「memory testing」を含む例文一覧(482)
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メモリテスティング - 特許庁 - MEMORY TESTING APPARATUS
メモリ試験装置 - 特許庁 - MEMORY TESTING DEVICE
メモリ試験装置 - 特許庁 - MEMORY-TESTING DEVICE
メモリ試験装置 - 特許庁 - MEMORY TESTING SYSTEM
メモリ試験装置 - 特許庁 - MEMORY TESTING METHOD, MEMORY TESTING DEVICE
メモリ試験方法・メモリ試験装置 - 特許庁 - MEMORY TESTING METHOD
メモリ試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING MEMORY
メモリ試験方法 - 特許庁 - MEMORY TESTING DEVICE AND MEMORY TESTING METHOD
メモリ試験装置およびメモリ試験方法 - 特許庁 - MEMORY IC TESTING SYSTEM
メモリＩＣテストシステム - 特許庁 - METHOD FOR TESTING MEMORY
メモリの試験方法 - 特許庁 - MEMORY ARRAY-TESTING CIRCUIT
メモリアレイ試験回路 - 特許庁 - MEMORY DEVICE TESTING APPARATUS
メモリデバイス試験装置 - 特許庁 - DUAL PORT MEMORY TESTING DEVICE
デュアルポートメモリ試験装置 - 特許庁 - MEMORY TEST CIRCUIT AND MEMORY TESTING METHOD
メモリテスト回路及びメモリテスト方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING APPARATUS
半導体メモリ試験装置 - 特許庁 - MEMORY TESTING AND INITIALIZING CIRCUIT
メモリテスト兼初期化回路 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING DEVICE
半導体メモリ試験装置 - 特許庁 - APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体メモリ検査装置 - 特許庁 - DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体メモリ試験装置 - 特許庁 - MEMORY MODULE AND DEVICE FOR TESTING MEMORY
メモリモジュ−ル及びメモリを試験する装置 - 特許庁 - INCORPORATED SELF-TESTING CIRCUIT FOR MEMORY
メモリ用内蔵自己テスト回路 - 特許庁 - TESTING CIRCUIT FOR NON-VOLATILE MEMORY
不揮発性メモリの検査回路 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING NON-VOLATILE MEMORY
不揮発性メモリの試験方法 - 特許庁 - PATTERN GENERATING DEVICE FOR TESTING MEMORY
メモリ試験用パターン発生装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEMORY SELF TESTING
メモリ自己テストの方法と装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY CAPABLE OF TESTING REDUNDANT MEMORY CELL
冗長メモリセルがテスト可能な半導体メモリ - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING MEMORY
メモリ試験方法・メモリ試験装置 - 特許庁 - FLASH MEMORY AND ITS TESTING METHOD
フラッシュメモリ及びその試験方法 - 特許庁 - CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING MEMORY
メモリテスト回路およびメモリテスト方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING MEMORY
メモリを試験する方法及びデバイス - 特許庁 - CIRCUIT AND METHOD FOR MEMORY TESTING
メモリテスト回路およびメモリテスト方法 - 特許庁 - INCORPORATED SELF-TESTING CIRCUIT FOR MEMORY ELEMENT
メモリー素子用内蔵自己テスト回路 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING MEMORY
メモリの試験装置および試験方法 - 特許庁 - MEMORY DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
記憶装置及び半導体試験装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING MEMORY
メモリ試験装置及びメモリ試験方法 - 特許庁 - TEST METHOD OF MEMORY, TEST DEVICE AND MEMORY MODULE FOR TESTING
メモリのテスト方法、テスト装置及びテスト用メモリモジュール - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY, METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体メモリ、半導体メモリのテスト方法およびシステム - 特許庁 - SCANNED MEMORY TESTING METHOD OF MULTI-PORT MEMORY ARRAY (MEMORY ARRAY, MEMORY ARRAY TESTING METHOD, AND MULTI-PORT FLOATING POINT REGISTER)
マルチポート・メモリ・アレイの走査メモリ・テスト方法（メモリ・アレイ、メモリ・アレイのテスト法、及びマルチポート浮動小数点レジスタ） - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY, ITS TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD
半導体記憶装置並びにその試験装置および試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING FUNCTION OF MEMORY CELL OF INTEGRATED MEMORY AND INTEGRATED MEMORY
集積メモリのメモリセルの機能をテストする方法および集積メモリ - 特許庁 - METHOD FOR TESTING NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY
不揮発性半導体メモリの検査方法 - 特許庁 - NONVOLATILE MEMORY TESTING DEVICE AND PROGRAM
不揮発性メモリ試験装置およびプログラム - 特許庁 - METHOD FOR TESTING MEMORY AND SEMICONDUCTOR DEVICE
メモリのテスト方法及び半導体装置 - 特許庁 - METHOD OF ELECTRONICALLY TESTING MEMORY MODULES
メモリモジュールを電子的に試験する方法 - 特許庁 - a method of testing the memory called reproduction process
再生法という,記憶の試験方法 - EDR日英対訳辞書 - To provide a circuit and a method for memory testing capable of shortening a memory testing time.
メモリテストの時間を短縮するメモリテスト回路およびメモリテスト方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY
不揮発半導体記憶装置の検査方法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MULTIPROCESSOR MEMORY
マルチプロセッサメモリをテストするシステム及び方法 - 特許庁 - FAIL DATA MEMORY CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
半導体試験装置のフェイルデータメモリ回路 - 特許庁
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