「test object」を含む例文一覧(1171)
＜前へ 1 2 .... 4 5 6 7 8 9 10 11 12 .... 23 24 次へ＞- A test pressure specified by a pressure control valve 2 is introduced in an object W to be inspected via a pressure introducing path 3L.
圧力制御弁２で設定したテスト圧を、圧導入路３Ｌを経て検査対象Ｗに導入する。 - 特許庁 - To provide a method and an instrument for measuring electrochemically a concentration of a test object in a physiological sample.
生理学的サンプル中の被検体の濃度を電気化学的に測定する方法および装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR JUDGMENT OF PRESENCE OR ABSENCE OF READING OF DENSITY OF FOREIGN OBJECT AND METHOD FOR CALCULATION OF REPRESENTATIVE VALUE OF DENSITY OF TEST PATTERN
異物濃度の読み取り有無の判定方法、及び、テストパターンの濃度の代表値を算出する方法 - 特許庁 - A connector socket 5 where a plurality of test points 4 are arranged intensively is provided on the substrate 3 which is an inspection object.
検査対象の基板３には複数のテストポイント４を集約して配置したコネクタ受け口５が設けられる。 - 特許庁 - The circuit interface card 4 as the testing object is based on the test bed 2 and connected to the interface converting adapter 3.
試験対象の回線インタフェースカード４は、テストベッド２をベースにしインタフェース変換アダプタ３に接続される。 - 特許庁 - A pulse generation circuit 13 for applying a pulse Po is provided on a test electric wire 31, which is an inspection object covered electric wire.
検査対象の被覆電線である被検電線31にパルスPoを印加するパルス生成回路13を設ける。 - 特許庁 - The elongate strip helps to separate the transducer from a potentially hostile environment associated with the object under test.
細長いストリップにより、トランスデューサは試験対象物に伴う潜在的に不適切な環境から分離される。 - 特許庁 - A test object logic circuit 2 comprises a plurality of combined circuit blocks and flip-flops connecting them.
テスト対象論理回路２は複数の組合せ回路ブロックとそれらを接続するフリップフロップとで構成される。 - 特許庁 - The object is achieved by providing a test for detecting HCV core antigen, in addition to anti-HCV antibody.
抗ＨＣＶ抗体に加えて、ＨＣＶコア抗原を検出する試験を提供することによって達成される。 - 特許庁 - To provide a test object management support device which can easily grasp objects provided in a facility.
施設内に設けられた対象物を簡単に把握することができる検査対象管理支援装置を提供する。 - 特許庁 - Air and tracer gas introduced to the inside of the test object 11 are controlled respectively by valves V4, V5.
被試験体１１の内部に導入されるエアー及びトレーサガスは夫々バルブＶ４及びＶ５により制御される。 - 特許庁 - The system 110 includes the probe 112 separated from a test object 114 by a variable distance d 116.
システム（１１０）は可変距離ｄ（１１６）によって検査対象（１１４）から離間されたプローブ（１１２）を含む。 - 特許庁 - This is an improved IC tester for testing a test object by a plurality of testing modules.
本発明は、複数の試験モジュールにより被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁 - A magnetic sensor employing no coil is used as the detection sensor 3 and detects surface fluxes of the object under test 40.
検出センサ３は、コイル非使用型の磁界センサであって、検査対象物４０の表面磁束を検出する。 - 特許庁 - The DC measuring part 31 on the signal route of the test object measures the value of a current flowing in the resistance 151.
試験対象の信号経路のＤＣ測定部３１は抵抗１５１に流れる電流の値を測定する。 - 特許庁 - To perform test operation of a mounting facility/equipment of a system as a control object by eliminating artificial failure of an operator.
運転員の人為的操作ミスを無くし、システムの実装設備・機器を制御対象とした試運転ができる。 - 特許庁 - To provide a ultrasonic flaw detection method and test object structure which do not generate a dead zone.
不感帯領域を生じさせない超音波探傷方法及び被検査対象物構造を提供すること。 - 特許庁 - To reduce the number of required test devices and to highly accurately measure the communication quality of an object section.
必要な試験装置の数を削減するとともに、対象区間の通信品質を高精度に測定すること。 - 特許庁 - To provide a test carrier that can ensure a stable contact with a semiconductor element of an object to be inspected.
検査対象である半導体素子との安定したコンタクトを確保することができるテストキャリアを提供する。 - 特許庁 - The detection object control command is switched depending on the detection of the authentication information having a third test value.
その検出対象制御コマンドは、第３検査値を有する認証情報の検出に応じて切り替えられる。 - 特許庁 - The self-reference sense circuit 21 generates read data of the test object cell based on the first and the second values.
そしてセルフリファレンスセンス回路２１は、第１および第２の値に基づいてテスト対象セルの読出データを生成する。 - 特許庁 - The Distributed Object Promotion Group (DOPG) has succeeded in the world's largest Internet Inter-ORB Protocol (IIOP) level interoperability test.
分散オブジェクト推進協議会（DOPG）は世界最大のインターネットORB間プロトコル（IIOP）レベルの相互運用性テストに成功した。 - コンピューター用語辞典 - To measure accurately a primary component (inclination component) of a refractive index distribution of a test object.
本発明は、被検物の屈折率分布の１次成分（傾斜成分）を正確に測定することを目的とする。 - 特許庁 - The result of the test is judged 16 and the object 12 to be treated is subjected to a separation treatment 17.
この試験の結果を判定１６し、その判定結果に基づき、被処理物１２を分別処理１７する。 - 特許庁 - The first needle body is connected to a contact head, sends a test signal to the object for testing, and executes detection.
第１の針本体は、コンタクトヘッドに接続され、テスト用物体にテスト信号を送り、検出を実行する。 - 特許庁 - In addition, the above contacts 202, 204, 206 will contact the test object along with compression of the above compressible material.
なお、前記圧縮性材料の圧縮に伴い、前記コンタクト２０２、２０４、２０６は、被験物に接触する。 - 特許庁 - Further, transmission lines 1-41, 1-42 existing between other apparatuses than the test object are interrupted to stop the reception.
また、試験対象外の他装置との間の伝送路１−４１，１−４２を切断して受信動作を停止する。 - 特許庁 - Each most suitable irregularity form has various conditions such as an application, a state of operation and surface quality of a material of the object, and should be found by the air channel test and a water tank test.
それぞれの最適凹凸形態はその物体の用途、運行状態、表面材質等様々な条件があり、風洞試験、水槽試験で見出すべきである。 - 特許庁 - To prevent informaiton about a test piece from disagreeing with detection information in a gene expression analysis which uses the test piece on which an object to be detected is plotted in an array shape.
アレイ状に検出体がプロットされた試験片を用いる遺伝子発現解析において、試験片に関する情報と検出情報との不一致を防止する。 - 特許庁 - In this fluorescence auxiliary test apparatus, laser beam radiated from a light source module is projected to a test object through a collimater, a dichroic mirror and a first condenser lens.
蛍光補助試験装置において、光源モジュールから放射されたレーザ光は、コリメータと、ダイクロイックミラーと、第１の集光レンズを通過して試験対象物に投射される。 - 特許庁 - Thus, since the test object is narrowed down, test items which actually become necessary can be narrowed down among a program to be tested to perform coverage measurement.
このように、テスト対象の絞り込みを行なわせているので、テスト対象のプログラムの内、実際に必要とされるテスト項目を絞り込んでカバレージ測定を行うことができる。 - 特許庁 - The test device 1 is a device to evaluate input/output processing of the data exchanged between the test object application 4 and a hardware layer 7 via the driver layer 3.
試験装置１は、試験対象アプリケーション４とハードウェア層７との間でドライバ層３を介して授受されるデータの入出力処理を評価する装置である。 - 特許庁 - The test signal S1, outputted from a test head 3 by an attenuator 11 provided on a DUT board 8, is attenuated to be applied to the object 4 to be tested.
本発明は、ＤＵＴボード８に設けた減衰器１１によりテストヘッド３から出力される試験信号Ｓ１を減衰させて試験対象４に印加する。 - 特許庁 - To provide a testing device and a test method capable of measuring efficiently an input/output characteristic of a test object circuit equipped with a plurality of input terminals, synchronously with a clock.
クロックに同期して、複数の入力端子を備えたテスト対象回路の入出力特性の測定を効率良く行えるテスト装置及びテスト方法の提供。 - 特許庁 - Further, at least a drawing of the sheath test showing in a diagram of an inspection object, an inspection item and an inspection standard to be used for the sheath test is pasted on the surface.
また、表面には、少なくとも外装検査において使用される、検査対象、検査項目及び検査基準を図式化して表す外装検査図が貼り付けられている。 - 特許庁 - A test artifact 16 is displaced within an object plane 44 through increments of measured distances and the corresponding displacements of the test artifact 16 within an image plane are recorded within the pixel array.
対物面上においてテスト・アーチファクトを一定距離ずつ漸進的に変位させ、対応するテスト・アーチファクトの映像面における変位をピクセル・アレイに記録する。 - 特許庁 - 2. Vibration generators usable for vibration test equipment falling under (a), with an excitation force of 50 kilonewtons or more in a state with no test object present
（二） イに該当する振動試験装置に使用することができる振動発生機であって、試験体がない状態における加振力が五〇キロニュートン以上のもの - 日本法令外国語訳データベースシステム - ii. Vibration generators usable for vibration test equipment falling under 1., with exciting force of 50 kilonewtons or more in a state with no test object present
２ （一）に該当する振動試験装置に使用することができる振動発生機であって、試験体がない状態における加振力が五〇キロニュートン以上のもの - 日本法令外国語訳データベースシステム - Since the photographing conditions are calculated by the arithmetic operation, test exposure before the photographing is not required and the exposure to the test object can be reduced.
演算により撮影条件を算出するようになっているため、撮影前に行うテスト曝射を不要とすることができ、被検体に対する被曝低減を図ることができる。 - 特許庁 - A test emulation part 140 operates a device test program 112 to be an object to be debugged under the operating system of a general-purpose computer, and a semiconductor testing apparatus is constituted in a pseudo manner.
テスタエミュレート部１４０は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。 - 特許庁 - To automatically remove test print from a charging object when test print is operated for the maintenance of a printer whose charging processing is automatically performed according to the number of printing.
印刷枚数に応じて自動的に課金処理されるプリンタの、メンテナンス等のためにテスト印刷がされたとき、これを自動的に課金対象から除外する。 - 特許庁 - The address information is extracted from the CPAMA object by using a set of member functions, which test quality and assign a mobile station address object to other mobile station address object.
アドレス情報は、ＣＰＡＭＡオブジェクトから、１組のメンバー機能を用いて取り出され、このメンバー機能は、品質をテストし、かつある移動局アドレスオブジェクトを、別の移動局アドレスオブジェクトに割り当てる。 - 特許庁 - A conveyor (102) further includes a means for receiving a load object, a means for releasing the load object from the predetermined height to freely dropping onto the test specimen (106), and recovering the load object.
コンベア機構（１０２）には、荷重体を受容する手段と、荷重体を所定高さから解放して、試験片（１０６）上に自由落下させる手段と、荷重体を回収する手段とを更に含む。 - 特許庁 - The load testing machine 100 includes: a test object support rack 2; a weight frame 3 relatively elevating relative to the test object support rack 2; weights 4a-4e where adjacent weights are engaged each other; a load frame 5 including a weight suspension unit 55 for engaging a pressing unit 54 for pressing the test object and the weight 4a; and a suspension tool 6 including a through-hole 69.
被試験物支持台２と、被試験物支持台２に対し相対的に昇降する分銅枠３と、隣接する分銅同士が互いに係合する分銅４ａ〜分銅４ｅと、被試験物を押圧する押圧部５４と分銅４ａと係合する分銅吊下部５５とを有する負荷枠５と、貫通孔６９を有する吊下具６と、を備える荷重試験機１００。 - 特許庁 - A control means 9 for changing a distribution of an irradiation quantity of light by controlling the irradiation quantity of light to irradiate the test object 2 and a control means 8 for controlling an inclination component of incident light to irradiate the test object 2 are set between the first collecting means 4 and the test object 2.
そして、第１の集光手段４と検査対象２との間に、該検査対象２に照射する光の照射光量を制御することによって照射光量分布を変化させる照射光量制御手段９と、検査対象２に照射する光の傾き成分を制御する入射光傾き成分制御手段８とを設ける。 - 特許庁 - A test script conversion device 101 which executed the test script processing program 100 reads, when program correction of the operation object application 115 is performed, data for one line of data of the test script by a test script analysis means 110, detects data of an operation object screen when this data is a switching instruction, and executes screen structure information comparison processing.
テストスクリプト処理プログラム１００を実行したテストスクリプト変換装置１０１は、操作対象アプリケーション１１５のプログラム修正を行った場合に、テストスクリプト解析手段１１０によりテストスクリプトのデータを１行分のデータを読み込み、切替命令である場合には操作対象画面のデータを検出し画面構成情報比較処理を実行する。 - 特許庁 - In this event, the controller 24 previously estimates, via a useful life estimation part 35, the useful life of the inspecting object component based on the material characteristics and fatigue characteristics of the inspecting object component that is the test specimen 15, and determines test conditions for performing fatigue test on the test specimen 15 based on useful life estimation data obtained as the result of the estimation.
その際、制御装置２４では、寿命予測部３５を通じて予め供試体１５の検査対象となる部品の材料特性および疲労特性に基づいて当該検査対象部品の寿命を予測し、その予測結果として得られた寿命予測データに基づいて供試体１５を疲労試験する際の試験条件を決定する。 - 特許庁 - A test for an object to be tested using a tester provides improvement to a tester simulation device for simulating by a DUT model for simulating operation of the object and a test model for simulating operation of a tester.
本発明は、被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の動作をシミュレーションするＤＵＴモデルと、テスタの動作をシミュレーションするテスタモデルとによりシミュレーションを行うテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁 - In this invention, an IC tester is improved, wherein an address is given to the timing memory, and a timing of a signal to be given to a test object is adjusted by timing data output from the timing memory, and the test object is tested.
本発明は、タイミングメモリにアドレスが与えられ、タイミングメモリが出力するタイミングデータにより、被試験対象に与える信号のタイミング調整を行い、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁 - An ultraviolet ray generation source 6 is arranged on a proper position, and a fluorescent screen 7 for emitting visible light by the ultraviolet ray from the ultraviolet ray generation source 6 is arranged on the back of the test object component 2A, and the test object component 2A is irradiated therewith.
紫外線発生源６を適宜位置に配置し、紫外線発生源６から紫外線により可視光を発光する蛍光板７を検査対象部品２Ａの背後に配置して検査対象部品２Ａを照射する。 - 特許庁
- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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