「sample surface」を含む例文一覧(2601)
＜前へ 1 2 .... 31 32 33 34 35 36 37 38 39 .... 52 53 次へ＞- By patterning a large quantity of ligand in an array on the surface of the base, the bonding pattern of a sample to an array is analyzed, thus identifying the microbe taxonomically.
基材表面に多くのリガンドをアレイ状にパターン化により、アレイに対する試料の結合パターンを分析すれば、微生物を分類学的に同定ができる。 - 特許庁 - The angle resolving and retarding independently operating type electron spectroscope allows electrons emitted from the surface of a sample to be injected into a front-stage electrostatic lens via an introducing port.
角度分解・リターディング独立動作型電子分光器では、試料表面から放出される電子が取り込み口を介して静電型前段の電子レンズに入射される。 - 特許庁 - A microorganism transformed with the recombinant vector and absorbing arsenic in the cell surface layer is used to remove the arsenic from a sample such as an arsenic-containing liquid or soil.
そして、組換えベクターにより形質転換され、ヒ素を細胞表層に吸着する微生物を用いて、ヒ素を含む液体または土壌等の試料からヒ素を除去する。 - 特許庁 - The merchandise sample 1 the rear surface of which is opened is made of plastic film or sheet by simulating the front half of the outer shape of merchandise to be sold by an automatic vending machine.
自動販売機で販売する商品の外形の前側半分をプラスチック製フィルム又はシートで模ることにより、後面開放の商品サンプル１を形成する。 - 特許庁 - To provide an improved device and method for controlling the effective spot size and increase in the angle of a radiation beam, in a target region on the surface of a sample.
試料の表面上の目標領域における放射線ビームの有効スポットサイズと角度的広がりを制御するための改善された装置と方法の提供。 - 特許庁 - To provide a mapping property measuring method, capable of measuring a high-reliability image clarity property, even when a light quantity distribution on the sample surface of a measuring object is large in width.
被測定物のサンプル面の光量分布の幅が大きい場合でも信頼性の高い写像性の測定を行うことのできる写像性測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a collection and measurement method of a biological fluid collection tool for calculating a concentration of an object to be collected, even if a biological fluid sample cannot be collected over the entire collection surface.
採取する面の全面に体液試料が採取されなくても、採取物の濃度を算出できる体液採取具の採取および測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical image observation system capable of observing nondestructively the surface and the inside of a sample.
本発明は光学像観察システムに関し、非破壊で試料の表面及び内部を観察することができる光学像観察システムを提供することを目的としている。 - 特許庁 - There is also provided, as needed, an inclining stage for directing the exposure position of the side surface of the sample to be exposed toward a direction perpendicular to the optical axis of the projection optical system.
また、場合によっては、被露光試料の側表面の露光すべき位置を投影光学系の光軸に垂直な方向に向ける傾斜ステージを設ける。 - 特許庁 - To provide a method for making a quantitative judgment on a surface of a sample independent of an inspecting person, which method proceeds automatically to record a result and prepare a document.
検査実施人に依存しない、試料表面を判定するための定量的な方法であって、自動的に進行し、結果を記録し、文書化する方法とする。 - 特許庁 - In the case of the inspection and maintenance of the automatic sample injection device 8, a cover 26 is opened, an upper-surface cover 28 and left-and right-side face plates 30 and 32 are removed.
自動試料注入装置８の内部の点検や保守は、カバー２６を開け、上面カバー２８、左側面板３０及び右側面板３２を取り外して行なう。 - 特許庁 - The wafer 5 inside a sample observation space 8 is moved to a wafer observation position by the stage 7, and observation of surface shape and foreign materials, defect inspection, etc., are then performed.
試料観察室８内のウェハー５はステージ７によってウェハー観察位置に移動され、表面形状や異物観察および欠陥検査などが行われる。 - 特許庁 - The surface of the sample is scanned by the light beam in a two-dimensional manner.
一方、対物レンズをその光軸方向に移動させる対物レンズ駆動手段（１０）を有し、対物レンズを光軸方向に移動させながら試料表面を2次元走査する。 - 特許庁 - The rotation means 10 is rotated and coordinates on the surface of the rotated assistance sample 30 are measured by the probe 20 at four rotation positions where a rotation angle of 90 degrees is apart each other.
回転手段１０を回転させて９０度間隔の４つの回転角度の位置で、移動させた補助試料３０の表面の座標をプローブ２０により測定する。 - 特許庁 - To provide an exposure method capable of forming a repeated pattern, with high interval accuracy on the side surface of the sample to be exposed.
本発明が解決しようとする課題は、被露光試料の側表面に高い間隔精度で繰り返しパターンを形成できる露光方法を提供できるようにすることである。 - 特許庁 - The corresponding relationship reflects the contamination state of the surface of the sample 2 and each kind of influence is canceled since the RR is the ratio of two light constituents.
この対応関係は試料２の表面の汚染状態を反映しており、ＲＲは二つの光成分の比率なので各種の影響が相殺されている。 - 特許庁 - Different measuring environment is established by supplying different media into a space formed between the optical window and the surface of the sample using the flow regulating means.
流量調整手段を用いて、光学窓と試料表面の間を満たす空間に異なる媒質を供給することにより、異なる測定環境を形成する。 - 特許庁 - Dispensation of a test body is executed by moving it vertically with respect to a sample table 16 for holding plural test bodies in the circumferential direction, and by oscillatingly rotating the upper surface of a plate table 1.
検体を周方向に複数保持するサンプルテーブル１６に対して上下移動し、プレートテーブル１上を首振り回転することで検体の分注を行う。 - 特許庁 - To manufacture an opening that can be brought extremely closer to a sample or a record medium surface at low costs in a manufacturing method of a minute-aperture-type near-field optical probe.
微小開口型の近視野光プローブの作製方法において、サンプルあるいは記録媒体表面に極めて近接できる構造の開口を低コストで作製すること。 - 特許庁 - To efficiently measure the minute part on the surface of a sample by eliminating necessity for preparing many kinds of secondary targets in a fluorescent X-ray analyzer using polarized light.
偏光を利用した蛍光Ｘ線分析装置において、多種類の２次ターゲットを用意する必要を無くし、試料表面の微小部を効率よく測定すること。 - 特許庁 - The blood collecting tube, serving as the sample container, is constituted of the body 10 and a plug 12, and an outer surface of the body 10 is constituted of a cylindrical face 17 and a flat face 16.
サンプル容器としての採血管は本体１０と栓１２とで構成され、本体１０はその外表面が円筒面１７と平坦面１６とで構成される。 - 特許庁 - An evaluation sample 50 on which a first data mark 51 that can be read by an optical pickup and the probe is recorded at a preset position on a recording surface is adopted.
記録面上の予め設定された位置に、光ピックアップおよびプローブで読み込み可能な第１データマーク５１が記録されている評価サンプル５０を採用した。 - 特許庁 - To provide a film thickness measuring instrument which can limit a measurement area on the surface of a sample at need without specially decreasing the diameter of an incident beam.
入射ビーム径をことさら絞り込まなくても、試料表面における測定領域を必要に応じて限定することのできる膜厚測定装置を提供すること。 - 特許庁 - When the spherical bearing 3 is in an unclamped state, the sample holder 1 is maintained in an attitude at a skew angle of 2-5° to the horizontal surface by the force of the coil springs 3.
球面軸受３がアンクランプ状態のとき、コイルスプリング３の力によって試料ホルダ１が水平面に対して２〜５度の傾角をなす姿勢で維持される。 - 特許庁 - The culture device can carry out the culture of a sample by using a first culture container and a second container, having a brim part protruding outside from the side surface of the container in combination.
第１の培養容器と、容器の側面よりも外側に張り出した鍔部を有する第２の培養容器とを併用して試料の培養が可能な培養装置である。 - 特許庁 - A condenser lens telecentrically illuminating a sample surface, a field diaphragm, an aperture diaphragm and a diffusing means having action to diffuse illuminating light are provided in this optical microscope.
光学顕微鏡に、標本面をテレセントリックに照明するコンデンサレンズと視野絞りと開口絞りと照明光を拡散する働きをもつ拡散手段を設ける。 - 特許庁 - In addition, a measuring optical system 4 is provided below a window W of the bottom surface of the sample cell 3, and a fluorescence detector 5 is provided close to the measuring optical system 4.
また、試料セル３底面部のウィンドウＷ下方には計測光学系４が設けられ、この計測光学系４に近接して蛍光検出器５が設けられている。 - 特許庁 - To easily evaluate the surface liquid repellency and in-plane distribution of a sample in a short time with high precision by a simple constitution even with respect to samples having various sizes.
様々なサイズの試料でも、簡単な構成で容易に、かつ、短時間で、試料表面の撥液性及び面内分布を高精度で評価できるようにする。 - 特許庁 - An image of the sample surface is picked up by an imaging part 10, and image data is incorporated into a personal computer 14 used as an image analyzing means, to make an image analysis.
撮像部１０により試料表面の画像を撮像して、画像解析手段であるパーソナルコンピュータ１４に画像データを取り込んで画像解析が行なわれる。 - 特許庁 - By operating the above Z fine-move part and the mechanism 17 for approaching probe in cooperation, a sample with a surface that is inclined and is wavy can be measured in a wide range.
Ｚ微動部と探針接近用機構を協調動作させることで、傾斜やうねりのある試料表面を有する試料を広範囲に測定することを可能にする。 - 特許庁 - The intensity data related to the sample surface stored in the memory 20 are sent to an image processing means 21, to be binarized to data of '1' or '0' with this processing means.
メモリ２０に記憶された試料面Ｓ_1〜Ｓ_nに関する強度データは画像処理手段２１に送られ、画像処理回路２１は、強度データを”１”または”０”のデータに２値化する。 - 特許庁 - At the same time, the compounding (S/C, S/PA, etc.) of a sample is changed to operate a surface adsorbed water ratio β_OH from an adsorbed water ratio βo calculated by the centrifugal test.
同時に試料の配合（Ｓ／Ｃ、Ｓ／ＰＡ等）を変化させて、遠心試験で求めた吸着水率βｏから表面吸着水率β_ＯＨを演算する。 - 特許庁 - The integration of a light scattering detector with an environment of high-speed mechanical processing is achieved by adding alteration to the transparent surface of the sample holding region of a centrifuge.
高速機械処理の環境への光散乱検出器の一体化は、遠心機のサンプル保持領域の透明な表面に変更を加えることで達成される。 - 特許庁 - To provide a sample-handling apparatus for easily measuring also a position on a liquid surface in a container which has a relatively small diameter and/or is deep.
比較的小さな直径および／または深い容器内の液面の位置をもっと便利に測定できる試料取扱い装置、およびその装置の操作方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe for a scanning probe microscope capable of simultaneously measuring the surface shape of a sample and a plurality of physical properties in a microregion.
試料表面の形状、および微小領域での複数の物性を同時測定することが可能な顕微鏡用プローブ及び走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The cell surface antigen is e.g. a new cell surface antigen such as CD53 and the sequence information of the cell surface antigen can be obtained by overcoming a problem in which it has been difficult hitherto to isolate a sample having sufficient level for determining the sequence.
この細胞表面抗原は、例えば、ＣＤ５３のような新規の細胞表面抗原であり、これまで配列を決定するのに十分なレベルの標品を単離をすることが困難であったという問題点を克服することによってを配列情報を得ることができた。 - 特許庁 - In a constitution wherein the sample solution 6 and a labeling solution 9 are vibrated vertically to the upper surface of a working electrode 4, the detection target material 2 in the sample solution 6 and a detection target material capturing material 8 in the labeling solution 9 are brought into contact with the receptor 3 on the bottom surface and the detection object material 2, to be thereby bonded thereto.
サンプル溶液６および標識溶液９を動作電極４上面に対して垂直に振動させる構成において、前記サンプル溶液６中の検知対象物質２および前記標識溶液９中の検知対象物質捕捉物質８を底面のレセプター３および前記検知対象物質２と接触し結合することができる。 - 特許庁 - The reference flat plate 1 is equipped with a first rotary device 3 for rotating the reference flat plate 1 centering around the virtual rotary axis almost parallel to the surface of the sample, a second rotary device 4 for rotating the reference flat plate 1 in the plane of the sample and a moving device 5 for moving the reference flat plate 1 in the direction almost vertical to the surface of the reference flat plate 1.
基準平板１は、その基準平板１を試料の面と略平行な仮想の回転軸Ｂを中心として回転させる第１回転装置３と、その基準平板１を面内で回転させる第２回転装置４と、その基準平板１をその面に対して略垂直方向に移動させる移動装置５とを備えている。 - 特許庁 - A sample surface roughness and/or an attenuation depth are measured by changing a primary ion incident angle by using incidence energy as a parameter, and, in a range of a domain wherein an incidence energy is high, an incident angle range wherein the sample surface roughness and/or the attenuation depth have each minimal value is found out in the range, and SIMS measurement is performed under this condition.
入射エネルギーをパラメータとして試料表面粗さ、および／または減衰深さを、一次イオン入射角度を変化させて測定し、入射エネルギー領域が高い領域の範囲において、かつその範囲で試料表面粗さ、および／または減衰深さが極小値をもつ入射角度範囲を見出し、その条件下でＳＩＭＳの測定を行う。 - 特許庁 - To provide a measuring probe capable of continuously an extremely fine region of a nanometer order while minimizing a contact state or a measuring position error without separating probes from a sample each time when measurement in a depth direction is performed with respect to the sample, a measuring instrument of surface characteristics and a measuring method of surface characteristics.
試料に対して深さ方向の計測を行う際に、探針をその都度試料から離間させる必要がなく、接触状態や計測位置誤差を最小限に抑えてナノメートルオーダーの極微細領域を連続して計測することができる計測プローブ及び表面特性計測装置並びに表面特性計測方法を提供すること。 - 特許庁 - In this way, upper and lower edges of the insertion piece 10a are locked to broad portions 12b, 12b of the supports 12, 12, and the sales promotion object 10 can be mounted to the right front surface of the half-split sample 1 as seen from the front of the half-split sample while a display surface on which the sales promotion information related to the commodity is printed faces forward.
これにより、差込み片１０ａの上下縁部が、支持部１２，１２の幅広部１２ｂ，１２ｂに係止されることになり、販売促進体１０を、商品に関連した販売促進情報が印刷された表示面が正面向きとなるようにして、半割り型見本１の正面から見て右側前面に取り付けることができる。 - 特許庁 - This method is characterized by using an ion etching device annexed to a device and a metallic material disposed next to the insulating specimen when a surface of the specimen is thinly filmed with a metallic component not contained in the insulating material within an XPS measurement chamber to prevent electrostatic charge on the surface of the sample, when analyzing the insulating sample by XPS.
ＸＰＳにより絶縁性試料を分析するに際し、ＸＰＳ測定室内部で該絶縁性試料表面に該絶縁物に含まれていない金属成分を薄く成膜して、該絶縁性試料表面の帯電防止をはかる際に、装置付属のイオンエッチング装置と該絶縁試料に隣接配置した金属材料を用いることを特徴とする。 - 特許庁 - Alkali solution is fed to the sucking and holding surface 11 sacking and holding a sample W by negative pressure to emulsify the gel grinding particles, and a cleaning jig 4 is brought into contact with the sucking and holding surface 11, and the cleaning jig 4 and a sample holding stand 1 are relatively moved to rub off the gel grinding particles.
負圧によって試料Ｗを吸着保持する吸着保持面１１にアルカリ性溶液を供給してゲル状の研磨粒子を柔化させるとともに、吸着保持面１１に洗浄治具４を接触させ、これら洗浄治具４及び前記試料保持台１を相対移動させることによって前記ゲル状の研磨粒子を擦り落すようにした。 - 特許庁 - When the boundary surface of the sample changes in the height direction by Δz, the reflecting light is regarded to appear from a position shifted by Δx to be provided by Δx=2Δz×tanθ in the horizontal direction in the boundary surface of the sample and larger variation of Δx is obtained even to variation of Δz by increasing an angle of incidence θ.
試料境界面が高さ方向にΔｚ変化すると、反射光は試料境界面内で横方向にΔｘ＝ ２Δｚ×ｔａｎθで与えられるΔｘずれた位置から出てくると見なされ、入射角θを大きくすることにより、Δｚの変化量に対しても、より大きなΔｘの変化量を得ることができる。 - 特許庁 - This transmitter provided with scanning type probes for scanning relatively on a sample surface to detect a signal as physical information of the sample surface, to transmit the signal detected by the probe constitutes a means for converting the detected signal by the probe into a charge quantity, and a charge transmission means for transmitting the converted charge quantity.
試料表面を相対的に走査し、該試料表面の物理情報としての信号を検出する走査型プローブを備え、該プローブによって検出された信号を伝送する検出信号の伝送装置であって、プローブによる検出信号を電荷量に変換する手段と、上記変換された電荷を転送するための電荷転送手段とを構成する。 - 特許庁 - Accordingly, when the surface of the standard sample wafer 11 is coated with the standard particles 31 so as to be uniformly distributed, the standard particles 31 can be distributed and attached equally onto the surface of the standard sample wafer 11.
この標準サンプルウエハ１１の製造方法は、ウエハ表面に標準粒子を含む溶液を塗布する前に、標準粒子が塗布されるウエハの負の電位に帯電している表面に還元性を有する液として例えば有機アミン系溶液を塗布してその表面の電位を正に変えた後、還元性を有する液を除去してから、標準粒子を塗布して製造される。 - 特許庁 - This surface electrometer 1, at two distances between a vibrating electrode 12 and a surface 91 of the sample 9, changes the electrode potential in a vibrating state of the vibrating electrode 12, acquires the relation between the electrode potential and the displacement current from a sample holding section 11, and determines the gradient of the electrode potential-displacement current characteristic.
表面電位計１では、振動電極１２と試料９の表面９１との間の２つの距離において、振動電極１２を振動させた状態で電極電位を変更して電極電位と試料保持部１１からの変位電流との関係が取得され、電極電位−変位電流特性の傾きが求められる。 - 特許庁 - A beam control assembly 36 includes a beam rocker 52, the beam rocker has a lower section adjacent to the surface of the sample, and front and rear slits that are orthogonal to the lower section, include the beam axis, and partition the beam surface passing the target region.
ビーム制御アセンブリ36は、ビームブロッカー52を含み、ビームブロッカーは、試料の表面に隣接する下側部を有し、下側部に直交し、ビーム軸を含み、目標領域を通過するビーム面を画定する前部および後部スリットを含む。 - 特許庁 - In the electrostatic chuck 4 consisting of a chuck electrode 41 and an insulation layer 42 provided on the surface of the relevant chuck electrode, a conductive layer 43 is formed on the entire part of the placing surface of insulation layer 42 to attract the sample.
チャック電極４１と当該チャック電極の表面に設けた絶縁層４２とで構成される静電チャック４において、絶縁層４２における試料を吸着する載置面に全面に亘って導電層４３を形成する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for fluorescent X-ray analysis for making an analysis by setting accurately, to a detector, the position of a sample comprising a substrate with a smooth surface and a dotted measured object stuck to the surface.
平滑な表面を有する基板とその表面に付着した点状の被測定物とからなる試料を、検出器に対し十分正確に位置設定して分析を行える蛍光Ｘ線分析方法および装置を提供する。 - 特許庁
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