「sample」を含む例文一覧(30668)
＜前へ 1 2 .... 75 76 77 78 79 80 81 82 83 .... 613 614 次へ＞- A microscope 3 generates a plurality of oblique illumination sample images, having different brightness distribution, which are obtained by obliquely illuminating the sample S and imaging a predetermined sample area.
顕微鏡３は、標本Ｓを偏斜照明して所定の標本領域を撮像した明るさの分布が異なる複数の偏斜標本画像を生成する。 - 特許庁 - To provide a sample tube holder in an automatic humor analyzer for detecting fracture of sample tubes, and to provide a sample tube fracture detector, gripper apparatus, and object raising and lowering apparatus.
試料管の破壊を検出するための自動体液分析装置における試料管ホルダ、試料管破断検出器、グリッド装置および物体昇降装置。 - 特許庁 - To obtain a charged particle beam device which allows for stabilized processing and observation of a sample by keeping the charges on the surface of the sample in balance without applying a film on the surface of the sample.
試料表面に膜を施すことなく試料表面の電荷を平衡に保ち安定した試料の加工および観察が可能な荷電粒子線装置を実現する。 - 特許庁 - This thermal analyzer has a first opening 01 formed in the sample chamber 2 for disposing the sample S therein and a gas supply port 13 for supplying gas to the sample chamber 2.
試料Ｓが配置される試料室２に形成された第１開口Ｏ１と、試料室２へガスを供給するガス供給口１３とを有する熱分析装置である。 - 特許庁 - A SCOTDIC code number specifying the color of each color sample is displayed by the color sample, and the code number displayed by a selected color sample is read to be able to specify the color.
各色見本の横に色見本の色を特定するSCOTDICコードナンバーを表示し、選別した色の横に表示されているコードナンバーを読み取れば色の特定を可能とする。 - 特許庁 - The sample solution is irradiated with ultraviolet rays, and an image of fluorescence emitted from the sample in the sample solution is detected, thereby sensing a specific polymer.
試料溶液に紫外線を照射し、該試料溶液中の試料が発する蛍光像を検出することにより試料溶液中の特定高分子を検出する。 - 特許庁 - This microorganism separating device is equipped with a microchip 20 for capturing the target microorganism contained in the sample water, a sample water supply means 19 for supplying the sample water to the microchip 20, and a sample water suction means 21 for sucking the sample water from the microchip 20.
微生物分離装置は試料水中に含まれる対象微生物を捕捉するマイクロチップ２０と、マイクロチップ２０に試料水を供給する試料水供給手段１９と、マイクロチップ２０から試料水を吸引する試料水吸引手段２１とを備えている。 - 特許庁 - To provide a sample analysis system for eliminating the need for management of the remaining number of reagents by the user of a sample analysis apparatus, the sample analysis apparatus and a server used for the system.
試料分析装置の使用者による試薬の残数管理が不要な試料分析システムおよびそのシステムに使用される試料分析装置およびサーバを提供する。 - 特許庁 - A predetermined amount of a sample from a sample container 1 and a predetermined amount of hydrochloric acid from a hydrochloric acid bottle 3 are fed to a mixing tank 9 by a sample pump 5 and an acid pump 7.
試料ポンプ５及び酸ポンプ７により、試料容器１から所定量の試料と塩酸ボトル３から所定量の塩酸を混合槽９に送る。 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER FOR HOLDING AND TRANSFERRING SAMPLE VIAL INSIDE NMR DEVICE, AND AUTOMATIC FEED DEVICE AND OPERATING TECHNIQUE THEREOF FOR AUTOMATIC EXCHANGE OF NMR SAMPLE VIAL
ＮＭＲ装置内で試料バイアルを保持し移送するための試料ホルダ及びＮＭＲ試料バイアルの自動交換用の自動供給装置及びその操作方法 - 特許庁 - A pair of sample discrimination information and representative point indication data are generated in accordance with performance data or the like, and a database is referred to by sample discrimination information to acquire sample data.
演奏データ等に応じて、サンプル識別情報と代表点指示データとの組を生成し、サンプル識別情報によりデータベースを参照してサンプルデータを取得する。 - 特許庁 - During the sampling, when the suction nozzle 2 elevates and lowers, the stirring blade 9 generates connection in the liquid sample 8 in the sample container 7, effectively stirring the liquid sample 8.
サンプリング時に、撹拌翼９は、吸引ノズル２が昇降するときに、サンプル容器７内の液体サンプル８に対流を生じさせ、液体サンプル８を有効に撹拌する。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of observing a sample with accuracy by making constant a potential of a conductive layer on a surface of the sample.
試料表面の導体層の電位を一定にして精度よく試料を観察することのできる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供すること。 - 特許庁 - In the microscope system, a user mounts a sample on a sample mounting stand of an atomic force microscope (step S1), and observes the sample with an optical microscope (step S2).
顕微鏡システムにおいて、使用者は、原子間力顕微鏡の試料載置台上に試料を載置し（ステップＳ１）、光学顕微鏡による試料の観察を行う（ステップＳ２）。 - 特許庁 - To provide a sample evaluating method and a sample evaluating apparatus capable of more correctly evaluating quality without destroying a sample, such as a thin film used as a measurement object.
測定対象となる薄膜等の試料を破壊すること無く、品質をより正確に評価することが可能な試料の評価方法及び評価装置を提供する。 - 特許庁 - When the hole to be machined is a hole through the sample, the surface machining area 5 of the through hole and the sample back side shape 4 are indicated on the sample image 3.
加工穴が試料を貫通する穴である場合には、試料像３上にその貫通穴の表面加工領域５と試料裏面形状４を表示する。 - 特許庁 - A layer structure of a sample is obtained from frequency spectral intensity to dispersion waveform of reflection light from a sample in CMP process and a measurement position of a sample is specified.
ＣＭＰ加工中、試料からの反射光の分光波形に対する周波数スペクトル強度から試料の層構造を求め、試料の計測位置を特定する。 - 特許庁 - This dispensing device sucks the liquid sample, containing a sample or a reagent by a dispensing probe 6 and transfers the sucked liquid sample to a prescribed position to be delivered.
試料又は試薬を含む液体試料を分注プローブ６によって吸引し、吸引した液体試料を所定位置へ移送して吐出する分注装置。 - 特許庁 - A sample rate control section 108 controls a sample rate of a sample rate conversion section 104 to obtain a desired number of audio samples and applies output control to data of an audio decode section 103.
サンプルレート制御部１０８は、所望のオーディオサンプル数となるようサンプルレート変換部１０４のサンプルレートを制御し、オーディオデコード部１０３のデータを出力制御する。 - 特許庁 - The D-allose amount in the examined sample is an amount of the D-allose generated by converting D-psicose in the examined sample into the D-allose by making L-rhamnose isomerase act on the sample.
被験試料中のD-アロース量が、被験試料中のD-プシコースを、L-ラムノースイソメラーゼを該試料に作用させることにより、D-アロースに変換したものの量である。 - 特許庁 - Further, a function is provided for adjusting angles at which the fog-drip sample including the sample ions and the sample droplet is incident on the ion mirror and a voltage impressed on the ion mirror.
また、イオン源から試料イオンおよび試料液滴を含む霧滴試料をイオンミラーへ入射させる角度、およびイオンミラーに掛ける電圧を調整する機能を設ける。 - 特許庁 - The minute sample stand 100 has a minute sample loading membrane 20 formed to and integrated with one side of a minute sample stand base part 10 consisting of a semiconductor substrate.
微小試料台１００は、半導体基板よりなる微小試料台基部１０の一面に成膜により一体化された微小試料搭載用薄膜２０を有する。 - 特許庁 - To enhance uniformity in the thickness of a produced sample in a thin sample producing device by slicing a sample block with a cutter blade.
カッタブレードを用いて標本ブロックをスライスして薄片状の試料を作製する薄片試料作製装置において、作製される薄片試料の厚さの均一性を高める。 - 特許庁 - The jointed part strength testing machine of the measuring sample jointed to the sample-holding surface of a sample-holding member is equipped with an impact-applying mechanism for applying the impact to the jointed part of the measuring sample from the direction crossing the sample-holding surface at right angles by utilizing the energy when the weight is freely dropped.
試料保持部材の試料保持面に接合された測定試料の接合部強度試験装置であって、錘を自由落下させる際のエネルギーを利用して前記測定試料の接合部に対して試料保持面と直交する方向から衝撃を加える衝撃印加機構を備えた。 - 特許庁 - By short-circuiting the top of the transmission line with the sample, a test signal of high current density is applied to the sample so that a loop of the current standing wave is located in the position of the sample.
試料によって伝送線路先端を短絡することで、試料の位置を電流定在波の腹として、高電流密度の試験信号を印加する。 - 特許庁 - A first sample-and-hold circuit 5a holds an amplitude value Vd of the waveform of the compensation electric signal, and a second sample-and-hold circuit 9a holds the amplitude value of the waveform of an electric signal held by the sample-and-hold circuit 5a when receiving a sample-and-hold signal from a sample-and-hold signal generator 8.
第１のサンプルホールド回路５ａは補償電気信号の波形の振幅値Ｖｄを保持し、第２のサンプルホールド回路９ａはサンプルホールド信号発生器８からサンプルホールド信号を受けたときにサンプルホールド回路５ａに保持されている電気信号の波形の振幅値を保持する。 - 特許庁 - A primary sample is obtained by crushing the recycled raw material to a particle size of ≤20 mm by a crusher, the primary sample is crushed to a particle size of ≤2 mm by a micronizer and it is recovered, mixed and reduced by a dust collecting system to obtain a secondary sample, and the secondary sample is ultimately used as the sample for analyzing.
リサイクル原料を破砕機により粒度２０ｍｍ以下に破砕して一次サンプルを採取し、次いでこの一次サンプルをマイクロナイザにより粒度２ｍｍ以下に粉砕した後、集塵系統で回収し、混合、縮分して二次サンプルを採取して最終的に分析用サンプルとした。 - 特許庁 - if the application comprises the deposit of a sample of biological material, information to that effect and a statement of the institution with which the sample is deposited and the number accorded to the deposited sample by the institution,
生物学的材料の試料の寄託を伴っている場合は，その旨の情報並びに寄託した機関及び寄託機関が付与した寄託試料番号 - 特許庁 - if the patent comprises the deposit of a sample of biological material, a statement of the institution with which the sample is deposited and the number accorded to the deposited sample by the institution,
特許が生物学的材料の寄託を含んでいる場合は，試料を寄託した機関に関する記載及びその寄託試料について当該機関が与えた番号 - 特許庁 - The sample 20 is started to be measured after a position of the beam is confirmed and after the sample 20 is moved to a prescribed position with respect to the beam by the rotary sample table 12 and a stage 13.
光束の位置を確認し、回転試料台１２およびステージ１３により試料２０を光束に対して所定の位置に移動した後、測定を開始する。 - 特許庁 - The fine tip 21 is moved to a working location of the sample S, electric field is applied between the fine tip 21 and the sample S and the sample S is doped with elements in introduced gas.
そして試料(S)の加工位置に微細端(21)を移動させ、微細端(21)と試料（S）との間に電界を供給し、試料(S)に対し導入ガス中の元素をドーピングする。 - 特許庁 - If the dispensed quantity of the sample is relatively large, and it is necessary for a sample dispensing operation to take a long time, the operation is not implemented, and a sample dispensing operation time is reduced.
サンプル分注量が比較的大きく、サンプル分注動作に長い時間を必要とする場合は前記の動作を実施せず、サンプル分注動作時間を短縮する。 - 特許庁 - To simplify steps through collecting a sample piece for a TEM or SEM observation from an original sample up to molding it and setting an observation holder, and carry out the steps consistently in a sample treatment chamber.
元試料から、TEMまたはSEM観察のための試料片の採取、成形および観察ホルダ設置までの工程を簡素化し、試料処理室において一貫して行なう。 - 特許庁 - Thus, the temperature inside the sample chamber 1 can be controlled without causing a magnetic field change inside the sample chamber 1, temperature control can be performed even while irradiating the sample 7 with electron beams, and temperature changes of the sample 7 and structure members of a stage 8 and the sample chamber 1 can be reduced.
これにより、試料室１内に磁場変化を生じることなく、試料室１内の温度制御ができ、試料７に電子ビームを照射中であっても、温度制御可能で、試料７、ステージ8、試料室１構造部材の温度変化を小さくすることができる。 - 特許庁 - The specific heat calculation unit 50 calculates the specific heat of the sample 100 based on a change in a temperature difference between the sample 100 and the heat bath 10 or a temperature change of the sample 100.
比熱算出部５０は、試料１００と熱浴１０との温度差の変化、又は試料１００の温度の変化に基づいて試料１００の比熱を算出する。 - 特許庁 - FECAL MATTER SAMPLE SUBJECTED TO DRYING TREATMENT, PREPARATION METHOD OF FECAL MATTER SAMPLE, AND METHOD FOR EXTRACTING AND DETECTING NUCLEIC ACID OR PROTEIN USING FECAL MATTER SAMPLE
乾燥処理がなされた糞便試料及び糞便試料の調製方法、及び、該糞便試料を用いた核酸又はタンパク質の抽出並びに検出方法 - 特許庁 - When injecting the sample liquid 2 by means of the sample liquid injector 9, the injection of the sample liquid 2 by means of the sample liquid injector 9 is stopped based on the relative size L1 from the display part 6 to the level surface 5 of the sample liquid 2 according to the image-pickup of the television camera 14.
試料液注入機９による試料液２の注入に際し、テレビカメラ１４の撮像による表示部６から試料液２の液面５までの相対寸法Ｌ１に基づき、試料液注入機９による試料液２の注入を停止させるようにする。 - 特許庁 - To accurately measure an internal stress near the surface of a sample or a thin film state sample by excluding an effect of a refraction of an X-ray on the surface of the sample.
試料表面におけるＸ線の屈折の効果を排除し、試料の表面近傍もしくは薄膜形態試料における内部応力を正確に測定する。 - 特許庁 - In a case that a sample 4 is analyzed, the sample 4 is irradiated with a laser beam to finely pulverize a part of the sample 4 and a carrier gas is introduced into a sample chamber 5 to transfer the finely pulverized sample 4 to an analyzing unit 3 along with the carrier gas through a connection tube 22.
試料４の分析を行う場合は、試料４にレーザ光を照射して、試料４の一部を微粒子化させると共に、試料室５内にキャリアガスを導入して、微粒子化された試料４をキャリアガスと共に接続チューブ２２を介して分析ユニット３に移送する。 - 特許庁 - In the measurement method, a first sample is supplied to a measurement section; a prescribed substance included in the first sample is measured; without cleaning the measurement section, a second sample is supplied to the measurement section; and the prescribed substances included in the first sample and the second sample are measured.
第一の試料を測定部に供給し、前記第一の試料に含まれる所定物質を測定し、前記測定部の洗浄を実施せずに前記測定部に第二の試料を供給し、前記第一の試料及び前記第二の試料に含まれる所定物質を測定する。 - 特許庁 - A sample movement process is performed on a current sample in the first prediction pattern to change a current position of the current sample in the first prediction pattern.
サンプルの移動処理が、最初の予測パターン内の対象のサンプルに対して実行され、最初の予測パターン内にある対象のサンプルの現在の位置を変化させる。 - 特許庁 - Moreover, a voltage is applied between the sample holder 11 and the sample holder support 17, and the sample holder support driving means is controlled by a support control part 24 so that a contact electric current I flowing between the sample holder 11 and the sample holder support 17 can be maintained constant.
また、試料ホルダ１１と試料ホルダ支持体１７との間に電圧を印加し、試料ホルダ１１と試料ホルダ支持体１７との間に流れる接触電流Iが一定に維持されるように、試料ホルダ支持体駆動手段を支持体制御部２４により制御する。 - 特許庁 - The sample solution is supplied for filling the inside of the flow cell 2 with the sample solution and the sample solution after the measurement is pushed out to the discharge section 8, thus simultaneously performing the supply of the sample solution, the discharge of the sample solution after the measurement, and the cleaning of the flow cell 2.
試料溶液を供給してフローセル２内に試料溶液を充填させるとともに、排出部８に測定後の試料溶液を押し出すことにより、試料溶液の供給と、測定後の試料溶液の排出と、フローセル２の洗浄とを同時に行う。 - 特許庁 - An edge sample value is identified by calculating an edge intensity value for every discrete sample value of the image data, an azimuth angle is stored for each edge sample value, and the edge sample value and the stored azimuth angle are processed by using a format process for each discrete sample value.
前記画像データの離散サンプル値毎にエッジ強度値を算出することによってエッジサンプル値を識別し、前記エッジサンプル値毎に方位角度を格納し、前記離散サンプル値毎に、前記エッジサンプル値および前記格納された方位角度を形態プロセスを用いて処理する。 - 特許庁 - Also, it includes a mechanism keeping a sample with a periodical structure and a sample with a non-periodical structure for a sample base, or a sample simultaneously having a periodical structure and a non-periodical structure, and a retention device of measuring length values for all magnifications capable of automatically changing a magnification factor of the sample magnified images.
また、試料台に周期構造を有する試料と非周期構造を有する試料若しくは周期構造、非周期構造を同時に有する試料を保持する機構と、試料拡大像の拡大倍率を自動的に変え、全倍率での測長値の保存装置を有する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for measuring sample physical properties capable of measuring accurate physical properties of a sample on the basis of a probe sample in-plane vibration amplitude.
探針の試料面内振動振幅に基づいて、試料の正確な物性を計測することができる試料の物性測定方法及びその測定装置を提供する。 - 特許庁 - The X-ray analyzer also has a sample chamber R0 capable of setting the sample S inside, a sample support device 48 for supporting the sample S on the measuring position, and an atmosphere generation device for setting the sample chamber R0 in the atmosphere different from vacuum atmosphere in the vacuum path 17.
このＸ線分析装置は、試料Ｓを内部にセットすることができる試料室Ｒ０と、試料Ｓを測定位置に支持する試料支持装置４８と、試料室Ｒ０を真空路１７内の真空雰囲気と異なる雰囲気にするための雰囲気生成装置とを有する。 - 特許庁 - To allow a sample to be replaced easily by simple structure, and to preclude the atmospheric air from intruding into a sample chamber or the like in the replacement of the sample for improving measurement accuracy.
簡易な構造で容易に試料交換ができ、しかも試料交換に際して試料室などへの大気の侵入を阻止して、測定精度の向上を図る。 - 特許庁 - A text data reproduction processing part 13 reproduces and displays the text sample T1 till a division time of the text sample T1 from the decoration elapsed time t1, reproduces and displays the text sample T2 from the decoration elapsed time t2, and performs reproduction processing while maintaining the continuity of the text sample T1 and text sample T2.
テキストデータ再生処理部１３は、装飾経過時間ｔ１からテキストサンプルＴ１の分割時間まで、テキストサンプルＴ１を再生・表示し、装飾経過時間ｔ２からテキストサンプルＴ２を再生・表示して、テキストサンプルＴ１とテキストサンプルＴ２との連続性を保ちながら再生処理を行う。 - 特許庁 - In the method in which the liquid sample is dispensed, a liquid storage part which communicates with a liquid-sample holding part is provided, The liquid sample which is stored in the liquid storage part is dispensed, and it is possible to prevent the loss or the like of the reagent or the sample to be measured when the liquid sample is exhausted.
液体試料を分注する方法において、液体試料保持部に連通されている液溜部を有し、その液溜部に貯留された液体試料を分注することにより液体試料の枯渇による試薬や測定試料の損失等を防止することが可能となった。 - 特許庁
