「flatness」を含む例文一覧(3514)
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 70 71 次へ＞- FLATNESS MEASURING SENSOR
平坦度測定センサ - 特許庁 - FLATNESS GAGE
平坦度測定装置 - 特許庁 - FLATNESS MEASUREMENT APPARATUS
平面度測定装置 - 特許庁 - FLATNESS MEASURING DEVICE
平坦度測定装置 - 特許庁 - WAFER FLATNESS MEASURING METHOD
ウエハ平坦度測定法 - 特許庁 - FLATNESS MEASURING DEVICE AND FLATNESS MEASURING METHOD
平坦度測定装置及び平坦度測定方法 - 特許庁 - FLATNESS MEASUREMENT METHOD AND FLATNESS MEASUREMENT PROGRAM
平面度測定方法及び平面度測定プログラム - 特許庁 - FLATNESS MEASURING INSTRUMENT AND FLATNESS MEASURING METHOD
平坦度測定装置および平坦度測定方法 - 特許庁 - FLATNESS DETECTION APPARATUS AND FLATNESS DETECTION METHOD
平坦度検出装置、および平坦度検出方法 - 特許庁 - HIGH FLATNESS PROCESSING METHOD AND HIGH FLATNESS PROCESSING DEVICE
高平面度加工方法および高平面度加工装置 - 特許庁 - WAFER FLATNESS MEASURING DEVICE
ウェーハの平坦度測定装置 - 特許庁 - ROAD SURFACE FLATNESS MEASURING DEVICE
路面平坦性測定装置 - 特許庁 - FLATNESS MEASURING INTERFEROMETER
平面度測定用干渉計 - 特許庁 - PLANE FLATNESS MEASUREMENT DEVICE
平面平坦度測定装置 - 特許庁 - METHOD OF JUDGING TEXTURE FLATNESS
テクスチャ平坦度判別方法 - 特許庁 - APPARATUS FOR MEASURING ROAD SURFACE FLATNESS
路面平坦性測定装置 - 特許庁 - MEASURING INSTRUMENT FOR FLATNESS, ETC. AND MEASURING METHOD FOR FLATNESS, ETC.
平坦度等の測定装置および平坦度等の測定方法 - 特許庁 - Mechanical flatness or optical flatness can be achieved.
機械的平坦性、あるいは光学的平坦性が達成できる。 - 特許庁 - FLATNESS MEASURING APPARATUS OF PLATE
平板の平坦度測定装置 - 特許庁 - REDUCTION CORRECTING MACHINE WITH FLATNESS METER
平坦度計付き圧下矯正機 - 特許庁 - LOT STEEL PLATE HAVING EXCELLENT FLATNESS
平坦度良好なロット鋼板 - 特許庁 - MANUFACTURING HIGH FLATNESS WAFER
高平坦度ウェ—ハの製造方法 - 特許庁 - WAFER FLATNESS MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MEASURING WAFER FLATNESS
ウェーハ平坦度測定装置及びウェーハ平坦度を測定する方法 - 特許庁 - FLATNESS MEASURING METHOD AND FLATNESS MEASURING APPARATUS OF PLATE MATERIAL
板材の平坦度測定方法及び板材の平坦度測定装置 - 特許庁 - a numerical expression of flatness
平らさを数値で表わしたもの - 研究社 英和コンピューター用語辞典 - MANUFACTURE OF HIGH FLATNESS WAFER
高平坦度ウェーハの製造方法 - 特許庁 - MANUFACTURE OF HIGH-FLATNESS WAFER
高平坦度ウェーハの製造方法 - 特許庁 - PASS BAND FLATNESS CORRECTION CIRCUIT
通過帯域平坦度補償回路 - 特許庁 - PROCESSING METHOD OF WAFER OF HIGH FLATNESS
高平坦度ウェ—ハの加工方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FLATNESS
平坦度計測方法および装置 - 特許庁 - APPARATUS FOR MEASURING FLATNESS OF VALVE SEAT SURFACE
弁座面の平坦度測定装置 - 特許庁 - SHEARING INTERFEROMETER FOR MEASURING FLATNESS
平面度測定用シヤリング干渉計 - 特許庁 - METHOD FOR CONTROLLING FLATNESS DEGREE, AND DEVICE
平坦度制御方法および装置 - 特許庁 - The master is restored to the original flatness, and the flatness of the mother should be 0.5 mm or less.
マスターは元のフラットに復元、マザー平面度は０.５ｍｍ以下である。 - 特許庁 - To provide a silicon wafer having high flatness.
平坦度の高いシリコンウェーハを得る。 - 特許庁 - FLATNESS SIMULATION SYSTEM FOR MASK SUBSTRATE
マスク基板の平坦度シミュレーションシステム - 特許庁 - FLATNESS-CORRECTING TOOL FOR FRICTION MATERIAL AND FLATNESS-CORRECTING METHOD FOR FRICTION MATERIAL
摩擦材の平面度矯正治具及び摩擦材の平面度矯正方法 - 特許庁 - REPROCESSING METHOD OF WAFER OF HIGH FLATNESS
高平坦度ウェ—ハの再加工方法 - 特許庁 - FLATNESS MEASURING DEVICE FOR SUBSTRATE SURFACE
基板表面の平坦度測定装置 - 特許庁 - FLATNESS MEASURING METHOD AND APPARATUS AND FLATNESS CONTROL METHOD AND APPARATUS
平坦度計測方法および装置、並びに平坦度制御方法および装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FLATNESS
平坦度測定方法及びその装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR MEASUREMENT OF FLATNESS
平坦度測定方法及びその装置 - 特許庁 - Then, the amount of flatness in the straight pipe is calculated from the amount of flatness in the straight pipe 35a at the amount-of-flatness measurement section 41.
次に、扁平量測定部４１における直管３５ａの扁平量から直管の扁平量を算出する。 - 特許庁 - TRUCK FOR ROAD SURFACE FLATNESS MEASURING DEVICE
路面平坦度測定装置用台車 - 特許庁 - To improve terminal flatness of a signal post.
信号ポストの端子平坦度を良くする。 - 特許庁 - The flatness of the thermal head 12 is adjusted by a flatness adjustment mechanism 31.
サーマルヘッド１２の平坦度は、平坦度調整機構３１によって調整される。 - 特許庁 - OPTICAL MEASURING DEVICE FOR LAP FACE FLATNESS
ラップ面平坦化用光学測定装置 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING FLATNESS OF SEMICONDUCTOR WAFER
半導体ウエハーの平坦度測定方法 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING FLATNESS OF SEMICONDUCTOR WAFER
半導体ウェーハの平坦度評価方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AND/OR CONTROLLING FLATNESS AND FLATNESS CONTROL SYSTEM
平坦度を測定及び／又は制御する方法乃至装置、平坦度制御システム - 特許庁
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