「sample」を含む例文一覧(30668)
＜前へ 1 2 .... 72 73 74 75 76 77 78 79 80 .... 613 614 次へ＞- The LPF 10 equalizes the inputted sample data row.
ＬＰＦ１０は入力サンプルデータ列を平均化する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATICALLY POLISHING SURFACE OF SAMPLE PIECE
試料片の表面自動研磨方法とその装置 - 特許庁 - Any additional reference fiber will not contact the sample.
各追加基準ファイバは試料に接触していない。 - 特許庁 - A fluorescent X-ray analyzer, by irradiating the sample table 2 with an X-ray emitted from an X-ray source 11 while moving the sample table 2 by a driving section 41, scans the sample table 2 containing a residue sample 31 by the X-ray.
蛍光Ｘ線装置は、駆動部４１で試料台２を移動しながらＸ線源１１から試料台２へＸ線を照射することにより、残渣試料３１を含む試料台２上をＸ線で走査する。 - 特許庁 - To provide the sample shielding mechanism of a sample cross section making device capable of making accurate sample cross sections, even regarding a sample which is weak against heat.
本発明は試料断面作製装置の試料遮蔽機構に関し、熱に弱い試料でも正確な試料断面を作製することができる試料断面作製装置の試料遮蔽機構を提供することを目的としている。 - 特許庁 - A probe for hybridization is synthesized in a sample.
試料中で、ハイブリダイゼーション用のプローブを合成する。 - 特許庁 - EVALUATION METHOD OF PAINTING PATTERN AND PAINTING PATTERN SAMPLE
塗装模様の評価方法及び塗装模様標本 - 特許庁 - To suppress deterioration of a sample by stopping immediately energy supply to the sample, when the sample is almost overheated during decomposition of the sample.
試料の分解中に、試料がオーバーヒートしそうになった時に、即座に試料へのエネルギー供給を停止して、試料の変質を抑制することを可能とする、試料の分解方法および試料の分解装置を提供する。 - 特許庁 - DECOMPOSING METHOD AND ANALYZING METHOD FOR NONOXIDIZING SAMPLE
非酸化物試料の分解方法及び分析方法 - 特許庁 - SAMPLE AND HOLD CIRCUIT AND AD CONVERTER UTILIZING THE SAME
サンプルホールド回路と該回路を用いたＡＤ変換器 - 特許庁 - KIT FOR MEASURING CLOTTING TIME OF BLOOD SAMPLE
血液サンプルの凝固時間を測定するためのキット - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE IMAGE OBSERVATION METHOD
荷電粒子線装置及び試料像観察方法 - 特許庁 - METHOD FOR PRODUCING AUTHENTIC SAMPLE OF TRANSTHYRETIN AND ITS USE
トランスサイレチン標品の製造方法及びその使用 - 特許庁 - A customer places an order for the sample product via the Web page.
顧客はＷｅｂページ上で、サンプル製品をオーダする。 - 特許庁 - To fabricate an SEM sample and STEM sample without operation for planarizing a sample surface by an FIBAD film conducted before cross-sectional processing and slice processing by an FIB, and without causing a damage by FIB radiation on the sample surface.
FIBによる断面加工や薄片加工に先立って行なわれていたFIBAD膜による試料表面平坦化作業を行なうこと無く、試料表面にFIB照射損傷を与えることなく、SEM試料やSTEM試料を作製する。 - 特許庁 - STANDARD SAMPLE SUPPLY CONTAINER AND METHOD
標準試料の供給容器及び供給方法 - 特許庁 - Thus, the sample is scanned by the laser beam.
これにより、試料がレーザ光によって走査される。 - 特許庁 - LIQUID DISCHARGE DEVICE AND APPARATUS FOR MANUFACTURING SAMPLE CARRIER
液体吐出装置及び試料担体の製造装置 - 特許庁 - ANALYSIS OF SAMPLE USING ANTI-RESONANT WAVEGUIDE SENSOR
反共振導波路センサを用いた試料の分析 - 特許庁 - GAS-LIQUID TWO PHASE SAMPLE ANALYZER AND ANALYSIS METHOD
気液２相試料分析装置及び分析方法 - 特許庁 - A small droplet of a methylating reagent is added to the sample.
少滴のメチル化試薬が試料に添加される。 - 特許庁 - The sample diluting part 32 is not provided with a device for forcibly mixing a sample solution and diluting water, and they are uniformly mixed in the sample diluting part 32 by the velocity of inflow of the diluting water and the sample solution.
この試料希釈部３２は、試料溶液と希釈水を強制的に混合させる装置がなく、希釈水と試料溶液との流入の流速により試料希釈部３２内にて均一に混合される。 - 特許庁 - SAMPLE DETECTION DEVICE AND SPECIMEN ANALYZER INCLUDING IT
サンプル検出装置とそれを含む検体分析装置 - 特許庁 - FLOW CELL, DETECTION DEVICE, AND LIQUID SAMPLE-MEASURING INSTRUMENT
フローセル、検出装置及び液体試料測定装置 - 特許庁 - In a measurement, a sample tray 1 on which a sample container containing a standard sample and the measurement sample is set is installed at a heating furnace 2, and it is fixed to the tip of a balance beam 4 protruding from an optical lever-type balance detector 3.
測定時は移動可能な加熱炉２に標準物質及び測定試料を入れた試料容器をセットする試料皿１を設け、光テコ式天秤検出器３から出る天秤ビーム４の先に固定する。 - 特許庁 - I had this sample sent from Hong Kong.
私はこのサンプルを香港から送ってもらいました。 - Weblio Email例文集 - That sample is something for us to have you use.
そのサンプルはあなたに使ってもらうための物です。 - Weblio Email例文集 - How big a sample do you need?
あなたはどれくらいの大きさのサンプルが必要ですか？ - Weblio Email例文集 - VACUUM PROCESSING DEVICE AND VACUUM PROCESSING METHOD OF SAMPLE
真空処理装置及び試料の真空処理方法 - 特許庁 - SAMPLE INTERFERENCE FRINGE REDUCTION TOOL FOR INFRARED SPECTROSCOPIC ANALYSIS
赤外分光分析用試料干渉縞低減冶具 - 特許庁 - METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁 - PROCESSING METHOD, OBSERVATION METHOD, AND DEVICE OF FINE SAMPLE
微細試料の加工方法，観察方法，及び装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING PEPTIDE IN BIOLOGICAL SAMPLE
生体試料中のペプチド分析方法及び装置 - 特許庁 - METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡用試料の調製方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR REDUCING ALBUMIN IN SAMPLE
サンプル中のアルブミンを低減する装置および方法 - 特許庁 - IONIZATION METHOD AND DEVICE OF SAMPLE GAS UNDER ATMOSPHERIC PRESSURE
試料ガスの大気圧下イオン化方法および装置 - 特許庁 - GAS REACTOR, REACTION PIPE AND SAMPLE EVALUATION APPARATUS
ガス反応装置、反応管及び供試材評価装置 - 特許庁 - OPTIMIZATION OF LITHOGRAPHY PROCESSING BASED ON HYPER-SAMPLE CORRELATION
ハイパーサンプル相関に基づくリソグラフィ処理の最適化 - 特許庁 - SPECTROPHOTOMETER AND VESSEL FOR SAMPLE USED FOR IT
分光光度計およびそれに用いる試料用容器 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING CONTENT OF METAL IONS IN SAMPLE
試料中の金属イオン含有量の測定方法 - 特許庁 - PRIMER SPECIFICALLY DETECTING MICROORGANISM IN SAMPLE
試料中の微生物を特異的に検出するプライマー - 特許庁 - APPARATUS FOR AUTOMATIC ANALYSIS OF SAMPLE ON GEL CARDS
ゲルカード上の試料を自動分析するための器械 - 特許庁 - A high mass sample ion is removed which is generated when a sample gas is ionized by electronic ionization, or a low mass sample ion is removed when an electronic ionization experiment is carried out in the presence of the sample gas.
試料ガスが電子衝突イオン化によりイオン化されるとき形成される高い質量のサンプルイオンを、あるいは試料ガスの存在下で電子衝突イオン化実験を行うとき低い質量の試料イオンを除去する。 - 特許庁 - YARN EXCHANGE MECHANISM IN ELECTRONICALLY CONTROLLED SAMPLE WARPER
電子制御サンプル整経機における糸交換機構 - 特許庁 - ELECTRON BEAM DEVICE AND SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON BEAM DEVICE
電子線装置及び電子線装置用試料ホルダー - 特許庁 - SAMPLER THRUSTING APPARATUS AND SOIL SAMPLE SAMPLING APPARATUS
サンプラー押し込み装置及び土試料のサンプリング装置 - 特許庁 - REAGENT AND SAMPLE HANDLING DEVICE FOR AUTOMATIC TESTING SYSTEM
自動試験システム用の試薬およびサンプル処理装置 - 特許庁 - SAMPLE SUPPORT DEVICE AND METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の試料支持装置およびその方法 - 特許庁 - METHOD FOR ISOLATING AND LABELING SAMPLE MOLECULE
サンプル分子を単離および標識するための方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH TILTED SAMPLE STAGE
傾斜試料ステージを備える走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
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