「sample」を含む例文一覧(30668)

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  • The method includes a step of irradiating the sample with a neutral atomic beam or ion beam, and a step of irradiating the sample with radiation after the irradiation of the sample with the neutral atomic beam or ion beam and analyzing the electrons from the sample.
    試料に中性原子線又はイオン線を照射する過程と、中性原子線又はイオン線の照射後に、試料に対して放射線を照射し、試料からの電子を分析する過程とを含む。 - 特許庁
  • SAMPLE AND HOLD AMPLIFIER CIRCUIT AND CORRELATIVE DOUBLE SAMPLING CIRCUIT
    サンプルホールド増幅回路、相関二重サンプリング回路 - 特許庁
  • METHOD FOR CLEANING OF DISPENSING NEEDLE FOR FORMING SAMPLE CHIP
    試料チップ作製用分注針の洗浄方法 - 特許庁
  • To provide a sample degrading device suitable for analyzing and evaluating an impurity on a surface in an arbitrary specific region, of a sample and that in the sample, and to provide an impurity analyzing method of the sample using the same.
    試料の任意の特定領域における表面および試料中の不純物を分析・評価するのに好適な試料分解処理装置及びこれを用いた試料の不純物分析方法を提供する。 - 特許庁
  • This detection device is constituted of a sample introduction part 1 to take in and heat a sample, an ionization part 2 to ionize the sample from the sample introduction part 1, a mass spectrometric part 3, and a computer 6 to analyze data.
    探知装置は、試料を取り込み加熱する試料導入部１と、試料導入部１からの試料をイオン化するイオン化部２と、質量分析部３と、データを解析する計算機６とにより構成される。 - 特許庁
  • SWITCHING CIRCUIT AND SAMPLE-AND-HOLD CIRCUIT USING THE SAME
    スイッチング回路およびこれを用いたサンプルホールド回路 - 特許庁
  • A relative position between the sample 16 and the search needle 20 is changed along the sample 16 surface, and the relation between the sample 16 and the search needle 20 is controlled so as to be kept in the fixed state, and a surface characteristic of the sample 16 is measured by a control signal.
    試料表面に沿って試料・探針間の相対的位置を変化させ、試料と探針の関係が一定状態に保持されるように制御し、制御信号で試料の表面特性が測定される。 - 特許庁
  • A sample 40 is disposed on the lower electrode 27.
    試料４０は下部電極２７上に配置される。 - 特許庁
  • WASHING METHOD OF SAMPLE TUBE AND WASHING DEVICE THEREOF
    試料管の洗浄方法及びその洗浄装置 - 特許庁
  • The electron microscope is provided with a sample table 33 to mount a sample on it, and an electron beam imaging part in order to irradiate an electron beam on the sample mounted on the sample table 33, and to form an electron beam observation image.
    電子顕微鏡は、試料を裁置する試料台３３と、試料台３３に裁置された試料に対して電子線を照射し電子線観察像を結像するための電子線撮像部とを備える。 - 特許庁
  • SAMPLE CELL AND SPECTROPHOTOMETER USING THE SAME
    試料セル及び該試料セルを用いた分光光度計 - 特許庁
  • LIQUID CHROMATOGRAPH AND SAMPLE INTRODUCING APPARATUS
    液体クロマトグラフ分析装置及び試料導入装置 - 特許庁
  • To prevent fly of a sample inside a sample vessel that adheres to a lid of the sample vessel or its proximity when the lid is opened and closed, and to reduce the cross contamination to another sample and contamination inside the device.
    試料容器の蓋を開閉するときの蓋やその近傍に付着した試料容器内の試料が装置内へ飛散することを防止し、他の試料へのクロス・コンタミネーションや装置内の汚染を低減する。 - 特許庁
  • SHORT SAMPLE OR DETECTION METHOD OF AUTOMATIC DISPENSING DEVICE
    自動分注装置のショートサンプル、つまり検知方式 - 特許庁
  • CALCULATION AMPLIFIER CIRCUIT, SAMPLE-HOLD CIRCUIT, AND FILTER CIRCUIT
    演算増幅回路、サンプルホールド回路及びフィルタ回路 - 特許庁
  • You will also use the BankApp Sample Project that comes bundled with the IDE.
    また、IDE に付属する BankApp サンプルプロジェクトも使用します。 - NetBeans
  • Code Sample 1: Code to Disable the Link for the Current Page
    コード例 1: 現在のページのリンクを無効にするコード - NetBeans
  • Code Sample 2: Code to Disable the Link for the Current Page
    コード例 2: 現在のページのリンクを無効にするコード - NetBeans
  • You can use the IDE to debug your sample BPEL application.
    IDE を使用して、サンプルの BPEL アプリケーションをデバッグできます。 - NetBeans
  • The file should look something like the following code sample.
    ファイルの内容は次のコードサンプルのようになります。 - NetBeans
  • Description: Sample database in NetBeans use foreign keys.
    説明: NetBeans のサンプルデータベースでは外部キーが使用されます。 - NetBeans
  • Code Sample 2: Session Bean Code to Store the Username
    コード例 2: ユーザー名を保存するためのセッション Bean コード - NetBeans
  • Here the example is provided for the Travel Reservation Service sample:
    ここでは、旅行予約サービスサンプルの例を示します。 - NetBeans
  • To build a sample project and run it in the debugger:
    サンプルプロジェクトを構築して、デバッガ内で実行する - NetBeans
  • Code Sample 6: Code to Upload a File to a Different Folder
    コード例 6: 別のフォルダにファイルをアップロードするコード - NetBeans
  • Code Sample 8: Code to Upload a File to Different Servers
    コード例 8: 異なるサーバーにファイルをアップロードするコード - NetBeans
  • SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE
    電子顕微鏡用試料ホルダ及び電子顕微鏡 - 特許庁
  • DEVICE FOR COOLING SAMPLE DURING ION BEAM PROCESSING
    イオンビーム処理の間サンプルを冷却するための装置 - 特許庁
  • METHOD FOR HOLDING SOLID SAMPLE FOR SECONDARY ION MASS ANALYSIS
    二次イオン質量分析の固形試料保持方法 - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING ANALYTE WITHIN SAMPLE
    サンプル中の検体を測定するシステムおよび方法 - 特許庁
  • ANALYSIS SYSTEM FOR ANALYZING SAMPLE ON TEST ELEMENT
    試験エレメント上の試料の分析用の分析システム - 特許庁
  • SAMPLE IMAGE FORMING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
    試料像形成方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁
  • To certainly prevent the occurrence of a carry-over in a sample sucking needle for supplying a sample to a predetermined receiving part after once holding the sample inside, and a sample injection device.
    本発明は試料を内部に一旦保持した後に当該試料を所定被供給部に供給する試料吸入用ニードル及び試料注入装置に関し、キャリーオーバーの発生を確実に防止することを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a sample input device (1) having a single inlet (2), through which a medical sample, or preferably a sample of bodily fluids or quality control medium, is automatically loaded from various sample containers (3, 4).
    本発明は、医療サンプル、好ましくは体液または品質管理媒質のサンプルを多様なサンプル容器（３、４）から自動的に入力するために単一の差込位置（２）があるサンプル投入器具（１）に関する。 - 特許庁
  • CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND SAMPLE IMAGE DISPLAYING METHOD
    荷電粒子線装置及び試料像表示方法 - 特許庁
  • A sample point displacement calculation unit 103 finds a sample point displacement 107 for maximizing light condensing rate through optical simulation by a light beam tracking method among sample points of the CRA characteristic values 101 obtained by the CRA sample point acquisition unit 102.
    １０３は、１０２が取得したＣＲＡ特性値１０１の各サンプル点について、光線追跡法などによる光学シミュレーションによって、集光率が最大となるサンプル点ずらし量１０７を求める。 - 特許庁
  • ULTRASONOGRAPH AND SAMPLE HOLDING TOOL CASE THEREOF
    超音波映像検査装置とその試料保持具ケース - 特許庁
  • METHOD FOR SEPARATION/CONCENTRATION AND RECOVERY/SAMPLE PREPARATION OF VIRUS
    ウイルスの分離・濃縮回収・試料調製方法 - 特許庁
  • STANDARD SURFACE SAMPLE AND OPTICAL CHARACTERISTIC MEASURING SYSTEM
    標準面試料および光学特性測定システム - 特許庁
  • METHOD FOR CURING CONCRETE SAMPLE AND CURING CONTAINER
    コンクリート供試体の養生方法及び養生容器 - 特許庁
  • SAMPLE IMAGE ROTATING METHOD, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
    試料像回転方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁
  • METHOD FOR MEASURING CONTAMINATION OF SAMPLE IN ELECTRON BEAM TESTER
    電子ビーム検査装置の試料汚染測定方法 - 特許庁
  • To provide a method capable of preparing a section of a soft sample, a sample easily affected by heat, a sample having water absorbing property, a sample having difficulty in being embedded into a resin, or the like by avoiding a heat damage caused by ion beam irradiation.
    イオンビーム照射による熱損傷を避けて、柔らかい試料、熱に弱い試料、吸水性の有る試料、樹脂埋め込みが困難な試料等の断面作製を行うことのできる方法を提供する。 - 特許庁
  • To improve pattern inspection accuracy for an inspection sample.
    被検査試料のパターン検査の精度を高めること。 - 特許庁
  • One end of a sample pressing member 13 is pressed by a pressing member 14, and thereby the sample S placed on the sample stand 12 is pressed by an energizing force generated on the free end side of the sample pressing member 13.
    試料押え部材１３の一端を押圧部材１４により押圧することにより、当該試料押え部材１３の自由端側に生じる付勢力により、試料台１２に載置された試料Ｓを押える。 - 特許庁
  • MEASUREMENT METHOD AND DEVICE OF HEMATOLOGICAL SAMPLE
    血液学的試料の測定方法及び測定装置 - 特許庁
  • As a result, in the case where the sample is an amorphous sample, a medical and biological sample, and a chemical sample, the grid, different from conventional grids, can solve a problem that the attachment of the marks is difficult and three-dimensional images can hardly be obtained in the conventional grids.
    その結果、試料が非晶質試料、医生物試料および化学試料の場合、従来のグリッドとは異なり、標識を付着するのが難しく３次元イメージを得にくかった点を解決できる。 - 特許庁
  • SAMPLE PREPARATION METHOD FOR EVALUATING UNIFORMITY OF POLYURETHANE
    ポリウレタンの均質性評価用試料調製方法 - 特許庁
  • DEVICE FOR PROCESSING AT LEAST ONE SAMPLE SLIDE
    少なくとも１つの標本スライドを処理する装置 - 特許庁
  • To provide a simple measuring method of the shape of a sample for rapidly changing the temperature of the sample to a desired temperature with favorable temperature distribution and rapidly and accurately determining the sample of the sample, a holding device and a shape determination device.
    試料を目的温度へと迅速且つ温度分布良く到達し、試料の形状を迅速且つ正確に測定できる簡便な測定方法、保持装置及び形状測定装置を提供すること。 - 特許庁
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