「sample」を含む例文一覧(30668)
＜前へ 1 2 .... 67 68 69 70 71 72 73 74 75 .... 613 614 次へ＞- The CTE is measured in the CTE measuring sample plate.
またCTE測定試料板に対してCTEを測定する。 - 特許庁 - METHOD FOR PREPARING PROTEIN SAMPLE FOR STRUCTURAL ANALYSIS
構造解析用タンパク質試料の調製方法 - 特許庁 - CONTROL METHOD FOR SAMPLE TEMPERATURE AND VACUUM PROCESS DEVICE
試料温度制御方法及び真空処理装置 - 特許庁 - The terahertz spectroscopic device 1 receives the terahertz waves having penetrated through the sample to perform the spectral analysis of the sample.
テラヘルツ分光装置１は、試料を透過したテラヘルツ波を受波して、試料の分光解析を行う。 - 特許庁 - A sample plate 1 where a sample 100 of an organizmal tissue is stuck is dropped into the capsule 11.
そのカプセル１１内には組織の試料１００が貼り付けられた試料プレート１が落し込まれる。 - 特許庁 - Before welding, this displacement is recognized to be generated by a sample carrier in contact with the sample.
この位置ずれは、溶接前に、サンプルと接触する試料担体によって生じることが確認されている。 - 特許庁 - In this state, the sample S is rotated in-plane to measure the pole distribution of the sample S.
この状態で、試料Ｓを面内回転させることにより、試料Ｓの極点分布を測定する。 - 特許庁 - The sample holder 7 holds a sample on the center axis of the beam line of the terahertz waves condensed.
試料保持部７は、集光されるテラヘルツ波のビームラインの中心軸上に試料を保持する。 - 特許庁 - A sample acquiring unit 803 acquires in a sampling range, a sample of a combination of the heater power and the signal level.
サンプル取得部８０３は、サンプリング範囲において、ヒーターパワーと信号レベルの組のサンプルを取得する。 - 特許庁 - METHOD FOR TREATING SAMPLE FOR SURFACE ANALYSIS, SURFACE ANALYSIS METHOD, APPARATUS FOR TREATING SAMPLE FOR SURFACE ANALYSIS AND SURFACE ANALYZER
表面分析用試料の処理方法、表面分析方法、処理装置及び表面分析装置 - 特許庁 - To enable to provide a print sample desired by a client for the client by efficiently forming the sample desired by the client.
依頼者が希望する印刷サンプルを効率的に作成し、依頼者に提供できるようにする。 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND PRESSURIZING AND MOLDING FIXTURE OF SAMPLE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS
蛍光Ｘ線分析用試料の作製方法及び蛍光Ｘ線分析用試料加圧成形治具 - 特許庁 - In a decomposition method of the sample, medical fluid is added to the sample, and a microwave is irradiated thereto.
試料に薬液を加えて密閉しマイクロ波を照射することを特徴とする試料の分解方法。 - 特許庁 - To provide a sample manufacturing device capable of saving the trouble needed to clean a sample cassette.
標本カセットの洗浄に要する手間を軽減することが可能な標本作製装置を提供する。 - 特許庁 - To measure irregularities on the sample surface and the kind of an element constituting a sample by one device.
１台の装置で、試料の表面の凸凹および試料を構成する元素の種類を測定する。 - 特許庁 - To provide a flow cytometer capable of stably supplying sample in sample solution to a flow cell, even while making a measurement.
計測中においても、サンプル溶液のサンプルをフローセルに安定供給するフローサイトメータを提供する。 - 特許庁 - Then, the tip of the CNT401 is made close to the sample surface, and the sample surface is AFM-observed in tapping mode.
その後、ＣＮＴ４０１の先端を試料面に近接させ、タッピングモードによりＡＦＭ観察する。 - 特許庁 - A database storing a lot of sample word sets prepared on the basis of a lot of sample sentences is prepared.
多数の見本文章を基に作成された多数の見本単語集を格納したデータベースを用意する。 - 特許庁 - A liquid sample S is impregnated into a holding body 2 formed or disposed on an upper surface of a sample table 1.
試料台１の上面に形成または載置される保持体２に、液状の試料Ｓを含浸させる。 - 特許庁 - OPTICAL AXIS MISALIGNMENT INSPECTION METHOD OF COMPOSITE LAYER SAMPLE, AND OPTICAL AXIS MISALIGNMENT INSPECTION SUPPORT DEVICE OF COMPOSITE LAYER SAMPLE
複合層試料の光学軸ずれ検査方法及び複合層試料の光学軸ずれ検査支援装置 - 特許庁 - MEASUREMENT METHOD AND ANALYSIS METHOD OF SAMPLE SURFACE, AND MEASURING DEVICE AND ANALYSIS DEVICE OF SAMPLE SURFACE
試料表面の測定方法及び分析方法並びに試料表面の測定装置及び分析装置 - 特許庁 - Additionally, a chemical mechanical polishing (CMP) system for polishing a sample with a polishing agent and monitoring the sample is disclosed.
加えて、研磨剤でサンプルを研磨し、このサンプルを監視する化学機械研磨（ＣＭＰ）システムを開示する。 - 特許庁 - The device (20) for processing a tissue sample has a processing space (22) for introducing and processing the tissue sample.
組織試料を処理する装置（２０）は、組織試料を取り入れ、処理するプロセス空間（２２）を有する。 - 特許庁 - To provide a sample preparation device capable of acquiring a measurement sample having a heightened concentration of an analyte.
分析物の濃度を高めた測定試料を取得することができる試料調製装置を提供する。 - 特許庁 - Accordingly, an outgas from the septum member 131 is not mixed with the sample gas in the sample container 10.
従って、セプタム部材１３１からのアウトガスが試料容器１０内の試料ガスに混入しない。 - 特許庁 - To provide a microscope system for measuring a three-dimensional position of a sample and a fluorescence spectrum of the sample.
試料の三次元位置と該試料の蛍光スペクトルとの計測を行うための顕微鏡システムの提供。 - 特許庁 - The sensor device 12 scans the sample hair moving with the sample hair held so as to comb the same.
センサ装置１２が、サンプル毛髪を挟みつつ髪をとかすように移動して、サンプル毛髪を走査する。 - 特許庁 - To provide a sample analyzer of simple constitution with excellent weighing precision of a liquid sample.
簡易な構成であり、かつ、液体試料の計量精度に優れた試料分析装置を提供する。 - 特許庁 - This electron microscope is composed by supporting the camera 4 to a sample holding means 9 of a sample fine-movement device 3.
本発明は、カメラ４を試料微動装置３の試料保持手段（９）に支持させたのである。 - 特許庁 - The impinging energy of the electron beam to the sample has a range of 2.5 times or more of the thickness of the film of the sample.
電子線の試料への入射エネルギーは試料の膜の厚さの２．５倍以上の飛程を有する。 - 特許庁 - METHOD FOR PREVENTING ADHESION OF RESIST TO BACKSIDE OF TEST SAMPLE AND CHUCKING DEVICE OF SAMPLE USED FOR SAME METHOD
試料裏面に対するレジストの付着防止方法及び同方法に使用する試料のチャック装置 - 特許庁 - To provide a device and a method for cutting out a micro piece of a sample from a sample in a short time.
短時間で試料から微小片試料を切り出すことができる装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - SAMPLE CELL, OPERATION METHOD OF SAMPLE CELL, SOLUTION CONCENTRATION MEASURING DEVICE AND URINE INSPECTION DEVICE USING THESE
サンプルセル、サンプルセルの操作方法、ならびにこれらを用いた溶液濃度計測装置および尿検査装置。 - 特許庁 - A sample piece is periodically cut out of the degradation-detecting sample substrate 2 for detecting degradation in tensile strength.
定期的に劣化検出用サンプル基板２のサンプル片を切り取り、引っ張り強度の劣化を検出する。 - 特許庁 - APPARATUS FOR SAMPLING SOIL GAS SAMPLE, AND GAS SAMPLE- SAMPLING METHOD AND GAS-ANALYZING METHOD USING THE SAME
土壌ガス試料採取用器具ならびにこれを用いたガス試料採取方法およびガス分析方法 - 特許庁 - SAMPLER FOR SAMPLE COLLECTION FROM MELT WITH MELTING POINT OF 600°C OR MORE AND SAMPLE COLLECTION METHOD
溶融点が６００℃以上であるメルトからサンプル採取するためのサンプラー及びサンプル採取方法 - 特許庁 - The heat from the heating band 2 is transmitted to the sample 7 through the heat conductor 4 to heat the sample 7.
電熱帯２からの熱は熱伝導体４を介して試料７に伝達し、試料７が加熱される。 - 特許庁 - The first container is equipped with a first sample supply inlet for supplying the sample, and an electrode.
第１の容器は、試料を供給するための第１の試料供給口と、電極とを備える。 - 特許庁 - The sample piece 3 collected from a wafer 1 is mounted to a side surface 4a of a flat-plate sample base 4.
ウェハ１から採取した試料片３を、平板状の試料台４の側面４ａに設置する。 - 特許庁 - A user checks the printed sample images and selects the number of a sample image having required color difference.
ユーザは、印刷されたサンプル画像を確認し、所望する色差のサンプル画像の番号を選択する。 - 特許庁 - To improve accuracy for measuring the concentration of fine particles in a sample liquid by efficiently separating bubbles from the sample liquid.
試料液から気泡を効率よく分離し、試料液中の微粒子濃度計測精度を向上する。 - 特許庁 - To provide a sample separation and adsorbing instrument efficiently transferring a sample with high precision.
サンプルを効率的且つ高精度に転写させることができるサンプル分離吸着器具を提供する。 - 特許庁 - Here, (m) is the mass of the sample (g) under the standard state, and (m') is the absolute dry mass of the sample (g).
ここで、ｍは試料の標準状態の質量（ｇ）、ｍ’は試料の絶乾質量（ｇ）である。 - 特許庁 - To provide a sample separation and suction instrument, providing a sample suction pattern of high resolving power.
分解能の高いサンプル吸着パターンを得ることができるサンプル分離吸着器具を提供する。 - 特許庁 - Particularly, a device for thermally cycling a biological sample includes: a heater block assembly to receive a biological sample; a thermoelectric module coupled with the heater block assembly; and a heat sink.
具体的には、生物学的サンプルを熱的に循環させるための装置は、以下を備える。 - 特許庁 - A TEM lattice is vertically oriented on the sample stage, and the sample is adhered to the vertically oriented TEM lattice.
次いで、サンプルは、ＴＥＭ格子をサンプル・ステージ上で垂直配向ＴＥＭ格子に付着される。 - 特許庁 - Three distance sensors 7 for measuring the distance up to the sample surface are disposed over the sample 6.
試料６の上方には試料面までの距離を測定する３つの距離センサ７が配設されている。 - 特許庁 - The sample analyzing chip has a tubular sample liquid transfer passage having opening parts at two places.
本発明の試料分析チップは、２箇所の開口部を有する管状の試料液移送路を有している。 - 特許庁 - A photographing device 29 photographing the cut surface of the sample is positioned in front of the sample 10.
試料１０の正面には、試料の切断面を撮影する撮影装置２９が配置されている。 - 特許庁 - REDUCTION IN EDDY CURRENT LOSS WITHIN CONDUCTIVE SAMPLE MATERIAL WITH AID OF SPECIAL NMR SAMPLE TUBE
特殊なＮＭＲ試料管の助けを借りた導電性試料物質中の渦電流損の低減 - 特許庁
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