「program test」を含む例文一覧(1631)

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  • SECURITY TEST SUPPORT DEVICE, SECURITY TEST SUPPORT METHOD, AND SECURITY TEST SUPPORT PROGRAM
    セキュリティ試験支援装置、セキュリティ試験支援方法およびセキュリティ試験支援プログラム - 特許庁
  • SOFTWARE PARTIAL TEST SYSTEM, SOFTWARE PARTIAL TEST METHOD, AND PROGRAM FOR SOFTWARE PARTIAL TEST
    ソフトウェア部分テストシステム、ソフトウェア部分テスト方法およびソフトウェア部分テスト用プログラム - 特許庁
  • TEST RESULT DECISION DISPLAY METHOD, TEST RESULT DECISION DISPLAY PROGRAM AND TEST DEVICE
    試験結果判定表示方法、試験結果判定表示プログラム及び試験装置 - 特許庁
  • TEST CREATION DEVICE, TEST CREATION METHOD, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM
    テスト作成装置、テスト作成方法、プログラムおよび記憶媒体 - 特許庁
  • LSI TESTER, AUTOMATIC CREATION TOOL OF TEST PROGRAM, AND TEST SYSTEM
    ＬＳＩテスタおよびテストプログラム自動作成ツール並びにテストシステム - 特許庁
  • CONTROL TEST SUPPORT SYSTEM AND PROGRAM FOR CONTROL TEST SUPPORT SYSTEM
    制御テスト支援システム、及び制御テスト支援システム用プログラム - 特許庁
  • TEST DATA GENERATION SUPPORT PROGRAM AND TEST DATA GENERATION SUPPORT METHOD
    テストデータ作成支援プログラムおよびテストデータ作成支援方法 - 特許庁
  • NETWORK SYSTEM TEST METHOD, NETWORK SYSTEM TEST PROGRAM, AND NETWORK DEVICE
    ネットワークシステムテスト方法、ネットワークシステムテストプログラム及びネットワーク装置 - 特許庁
  • SENSORY TEST SYSTEM, SENSORY TEST PROGRAM AND RECORDING MEDIUM
    官能検査システム及び官能検査プログラム並びに記憶媒体 - 特許庁
  • TEST INFORMATION MANAGEMENT SERVER, TEST INFORMATION MANAGEMENT METHOD AND PROGRAM
    テスト情報管理サーバ、テスト情報管理方法、およびプログラム - 特許庁
  • TEST CASE EXTRACTION DEVICE, TEST CASE EXTRACTION PROGRAM, STORAGE MEDIUM STORING TEST CASE EXTRACTION PROGRAM, AND TEST CASE EXTRACTION METHOD
    テストケース抽出装置、テストケース抽出プログラム、テストケース抽出プログラムが格納された記憶媒体およびテストケース抽出方法 - 特許庁
  • METHOD OF TESTING DATA PROCESSING SYSTEM, TEST PROGRAM, AND TEST APPARATUS
    データ処理システムの試験方法、試験プログラム及び試験装置 - 特許庁
  • VIBRATION TEST METHOD AND DEVICE, AND PROGRAM FOR VIBRATION TEST
    振動試験方法及び装置、並びに振動試験用プログラム - 特許庁
  • TEST SUPPORT SYSTEM AND TEST SUPPORT PROGRAM FOR ESTIMATION BUSINESS SYSTEM
    積算業務システムのテスト支援システム及びテスト支援プログラム - 特許庁
  • BASE STATION EQUIPMENT, AND TEST METHOD AND TEST PROGRAM THEREFOR
    基地局装置、基地局装置の試験方法および試験プログラム - 特許庁
  • TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION PROGRAM AND TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD
    テストパタン自動生成プログラムおよびテストパタン自動生成方法 - 特許庁
  • IC CARD TEST DEVICE, IC CARD TEST METHOD, AND COMPUTER PROGRAM
    ＩＣカードテスト装置、ＩＣカードテスト方法およびコンピュータプログラム - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM
    半導体試験装置、半導体試験方法、プログラム、記録媒体 - 特許庁
  • TEST SCENARIO CREATING APPARATUS, STOCK TRADING TEST SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM
    テストシナリオ生成装置、株取引テストシステム及びコンピュータプログラム - 特許庁
  • TEST ITEM CREATION DEVICE, TEST ITEM CREATION SYSTEM, TEST ITEM CREATION METHOD AND TEST ITEM CREATION PROGRAM
    テスト項目生成装置、テスト項目生成システム、テスト項目生成方法、およびテスト項目生成プログラム - 特許庁
  • TEST DATA REGISTRATION METHOD, PROGRAM AND DEVICE
    テストデータ登録方法、プログラム及び装置 - 特許庁
  • TEST DATA GENERATING PROGRAM, DEVICE, AND METHOD
    テストデータ生成プログラム、装置、及び方法 - 特許庁
  • PROGRAM TEST SUPPORT DEVICE, AND ITS METHOD
    プログラムテスト支援装置およびその方法 - 特許庁
  • TEST DATA GENERATION PROGRAM, METHOD AND APPARATUS
    テストデータ生成プログラム、方法及び装置 - 特許庁
  • TEST DATA GENERATION METHOD, PROGRAM AND APPARATUS
    テストデータ作成方法及びプログラム、装置 - 特許庁
  • TEST PROGRAM PREPARING DEVICE AND ITS METHOD
    テストプログラム作成装置およびその方法 - 特許庁
  • TEST CASE GENERATION METHOD, PROGRAM, AND SYSTEM
    テスト・ケース生成方法、プログラム及びシステム - 特許庁
  • TEST PROGRAM GENERATING METHOD FOR LOGICAL INSPECTION
    論理検証用テストプログラム生成方法 - 特許庁
  • This test system performing a test in a user program has: a user program execution part executing the user program including a test execution instruction; a test program storage part previously provided with a test program storage area rewritably storing the test program read and executed according to the test execution instruction; and a test program input part inputting the test program and storing it in the test program storage area.
    本発明におけるテストシステムは、ユーザープログラムのテストを行うテストシステムであって、テスト実行命令を含むユーザープログラムを実行するユーザープログラム実行部と、テスト実行命令に応じて読み出され実行されるテストプログラムを書き換え可能に格納するテストプログラム格納領域を予め設けたテストプログラム記憶部と、テストプログラムを入力しテストプログラム格納領域に格納するテストプログラム入力部を備えたテストシステムである。 - 特許庁
  • To detect transition to the other test program from some test program in a plurality of test programs and to detect bug of the program.
    複数の試験プログラムでのある試験プログラムから他の試験プログラムへの遷移を検出して、そのプログラムのバグを検出する。 - 特許庁
  • To provide a test method, a test program, a test device and a test system, allowing improvement of test efficiency compared to a conventional test method.
    従来の試験方法に比べて、試験効率を向上することができる試験方法、試験プログラム、試験装置及び試験システムを提供する。 - 特許庁
  • DIAGNOSIS PROGRAM, SWITCH PROGRAM, TEST DEVICE, AND DIAGNOSIS METHOD
    診断プログラム、切替プログラム、試験装置、および診断方法 - 特許庁
  • The eBay Developers Program Sandbox is a test environment that represents a "mini" eBay site.
    eBay Developers Program Sandbox は、"ミニ" eBay サイトとでもいうべきテスト用環境です。 - PEAR
  • TEST SPECIFICATION GENERATING DEVICE, TEST SYSTEM, AND METHOD AND PROGRAM FOR GENERATING TEST SPECIFICATION
    試験仕様生成装置及び試験システム及び試験仕様生成方法及びプログラム - 特許庁
  • TEST ITEM GENERATION DEVICE, TEST ITEM GENERATION METHOD, AND TEST ITEM GENERATION PROGRAM
    試験項目生成装置及び試験項目生成方法及び試験項目生成プログラム - 特許庁
  • TEST METHOD, TEST DEVICE AND TEST PROGRAM, FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置試験方法、半導体装置試験装置および半導体装置試験プログラム - 特許庁
  • To provide a program test device for raising readability in a test scenario which is used in the test of a program to be tested.
    被テストプログラムのテストに使用されるテストシナリオの可読性を向上したプログラムテスト装置を提供する。 - 特許庁
  • A start, test program storage means 22 downloads the test program to a memory of each device in a test device group 4.
    起動試験プログラム格納手段２２は、試験プログラムを試験装置群４の各装置のメモリにダウンロードする。 - 特許庁
  • INFORMATION PROCESSOR TEST PROGRAM AND METHOD
    情報処理装置試験プログラム及び方法 - 特許庁
  • A generation unit 706 generates a test program from the program code whose test object is set.
    生成部７０６は、試験対象が設定されたプログラムコードからテストプログラムを生成する。 - 特許庁
  • A test program 11 is a program that is built in a host device to control the entire test.
    試験プログラム１１は上位装置に内蔵され試験全体を制御するプログラムである。 - 特許庁
  • PROGRAM, INFORMATION STORAGE MEDIUM, AND TEST DEVICE
    プログラム、情報記憶媒体及びテスト装置 - 特許庁
  • TEST RESULT COLLATION SYSTEM, METHOD AND PROGRAM
    テスト結果照合システム、方法、及びプログラム - 特許庁
  • TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM
    試験システム、試験方法、及び試験プログラム - 特許庁
  • AUTOMATIC TEST POINT INSERTION METHOD AND PROGRAM
    テストポイント自動挿入方法及びプログラム - 特許庁
  • A test program includes a plurality of processing units.
    テストプログラムは複数の処理単位を含む。 - 特許庁
  • TEST METHOD AND TEST PROGRAM GENERATING PROGRAM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路のテスト方法及び半導体集積回路のテストプログラム生成プログラム - 特許庁
  • TEST SUPPORT DEVICE, CONTROL METHOD, AND PROGRAM
    テスト支援装置、制御方法、及びプログラム - 特許庁
  • AUTOMATIC TEST SYSTEM WITH CORRECTION FUNCTION, AUTOMATIC TEST METHOD, AND PROGRAM
    補正機能を持つ自動試験システム、自動試験方法、およびプログラム - 特許庁
  • TEST SUPPORT DEVICE, TEST SUPPORTING METHOD, COMPUTER PROGRAM AND STORAGE MEDIUM
    テスト支援装置、テスト支援方法、コンピュータプログラム及び記憶媒体 - 特許庁
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