「program test」を含む例文一覧(1631)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 32 33 次へ＞- A skew value of each pin of the tester is calculated from a result h measured by the test pattern f and the test program g created, and a test program i for an actual test is created by reflecting the skew value in the original test program c.
生成したテストパタンｆとテストプログラムｇで測定した結果ｈから、テスタの各ピンのスキュー値を算出し、それを元のテストプログラムｃに反映させ、本テスト用のテストプログラムｉを生成する。 - 特許庁 - PROGRAM ANALYSIS SYSTEM, TEST EXECUTION DEVICE, AND ANALYSIS METHOD AND PROGRAM THEREOF
プログラム解析装置、テスト実行装置、その解析方法及びプログラム - 特許庁 - To provide a method of generating a test program for a computer program, automatically generating a test program capable of extracting defect generated under a complicated condition to a test target program.
テスト対象プログラムに対し、複雑な条件で発生する不良の摘出が可能なテストプログラムを自動で生成するコンピュータプログラムのテストプログラム生成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test case generation device, a test case generation method and a test case generation program which improve the test efficiency of a computer program represented by a source code.
ソースコードが表すコンピュータプログラムのテスト効率を向上するテストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを提供する。 - 特許庁 - DEVICE FOR TEST ITEM EXTRACTION SYSTEM, TEST ITEM EXTRACTION METHOD, RECORDING MEDIUM IN WHICH TEST ITEM EXTRACTION PROGRAM IS RECORDED AND TEST ITEM EXTRACTION PROGRAM
試験項目抽出システム装置、試験項目抽出方法、試験項目抽出プログラムを記録した記録媒体及び試験項目抽出プログラム - 特許庁 - TEST APPARATUS, TEST DATA PROVIDING METHOD, TEST DATA PROVIDING PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH THE TEST DATA PROVIDING PROGRAM RECORDIED THEREON
試験装置及び試験データ提供方法及び試験データ提供プログラム及び試験データ提供プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - CONNECTION TEST METHOD, CONNECTION TEST PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND IMAGE FORMING APPARATUS
接続テスト方法、接続テストプログラム、記録媒体および画像形成装置 - 特許庁 - OPERATION CONFIRMATION DEVICE, SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR TEST RULE FOR BLACK BOX TEST
ブラックボックステスト用テストルールの動作確認装置、システム、方法およびプログラム - 特許庁 - TEST SPECIFICATION INFORMATION PREPARATION DEVICE, TEST SPECIFICATION INFORMATION PREPARATION METHOD AND PROGRAM
テスト仕様情報作成装置、テスト仕様情報作成方法、およびプログラム - 特許庁 - A comparison part 514 compares the preceding test result data after the preceding test program execution and the this-time test result data after the this-time test program execution.
比較部５１４は、前回のテスト・プログラム実行後の前回テスト結果データと、今回のテスト・プログラム実行後の今回テスト結果データとを比較する。 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR GENERATING TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR TEST DEVICE
半導体試験装置用テストプログラム生成システム及びテストプログラム生成方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM, AND METHOD AND PROGRAM FOR GENERATION OF TEST PATTERN
半導体試験システム、テストパターン生成方法及びテストパターン生成プログラム - 特許庁 - ERROR PROCESS TEST SYSTEM OF SOFTWARE, TESTING METHOD, AND RECORDING MEDIUM FOR TEST PROGRAM
ソフトウェアのエラー処理テストシステム、テスト方法及びテストプログラムの記録媒体 - 特許庁 - TEST METHOD AND SYSTEM, PROGRAM FOR IT, AND TEST SYSTEM SERVER DEVICE
検査方法、検査システム、検査システム用プログラム及び検査システムサーバー装置 - 特許庁 - CONNECTION TEST METHOD, CONNECTION TEST PROGRAM, RECORDING MEDIUM AND INFORMATION PROCESSOR
接続テスト方法、接続テストプログラム、記録媒体および情報処理装置 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR GENERATING LSI TEST PROGRAM
ＬＳＩテストプログラム生成方法およびそのシステム - 特許庁 - AUTOMATIC TEST METHOD OF FAILURE DIAGNOSIS COMMUNICATION PROGRAM
故障診断通信プログラムの自動試験方法 - 特許庁 - SUPPORT APPARATUS, TEST APPARATUS, SUPPORT METHOD, AND PROGRAM
支援装置、試験装置、支援方法およびプログラム - 特許庁 - TEST PROGRAM INSPECTION APPARATUS AND METHOD
テストプログラム検査装置およびテストプログラム検査方法 - 特許庁 - PRODUCT TEST DEVICE, LOT MANAGEMENT METHOD AND PROGRAM
製品試験装置、ロット管理方法およびプログラム - 特許庁 - TEST SCENARIO CREATION METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM
テストシナリオ作成方法、プログラム及び記録媒体 - 特許庁 - TEST-USE PROGRAM, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD
検査用プログラム、検査システム並びに検査方法 - 特許庁 - METHOD AND PROGRAM FOR AUTOMATICALLY INSERTING TEST CLOCK CIRCUIT
テストクロック回路自動挿入方法及びプログラム - 特許庁 - MEASURING APPARATUS, TEST APPARATUS, PROGRAM AND ELECTRONIC DEVICE
測定装置、試験装置、プログラム、及び電子デバイス - 特許庁 - TEST DATA FILING SYSTEM AND PROGRAM
検査データファイリングシステム及び検査データファイリングプログラム - 特許庁 - TEST COMMAND FILE GENERATION SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM
テストコマンドファイル作成システムと方法およびプログラム - 特許庁 - METHOD FOR OPERATION TEST, APPARATUS FOR OPERATION, AND PROGRAM
動作試験方法、動作試験装置及びプログラム - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR SUPPORTING PROGRAM TEST AND RECORDING MEDIUM
プログラムテスト支援方法、装置及び記録媒体 - 特許庁 - TEST SPECIFICATION CREATION SUPPORT APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM
テスト仕様作成支援装置、方法及びプログラム - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST GENERATION PROGRAM
半導体集積回路およびテスト生成プログラム - 特許庁 - the test data is fed and run the program
テストデータが入力されプログラムが実行される - コンピューター用語辞典 - PROGRAM TEST SUPPORT DEVICE AND METHOD
プログラムテスト支援装置及びプログラムテスト支援方法 - 特許庁 - TEST SYSTEM, TEST METHOD AND TEST PROGRAM OF PROTECTION RELAY, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING PROGRAM
保護継電器の試験システム、保護継電器の試験方法、保護継電器の試験プログラム、およびこのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - TEST PATTERN PRODUCING APPARATUS, CIRCUIT DESIGN APPARATUS, TEST PATTERN PRODUCING METHOD, CIRCUIT DESIGN METHOD, TEST PATTERN PRODUCING PROGRAM, AND CIRCUIT DESIGN PROGRAM
テストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラム - 特許庁 - TEST PROCESS MANAGEMENT DEVICE, ITS METHOD, TEST PROCESS MANAGEMENT PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM HAVING TEST PROCESS MANAGEMENT PROGRAM RECORDED THEREON
テストプロセス管理装置、テストプロセス管理方法、及びテストプロセス管理プログラム、並びにテストプロセス管理プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR SUPPORTING ADAPTIVE TEST, ADAPTIVE TEST SUPPORTING PROGRAM AND STORAGE MEDIUM STORING ADAPTIVE TEST SUPPORTING PROGRAM
アダプティブ試験支援方法及び装置及びアダプティブ試験支援プログラム及びアダプティブ試験支援プログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁 - The device 3 stores the execution result and repeats the execution of the test program 5 on all instructions to test the test program.
自動テスト装置３は実行結果を保存し、全ての命令について繰り返し行うことでテストプログラムのテストを行う。 - 特許庁 - PROGRAM INSPECTION ITEM GENERATION SYSTEM AND METHOD, PROGRAM TEST SYSTEM AND METHOD, AND PROGRAM
プログラム検査項目生成システムと方法およびプログラムテストシステムと方法ならびにプログラム - 特許庁 - Since description of the STAB program is not required for the test target program, the program becomes simple.
また、テスト対象プログラムにスタブプログラムの記述が不要になり、プログラムが見易くなる。 - 特許庁 - A test execution part 102 performs a test about an object program for test using the test code 111, acquires a test result about an item which satisfies the test code 111 and reflects the test result on the test specification 112.
テスト実行部１０２は、テストコード１１１を用いてテスト対象プログラムについてのテストを行うとともに、テストコード１１１を満たした項目について、テスト結果を取得してテスト仕様書１１２に反映させる。 - 特許庁 - To provide a test method that reduces a test pattern length, and to provide a test control program and a semiconductor device.
テストパタン長を短縮できるテスト方法、テスト制御プログラム及び半導体装置を提供すること - 特許庁 - To create more appropriate test specifications and test data for designing a test of a computer program.
コンピュータプログラムのテストを設計するためのテスト仕様書とテストデータとをより適切に作成すること。 - 特許庁 - A control part 3 executes a program for test on the basis of the test mode generated at the test mode generating part 2.
制御部３はテストモード生成部２で生成したテストモードに基づいてテスト用プログラムを実行する。 - 特許庁 - To increase working efficiency of test work by a test program, and to reduce memory capacity for the test work.
テストプログラムによるテスト作業の作業効率を高め、テスト作業用のメモリ容量を少なくすること。 - 特許庁 - NETWORK TEST PLANNING DEVICE, NETWORK TEST PLANNING METHOD, NETWORK TEST PLANNING PROGRAM AND NETWORK MONITORING SYSTEM
ネットワーク試験計画装置、ネットワーク試験計画方法、ネットワーク試験計画プログラム及びネットワーク監視システム - 特許庁 - TEST SPECIFICATION PREPARATION SUPPORT DEVICE, TEST SPECIFICATION PREPARATION METHOD, CONSTRUCTION METHOD FOR DATABASE, AND TEST SPECIFICATION PREPARATION PROGRAM
テスト仕様作成支援装置、テスト仕様作成方法、データベースの構築方法、テスト仕様作成プログラム - 特許庁 - ENDURANCE TEST APPARATUS FOR GOLF CLUB HEAD, ENDURANCE TEST METHOD FOR GOLF CLUB HEAD, AND ENDURANCE TEST PROGRAM FOR GOLF CLUB HEAD
ゴルフクラブヘッド耐久試験装置、ゴルフクラブヘッド耐久試験方法およびゴルフクラブヘッド耐久試験プログラム - 特許庁 - To provide a test system, a test method and a test program for reducing the amount of data necessary in a test.
テストにおいて必要となるデータ量を削減することができるテストシステム、テスト方法およびテストプログラムを提供すること - 特許庁 - A test pattern generation part 210 generates a test pattern 301 including the test pattern and the test data from a program specification for a Web system 100.
テストパターン生成部２１０は、Ｗｅｂシステム１００のプログラム仕様からテストパターンとテストデータを含むテストパターン３０１を生成する。 - 特許庁 - INTERNATIONALIZATION SOFTWARE TEST METHOD USING RESOURCE FILE FOR TEST AND FONT FOR TEST, DEVICE, PROGRAM AND DATA STRUCTURE FOR FONT FOR TEST
テスト用リソース・ファイル及びテスト用フォントを用いた国際化ソフトウェアのテスト方法、装置、プログラム及びテスト用フォントのデータ構造 - 特許庁
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