「program test」を含む例文一覧(1631)
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テストパターン生成システム、テストパターン解析システム、テストパターン生成方法、テストパターン解析方法、テストパターン生成プログラム、テストパターン解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁 - TEST SPECIFICATION GENERATION DEVICE AND PROGRAM
テスト仕様生成装置およびプログラム - 特許庁 - TEST DEVICE, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM
試験装置、プログラム及び記憶媒体 - 特許庁 - MEASUREMENT TEST SYSTEM AND ITS PROGRAM
計測試験システムおよびそのプログラム - 特許庁 - INK JET PRINTER, PROGRAM, AND TEST PATTERN
インクジェットプリンタ、プログラム、及びテストパターン - 特許庁 - INSPECTION APPARATUS, TEST SYSTEM, AND PROGRAM
検査装置，検査システムおよびプログラム - 特許庁 - TEST PATTERN GENERATION METHOD AND PROGRAM
テストパターン作成方法およびプログラム - 特許庁 - UNIT TEST PROGRAM AUTOMATIC GENERATION METHOD
単体テストプログラム自動生成方式 - 特許庁 - WEB SERVICE TEST SUPPORT DEVICE AND PROGRAM
Ｗｅｂサービステスト支援装置及びプログラム - 特許庁 - INSPECTION DEVICE OF SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM
半導体試験プログラム検査装置及び半導体試験プログラム検査方法 - 特許庁 - BIOMOLECULE TEST DEVICE, BIOMOLECULE TEST CHIP, BIOMOLECULE TEST METHOD, AND BIOMOLECULE TEST PROGRAM
生体分子検査装置、生体分子検査チップ、生体分子検査方法、及び生体分子検査プログラム - 特許庁 - COMMUNICATION TEST DEVICE, NETWORK WITH COMMUNICATION TEST FUNCTION, COMMUNICATION TEST METHOD AND COMMUNICATION TEST PROGRAM
通信試験装置、通信試験機能を有するネットワーク、接続試験方法および接続試験プログラム - 特許庁 - TEST SYSTEM, METHOD AND PROGRAM
試験システム及び方法並びにプログラム - 特許庁 - TEST EQUIPMENT, TESTING METHOD, AND PROGRAM
試験装置、試験方法、および、プログラム - 特許庁 - TEST CONDUCTING DEVICE, METHOD, AND PROGRAM
テスト実行装置、方法およびプログラム - 特許庁 - TEST MANHOUR ESTIMATION DEVICE AND PROGRAM
テスト工数見積装置およびプログラム - 特許庁 - The host program will also have a test mode,
ホストプログラムにはまたテストモードも持つ。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』 - CHARACTERISTIC TEST LEARNING SYSTEM AND CHARACTERISTIC TEST LEARNING PROGRAM
特性試験学習システムおよび特性試験学習プログラム - 特許庁 - TEST-PATTERN FORMING METHOD, PRINTER AND TEST-PATTERN FORMING PROGRAM
テストパターン形成方法、プリンタ、及びテストパターン形成プログラム - 特許庁 - UNIT TEST METHOD, UNIT TEST DEVICE, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM
単体テスト方法、単体テスト装置、プログラム、及び記憶媒体 - 特許庁 - TEST CONDITION DETERMINATION DEVICE AND TEST CONDITION DETERMINATION PROGRAM
試験条件決定装置及び試験条件決定プログラム - 特許庁 - GUI TEST SUPPORT SYSTEM AND APPLICATION PROGRAM FOR TEST SUPPORT
ＧＵＩテスト支援システム及びテスト支援用アプリケーションプログラム - 特許庁 - TEST SPECIFICATION GENERATION PROGRAM AND TEST SPECIFICATION GENERATION DEVICE
テスト仕様書生成プログラム、およびテスト仕様書生成装置 - 特許庁 - PROTECTION METHOD FOR LSI TEST PROGRAM AND TEST METHOD FOR LSI
ＬＳＩテストプログラムの保護方法及びＬＳＩのテスト方法 - 特許庁 - PRINTING SYSTEM, TEST CHART PRINTING METHOD, TEST CHART PRINTING PROGRAM, RECORDING MEDIUM WITH RECORDED TEST CHART PRINTING PROGRAM, AND TEST CHART
印刷システム、テストチャート印刷方法、テストチャート印刷プログラム、テストチャート印刷プログラムを記録した記録媒体、テストチャート - 特許庁 - CLIENT-SERVER SYSTEM, LOAD TEST METHOD, AND LOAD TEST PROGRAM
クライアント−サーバシステム、負荷テスト方法、および負荷テストプログラム - 特許庁 - TEST MACHINE ON VEHICLE BENCH AND TEST PROGRAM ON VEHICLE BENCH
車両台上試験機及び車両台上試験プログラム - 特許庁 - TEST PATTERN MANAGEMENT DEVICE, TEST PATTERN MANAGEMENT METHOD, AND PROGRAM
テストパターン管理装置及びテストパターン管理方法及びプログラム - 特許庁 - To reduce test man-hours for a batch application program AP as a test object.
テスト対象のバッチＡＰのテスト工数を低減をする。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST PROGRAM, TEST METHOD, AND TESTING DEVICE
半導体装置、試験プログラム、試験方法、および試験装置 - 特許庁 - CIRCUIT TESTING DEVICE, CIRCUIT TEST PROGRAM, AND CIRCUIT TEST METHOD
回路試験装置、回路試験プログラムおよび回路試験方法 - 特許庁 - ROUTER RAS TEST METHOD AND ROUTER RAS TEST PROGRAM
ルータＲＡＳ試験方法およびルータＲＡＳ試験プログラム - 特許庁 - TEST PATTERN EDITING SYSTEM, TEST PATTERN EDITING PROGRAM, AND TEST PATTERN EDITING METHOD
テストパターン編集装置、テストパターン編集プログラム及びテストパターン編集方法 - 特許庁 - PRINTER, TEST PATTERN PRINTING METHOD, TEST PATTERN PRINTING PROGRAM, AND TEST PATTERN DATA
印刷装置、テストパターン印刷方法、テストパターン印刷プログラムおよびテストパターンデータ - 特許庁 - MAINTENANCE TEST PROGRAM, MAINTENANCE TEST DEVICE AND MAINTENANCE TEST METHOD OF VIRTUAL TAPE DEVICE
仮想テープ装置の保守試験プログラム、保守試験装置及び保守試験方法 - 特許庁 - TEST INFORMATION PROCESSING SYSTEM, TEST INFORMATION PROCESSING METHOD, AND TEST INFORMATION PROCESSING PROGRAM
テスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラム - 特許庁 - TEST CIRCUIT DESIGN PROGRAM, TEST CIRCUIT DESIGN DEVICE, AND TEST CIRCUIT DESIGN METHOD
テスト回路設計プログラム、テスト回路設計装置およびテスト回路設計方法 - 特許庁 - DEVICE FOR DEBUGGING PROGRAM FOR TEST OF SEMICONDUCTOR
半導体試験用プログラムデバッグ装置 - 特許庁 - DRIVING APTITUDE TEST METHOD AND PROGRAM
運転適性検査方法及びプログラム - 特許庁 - TEST BENCH SYSTEM, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM
テストベンチシステム、プログラム及び記憶媒体 - 特許庁 - TESTING APPARATUS, METHOD OF TESTING, AND TEST PROGRAM
テスト装置、テスト方法及びテストプログラム - 特許庁 - The test program 10 instructs execution of the test to an application program 20 to be tested (S4).
テストプログラム10は、テスト対象のアプリケーションプログラム20にテスト実行を指示する（S4）。 - 特許庁 - AUTOMATIC TEST METHOD AND PROGRAM OF IC
ＩＣの自動試験方法及びプログラム - 特許庁 - PROGRAM AND DEVICE FOR GENERATING TEST DATA
テストデータ生成用プログラム、および装置 - 特許庁 - The test program is divided plurality to execute the test program with a proper interval.
テストプログラムを複数に分割し、適当な間隔でテストプログラムを実行させる。 - 特許庁 - TEST BENCH SYSTEM, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM
テストベンチシステム、プログラム、及び記憶媒体 - 特許庁 - TESTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM
テスト装置、テスト方法およびテストプログラム - 特許庁 - This device is an improved test program generation device for generating the test program from the template of the test program.
本発明は、テストプログラムのテンプレートからテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置に改良を加えたものである。 - 特許庁 - AUTOMATIC GENERATION METHOD FOR COMPILER TEST PROGRAM
コンパイラテストプログラムの自動生成方法 - 特許庁 - TEST DATA GENERATING SYSTEM, TEST DATA GENERATING METHOD, AND TEST DATA GENERATING PROGRAM
テスト用データ作成システム、テスト用データ作成方法およびテスト用データ作成プログラム - 特許庁
- 特許庁
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- 日英対訳文対応付けデータ
- この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の集積したものであり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。
- 原題：”Cracking DES: Secrets of Encryption Research, Wiretap Politics, and Chip Design ”
邦題：『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』 - This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide.
日本語版の著作権保持者は ©1999
山形浩生<hiyori13@alum.mit.edu>である。この翻訳は、全体、部分を問わず、使用料の支払いなしに複製が認められる。
- 原題：”Cracking DES: Secrets of Encryption Research, Wiretap Politics, and Chip Design ”
