用いられるＴａＮ膜において、膜厚の面内均一性を例えば5%以下とすることが望まれており、そのようなＴａＮ膜を再現性よく得ることを可能にしたスパッタターゲットが求められている。 - 特許庁 - A crystal structure by X-ray diffraction is ZrO_1/2N, and a potential at a time when oxygen reduction current starts flowing is 0.75 V or more in reversible hydrogen electrode potential reference if potential scanning is performed at a scanning rate of 5 mV/s in 0.1 mol/L sulfuric acid aqueous solution at 30°C.
Ｘ線回折による結晶構造がＺｒＯ_1/2Ｎであり、30℃の0.1mol/L硫酸水溶液中で、走査速度5mV/sで電位走査したとき、酸素還元電流が流れ始める時の電位が可逆水素電極電位基準で0.75V以上となる。 - 特許庁 - Respective layers are formed by using Ta_2O_5 as the first matching layer 12, Al_2O_3 as the etching stopping layer 13, Ta_2O_5 as the diffraction grating projecting part 15, Ta_2O_5 as the cover layer 16 and SiO_2 as the second matching layer 17 as respective materials.
また各層は第一のマッチング層１２としてＴａ_2Ｏ_5を、エッチングストップ層１３としてＡｌ_2Ｏ_3を、回折格子凸部１５としてＴａ_2Ｏ_5を、カバー層１６としてＴａ_2Ｏ_5を、第二のマッチング層１７としてＳｉＯ_2を、それぞれ材料として使用した。 - 特許庁 - To provide an optical recording medium capable of obtaining a C/N ratio (carrier/noise ratio) of a high level in the optical recording medium reading a pit having a size equal to or shorter than the diffraction limit of a laser beam utilizing a super resolution phenomenon to which near-field light is applied.
近接場光を応用した超解像現象を利用してレーザ光の回折限界以下のサイズのピットを読み取る光記録媒体において、高いレベルのＣＮ比（キャリア・ノイズ比）を得ることのできる光記録媒体を提供する。 - 特許庁 - The surface 103c of the prism 103 and the optical element 105 share effect for satisfying total reflection conditions at the surface 103a of the prism 103, so that a large diffraction capability is not required for the optical element 105, thereby increasing a view angle θ.
プリズム１０３の面１０３ｃと光学素子１０５とでプリズム１０３の面１０３ａで全反射条件を満たすための効果を分担しているので、光学素子１０５に大きな回折能力は要求されず、画角θを大きくできる。 - 特許庁 - To provide a device for non-destructively measuring the components of food capable of simultaneously irradiating an object to be measured with a plurality of laser light beams each with different wavelengths made coaxial by a diffraction grating, etc., and simultaneously improving measurement accuracy and simplifying the constitution of the device.
波長がそれぞれ異なる複数のレーザ光を回折格子等で同軸上にして被測定物に同時に照射でき、測定精度の向上と装置の構成の簡素化を同時に図り得る食品の非破壊成分測定装置を提供する。 - 特許庁 - The photon sieve can be used as a pupil defining element in an illumination system; as a field defining element in an illumination system; as a pupil lens element in a projection lens; as a color correction system in a projection system; or as a transmission diffraction element for EUV.
このフォトンシーブは、照明システムの瞳定義素子として、照明システムのフィールド定義素子として、投影レンズの瞳レンズ素子として、投影システムの色補正システムとして、または、ＥＵＶの透過回折素子として、使用することができる。 - 特許庁 - By controlling the difference in the refractive index between the first low refractive index portion 11 and the substrate 10 to 0.1 or less, the grating with high diffraction efficiency can be produced without requiring rigorous control of etching depth upon forming the ridge 20 by etching.
第１低屈折率部１１と基板１０との屈折率差を０．１以下とすることにより、エッチングでリッジ部２０を形成する際にエッチング深さを厳密に制御する必要なしに、回折効率の高い回折格子を作製できる。 - 特許庁 - The film 5 is adhered on top of an optically transparent bottom substrate 3 by a bottom adhesive layer 4, and an optically transparent top substrate 7 is made to adhere to the side of the diffraction grating 2 by a top adhesive layer 6.
光学的透明下部基板３の上に、上面に凹凸状の回折格子２が形成された有機複屈折膜５を下接着層４で接着し、回折格子２の側に光学的透明上部基板７を上接着層６で接着する。 - 特許庁 - The diffraction grating part 5 comprises a low refractive index material 3 having low refractive index; and a high refractive index material 4 having refractive index different from that of the low refractive index 3 and higher than that of the low refractive index 3.
回折格子部５は、低屈折率を有する低屈折率材料３と、低屈折率材料３とは異なる屈折率で、且つ、低屈折率材料３の屈折率より高い高屈折率を有する高屈折率材料４とからなる。 - 特許庁 - To provide a system for collecting a spectrum by diffraction of characteristic X rays from a sample that has been irradiated with an electron beam, which provides information on whether each peak of collected spectra is a measurement object or a composite peak of cathode luminescence and a higher order beam.
電子線を照射した試料からの特性Ｘ線を回折させてスペクトルを採取するシステムにおいて、採取スペクトルの各ピークが、測定対象であるか、カソードルミネッセンスや高次線の複合ピークであるかの情報を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of making a polarized light separating element capable of decreasing conveyance defects between devices and within the device after a process for bonding an organic birefringent film and a transparent substrate and of improving the yield for making diffraction gratings.
有機複屈折膜と透明基板の接着工程後における装置間、装置内での搬送不良を低減することができ、回折格子を作製する際の製造歩留を向上することができる偏光分離素子の作製方法を実現する。 - 特許庁 - The porous carbon includes a mesopore and a carbonaceous wall which constitutes the contour of the mesopore, wherein the X-ray diffraction spectrum to CuKα rays (a wavelength of 1.541 Å) has a peak at 26.45° of the Bragg angle 2θ.
メソ孔とこのメソ孔の外郭を構成する炭素質壁とを備えた多孔質炭素であって、ＣｕＫα線（波長１．５４１Å）に対するＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角度２θの２６．４５°にピークを有することを特徴とする。 - 特許庁 - Since positions of the regions 111a to 113a are deviated respectively, hologram information can be obtained simultaneously and separately from respective diffraction light beams, and by combining them, secondary information in which pieces of information recorded in respective recording media are combined can be obtained.
領域１１１ａ〜１１３ａの位置がずれているので、各回折光からホログラム情報を同時に個別に得ることができ、それらを組み合わせること、各記録媒体に記録された情報を組み合わせた２次情報を得ることができる。 - 特許庁
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