「sample surface」を含む例文一覧(2601)
＜前へ 1 2 .... 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 次へ＞- Whereby the instability of the secondary ion intensity immediately after the start of measurement is curbed, and the quantitative analysis can be performed while the secondary ionization rate is stable after the interface position of the metal silicide film 3 and the silicon base 1 in the processed sample, that is, in the all area including the silicon base 1 surface.
これにより、測定開始直後の二次イオン強度の不安定さはアモルファスシリコン層４の表面で収束し、処理試料における金属シリサイド膜３とシリコン基板１の界面位置以降、すなわち、シリコン基板１表面を含むすべての領域で、二次イオン化率が安定した状態で定量分析を行うことができる。 - 特許庁 - An ultrasonic transmitter 31 formed by enclosing a liquid medium 37 by two polymer films 32, 33 is provided on a part of the water tank 13 for storing the water 16, and measurement is performed by pressing the polymer film 32 positioned on the outside of the ultrasonic transmitter 31 onto a measuring surface of the sample 23 arranged on the outside of the water tank 13.
水１６を収容する水槽１３の一部に、液体媒質３７を２枚の高分子膜３２，３３で封じて成る超音波伝播器３１を備え、水槽１３の外側に配置される試料２３の測定面に超音波伝播器３１で外側に位置する高分子膜３２を押し付けて測定を行う。 - 特許庁 - A sample holder for MALDI mass spectrometry is equipped with CuO secondary particles in which CuO primary particles of the average particle diameter of 100 nm or less are aggregated, and which have an uneven surface caused by a shape of the primary particles constituting the uppermost layer as a laser light absorbing matrix.
平均粒子径１００ｎｍ以下のＣｕＯ一次粒子が集合してなる二次粒子であって、最表層を構成する一次粒子の形状に起因した凹凸表面を有するＣｕＯ二次粒子を、レーザー光吸収マトリクスとして備えたＭＡＬＤＩ質量分析用の試料ホルダを使用する。 - 特許庁 - After heating, the sample is spontaneously cooled and taken out, fully washed with 500 cc of boiling water and boiled in 5 to 10% hydrochloric acid solution for 5 minutes, washed with hot water, filtered and dried at 110°C for 2 hours to obtain the activated carbon having 1000 m^2/g or more of specific surface area.
加熱終了後、自然冷却させて試料を取り出し、約５００ｃｃの熱湯にて十分洗浄し、さらに５〜１０％塩酸溶液にて約５分間煮沸洗浄し、温水にて洗浄し、ろ過後１１０℃で２時間乾燥して比表面積が１０００ｍ^２／ｇ以上の活性炭を得る。 - 特許庁 - This DNA chip 20 having many minute spots 80 formed by dropping a sample solution on the substrate 10 is so formed that a hydrophilic poly-L-lysine layer 12 is formed on the surface of the substrate 10, and that projections 14 are formed respectively on each center part of the positions on the substrate 10 where the minute spots 80 are to be formed.
基板１０上に試料溶液の滴下による微小スポット８０が多数形成されたＤＮＡチップ２０において、基板１０の表面に親水性を有するpoly-L-lysine層１２を形成し、該基板１０上のうち、微小スポット８０が形成されるべき位置の各中心部分にそれぞれ突起１４を形成して構成する。 - 特許庁 - To obtain three images which are to be compared in double detection through main scanning toward the same direction, and to perform main scanning in both the normal and reverse directions, in defect inspection for scanning a sample surface on which a repeated pattern where a plurality of basic patterns are repeated is formed, and comparing each image on corresponding parts of the plurality of respective basic patterns.
複数の基本パターンが反復する反復パターンが形成された試料表面を走査し、複数の基本パターン相互の対応部分の画像同士を比較する欠陥検査において、ダブルデテクションで比較される３画像を同一方向に向かう主走査で取得しかつ正逆両方向において主走査を行う。 - 特許庁 - To provide a resinous bonded article in which a liquid sample leaking from a liquid flow passage is not stuck to the side faces of first and second resin members and an adhesive or a solvent is not contacted with the bonded surface of the first resin member to the second resin member or a liquid flow passage-formed groove, and to provide a method for producing the resinous bonded article.
液体流路から漏れた液体の液体試料が第１樹脂部材および第２樹脂部材の側面に付着せず、かつ、第１樹脂部材および第２樹脂部材の接合面や液体流路形成溝に接着剤や溶剤が接することのない樹脂製接合品、およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - The condenser lens having the long working distance and the high numerical aperture while keeping the focal distance short is realized by making the lens a retrofocus type one consisting of a 1st lens group being a doublet negative meniscus lens whose concave surface faces to a light source side and a 2nd lens group consisting of a plurality of single positive lenses in order from the light source side to a sample side.
光源側から標本側へ順に、光源側に凹面を向けた接合負メニスカスレンズの第１レンズ群と、複数の単体正レンズよりなる第２レンズ群とよりなるレトロフォーカスタイプにすることにより、焦点距離を短く保ったまま長い作動距離で高開口数のコンデンサーレンズを実現した。 - 特許庁 - To promptly and easily reduce light intensity of flare light according to change of the light intensity of the flare light and to prevent image quality deterioration of an observation image even when the light intensity of the flare light which reaches an imaging surface changes by change of a kind of sample, etc. in a flare reduction unit and the microscope using it.
フレア低減ユニットおよびそれを用いた顕微鏡において、標本の種類などが変わることにより結像面に到達するフレア光の光量が変わっても、それに応じて迅速かつ容易にフレア光の光量を低減でき、観察画像の画質劣化を防止することができるようにする。 - 特許庁 - When the solution sample 2 held inside a vessel 3 with an open mouth is evapolated by a microwave heating 10 to have its solvent removed, a dielectric substance such as water having a high permittivity is brought into contact with at least a part of the external surface of the vessel to be also heated with the microwave.
開口容器３の内部に保持された溶液試料２をマイクロ波１０加熱して該溶液試料の溶媒を蒸発させて除去する際に、前記開口容器外面の少なくとも一部に水等の誘電率の高い誘電体を接触させ、当該誘電体を同時にマイクロ波加熱する。 - 特許庁 - In the confocal microscope constituted by attaching a confocal scanner to an optical microscope so that the image of a sample can be acquired as a confocal image by the confocal scanner, a surface tension control type variable focus lens having no movable part is used as the field lens of the microscope.
光学顕微鏡に共焦点スキャナが取付けられ、この共焦点スキャナにより試料の像を共焦点画像として取得することができるように構成された共焦点顕微鏡において、可動部のない表面張力制御型の可変焦点レンズを顕微鏡のフィールドレンズとして用いる。 - 特許庁 - Also, the photo electron emitted by applying a monochromatic X ray from a monochromatic X-ray source 17 passes through an incidence slit part formed in the two-dimensional detector 11 and is dispersed by an energy analyzer 19, and an electron with specific energy is detected by a detector 7, thus analyzing the surface of the sample 12.
また、単色Ｘ線源１７より単色Ｘ線が照射されることで放出された光電子は、二次元検出器１１に形成された入射スリット部３１を通過し、エネルギ分析器１９で分光された後、検出器７により特定エネルギの電子が検出されることで試料１２の表面分析が行われる。 - 特許庁 - On one end side of the rotation arm, a platform 7 for both dynamic and static experiments suspended rockably between horizontal beams 4_1, 4_2 is provided, and a back plate 10 for preventing vibration caused by a reaction at a sample excitation time by seating thereon an outer surface bottom part of the platform 7 in the swung-up state horizontally by a centrifugal force is provided.
回転アームの一端側に、水平ビーム間４_1 ，４_2 に揺動自在に吊り下がる動的・静的両実験用プラットホーム７を設けるとともに、遠心力にて水平に振り上げられた状態の上記プラットホーム７の外面底部を着座させて試料加振時の反力による振動を防止するバックプレート１０を設ける。 - 特許庁 - To provide a microhardness measuring method that is superior in operability capable of calculating the hardness by simple operation, hard to produce errors, capable of calculating hardness with high precision without being affected even by the shape of a penetrator, capable of also calculating the hardness of a sample, having a hard surface layer formed thereon and superior in the application properties.
簡便な操作で硬度を算出でき操作性に優れ、また誤差が生じ難く圧子の形状にも影響されず高い精度で硬度を算出することができ、さらに硬い表面層が形成された試料の硬度も算出することができ応用性に優れる微小硬度測定法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - Regarding the observation optical apparatus, a λ/4 wavelength plate 50 is arranged between a polarized beam splitter 24 for making the illumination luminous flux emitted from a lamp house 20 for a DUV illumination/imaging apparatus 51 enter an infinite distance correction optical system 7 and a dichroic mirror 25 for separating the luminous flux returned from a sample surface 9 from the infinite distance correction optical system 7.
ＤＵＶ照明／結像装置５１におけるランプハウス２０から出射された照明光束を無限遠補正光学系７に入射させる偏光ビームスプリッタ２４と標本面９からの戻り光束を無限遠補正光学系７から分離するダイクロイックミラー２５との間にλ／４波長板５０を設けた。 - 特許庁 - This device includes a liquid film forming means for forming a liquid film by a surface tension of a sample liquid, a light projection means for projecting light to the liquid film formed by the liquid film forming means, and a light absorption amount measuring device for measuring a light absorption amount by the liquid film of a projected light amount.
試料液体の表面張力によって液膜を形成する液膜形成手段と、前記液膜形成手段により形成された液膜に対し光を投光する投光手段と、投光された光量の液膜による光吸収量を測定する光吸収量測定器を備えたものである。 - 特許庁 - Instead of a conventional Cassegrain mirror for use in an infrared microscope, a parabolic mirror 6 is installed behind a convex mirror 4 constituting a Cassegrain mirror, and light of a illuminating light source 10 is radiated to the parabolic mirror 6 through an optical fiber 7, and a surface of a sample 8 is illuminated by reflected light from the parabolic mirror 6.
赤外顕微鏡に使用される従来のカセグレン鏡の代わりに、カセグレン鏡を構成する凸面鏡４の背部に放物面鏡６を設置し、この放物面鏡６に光ファイバー７を介して照明光源１０の光を照射し、放物面鏡６の反射光で試料８表面を照明する。 - 特許庁 - In a testing using this method and apparatus for evaluating the strength of a wedge junction, a tensile load is applied to the wedge junction of a semiconductor bonding wire, the bonding wire is pulled, while keeping constant the angle between a tensile direction and a junction sample surface to measure the characteristics of the changes in the wire.
半導体用ボンディングワイヤのウェッジ接合部に引張荷重を加える試験において、引張り方向と接合試料面との角度を一定に維持しながら、ボンディングワイヤを引張ることにより、ボンディングワイヤの変化特性を測定することを特徴とするウェッジ接合部の強度評価法および評価装置。 - 特許庁 - In this state, by actuating an electron gun 130 or an ion gun 140, electrons or positive ions of inactive gas is irradiated onto an MgO membrane surface of the measurement sample, energy distribution of the emitted secondary electrons is measured with an electronic spectroscope 150, and the measured data of the secondary electron spectra are sent to an analysis device 200.
この状態で、電子銃１３０或はイオン銃１４０を作動させて電子或は不活性ガスの正イオンを測定試料のＭｇＯ膜表面に照射すると共に、電子分光器１５０で、その放出された二次電子のエネルギー分布を測定し、測定した二次電子スペクトルのデータを解析装置２００に送る。 - 特許庁 - In a data processing method for obtaining average value by using a surface analyzing apparatus, measuring the same region of a sample at least twice and accumulating the measurement data, the values of the measurement data are compiled in the order of the magnitude, the predetermined number of the measurement data are accumulated from the median, and the average value is obtained.
表面分析装置を用いて試料の同一領域を少なくとも２回測定して測定データを積算して平均値を得るデータ処理方法において、測定データを値の大小順に集計し、中央値から所定数の測定データを積算して平均値を得ることを特徴とする。 - 特許庁 - In this performance testing device 10, a fixing frame 12 and a guide frame 13 are erected vertically and oppositely in parallel at a prescribed interval on a horizontal base plate 11, and a clamp means 14 of one of upper and lower face plates 5a, 5b of the sample piece 1 is installed on an internal surface upper part of the fixing frame 12.
性能試験装置１０は、水平なベースプレート１１上に、所定の間隔を隔てて固定フレーム１２とガイドフレーム１３とが平行で、かつ相対向して鉛直に立設され、固定フレーム１２の内壁面上部には、供試体１の上下面板５ａ，５ｂの一方のクランプ手段１４が設けてある。 - 特許庁 - The film has a shrinkage ratio in both the longitudinal direction and the transverse direction of at least 10% when a sample cut into a square shape of 10 cm×10 cm is immersed in a warm water of 85°C for 10 sec and then taken out and is coated with an amphoteric surfactant at least on one surface thereof.
フィルムを１０ｃｍ×１０ｃｍの正方形状に切り出した試料を８５℃の温水中に１０秒浸漬して引き上げたときの長手方向と幅方向の熱収縮率が共に１０％以上でかつ少なくともフィルム片面に両性型界面活性剤を塗布した事を特徴とする。 - 特許庁 - In this gas-liquid distribution type gas sample collecting tube, the bulking agent containing silica gel having a hydrocarbon molecule chain preferably such as chemically bonded triacontyl group, on its surface, is stored in a container, and a gas component such as a trace amount of gas component contained in an environment is able to be easily collected/eliminated.
表面に、好ましくは化学結合したトリアコンチル基などの炭化水素分子鎖を有するシリカゲルを含む充填剤を容器内に収容してなる、環境中に含まれる微量気体成分などの気体成分を容易に捕集・脱離することの可能な気液分配型気試料捕集管。 - 特許庁 - At each measuring point of a revolver 7, the detection data of the photodetector 15 about each measuring point of a surface of the sample 10 and the detection data of the photodetector 19 thereabout are acquired.
そして、レボルバ７の各測定位置において、試料１０の表面の各測定点についての光検出器１５の検出データと光検出器１９の検出データを取得し、予め設定された閾値以上の光検出器１９の検出データがあった場合には、それを、光検出器１５の対応する検出データに置き換える。 - 特許庁 - Herein, a gaseous decomposition is accelerated at a temperature lower than the liquefying temperature of hydrofluoric acid when the thin film or natural oxidation film on the surface of the wafer is decomposed and a sample stage on which the wafer is held in a vacuum state is subsequently heated to accelerate the separation of residue for lowering the analytical precision of a very small amount of impurities (1b).
ここで、ウエハ表面の薄膜または自然酸化膜を分解する際に、フッ酸が液化する温度以下の温度で気相分解を促進した後、減圧状態でウエハを保持している試料ステージを加熱し、微量不純物の分析精度を低下させる残渣の脱離を促進する（１ｂ）。 - 特許庁 - In the method for mounting a sample on the slide glass 2 by using the slide glass 2 and a cover glass 3 in the mounting method for samples, an insert 1 having a plurality of notches is pinched between the slide glass 2 and the cover glass 3, the samples are allowed to flow to the notches by surface tension, and the samples are placed on the slide glass 2.
スライドグラスおよびカバーグラスを用いてスライドグラス上に試料を載せる方法において、該スライドグラスと該カバーグラスの間に、複数の切欠きを有するインサートを挟み込み、その切欠きに試料を表面張力により流し込み、試料をスライドグラス上に載せることを特徴とする試料の搭載方法。 - 特許庁 - The method capable of irradiating semiconductor wafers with ten times of electron beams in conventional irradiation time by irradiating two or more laminated semiconductor wafers with electron beams from the surface side of the uppermost semiconductor wafer or the rear face of the lowermost semiconductor wafer, and improving a dose distribution characteristic in the depth direction of a sample to be irradiated, is obtained.
二枚以上の半導体ウェハを重ねて最上段の表側または最下段の裏面から，或る強度以上のエネルギーで電子線照射を行うことによって，照射される試料の深さ方向の線量分布特性を改良し従来の時間で１０倍の照射が可能な工法を創案した。 - 特許庁 - An amorphous silicon layer 4 is formed on the silicon base 1 exposed by eliminating a metal silicide film 3 formed on a sample surface, and a film thickness of the amorphous silicon layer 4 is determined to approximately flatten the unevenness on the interface of the metal silicide film 3 and the silicon base 1.
試料表面に形成された金属シリサイド膜３を除去することにより露出したシリコン基板１上にアモルファスシリコン層４が形成されるとともに、このアモルファスシリコン層４の膜厚は、金属シリサイド膜３とシリコン基板１との界面に生じた凹凸が略平坦になるように設定される。 - 特許庁 - More specifically, the present invention is a cantilever; the biosensor for PKA detection containing protein kinase inhibitor (PKI) peptide to be fixed to a surface of the cantilever; and the kit comprising a sample to be detected, the biosensor for PKA detection, and a determination means for diagnosing increases in PKA activities and diseases related to them.
より詳しく、本発明はカンチレバー及び、前記カンチレバー表面に固定されるプロテインキナーゼ抑制剤（ＰＫＩ）ペプチドを含むＰＫＡ検出用バイオセンサー及び、対象試料、前記ＰＫＡ検出用バイオセンサー及び定量手段を有するＰＫＡ活性増加と関する疾病の診断用キットに関するものである。 - 特許庁 - The control operation means 6 is constituted so that the sample surface is successively illuminated by the first and second illumination means 3 and 4, and the first and second reflection characteristics calculated from the output of the light detection means are coupled linearly by using a predetermined weight coefficient to calculate the reflection characteristics of SCI and SCE.
制御演算手段６は、第１照明手段３及び第２照明手段４により順次試料面を照明させ、そのときの前記受光手段の出力から求められる第１、第２の反射特性を、所定の重み係数を用いて線形結合することで、ＳＣＩの反射特性と、ＳＣＥの反射特性とを算出する。 - 特許庁 - To accurately analyze a constituent by reducing stray light in the light reception of scattered light as much as possible and at the same time by efficiently condensing dim Raman scattered light in a Raman spectroscopy for analyzing the constituent on a sample surface by a horizontal resolution of at least diffraction limit by utilizing the Raman scattered light due to near-field light.
試料表面の成分解析を近接場光によるラマン散乱光を利用して回折限界以下の水平分解能で行うラマン分光方法において、散乱光を受光する際の迷光を極力低減しながら、微弱光であるラマン散乱光を効率よく集光することにより、より精密な成分解析を可能とする。 - 特許庁 - In the laser scanning type microscope equipped with the optical system for observation and the optical system for luminous stimulus, the optical system for observation includes a scanning means for scanning a sample surface with a spot obtained by condensing exciting light, and the optical system for luminous stimulus irradiates wide field with stimulating light.
本発明の上記課題は、観察用光学系と光刺激用光学系を備えたレーザー走査型顕微鏡において、前記観察用光学系は励起光を集光させたスポットを試料面で走査する走査手段を備え、前記光刺激用光学系は刺激光をワイドフィールド照射することを特徴とするレーザー走査型顕微鏡によって解決される。 - 特許庁 - In this analysis method of protein aggregation for analyzing a sample including a protein and/or its aggregate by eletrochemical measurement, a protein including an eletrochemically active amino acid residue is used as the protein, and eletrochemical measurement is performed in the state where the protein and/or its aggregate is in contact with an electrode surface.
タンパク質及び／又はその凝集体を含む試料を電気化学測定により分析するタンパク質凝集の分析方法であって、タンパク質として電気化学的に活性なアミノ酸残基を含むタンパク質を用いるとともに、タンパク質及び／又はその凝集体を電極表面に接触させた状態で電気化学測定を行う。 - 特許庁 - A sample preparation method for the charged particle device includes a step of forming fine irregularities on the surface of a substrate, a step of dripping on the substrate colloid metal or metal fine particles dispersed in an ionic liquid, and a step of removing the solution dripped on the substrate.
本発明では、荷電粒子線装置の試料作成方法であって、基板表面に微細な凹凸を形成するステップと、前記基板にコロイド金属又はイオン液体に分散した金属微粒子を滴下するステップと、前記基板に滴下した溶液を除去するステップと、を有することを特徴とする試料作成方法を提供する。 - 特許庁 - To automatically select an oscillation circuit according to piezoelectric sensors when the piezoelectric sensors of mutually different types are mounted to a connection terminal in a device that sucks an object to be sensed by forming a suction layer on the surface of a piezoelectric vibrator and senses the object to be sensed in a sample fluid according to a change in an oscillation frequency.
圧電振動子の表面に吸着層を形成して感知対象物を吸着し、発振周波数の変化に応じて試料流体中の感知対象物を感知する装置において、互いに異なる種別の圧電センサを接続端子に装着したときに、その圧電センサに応じた発振回路を自動で選択すること。 - 特許庁 - To provide a nonlinear dielectric microscope developed for usage of ultrahigh-sensitivity range sensing of vertical direction by using of the phenomenon based on an evidence where, when a gap is prepared between a probe and a sample surface, large variation of nonlinear dielectric signal by changing a minute gap can be predicted from theoretical analysis.
本発明の課題は、探針と試料表面に空隙を設けた場合、微小な空隙の変化で非線形誘電率信号が大きく変化することが理論解析により予測されることに基き、この現象を利用して超高感度な垂直方向距離センシングに用いる非線形誘電率顕微鏡を開発し、提供することにある。 - 特許庁 - The image processing device 10 obtains the position distribution of the probe particles P, based on a diameter of a value for defining the magnitude of the probe particle P in the probe screen that is previously stored; calibration data indicating the relation with the distance from the surface of the sample S of the probe particles P; and the diameters of the probe particles P photographed by the imaging apparatus 4.
画像処理装置１０は、予め格納されたプローブ画像におけるプローブ粒子Ｐの大きさを規定する値である直径とプローブ粒子Ｐの試料Ｓ表面からの距離との関係を示す校正データと撮像装置４によって撮像されたプローブ粒子Ｐの直径とに基づいて、プローブ粒子Ｐの位置分布を得る。 - 特許庁 - The image processing apparatus 10 obtains the positional information of the probe particle P, based on calibration data, indicating the relation between the diameter that is a value for defining the size of the probe particle P and the distance from the sample S surface of the probe particle P in a pre-stored probe image, and the diameter of the probe particle P imaged by the imaging apparatus 4.
画像処理装置１０は、予め格納されたプローブ画像におけるプローブ粒子Ｐの大きさを規定する値である直径とプローブ粒子Ｐの試料Ｓ表面からの距離との関係を示す校正データと撮像装置４によって撮像されたプローブ粒子Ｐの直径とに基づいて、プローブ粒子Ｐの位置情報を得る。 - 特許庁 - The AFM probe includes: an elastically deformable hollow frame having a fixed end and a movable end on one axis; an AFM tip supported by the movable end to be movable axially against a test sample; and a stopper disposed on the inner surface of the hollow frame to control a movement of the AFM tip within a predetermined range.
本発明によるＡＦＭプローブは、一軸線上に固定端と可動端を有する弾性変形可能な中空フレームと、可動端に支持され、試験片に対抗して軸線方向に移動可能なＡＦＭチップと、中空フレームの内側面に設けられ、ＡＦＭチップの軸線方向への移動を決められた範囲内で規制するストッパーと、を備える。 - 特許庁 - In the plasma treatment apparatus for independently performing the formation of plasma and the control of the incident energy of ions to a sample, the surface comprising an earthed conductive metal and coming into contact with plasma in the plasma treatment chamber is coated with a plasma- resistant polymeric material 22 becoming t/kε<300 in the relation between a specific dielectric constant kε and thickness t (μm).
プラズマ生成と試料へのイオンの入射エネルギ制御とを独立に行うプラズマ処理装置において、アースに接地された導電体の金属でなりプラズマ処理室８内でプラズマと接触する面を、比誘電率ｋεと厚さｔ（μｍ）との関係がｔ／ｋε＜３００となる耐プラズマ性高分子材料２２で被覆する。 - 特許庁 - This information processor 100 is provided with the first and second underlayer reflection light component calculation parts 104, 111, an internal diffusion reflection light component calculation parts 106, an internal direct reflection light component calculation parts 108, and a surface reflection light component calculation parts 109, for calculating respective components of the reflected light in the first sample pursuant to a model expression.
情報処理装置１００は、第１のサンプルにおける反射光の各成分をモデル式により算出する第１及び第２下層反射光成分算出部１０４・１１１、内部拡散反射光成分算出部１０６、内部直接反射光成分算出部１０８、表面反射光成分算出部１０９を備えている。 - 特許庁 - A sample liquid containing the test substance is made to contact with a working electrode having a probe substance directly or indirectly, specifically bondable to the test substance on the surface under coexistence of a sensitizing dye, the test substance is made to directly or indirectly, specifically bond to the probe substance, and the sensitizing dye is made to be fixed to the working electrode by the bonding.
増感色素の共存下、被検物質を含む試料液を、この被検物質と直接または間接的に特異的に結合可能なプローブ物質を表面に備えた作用電極に接触させて、プローブ物質に被検物質を直接または間接的に特異的に結合させ、この結合により増感色素を作用電極に固定させる。 - 特許庁 - This sheet comprises a resin film 12 to be stuck to a leaf 32 by a pressure sensitive adhesive 18, cobalt chloride paper 16 that is disposed on the surface of the pressure sensitive adhesive 18 of the resin film 12 and has cobalt chloride adsorbed, and a color sample 24 that is printed on the resin film 12 near the cobalt chloride paper 16 and colors the cobalt chloride paper 16 by cobalt chloride.
粘着剤１８により葉３２に貼付される樹脂フィルム１２と、樹脂フィルム１２の粘着剤１８の面に設けられ塩化コバルトを吸着させた塩化コバルト紙１６と、塩化コバルト紙１６近傍の樹脂フィルム１２に印刷されているとともに、塩化コバルトにより塩化コバルト紙１６が呈色する色の色見本２４を備える。 - 特許庁 - A drawing control unit 100 for deflecting an electron beam to perform drawing on a desired position of a sample surface makes graphic data include specified information on a least deflection address unit (LSB) and retrieves LSB every time it calls the graphic data within a pattern from a buffer memory, thereby allowing the changeover of LSB by a gain switch 7 of an analog control unit 6.
電子ビームを偏向して試料面の所望の位置へ描画する描画制御部１００は、描画パターンの図形データに最小偏向アドレス単位（ＬＳＢ）の指定情報を持たせ、パターン内の図形データをバッファメモリ１から呼び出す度にＬＳＢを取り出し、アナログ制御部６のゲイン切替７によってＬＳＢ切替を可能にしている。 - 特許庁 - The analyzer also has a fluorescence condensing part 13 for condensing fluorescence 22 discharged from a position separated as long as a prescribed distance in an optical axis direction from the sample surface 16a in the fluorescence 22 generated from the plasma 21, and a means for determining an element content based on the wavelength of the fluorescence 22 condensed by the fluorescence condensing part 13 and on the intensity of the wavelength.
プラズマ２１から発生する蛍光２２のうち試料表面１６ａから光軸方向に所定の距離だけ離れた位置から放出される蛍光２２を集光する蛍光集光部１３と、蛍光集光部１３で集光した蛍光２２の波長およびこの波長の強度に基づいて元素含有量を定量する手段と、を有する。 - 特許庁 - The gas sampling device includes a hollow support, having on its side surface a gas vent hole for guiding a sample in the flexible gas sampling bag to the outside of the bag; a clamp having an open part in a bottom arm part for fixing the hollow support to the inside of the gas sampling bag; and a pair of sealing rubber plates for holding a bag film on the bottom-arm side of the clamp from both sides.
フレキシブルサンプリングバッグ中のサンプルをバッグ外に導くためのガス通気孔を側面に有する中空支持体、該中空支持体をサンプリングバッグ中に固定するための底部アーム部に開口部を有するクランプ、及びクランプ底部アーム側のバッグフィルムを両側から挟持するための１対の密封用ゴム板を備えてなるガスサンプリングデバイス。 - 特許庁 - The method includes the steps of applying a DC magnetic field to a measurement object sample; repeatedly applying an AC magnetic field to demagnetize, while sequentially weakening a strength of the AC magnetic field; measuring a magnetic field distribution on a surface of the sintered tool, and obtaining a residual stress distribution of the sintered tool by converting the magnetic field distribution into the residual stress distribution.
被測定試料に直流磁界を加えた後、交流磁界の強度を逐次弱めながら反復して交流磁界を加える消磁操作を実施し、その後前記焼結工具表面の磁界分布を測定して、前記磁界分布を残留応力分布に変換することにより前記燒結工具の残留応力分布を求める。 - 特許庁 - The method makes the probe move in a moving direction that is different from the pushing direction, while pushing the probe to the surface of the sample; detects twisting of the probe that is generated during this movement operation; and adjusts one or both of a speed in the moving direction of the probe and the force in the pushing direction, based on the detected value.
この探針制御方法では、探針を試料の表面に押付けながら押付け方向とは異なる移動方向に探針を移動させ、この移動動作中に生じた探針の捩れを検出し、その検出値に基づき探針の移動方向の速度あるいは押付け方向の力のいずれか一方または両方を調整する。 - 特許庁 - In the atomic layer growth including introduction of hafnium compound raw material, introduction of yttrium compound raw material and introduction of an oxidizing agent as one cycle, introduction times of the hafnium compound raw material and the yttrium compound raw material are controlled and a displacement rate of a sample surface OH group due to the raw materials is controlled, thereby accurately controlling the quantity of yttrium to be added into the hafnia.
ハフニウム化合物原料の導入、イットリウム化合物原料の導入、酸化剤の導入を１サイクルとした原子層成長法において、ハフニウム化合物原料とイットリウム化合物原料の導入時間を制御し、試料表面OH基の各原料による置換率を制御することで、ハフニア中へのイットリウムの添加量を正確に制御する。 - 特許庁 - In the analysis method of vitamin Es, a sample containing a lipoprotein is subjected to an ion exchange chromatograph for separating the lipoprotein, the separated lipoprotein is allowed to react with a pretreatment liquid containing an organic solvent and a surface-active agent to liberate the vitamin Es, and then the liberated vitamin Es are subjected to a reverse-phase chromatograph.
リポ蛋白を含む試料をイオン交換クロマトグラフに供してリポ蛋白を分離し、分離したリポ蛋白を有機溶媒及び界面活性剤を含む前処理液と反応させてビタミンＥ類を遊離させ、次いで遊離したビタミンＥ類を逆相クロマトグラフに供することを特徴とするリポ蛋白中のビタミンＥ類の分析方法。 - 特許庁
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