「electron diffraction」を含む例文一覧(158)
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収束電子回折法 - 特許庁 - This figure illustrates three modes of electron diffraction: selected-area electron diffraction, nano-area electron diffraction and convergent-beam electron diffraction.
この図は、電子回折の3つのモードを説明する: 制限視野回折、ナノ領域電子回折、収束電子回折である。 - 科学技術論文動詞集 - METHOD FOR ELECTRON DIFFRACTION TOMOGRAPHY
電子回折断層撮影の方法 - 特許庁 - ULTRA-SHORT-PULSE ELECTRON DIFFRACTION DEVICE
超短パルス電子回折装置 - 特許庁 - REFLECTOR TYPE ELECTRON BEAM DIFFRACTION DEVICE
反射型電子線回折装置 - 特許庁 - REFLECTION HIGH-ENERGY ELECTRON DIFFRACTION APPARATUS
反射高速電子回析装置 - 特許庁 - METHOD FOR ANALYSIS OF ELECTRON BEAM DIFFRACTION IMAGE AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE
電子線回折像の解析方法及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE FOR ELECTRON BEAM DIFFRACTION AND METHOD FOR PRODUCING ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE
電子線回折用試料および電子顕微鏡試料の製造方法 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE, AND DIFFRACTION IMAGE OBSERVATION METHOD
電子顕微鏡、および回折像観察方法 - 特許庁 - DIFFRACTION ABERRATION CORRECTION DEVICE OF ELECTRON BEAM
電子ビームの回折収差補正装置 - 特許庁 - ANALYTICAL METHOD AND ANALYTICAL DEVICE OF ELECTRON DIFFRACTION PATTERN
電子回折パターンの解析方法及び解析装置 - 特許庁 - MEASURING METHOD FOR CRYSTAL LATTICE CONSTANT BY CONVERGENCE ELECTRON DIFFRACTION
収束電子回折による結晶格子定数測定法 - 特許庁 - To provide a method for electron diffraction tomography.
電子回折断層撮影の方法を提供する。 - 特許庁 - PARALLEL TYPE HIGH SPEED ELECTRON BEAM DIFFRACTION DEVICE
並列型高速電子線回折装置 - 特許庁 - FIELD RADIATION TYPE LOW-ENERGY ELECTRON DIFFRACTION EQUIPMENT
電界放射型低速電子回折装置 - 特許庁 - We mention double diffraction which is a complicating effect in electron diffraction.
われわれは、電子回折における1つの複雑な効果である二重回折に言及する。 - 科学技術論文動詞集 - For electron diffraction, dynamical diffraction effects are inevitably strong and cannot be ignored.
電子回折については、動力学的回折効果が不可避的に強く、そして無視できない。 - 科学技術論文動詞集 - LEAD-IN ELECTRODE FOR FIELD EMISSION TYPE LOW-ENERGY ELECTRON DIFFRACTION AND ELECTRONIC DIFFRACTION EQUIPMENT USING IT
電界放出低速電子回折用引き込み電極及びそれを用いた電子回折装置 - 特許庁 - X-ray diffraction is influenced by the electron density distribution of the atomic shell and electron diffraction (is influenced) by the screened Coulomb potential of the nuclei.
X線回折は、原子殻の電子密度分布に支配され、そして電子回折は、原子核の遮蔽されたクーロン電位に支配される。 - 科学技術論文動詞集 - The invention describes the method for electron diffraction tomography in a transmission electron microscope.
当該発明は、透過電子顕微鏡における電子回折断層撮影のための方法を記載する。 - 特許庁 - According to the change of the lens condition, the image is changed from the transmission electron enlarged image to the electron diffraction image.
レンズ条件の切換に伴って、像は透過電子拡大像から電子回折像に切り替わる。 - 特許庁 - Fresnel electron diffraction is treated using Huygens' principle.
フレネル電子回折は、ホイヘンスの原理を使って扱われる。 - 科学技術論文動詞集 - Friedel's law does not apply to dynamical electron diffraction.
フリーデルの法則は、動力学的電子回折には当てはまらない。 - 科学技術論文動詞集 - In a high-voltage TEM, electron diffraction can be applied to thicker crystals.
高圧電子顕微鏡では、電子回折はより厚い結晶に応用できる。 - 科学技術論文動詞集 - Electron diffraction methods were employed for the investigation of crystal structures.
電子回折法が、結晶構造の(詳細な)研究に利用された。 - 科学技術論文動詞集 - CONTRAST IMPROVING METHOD OF ELECTRON BACKSCATTERING DIFFRACTION IMAGE, AND DEVICE
電子後方散乱回折像のコントラスト改善方法、及び装置 - 特許庁 - To correct magnetic field distortions in an electron backscatter diffraction (EBSD) pattern.
後方散乱電子回折（ＥＢＳＤ）パターンの磁場歪みを修正すること。 - 特許庁 - METHOD OF CORRECTING DISTORTION IN ELECTRON BACKSCATTER DIFFRACTION PATTERN
後方散乱電子回折パターンの歪みを修正する方法 - 特許庁 - METHOD FOR ANALYZING STRUCTURE OF MATERIAL USING CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION
収束電子線回折を用いた材料の構造分析方法 - 特許庁 - To provide a novel method for measuring physical property by using a convergent beam electron diffraction.
収束電子回折を用いた、物性の新規な測定方法を提供する。 - 特許庁 - The operation is carried out by a plurality of angles, a series of transmission electron images and the electron beam diffraction images are obtained, and based on the electron beam diffraction image, the projection direction for each of the series of the transmission electron images is decided.
上記操作を複数の角度で行い、一連の透過電子像及び電子線回折像を取得し、その電子線回折像から上記一連の透過電子像の各々についての投影方向を決定する。 - 特許庁 - In the reflection high-energy electron diffraction apparatus 10, the electron beam 28 having an emission current value at a nanoampere level is emitted from the electron gun 15 toward the thin film.
反射高速電子回析装置１０では、ｎＡのレベルのエミッション電流値の電子線２８を電子銃１５から薄膜に向かって発射する。 - 特許庁 - To provide a reflection high-energy electron diffraction apparatus that can generate a reflection electron image diffraction pattern by using an electron beam having an extremely small current value at a nanoampere level.
ｎＡレベルのきわめて小さい電流値の電子線を利用して反射電子像回析パターンを生成することができる反射高速電子回析装置を提供する。 - 特許庁 - To perform material identification quantitatively and accurately based on coordinate information of a diffraction point acquired from an electron diffraction pattern.
電子回折像から得られた回折点の座標情報を基に、物質同定を定量的にしかも正確に行う。 - 特許庁 - To provide a transmission electron microscope capable of generating a high precision diffraction pattern, by shielding light at central spot of the diffraction pattern.
回折像の中心スポットを遮光して、高精度の回折像が得られる透過型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - Continuously, the substrate S for the diffraction optical element is prepared, and a diffraction optical element pattern is drawn by electron beam exposure after resist film formation.
続いて、この回折光学素子用の基板Ｓを用意し、レジスト成膜後に電子ビーム露光により回折光学素子パターンを描画する。 - 特許庁 - When a diffraction spot image appears on the electron beam diffraction image, it is determined that it is a periodic structure to find an intended visual field.
電子線回折象に、回折スポット像が出現したら、周期構造であると判定し、目的とする視野を見つけ出したことになる。 - 特許庁 - An analysis of the effects of temperature on extinction distances in electron diffraction is given by Howie and Valdre (1967).
電子回折における消衰距離に対する温度の影響の解析は、HowieとValdre (1967)によって与えられている。 - 科学技術論文動詞集 - Information about crystal structure and orientation is provided by the electron-diffraction pattern.
結晶構造と結晶方位についての情報は、電子回折図形によって提供される。 - 科学技術論文動詞集 - Three techniques of electron diffraction, microscopy and EELS can be combined in a single instrument without sacrifice of performance.
電子回折、顕微法、EELSの3つの技法は、性能の犠牲なしに1つの装置の中に結合できる。 - 科学技術論文動詞集 - Methods used to index point electron diffraction patterns are given in the next section.
「点(点状の)」電子回折図形を指数付けするのに使われる手法は、次の節で与えられる。 - 科学技術論文動詞集 - Thereafter, the electron backscattering diffraction image in the deteriorated domain is imaged (step S13).
その後、劣化領域における電子後方散乱回折像を撮像する（ステップＳ１３）。 - 特許庁 - Then, the electron backscattering diffraction image in the observation domain of the sample is imaged (step S14).
さらに、試料の観察領域における電子後方散乱回折像を撮像する（ステップＳ１４）。 - 特許庁 - An electron diffraction figure D_xy is photographed by a CCD camera at each observation point on a sample.
試料上の各観察点において、電子回折図形Ｄ_ｘｙをＣＣＤカメラで撮像する。 - 特許庁 - A method is provided for correcting magnetic field distortions in the electron backscatter diffraction (EBSD) pattern.
後方散乱電子回折（ＥＢＳＤ）パターンの磁場歪みを修正する方法が提供される。 - 特許庁 - (a) An image in a designated zone on the electron diffraction figure is divided into a plurality of partial images S_1-S_4.
（ａ）電子回折図形上の所定範囲の像を、複数の部分像Ｓ_１〜Ｓ_４に分割する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR LATTICE DISTORTION MEASUREMENT IN LOCAL REGION IN CONVERGENT ELECTRON DIFFRACTION METHOD
収束電子回折法による局所領域の格子歪み測定方法及びその測定装置 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE, CONTROL METHOD OF THE SAME, AND METHOD FOR OBTAINING DIFFRACTION PATTERN
電子顕微鏡及び電子顕微鏡の制御方法並びに回折パターン取得方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CRYSTAL AXIS RATIO BY CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION METHOD
収束電子回折法による結晶軸比測定方法及び結晶軸比測定装置 - 特許庁 - IMAGE FORMING DEVICE FOR ENERGY RESOLUTION AND ANGULAR RESOLUTION ELECTRON SPECTRAL DIFFRACTION, METHOD FOR IT, AND SPECTROSCOPE
エネルギ分解及び角度分解電子分光用の結像装置、その方法及び分光器 - 特許庁
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