「memory testing」を含む例文一覧(482)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 次へ＞- METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体メモリ試験方法及びその装置 - 特許庁 - MEMORY ELEMENT TESTING BY UTILIZING SENSE AMPLIFIER
センスアンプを利用してテストを行うメモリ素子 - 特許庁 - PATTERN MEMORY CIRCUIT FOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE
集積回路試験装置のパターンメモリ回路 - 特許庁 - CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING NON-VOLATILE MEMORY
不揮発性メモリのテスト回路および方法 - 特許庁 - FERROELECTRIC MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD
強誘電体メモリ装置及び試験方法 - 特許庁 - MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD FOR TESTING RANKING OF TELEVISION PROGRAM
テレビ番組の格付けを試験するメモリー装置並びに試験方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体メモリ試験装置及び試験方法 - 特許庁 - HEAT CYCLE TESTING DEVICE FOR SHAPE MEMORY ALLOY
形状記憶合金の熱サイクル試験装置 - 特許庁 - TEST CIRCUIT FOR TESTING SYNCHRONOUS MEMORY CIRCUIT
同期メモリ回路をテストするためのテスト回路 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TESTING PROCEDURES
半導体記憶装置およびその検査手法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TESTING METHOD
半導体記憶装置およびその検査方法 - 特許庁 - VIDEO MEMORY TESTING AND DIAGNOSING METHOD AND DEVICE
ビデオメモリ試験診断方法およびその装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME
半導体メモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TESTING METHOD
半導体記憶装置及びその試験方法 - 特許庁 - MEMORY CONTROLLER WITH SELF-TEST FUNCTION, AND METHOD OF TESTING MEMORY CONTROLLER
セルフテスト機能のあるメモリコントローラ及びそれをテストする方法 - 特許庁 - MEMORY REPAIR ANALYSIS DEVICE, MEMORY REPAIR ANALYSIS METHOD, AND TESTING APPARATUS
メモリリペア解析装置、メモリリペア解析方法、および試験装置 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
半導体記憶装置のテスト方法及び半導体記憶装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING MEMORY CELL
半導体記憶装置、及びメモリセルテスト方法 - 特許庁 - TRACE CIRCUIT, MEMORY TESTING METHOD AND RECORDING MEDIUM
トレース回路、メモリ試験方法及び記録媒体 - 特許庁 - NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TESTING METHOD
不揮発性半導体メモリとその検査方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
不揮発性半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MEMORY TESTING SYSTEM
半導体集積回路及びメモリ検査方法 - 特許庁 - DATA TRANSFER CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING APPARATUS
半導体メモリ試験装置のデータ転送回路 - 特許庁 - TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
半導体記憶装置の試験方法及び半導体記憶装置の試験装置 - 特許庁 - IC-TESTING APPARATUS, CONTROL METHOD AND MEMORY MEDIUM IN IC-TESTING APPARATUS
ＩＣ試験装置、ＩＣ試験装置における制御方法及び記憶媒体 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS WAFER TESTING METHOD
半導体記憶装置およびそのウェハーテスト方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MEMORY TESTING METHOD
半導体集積回路およびメモリのテスト方法 - 特許庁 - TEST ARRAY AND METHOD FOR TESTING MEMORY ARRAY
メモリアレイをテストするためのテストアレイおよび方法 - 特許庁 - NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD OF TESTING SAME
不揮発性半導体メモリ及びそのテスト方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY
ダイナミックランダムアクセスメモリをテストする方法及び装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING RANDOM ACCESS MEMORY DEVICE
ランダムアクセスメモリ装置をテストする方法及び装置 - 特許庁 - TESTING APPARATUS, PROGRAM, MEMORY MEDIUM, AND TEST METHOD
試験装置、プログラム、記憶媒体、および、試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD OF TESTING THEREOF
半導体メモリおよび半導体メモリの試験方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MEMORY AND STORAGE MEDIUM
メモリ試験方法及び装置並びに記憶媒体 - 特許庁 - To provide a memory testing method using a universal testing program independent of the internal configuration of a memory.
メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁 - NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY HAVING TESTING FUNCTION
テスト機能を有する不揮発性半導体メモリ装置 - 特許庁 - ADDRESS CONVERSION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING DEVICE
アドレス変換回路および半導体メモリ試験装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR
半導体記憶装置および半導体試験方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING FLASH MEMORY
フラッシュメモリのテスト装置及びフラッシュメモリのテスト方法 - 特許庁 - NAND-TYPE FLASH MEMORY AND NAND-TYPE FLASH MEMORY TESTING METHOD
ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ、及び、ＮＡＮＤ型フラッシュメモリのテスト方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM FOR MEMORY IN THE SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置、半導体装置におけるメモリの試験方法および試験プログラム - 特許庁 - TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体記憶装置のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁 - DATA INVERSION REGISTER TECHNIQUE FOR INTEGRATED CIRCUIT MEMORY TESTING
集積回路メモリ検査用のデータ反転レジスタ技術 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE TO REDUCE PACKAGE TESTING TIME
パッケージテスト時間を低減させるための半導体メモリ素子 - 特許庁 - METHOD AND PROGRAM FOR TESTING MEMORY OF COMPUTER SYSTEM
コンピュータシステムのメモリ試験方法およびメモリ試験プログラム - 特許庁 - ERASE FUNCTION TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR NONVOLATILE MEMORY
半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体メモリ試験装置及び半導体メモリ試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING MANY WORD LINES OF SEMICONDUCTOR MEMORY ASSEMBLY
半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法 - 特許庁 - NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND TESTING METHOD THEREFOR
半導体不揮発性記憶装置およびその試験方法 - 特許庁 - METHOD OF TESTING REWRITE STRESS OF NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY
不揮発性半導体メモリの書換ストレス試験方法 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
