「electron diffraction」を含む例文一覧(158)
＜前へ 1 2 3 4 次へ＞- A method is provided for correcting magnetic field distortions in the electron backscatter diffraction (EBSD) pattern.
後方散乱電子回折（ＥＢＳＤ）パターンの磁場歪みを修正する方法が提供される。 - 特許庁 - Information about crystal structure and orientation is provided by the electron-diffraction pattern.
結晶構造と結晶方位についての情報は、電子回折図形によって提供される。 - 科学技術論文動詞集 - Three techniques of electron diffraction, microscopy and EELS can be combined in a single instrument without sacrifice of performance.
電子回折、顕微法、EELSの3つの技法は、性能の犠牲なしに1つの装置の中に結合できる。 - 科学技術論文動詞集 - Methods used to index point electron diffraction patterns are given in the next section.
「点(点状の)」電子回折図形を指数付けするのに使われる手法は、次の節で与えられる。 - 科学技術論文動詞集 - Continuously, the substrate S for the diffraction optical element is prepared, and a diffraction optical element pattern is drawn by electron beam exposure after resist film formation.
続いて、この回折光学素子用の基板Ｓを用意し、レジスト成膜後に電子ビーム露光により回折光学素子パターンを描画する。 - 特許庁 - The exposed surfaces are irradiated with an electron beam by a TEM (Transmission Electron Microscope) to acquire a TEM image and an electron-beam diffraction image of the ferroelectric film, and element composition analysis etc., is carried out (step S2).
その露出させた面に対し、ＴＥＭにより電子線を照射して、その強誘電体膜のＴＥＭ像や電子線回折像の取得、元素組成分析等を行う（ステップＳ２）。 - 特許庁 - The transmitted electron beam 3a is incident on an image detector 8 through a slit 6 and the image detector 8 obtains an electron beam diffraction image by the incident transmitted electron beam 3a.
透過電子線３ａはスリット６を介して画像検出装置８に入射され、画像検出装置８は、入射された透過電子線３ａによって電子線回折像を得る。 - 特許庁 - To provide an electron beam lithography device capable of writing the lattice pitch of a micro diffraction grating pattern with high accuracy.
微細回折格子パターンの格子ピッチを高精度に描画できる電子ビーム描画装置を提供する。 - 特許庁 - An analysis of the effects of temperature on extinction distances in electron diffraction is given by Howie and Valdre (1967).
電子回折における消衰距離に対する温度の影響の解析は、HowieとValdre (1967)によって与えられている。 - 科学技術論文動詞集 - The kinematical and dynamical theories of electron diffraction have been developed by many electron microscopists.
電子回折の運動学理論と動力学理論は、多くの電子顕微鏡学者によって発展させられた(多くの電子顕微鏡分野の学者が発展させた)。 - 科学技術論文動詞集 - The book includes discussion of recent progress, especially in the area of convergent-beam electron diffraction, electron tomography, holograpy and the high resolution of crystal lattices.
その本は最近の進展に関する議論、特に収束電子回折、電子線トモグラフィー、ホログラフィーおよび、結晶格子の高分解能の分野を含む。 - 科学技術論文動詞集 - A crystal arrangement direction of the sample in a scanning transmission image and a direction of an electron beam diffraction image are to be coincided with each other in crystal orientation direction alignment using the scanning transmission image and the electron beam diffraction image.
本発明は、走査透過像と電子線回折像を用いた結晶方位合せにおいて、走査透過像における試料の結晶配列方向と、電子線回折像の方向を一致させることに関する。 - 特許庁 - This system has an electron beam diffraction image analytical part 3 for calculating a lattice spacing from an electron beam diffraction image picked up by a TV camera 10 for observing the electron beam diffraction image, in an electron beam device, an EDX analytical part 2 connected to an EDX detector 9 to find a substance composition, and a substance identification part 4 provided with a database for retrieval for substance identification, and a database retrieval function.
電子線装置に、電子線回折像観察用ＴＶカメラ１０によって取り込んだ回折像から格子面間隔を算出する電子線回折像解析部３、ＥＤＸ検出器９に接続され物質組成を求めるＥＤＸ分析部２、物質同定のための検索用データベースとデータベース検索機能を備えた物質同定部４を有する。 - 特許庁 - To provide an observation technology by a phase retrieval type electron microscope, making the intensity distribution of a parallel electron beam with a microscopic diameter in measuring a real image and an electron diffraction pattern bright and uniform.
実像と電子回折像を測定する際の微小径かつ平行な電子線を、明るくかつ均一な強度分布にする位相回復方式の電子顕微鏡による観察技術を提供する。 - 特許庁 - Diffraction spots broaden out into discs because CBED patterns are formed with the electron probe focused onto the specimen.
回折斑点はディスクに広がる; なぜなら、CBED図形は試料に集束された電子プローブで形成されるからである。 - 科学技術論文動詞集 - To provide an angle resolving electron spectroscope of a diffraction planar aperture transmissive energy control type, having a lens with a diffraction plane which has a small positional change with different energies for achieving angular resolution electron spectral measurement.
異なるエネルギーに対して回折面の位置変化の小さいレンズを有する角度分解型電子分光測定を実現可能な回折面アパチャー透過エネルギー制御方式の角度分解型電子分光器を提供するにある。 - 特許庁 - This method has a step for allowing focused electron beams to enter a sample and acquiring a convergent electron diffraction image on the sample by using a scanning transmission electron microscope 12, a step for calculating the lattice strain quantity in the sample based on the acquired convergent electron diffraction image, and a step for displaying the calculated lattice strain quantity corresponding to an electron microscope image of the sample.
走査透過型電子顕微鏡１２を用い、収束した電子線を試料に入射させ、試料についての収束電子回折像を取得するステップと、取得された収束電子回折像に基づいて、試料における格子歪み量を算出するステップと、算出された格子歪み量を、試料の電子顕微鏡像に対応させて表示するステップとを有している。 - 特許庁 - In the photoelectric microscope thus configurated, not only a real image of a specimen but also an electron diffraction image can be observed.
このような構成をした光電子顕微鏡は、試料の実像だけでなく、電子回折像も観察することができる。 - 特許庁 - A group in which pixels brighter than a brightness threshold are adjacent to each other is determined from the electron beam diffraction image to be a spot.
電子線回折像から、明るさの閾値より明るい画素が隣接している集団をスポットであると判定する。 - 特許庁 - To provide a photoelectric microscope in which not only a real image of a specimen but also an electron diffraction image can be observed.
試料の実像だけでなく、電子回折像も観察することができる光電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - ANGLE RESOLVING ELECTRON SPECTROSCOPE OF DIFFRACTION PLANAR APERTURE TRANSMISSIVE ENERGY CONTROL TYPE, AND ANALYSIS METHOD USING THE SAME
回折面アパチャー透過エネルギー制御方式の角度分解型電子分光器及びこの分光器を用いた分析方法 - 特許庁 - To provide a low-energy reflection electron microscope, capable of positioning a diffraction image field in a diaphragm position at all times.
常に回折像面を絞り位置に持って来ることができる低エネルギー反射電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - UNFIXED-TYPE SAMPLE HOLDER WHICH DOES NOT INTERFERE WITH REFLECTION HIGH-ENERGY ELECTRON DIFFRACTION OBSERVATION AND COMPOSITE DEVICE USING THE SAMPLE HOLDER
反射高速電子回折観察を妨げない試料非固定式の試料ホルダー及びそれを使用した複合装置 - 特許庁 - Electron diffraction patterns are used to obtain quantitative structure information about crystal phases and orientational relationships.
電子回折図形は、結晶の位相と方位的な関係に関する定量的な構造情報を得るために利用される。 - 科学技術論文動詞集 - Using a plurality of optical elements in a transmission electron microscope 500, an unscattered electron beam is adjusted to deflect to prevent incidence of the electron beam onto a contrast enhancing element 518 disposed in the diffraction plane.
透過型電子顕微鏡５００の複数の光学素子を用いることにより非散乱電子ビームを偏向して、回折平面に配置されたコントラスト向上素子５１８に該電子ビームが照射されないように調節する。 - 特許庁 - An electron beam apparatus has an electron beam diffraction image analyzing part 3 for calculating lattice spacing based on a diffraction image taken in by a TV camera 10 for observing the electron beam diffraction image, an EDX analyzing part 2 connected to an EDX detector 9 to find a substance composition, and a substance identifying part 4 provided with a database for retrieval for identifying the substance and a database retrieving function.
電子線装置に、電子線回折像観察用ＴＶカメラ１０によって取り込んだ回折像から格子面間隔を算出する電子線回折像解析部３、ＥＤＸ検出器９に接続され物質組成を求めるＥＤＸ分析部２、物質同定のための検索用データベースとデータベース検索機能を備えた物質同定部４を有する。 - 特許庁 - Thus, the magnetic domain structural image is obtained on the basis of the magnetic domain structural image data M_xy calculated at each electron diffraction figure D_xy.
そして、電子回折図形Ｄ_ｘｙ毎に求めた磁区構造画像データＭ_ｘｙに基づいて磁区構造画像を得る。 - 特許庁 - To provide a convergence electron diffraction measuring method capable of measuring all of six parameters of lattice constants in a microregion.
微小領域において格子定数の６つのパラメータ全てを測定できる収束電子回折測定方法を提供する。 - 特許庁 - To specify a main spot from an electron beam diffraction image precisely to determine the position of the main spot and then measure a distance between spots.
電子線回折像から、メインスポットを正確に特定し、メインスポットの位置を正確に特定して、スポット間距離を計測する。 - 特許庁 - In 1928, Bethe described the use of Bloch waves to solve the high-energy electron diffraction problem for the reflection case.
1928年、ベーテは反射の場合(ブラッグケース)についての高エネルギー電子回折の問題を解くために「ブロッホ波」を使うことを記述した。 - 科学技術論文動詞集 - (4) It is confirmed that the ultra-thin isolation membrane having an unprecedented new structure and composition is formed by observing and analyzing images, electron diffraction diagrams and electron energy loss spectroscopy spectrums of the membrane by use of a transmission electron microscope.
４）本膜を透過型電子顕微鏡により像、電子回折図形および電子エネルギー損失分光法スペクトルを観察、解析し、従来にない新しい構造と組成を有する極薄単離膜が生成していることを確認する。 - 特許庁 - The diffraction plane of the static lens is provided with an angle-limiting aperture, which electrons converged by the electron lens are introduced via an aperture passage port to an electron analyzer for analyzing electron energy to be analyzed.
この静電レンズの回折面には、角度制限アパチャーが配置され、電子レンズによって集光された電子がアパチャーの通過口を介して電子のエネルギーを分析する為の電子アナライザーに導入され、そのエネルギーが解析される。 - 特許庁 - To provide an electron optical system and an electron microscope capable of efficiently correcting positions of a diffraction image surface and a medium image surface when replacing samples.
試料を交換したときにおいて、回折像面と中間像面の位置修正を効率良く行うことのできる電子光学システム及び電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁 - A method for analyzing the structure of a porous material allows small angle electron beam scattering to form a small angle electron beam scattering image 15 through image formation of a small angle electron beam scattering portion emerging at the central part of the electron beam diffraction image of the porous material.
本発明の多孔質材料の構造解析方法は、小角電子線散乱により多孔質材料の電子線回折像の中央部に現れる小角電子線散乱部分を結像させることで小角電子線散乱像１５を形成することを特徴とする。 - 特許庁 - While forming apertures 19 in a cap layer 16 only in a diffraction grating part 2 by an electron beam (EB) exposure method, a plurality of groove-like recesses 17 are formed in the surface of a diffraction grating layer 15.
電子ビーム（ＥＢ）露光法により、回折格子部２内においてのみ、キャップ層１６に開口部１９を形成しながら回折格子層１５の表面に複数の溝状の凹部１７を形成する。 - 特許庁 - The known method includes using a scanning transmission electron microscope, and also using a scanned diffraction beam of the STEM.
知られた方法は、走査透過電子顕微鏡を使用することを伴うと共に、ＳＴＥＭの回折の走査されたビームを使用する。 - 特許庁 - Observations of the failure of Friedel's law in reflection electron diffraction patterns from large crystals were reported by Miyake and Ueda (1950).
大きな結晶からの反射電子回折図形中でのフリーデル則の破れの観察が、三宅と上田によって(1950年に)報告された。 - 科学技術論文動詞集 - At least one of the inward member 41, the outward member 43 and the rolling element 42 is made of the titanium material having the new phase 22 that a diffraction spot is present at a position deviating from that on a virtual line connecting together almost the centers of diffraction spots of adjacent parent phases on an electron diffraction pattern obtained by electron microscopy.
そして、内方部材４１、外方部材４３及び転動体４２のうちの少なくとも１つが、電子顕微鏡法によって得られた電子回折図形上で、隣り合う母相の回折斑点の略中心を結ぶ仮想線上から逸れた位置に回折斑点が存在する新相２２を有するチタン材料から成っている。 - 特許庁 - A transmission electron image is obtained by radiating the electron beam to an evaluation site of the sample having the evaluation site where the structure is to be evaluated, and a single crystal site integrally joined with the evaluation site, and the electron beam diffraction image is obtained by radiating the electron beam to the single crystal site without changing a radiation angle of the electron beam.
前記構造を評価すべき評価部位と、前記評価部位一体的に結合した単結晶部位とを有する試料の前記評価部位に前記電子線を照射して透過電子像を取得すると共に前記電子線の照射角度を変化させずに前記単結晶部位に前記電子線を照射して電子線回折像を取得する。 - 特許庁 - A separator 4 for separating an irradiated electron beam 101 and a reflected electron beam 102 of the mirror electron microscope is positioned between an objective lens 5 and an intermediate lens 8, and a restriction diaphragm 14 is positioned in a position 43 where the intermediate lens 8 projects an electron beam diffraction image of the reflected electron beam 102 formed in a focus position 41 of the objective lens 5.
ミラー電子顕微鏡の照射電子線１０１と反射電子線１０２を分離させるセパレータ４を対物レンズ５と中間レンズ８の間に配置し、反射電子線１０２の対物レンズ５の焦点位置４１に形成される電子線回折像が中間レンズ８により投影される位置４３に制限絞り１４を配置する。 - 特許庁 - In this convergence electron diffraction method for acquiring a disc-shaped diffraction figure, by making electron beams converge and irradiate to a sample, all of six (a, b, c, α, β, γ) lattice constants of a crystal can be measured from the microregion smaller than 10 nm, from the distance between the intersection points of HOLZ line appearing in a transmission disc.
試料に電子線を収束させて照射し、ディスク状の回折図形を得る収束電子回折法において、透過ディスク内に現れたHOLZラインの交点間の距離から、結晶の格子定数６つ（a、b、c、α、β、γ）全てを10nm以下の微小領域から測定することを可能にする。 - 特許庁 - Further, the direction of the electron beam diffraction image is changed with an action of an electromagnetic lens, for instance, by changing current conducted to a plurality of projection lenses.
また、例えば、複数の投射レンズに通電する電流を変化させ、電磁レンズの作用によって電子線回折像の方向を変化させる。 - 特許庁 - To provide a distributed feedback semiconductor laser device that can prevent the accumulation of a hole or an electron in a diffraction lattice layer and improve light emission efficiency.
回折格子層内でのホールや電子の蓄積を抑制でき、発光効率を向上できる分布帰還型半導体レーザ素子を提供する。 - 特許庁 - Diffraction images of the evaluated sample and the standard sample formed by an electron beam E2 transmitted through/diffracted the joined body are detected in this method.
そして、接合体を透過・回折した電子ビームＥ２により形成される被評価試料及び標準試料の回折像を検出する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a blazed diffraction grating for the charged particle beam in electron beam lithography, that can manufacture a high precision blazed diffraction grating, having desired cross section by making the number of the charged particle beam scanning in each step, change based on a predetermined rule.
本発明は、ＥＢ描画装置等の荷電粒子ビームを用いたブレーズド型回折格子の作製方法において、格子深さの制御を従来より厳密に行えるようにするものである。 - 特許庁 - To increase a ratio of x rays made incident on a diffraction grating and an image sensor in a system for diffracting characteristic x-rays from a sample irradiated with an electron beam by the diffraction grating and sampling a spectrum by the image sensor.
電子線を照射した試料からの特性Ｘ線を回折格子により回折させてイメージセンサでスペクトルを採取するシステムにおいて、回折格子やイメージセンサに入射するＸ線の比率を大きくする。 - 特許庁 - An electron density distribution is found by applying the MEM structural analysis to an X-ray diffraction data obtained experimentally, and an X-ray diffraction data not observed is predicted based thereon to find the electrostatic potential.
実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め，これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。 - 特許庁 - Then by the radiation in the three directions and a pseudo diffraction phenomenon of the electron flow in the air, direct radiation to the part which electron rays can not permeate and a shadow generation by the existence of a supporting member can be avoided practically.
３方向照射と空気中電子流の疑似回折現象とにより、電子線透過不能部分の直接照射と支持部材の存在による影の発生を実質的に回避することができる。 - 特許庁 - To provide an ultra-short-pulse electron diffraction device for tracking the change in the molecular structure of a sample in a femtosecond region in real time.
フエムト秒領域での試料の分子構造の変化の実時間追跡を可能にすることができる超短パルス電子回折装置を提供する。 - 特許庁 - To appropriately define coordinates of respective spots in a nano electron beam diffraction pattern to calculate a lattice plane distance with sufficient accuracy.
本発明の課題は、ナノ電子線回折パタンにおける各スポットの座標を適切に定義し、格子面距離を精度良く算出することを目的とする。 - 特許庁
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