「diffraction」を含む例文一覧(7687)
＜前へ 1 2 .... 23 24 25 26 27 28 29 30 31 .... 153 154 次へ＞- WAVELENGTH SELECTION WAVELENGTH PLATE, WAVELENGTH SELECTION DIFFRACTION ELEMENT AND OPTICAL HEAD DEVICE
波長選択波長板、波長選択回折素子および光ヘッド装置 - 特許庁 - To provide an X-ray diffraction device excellent in angle resolving power, reduced in the lowering of X-ray intensity and simplified in its structure in an X-ray diffraction method using a parallel beam method, and the X-ray diffraction method.
平行ビーム法を用いたＸ線回折法において、角度分解能が優れていて、Ｘ線強度の低下が少なく、構造が簡素化されたＸ線回折装置およびＸ線回折方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND IMPLEMENT FOR FIXING SAMPLE IN X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT
Ｘ線回折測定における試料固定方法および試料固定具 - 特許庁 - INTENSITY CALCULATION METHOD OF DIFFRACTION SPOT IN X-RAY STRUCTURE ANALYSIS
Ｘ線構造解析における回折斑点の強度算出方法 - 特許庁 - The first and second measured diffraction signals were consecutively measured using the polarized reflectometer.
これら回折信号の測定には偏光反射率計を用いる。 - 特許庁 - (1) When a half-value width of a diffraction peak 'a' in which a diffraction angle 2θ in powder X-ray diffraction measurement using CuKα_1 rays exists around 22 to 27° is FWHMa, an FWHMa value is to be 0.6 or more.
（イ）ＣｕＫα_１線を使用した粉末Ｘ線回折測定における回折角２θが２２〜２７°付近に存在する回折ピークａの半価幅をＦＷＨＭａとした時に、ＦＷＨＭａ値が０．６以上である。 - 特許庁 - STRESS EVALUATION METHOD AND STRESS EVALUATION DEVICE BY X-RAY DIFFRACTION
Ｘ線回折による応力評価方法及び応力評価装置 - 特許庁 - An area the first-order diffraction beam crosses the optical device is characterized.
１次回折ビームが光学素子を横断する領域が特性される。 - 特許庁 - Related to the transparent plate 23, both the focal point spots of zeroth-order diffraction light L21 and a first-order diffraction light L22, formed with the diffraction grating 21, are arranged at a position in optical axis direction formed with the condenser lens 22.
透明板２３は、回折格子２１によって形成される０次回折光Ｌ２１および１次回折光Ｌ２２の両焦点スポットがコンデンサーレンズ２２により形成される光軸方向位置に配置されている。 - 特許庁 - DIFFRACTION GRATING FOR CERTIFICATION OF AUTHENTICITY, AND RECORDING BODY PROVIDED WITH THE SAME
真正性証明用回折格子、およびそれが設けられた記録体 - 特許庁 - To obtain a diffraction element which is high in diffraction efficiency, capable of setting characteristics such as a diffraction angle freely and in a stable state, satisfactory in heat resistance, has a large area, lightweight, low in manufacturing cost, and easy in handling.
回折効率が高く、回折角等の特性を自在に且つ安定な状態で設定でき、耐熱性が良好で、大面積で、軽量で、製造コストが低く、且つ取り扱いが容易な回折素子を提供する。 - 特許庁 - The crystal of (2R,4R)-monatin potassium salt shows an X-ray powder diffraction pattern having characteristic peaks at diffraction angles 2θ of 5.5°, 7.2°, 8.1°, 8.9° and 16.3°, by powder X-ray diffraction (Cu-Kα ray).
Ｃｕ−Ｋα線による粉末Ｘ線回折で得られるＸ線回折パターンにおいて、５．５°、７．２°、８．１°、８．９°および１６．３°に回折角２θの特徴的ピークを有する、（２Ｒ，４Ｒ）−モナティンのカリウム塩結晶。 - 特許庁 - The diffraction grating DG is installed on the emission face of the collimating lens 2.
回折格子ＤＧはコリメートレンズ２の射出面に設けられている。 - 特許庁 - To provide a diffraction grating for an X-ray Talbot interferometer which can be manufactured with ease and high accuracy as the diffraction grating having high aspect ratio of a groove, a method for manufacturing the diffraction grating for the X-ray Talbot interferometer, and the X-ray Talbot interferometer.
溝のアスペクト比の高い回折格子を容易かつ高精度で製造することができるＸ線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計を提供する。 - 特許庁 - A diffraction signal measured using an optical metrology tool is displayed.
光計測ツールを用いて計測された回折信号が表示される。 - 特許庁 - With this, the diffraction image and an actual image restructured nearly conform to each other.
これにより、回折像と再構成される実像とが略一致する。 - 特許庁 - To provide a diffraction element capable of enhancing quality of a reproduced signal.
再生信号の品質を向上させ得る回折素子を実現する。 - 特許庁 - The diffraction spectrum is analyzed in order to determine the dimensions of the structure.
回折スペクトルは、構造の寸法を決定するために解析される。 - 特許庁 - DIFFRACTION ELEMENT, SEMICONDUCTOR LASER DEVICE USING IT, AND OPTICAL PICKUP DEVICE
回折素子およびそれを用いた半導体レーザ装置、光ピックアップ装置 - 特許庁 - FORMED LIGHTING GEOMETRY USING DIFFRACTION OPTICAL ELEMENT, AND INTENSITY
回折光学素子を用いた整形された照明ジオメトリーおよび強度 - 特許庁 - As a result, the final diffraction optical element is optically formed.
この結果、最終的な回折光学素子が光学的に作製される。 - 特許庁 - TRANSMISSIVE DIFFRACTION GRATING, AND SPECTRAL SEPARATION ELEMENT AND SPECTROSCOPE USING THE SAME
透過型回折格子、並びに、それを用いた分光素子及び分光器 - 特許庁 - This method yields the porcelain composition containing merwinite as a crystal phase, wherein a main diffraction intensity of X ray diffraction of a co-existing akermanite corresponds to ≤6% of a main diffraction intensity of the merwinite crystal.
この方法によれば、メルウィナイトを結晶相として含有し、共存するアケマナイト結晶のＸ線回折における主回折強度がメルウィナイト結晶の主回折強度の６％以下である磁器組成物が得られる。 - 特許庁 - POINT DIFFRACTION INTERFEROMETER, AND EXPOSURE APPARATUS AND METHOD USING SAME
点回折干渉計、並びに、それを利用した露光装置及び方法 - 特許庁 - OPTICAL ELEMENT HAVING DIFFRACTION SURFACE AND OPTICAL PICKUP APPARATUS USING THE SAME
回折面を有する光学素子、及びそれを用いた光ピックアップ装置 - 特許庁 - POINT DIFFRACTION INTERFEROMETER, METHOD OF MAKING REFLECTOR, AND PROJECTING EXPOSURE DEVICE
点回折干渉計、反射鏡の製造方法及び投影露光装置 - 特許庁 - ERROR SIGNAL DETECTING DEVICE OF OPTICAL PICKUP ADOPTING HOLOGRAM DIFFRACTION GRATING
ホログラム回折格子を採用した光ピックアップの誤差信号検出装置 - 特許庁 - The diffraction grating 7 is optically coupled to the optical waveguide 5.
回折格子７は、光導波路５に光学的に結合されている。 - 特許庁 - ARRAY WAVEGUIDE TYPE DIFFRACTION GRATING MODULE AND OPTICAL MODULE USING IT
アレイ導波路型回折格子モジュールおよびそれを用いた光モジュール - 特許庁 - SAMPLE FOR ELECTRON BEAM DIFFRACTION AND METHOD FOR PRODUCING ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE
電子線回折用試料および電子顕微鏡試料の製造方法 - 特許庁 - DIFFRACTION GRATING HAVING IMPROVED BLAZE PERFORMANCE AT TWO WAVELENGTHS
２つの波長における向上したブレ—ズ性能を有する回折格子 - 特許庁 - PINHOLE UNIT, POINT DIFFRACTION INTERFEROMETER, AND METHOD OF MANUFACTURING PROJECTION OPTICAL SYSTEM
ピンホールユニット、点回折干渉計、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁 - The p-electrode 9 extends over an upper part of the diffraction grating 7.
このｐ電極９は回折格子７の上方に延在している。 - 特許庁 - THREAD HAVING OPTICAL DIFFRACTION LAYER AND ANTI-FALSIFICATION PAPER USING THE SAME
光回折層を有するスレッド、及びそれを用いた偽造防止用紙 - 特許庁 - The diffusion layer 15 suppresses diffraction of light caused by plural pixels.
拡散層１５は、複数の画素に起因する光の回折を抑制する。 - 特許庁 - Blurred spots and/or double spots represent diffraction zones of the wavefront.
ぼやけたスポット及び／又は２重スポットが波面の回折ゾーンを表わす。 - 特許庁 - ARRAYED-WAVEGUIDE DIFFRACTION GRATING, OPTICAL COMMUNICATION DEVICE, AND OPTICAL COMMUNICATION SYSTEM
アレイ導波路型回折格子、光通信デバイスおよび光通信システム - 特許庁 - To effectively eliminate a warp of a substrate in manufacturing a diffraction optical element.
回折光学素子製造の際の、基板の反りを有効に解消する。 - 特許庁 - OPTICAL MEMS (MICRO ELECTRONIC MECHANICAL SYSTEM) ELEMENT, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND DIFFRACTION TYPE MEMS ELEMENT
光学ＭＥＭＳ素子とその製造方法、回折型ＭＥＭＳ素子 - 特許庁 - Tungsten is not identified by X-ray diffraction, but the quantity is confirmed by the electro probe micro-analyser (EPMA).
WはX線回折には同定されず、EPMAにより量が確認できる。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR CHECKING OPTICAL DIFFRACTION STRUCTURE ON DOCUMENT
文書上の光学回折構造を検査するための装置および方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR OBSERVING CRYSTAL BY USING X-RAY DIFFRACTION
Ｘ線回折を用いた結晶の観察方法及びその観察装置 - 特許庁 - To provide a diffraction element 20 capable of showing satisfactory characteristics.
本発明の回折素子２０は、良好な特性を呈すことができる。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING ROTATION OF DIFFRACTION GRATING, AND COMPUTER PROGRAM
回折格子の回転調整方法及び装置並びにコンピュータプログラム - 特許庁 - To make a diffraction grating recording medium having a stereoscopic pattern presented.
立体模様が表現された回折格子記録媒体を作成する。 - 特許庁 - The plurality of grooves of this convex diffraction grating 100 provide correction for field aberrations.
この凸面格子１００の複数の溝がフィールド収差を補正する。 - 特許庁 - To provide an X-ray diffraction apparatus having an improved measurement accuracy.
測定精度の向上が図られるＸ線回折装置、を提供する。 - 特許庁 - DIFFRACTION OPTICAL ELEMENT, AND OPTICAL SYSTEM AND OPTICAL APPARATUS EQUIPPED WITH SAME
回折光学素子およびそれを備える光学系並びに光学装置 - 特許庁 - A diffraction lattice 7 is formed on a light emitting surface of the surface emitting laser 100.
面発光レーザ１００の発光面に回折格子を形成する。 - 特許庁 - DISPLAY BODY COMPOSED OF DIFFRACTION GRATING AND DISPLAYED BODY-APPLIED PRINTED MATTER
回折格子から成る表示体およびそれを応用した印刷物 - 特許庁
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