「sample surface」を含む例文一覧(2601)
＜前へ 1 2 .... 38 39 40 41 42 43 44 45 46 .... 52 53 次へ＞- Electrons, carriers and excitons are generated on the excited sample surface, and generate light on the excited area, and the generated electrons, carriers and excitons flow out of the excited area and also generate light out of the excited area.
励起された試料表面では、電子、キャリア、励起子が発生し、励起エリアで発光するとともに、発生した電子、キャリア、励起子が励起エリア外に流れ出し、励起エリア外でも発光する。 - 特許庁 - This chapter introduces the elements of a sound survey design and illustrates the techniques for surface waters（lakes and streams）by describing several examples highlighting various components of sample surveys.
本章では，サンプル調査の様々な構成要素を強調した事例を述べることによって健全な調査設計の要素を紹介し，地表水域（湖沼・水流）についての技法を示すことにする。 - 英語論文検索例文集 - This chapter introduces the elements of a sound survey design and illustrates the techniques for surface waters（lakes and streams）by describing several examples highlighting various components of sample surveys.
本章では，サンプル調査の様々な構成要素を強調した事例を述べることによって健全な調査設計の要素を紹介し，地表水域（湖沼・水流）についての技法を示すことにする。 - 英語論文検索例文集 - This chapter introduces the elements of a sound survey design and illustrates the techniques for surface waters（lakes and streams）by describing several examples highlighting various components of sample surveys.
本章では，サンプル調査の様々な構成要素を強調した事例を述べることによって健全な調査設計の要素を紹介し，地表水域（湖沼・河川）についての技法を示すことにする。 - 英語論文検索例文集 - A manufacturing process of an apparatus for fabricating a semiconductor device which processes a substrate to be processed mounted on a sample stand in a container comprises a step for forming a dielectric film on the upper surface of the sample stand by spraying and cleaning the dielectric film with fluid, and a step for mounting a wafer on the upper surface of the dielectric film and attracting the wafer electrostatically a plurality of times.
容器の内部の試料台上に載置された被処理基板を処理する半導体デバイス製造装置の製造方法であって、前記試料台の上面に誘電体製の膜を溶射により形成した後にこの誘電体製の膜を流体を用いて洗浄する工程と、前記誘電体製の膜の上面にウエハを載せて静電吸着させる処理を複数回行う工程とを備えた。 - 特許庁 - The projection image-displaying apparatus 100 includes a photographing apparatus 500 which photographs the user X facing the projection surface 210, a first acquiring section 252 which acquires photographing data from the photographing apparatus, a second acquiring section 253 which acquires sample data separately from the photographing data, and an image control section 254 which controls the image displayed on the projection surface 210 based on the photographing data and the sample data.
投写型映像表示装置１００は、投写面２１０に対向するユーザＸを撮像する撮像装置５００と、撮像装置から撮像データを取得する第１取得部２５２と、撮像データとは別に、見本データを取得する第２取得部２５３と、撮像データ及び見本データに基づいて、投写面２１０上に表示される映像を制御する映像制御部２５４とを備える。 - 特許庁 - This method comprises processes of: dividing light radiated from a white light source 109 into reference light and signal light by a beam splitter 102; emitting the signal light to a sample 107 through a Morou interferometer 105; making light reflected from the sample surface with the reference light and imaging the interference intensity occurring in the Morou interferometer 105; and applying voltage current to the semiconductor circuit chip as the sample.
白色光源１０９から放射された光をビームスプリッタ１０２により参照光と信号光に分割する工程と、信号光を試料１０７にミラウ干渉計１０５を通して入射する工程と、試料表面より反射した光と参照光を干渉させてミラウ干渉計１０５に生じた干渉強度を画像化する工程と、試料である半導体回路チップに電圧電流を印加する工程とを含む。 - 特許庁 - The diagnostic kit as cancer, infectious disease or other pathologic processes comprises a selectively activatable transfer surface capable of being activated so as to provide a selection region having adhesive characteristics, and at least one probe or marker applicable to the cellular material sample from an abnormal tissue to distinguish the cellular material sample obtained from the abnormal tissue from the cellular material sample obtained from the abnormal tissue.
癌、感染性疾病又は他の病理学的過程についての診断キットであって、接着剤特性を有する選択領域を提供するように活性化され得る選択的活性化可能移送表面、及び正常組織からの細胞材料サンプルと異常組織からの細胞材料サンプルとを区別するために前記異常組織からの細胞材料サンプルに適用され得る少なくとも１つのプローブ又はマーカーを含んで成るキット。 - 特許庁 - In this method for detecting a substance to be detected in a sample by a sensor including a substrate 1, and a channel having a source electrode 3 and a drain electrode 4 provided oppositely at a prescribed interval on an insulating thin film 2 formed on the upper surface of the substrate 1, the channel is constituted of ultrafine fibers, and after dropping sample solution onto the channel, a solvent in the sample solution is vaporized.
基板１と、その基板１の上面に形成した絶縁薄膜２上に、所定の間隔をおいて対向して設けたソース電極３およびドレイン電極４を有するチャネルとを少なくとも備えたセンサーで試料中の被検出物質を検出する方法において、前記チャネルが超微細繊維で構成され、そのチャネル上に前記試料溶液を滴下した後、その試料溶液の溶媒を蒸発させることを特徴とする。 - 特許庁 - This photodetector includes a single semiconductor substrate 10 and the sample light photodiode array 7a and reference light photodiode array 7b formed on the surface of the substrate 10 and the spectra of both sample and reference lights are respectively detected by the photodiode arrays 7a, 7b and absorbancies are calculated at every wavelength from the sample light signal and reference light signal at the same time by a signal processing circuit 9.
この検出器は単一の半導体基板１０とその表面に形成されたサンプル光用フォトダイオードアレイ７a及びリファレンス光用フォトダイオードアレイ７bとを含み、サンプル光のスペクトル及びリファレンス光のスペクトルはサンプル光用フォトダイオードアレイ７a及びリファレンス光用フォトダイオードアレイ７bによってそれぞれ検出され、信号処理回路９により、同一時刻におけるサンプル光信号及びリファレンス光信号から波長毎に吸光度が求められる。 - 特許庁 - An ellipsometry microscope includes: an oblique illumination system that includes a light source, a polarizer and a phase compensator and emits an illumination light L4 obliquely to a sample surface SP; an imaging system; an analyzer 23; and an imaging element 24 for detecting an image by the imaging system on the detection surface 25.
エリプソメトリー顕微鏡は、光源と偏光子と位相補償子とを備えると共に試料面ＳＰに対して照明光Ｌ４を斜めに照射する斜め照明系と、結像系と、検光子２３と、結像系による像を検出面２５で検出する撮像素子２４とを備える。 - 特許庁 - A blocking material is fixed to the quartz oscillator excluding the electrode surface using a photoresist, thus fixing a receptor only on the electrode surface, preventing the sample from adhering to a part other than the electrode of the quartz oscillator, and preventing measurement sensitivity and measurement precision from decreasing.
フォトレジストを用いて電極表面を除く水晶振動子にブロッキング材を固定することで、電極表面にのみレセプタが固定されるようにして、水晶振動子の電極以外の部分に試料を付着させず、測定感度の低下や測定精度の低下を生じさせない。 - 特許庁 - The fluorescence that is discharged from the material to be analyzed excited by the permeated pulsed laser light emitted from the incident window 6 and permeates through the fluorescence permeation surface is detected by a photodetector 16 arranged so as to cover the fluorescence permeation surface of the sample solution cell 3.
入射窓６から入射された透過パルスレーザー光によって励起された分析対象物質から放出されて蛍光透過面を透過する蛍光は、試料溶液セル３の蛍光透過面を覆うように配置された光検出器１６によって検知される。 - 特許庁 - A sliding plate 5 is vertically movably supported at a supporting body block 3 and a body holder 4 for holding a body 6 is attached to the sliding plate 5 in such a manner that the holder can turn an angle of elevation on the sliding plate surface around the center line of the body passing the sample surface as the center of rotation.
摺動板５は、支持体ブロック３に上下動可能に支持され、鏡体６を保持する鏡体ホルダー４は、摺動板５に、試料面上を通る鏡体の中心線を回転中心として摺動板面上を内射角分だけ回転できるように取り付けられる。 - 特許庁 - A sample containing the hydroxyapatite is taken out and is formed into a shape with at least a detection surface 3 by such method as compression molding, then a forming body 1 is burned, and a substance existing on the detection surface 3 of an obtained sintered body 2 is analyzed, for example, by the X-ray diffraction method.
ハイドロキシアパタイトを含む試料を取り出し、該試料を圧縮成形等の方法により少なくとも検出面３を有する形状に成形し、次いで、該成形体１を焼成し、得られた焼結体２の検出面３に存在する物質を例えばＸ線回折法により解析する。 - 特許庁 - The microscope is configured such that a field stop 210 is arranged between the sample 116 placed on a stage 105 and a condenser lens 202 and the light reflectivity of the surface S1 on a side opposite to an objective lens 113 of the field stop 210 is higher than that of the surface of the stage 105.
本発明の顕微鏡は、ステージ１０５上に載置された標本１１６とコンデンサレンズ２０２との間に視野絞り２１０を配置し、視野絞り２１０の対物レンズ１１３に対向する側の面Ｓ１を、ステージ１０５の表面よりも光反射率を高く構成している。 - 特許庁 - In the method for manufacturing a section observation sample by covering an upper portion of a workpiece with a shielding plate, and etching a non-covered part by ion beams, an angle formed by the surface to be machined in the workpiece before machining and the bottom surface of the shielding plate is sharp.
被加工物の上部を遮蔽板で覆い、遮蔽されない部分をイオンビームでエッチング加工して断面観察試料を作製する方法において、加工前の被加工物の加工対象面と遮蔽板の底面とのなす角度が鋭角である断面観察試料の作製方法。 - 特許庁 - This magnetic field applying device of the transmission electron microscope comprises a plurality of deflectors to swingingly return the optical axis deflection of an irradiated electron beam generated simultaneously with application of the magnetic field onto the optical axis, and is formed so that the deflection main surface of one deflector is disposed at a position extremely close to the surface of the sample 6.
透過電子顕微鏡の磁場印加装置において、磁場印加と同時に発生する照射電子線の光軸偏向を軸上に振り戻す複数の偏向器からなり、１つの偏向器の偏向主面が試料６表面に極めて近い位置に配置されように構成される。 - 特許庁 - One end (cathode end) of each of separation flow channels 12 is connected to each of small capacity reservoirs 14a being sample reservoirs respectively opened to the surface of a substrate and a large capacity reservior 16a having a size enough to include all of the small capacity reservoirs 14a is surrounded by a wall 8 to be formed on the surface of the substrate.
各分離流路１２の一端（カソード端）は、基板表面に開口したそれぞれのサンプルリザーバである小容量リザーバ１４ａに接続され、基板表面には全ての小容量リザーバ１４ａを含む大きさの大容量リザーバ１６ａが壁８で囲まれて形成されている。 - 特許庁 - A standard sample whose brightness surface is a complete diffusion surface without polarization characteristic is measured in advance and the ratio of all the received signals output from the light receiving part 11 to the received signals output from the monitor light receiving part 12 is stored in the ROM 23.
予め、偏光特性を持たない完全拡散面を輝度面とする標準試料を測定し、測定用受光部１１から出力される全体の受光信号とモニタ用受光部１２から出力される受光信号との比率をＲＯＭ２３に格納しておく。 - 特許庁 - To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope.
複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。 - 特許庁 - Thus, a part of the surface of the sample 8 decomposed by plasma 9, which is a reaction product with a reactive gas 3, or the like eve reaches a part coated with the optical catalytic film 14, receives ultraviolet rays or vacuum ultraviolet rays 17 generated from the plasma 9, and is decomposed on a surface of the optical catalytic film 14.
これにより、プラズマ９で分解した試料８の表面や反応性ガス３との反応物などの一部が光触媒膜１４で覆われた部分に到達しても、プラズマ９から発生した紫外線や真空紫外線１７を受けて光触媒膜１４の表面上で分解される。 - 特許庁 - Consequently, when the load of a sample on the receiving pan 10 is placed on the movable column 14 of the load cell 8, averaged surface pressure operates on the movable column 14 of the load cell 8 at a low surface pressure variation rate determined by the shape sizes of the spacers 5a and 5b, so that the deviation error can be reduced.
これにより、受け皿１０の試料の荷重がロードセル８の可動柱１４に加えられると、スペーサ５ａ、５ｂの形状寸法によって決まる低い面圧変化率により、ロードセル８の可動柱１４には平均化された面圧が作用し、偏置誤差を小さくすることができる。 - 特許庁 - To acquire a latent image carrier having high performance and an image forming device having high image quality by measuring highly accurately a surface potential on a domain of 1 mm or less relative to a sample having a surface potential distribution such as the latent image carrier (photoreceptor) used for the image forming device such as a copying machine.
複写機等の画像形成装置に用いる潜像担持体（感光体）などの表面電位分布を有する試料に対して、１ｍｍ以下の領域の表面電位を高精度に測定し、高性能な潜像担持体及び高画質の画像形成装置を得る。 - 特許庁 - Then, the outer surface 15 of the specimen 10 where the Newton rings are observed is fixed on a sample holder 50 of an analysis device, and in this condition the analysis region is set inside the most inner Newton ring on the ground surface 16 of the specimen 10, and then the analysis of the profile of element is carried out.
そして、ニュートンリングが観測された試料１０の表の面１５を分析装置のサンプルホルダ５０に固定し、この状態で当該試料１０の研磨面１６の最内周ニュートンリングの内部に分析領域を設定して、元素プロファイルの分析を行う。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus, for the inspection of a surface, wherein the electrostatic charge amount on the surface of a sample can be controlled properly even when an irradiation current value is increased in order to increase a throughput, clear image data of small strain can be acquired and an inspection of high reliability can be performed.
スループットを大きくする等のため照射電流値を増加する場合にも試料表面の帯電量を適切に制御することができ、歪の小さい鮮明な画像データが取得され、信頼性の高い検査を行うことができる表面検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - The analysis head 51 has a laser light transmission part 52 for transmitting the pulse laser light 3, a laser light condensing part 10 for condensing the pulse laser light 3 onto an irradiation surface 16a of the sample 16, and a laser light irradiation part 15 for irradiating the irradiation surface 16a with the pulse laser light 3.
分析ヘッド５１は、パルスレーザ光３を伝送するレーザ光伝送部５２と、パルスレーザ光３を試料１６の照射表面１６ａに集光させるレーザ光集光部１０と、照射表面１６ａにパルスレーザ光３を照射するレーザ光照射部１５を有する。 - 特許庁 - The container with the stirring mechanism includes a container main body 7 for holding a liquid containing a physiological sample, a surface elastic wave element 8 for irradiating the container main body 7 with a liquid stirring sonic wave and a cuvet wheel 6 for fixing the container main body and the surface elastic wave element in a freely detachable manner.
攪拌機構付き容器は、生体試料を含む液体を保持する容器本体７と、液体を攪拌する音波を容器本体へ向けて照射する表面弾性波素子８と、容器本体と表面弾性波素子とを着脱自在に固定するキュベットホイール６とを備えている。 - 特許庁 - To automate confirmation whether drying for a recovered measured object is finished or not, in a sample recovery device for fluorescent X-ray analysis for dropping a solution on a substrate on a surface of which the measured object exists, for moving the measured object on the substrate surface while holding it by a holding tool, and for drying the measured object to be held on the substrate surface.
表面に被測定物が存在する基板に溶液を滴下して保持具で保持しながら基板表面で移動させ、被測定物を回収後乾燥させて基板表面に保持する蛍光Ｘ線分析用試料回収装置において、回収した被測定物を乾燥できたか否かなどの確認について自動化できるものを提供する。 - 特許庁 - The illumination optical system (100) which irradiates a sample surface (O) with a light through an illuminating lens (L6) includes a light source (S): a condensing optical system (L1) receiving incident light emitted from the light source; and a lens array optical system, including a first lens array surface (LS1) and a second lens array surface (LS2) each formed by a plurality of lens elements.
照明レンズ（Ｌ６）を通して標本面（Ｏ）に光を照射する照明光学系（１００）であって、光源（Ｓ）と、光源から射出された光が入射する集光光学系（Ｌ１）と、各々複数のレンズ要素から形成される第１レンズアレイ面（ＬＳ１）及び第２レンズアレイ面（ＬＳ２）を含むレンズアレイ光学系と、を含むこと特徴とする。 - 特許庁 - To provide a metal defect detection method capable of highlighting defect through etching treatment of the inspection surface of a metal sample, while when detection of the defect is carried out by imaging the inspection surface with an imaging device, brightness of non-defect parts on the imagery of inspection surface is made to be homogenized and brightened, leading clear defection of defect part.
金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - A cantilever 13 is arranged so that the tip of the probe 12, whose tip is fixed, is positioned at the center of a circle formed by the arc on the lower surface section of the XY scanning body 22, the angle formed by the direction of the cantilever 13 and a surface in parallel with the sample surface is maintained to be the same, and the direction of the cantilever 13 can be inverted.
また、カンチレバー１３を、その先端に固設されている探針１２の先端がＸＹ走査体２２の下面断面の円弧が形成する円の中心に位置するよう配設し、カンチレバー１３の方向と試料表面に平行な面とがなす角を同じに保ったまま、カンチレバー１３の方向反転が可能な構成とした。 - 特許庁 - The silicon substrate is tilted so that the side surface opposite to the former points upward, a converged ion beam is radiated to the upward pointing side surface from the perpendicular direction to cut it into a thin-film-like thin piece including the fault place, thereby preparing the flat TEM sample including the fault place from the semiconductor integrated circuit having the wiring layer on its surface.
そして、前記側面とは反対側の側面が上を向くようにシリコン基板を傾け、上を向いた側面に対し垂直方向から収束イオンビームを照射して不良箇所を含む薄膜状の薄片に切り出すことにより、表面に配線層が形成された半導体集積回路から不良箇所を含む平面ＴＥＭサンプルを作製する。 - 特許庁 - And the vessel has a bottom 11 and a peripheral wall 12 set upward from the periphery of the bottom 11 almost perpendicularly, wherein the sample mounting part 15 is formed monolithically on the surface of the bottom 11.
また、底部１１と該底部１１の周縁部からほぼ垂直上方に向かって設けられた周壁部１２とを備え、前記底部１１の上面に前記試料載置部１５が一体的に形成されている。 - 特許庁 - To provide a microprobe capable of simplifying the constitution, improving measuring accuracy on the sample surface, and not requiring alignment adjustment in each measurement, and a scanning probe device using the microprobe.
構成を簡易にすることができるとともに、試料面の測定精度を向上させることができ、しかも測定毎のアライメント調整を不要にすることができるマイクロプローブおよびそれを用いた走査型プローブ装置を得ること。 - 特許庁 - Negative charge is applied to the surface of a solid sample by an electrode 14 and a tape 21 is positively charged by an electrode 13 and a cutter 31 is moved by a cutter feeding motor 34 to perform slicing.
固形試料１０の表面を電極１４により負電荷で帯電させると共に、テープ２１を電極１３により正電荷で帯電させ、カッタ送り用モータ３４によりカッタ３１を移動させて薄切を行う。 - 特許庁 - The resonance angle of the sample solution being dispensed into each cell that is selected based on the intensity of each reflection light from the metal thin-film boundary surface of the glass substrate 7 corresponding to each cell 5a can be simultaneously detected.
各セルに対応するガラス基板の金属薄膜境界面からの各反射光の強度に基づいて選択された各セル内に分注された試料溶液の共鳴角を同時に検出可能にする。 - 特許庁 - Thereafter, a data quantity (correction quantity) determined from the approximate expression at each scanning position (x) is subtracted from the measured data in the whole scanning range by a data correction part 33, and the extracted data are used as corrected sample surface data.
続いて、データ補正部３３で、全走査範囲の前記実測データから、各走査位置（ｘ）にて前記近似式により求めたデータ量（補正量）を差し引き、差し引いたデータを、補正された試料表面データとする。 - 特許庁 - Then, height H of the pattern 82 is calculated by H=L×tanθ based on a preliminarily calculated angle θ on appearance to the surface of the sample of the detector 99a and the detected length L of the shadow.
そして、あらかじ求めた検出器９９ａの試料表面に対する見掛け上の角度θと検出された影の長さＬとに基づいて、パターン８２の高さＨをＨ＝Ｌ×ｔａｎθにより求める。 - 特許庁 - The beryllium thin plate 8 mounted to a window section 7 is, for example, has a thickness of 25 μm, and further a vapor-deposited film by beryllium is formed on the surface at a side of at least the sample chamber 9 for the purpose of embedding a pin hole.
窓部７に取り付けられるベリリウム薄板８は例えば厚み２５μｍであり、ピンホールを埋める目的で、少なくとも試料室９側の面上には、更にベリリウムによる蒸着膜が形成されている。 - 特許庁 - The solid immersion lens 1A has a spherical surface of a prescribed radius and has a top face (a first face) 2 which is an output/output face for light to the outside and a base (a second face) 3 which is a mounting face to the sample.
固浸レンズ１Ａは、所定半径の球面形状を有し、外部に対する光の入出力面となる上面（第１の面）２と、試料に対する取付面となる底面（第２の面）３を備えている。 - 特許庁 - To provide a technique that allows a sample surface with an insulation region and a conduction region formed thereon to be observed under high contrast, and that facilitates detection of a deletion defect and an open defect and classification of the defect types.
絶縁領域と導電領域が形成されている試料面の観察を高コントラストで行い、且つ、欠落欠陥や開放欠陥の検出と欠陥種類の分類を容易なものとする技術を提供すること。 - 特許庁 - To enhance convergency of a primary ion, and to reduce a work function on a sample surface to enhance a secondary ionization rate further, as to a method and an instrument for measuring a depth-directional element distribution.
深さ方向元素分布測定方法及び深さ方向元素分布測定装置に関し、一次イオンの収束性を高めるともに、試料表面の仕事関数を低下させて負の二次イオン化率をさらに高める。 - 特許庁 - In the improved pyrogenicity test for use in automated immunoassay systems, a sample is incubated with a monocyte-containing reagent in a pyrogen-free assay system preferably including a surface coated with pyrogen-free anti-cytokine antibodies.
ここでは、サンプルは、好ましくは、発熱物質を含まない抗サイトカイン抗体でコーティングされた表面を含有している、発熱物質を含まないアッセイシステムにおいて単球含有試薬とともにインキュベートされる。 - 特許庁 - The cosmetic layer disposed on a part of the front surface of a base material sheet of this sample is made of slurry prepared by mixing the cosmetic material with a solvent, etc., and overprinted at least twice by means of the screen printing.
基材シートの表面の一部に設けられた化粧料層が、化粧料に溶剤等を混合して調製したスラリーをスクリーン印刷により少なくとも２回重ね印刷されてなる化粧料試供品。 - 特許庁 - To bond a detection target material in a sample solution to a receptor on the bottom surface, in a biosensor kit used for examination, diagnosis or the like in an environment field, a food field or a medical field.
環境分野や食品分野や医療分野の検査・診断等に使用されるバイオセンサキットにおいて、サンプル溶液中の検知対象物質を底面のレセプターに結合させることができることを目的とする。 - 特許庁 - The excimer beam is reflected on the reflection surface 23R of the reflection mirror 23 to go along the electron beam passage to be radiated to an excimer beam radiation range 31 including an electron beam scan range 30 on the sample 3.
エキシマ光は反射ミラー２３の反射面２３Ｒで反射され、電子ビーム通路に沿って進み、試料３上の電子ビーム走査領域３０を含むエキシマ光照射領域３１に照射されるようにする。 - 特許庁 - In a mechanical oscillation means 6 with a cantilever 4 for scanning a surface 3 of a sample 2, the cantilever 4 is vibrated at a resonance frequency f1 and the output is given to a frequency conversion circuit 13.
試料２の表面３を走査するカンチレバー４を有する機械的発振手段６では、そのカンチレバー４が、共振周波数ｆ１で振動され、その出力は、周波数変換手段８に与えられる。 - 特許庁 - When washing water is allowed to flow through the piping in the food manufacturing line to wash the interior of the food manufacturing line, the surface temperature of the measuring region sample S of the line is measured by a non-contact infrared thermography 8.
食品製造ラインにおける配管などに洗浄水を流通させてそのライン内を洗浄する際、前記ラインの測定部位サンプルＳの表面温度を非接触の赤外線サーモグラフィー８により測定する。 - 特許庁 - To reduce background noise and an amount of sample liquid by improving the efficiency of a specific coupling reaction between a probe solidified on a substrate surface and a target substance in detecting the target substance with use of the probe.
基板表面に固相化されたプローブを用いてターゲット物質を検出する際に、プローブとターゲット物質との間の特異的結合反応の効率を向上し、バックグラウンドノイズおよびサンプル液量を低減する。 - 特許庁
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