「test object」を含む例文一覧(1171)

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  • In this semiconductor test device for executing the test by forwarding plural test patterns to a device to be measured via test pattern memories 702, 703, following the measurement sequence by the test program in order to execute the function test of the semiconductor device 704 which is measuring object, the measurement sequence is changed so that the number of times of test pattern transfer between pattern memories in the semiconductor test device becomes minimum.
    測定対象となる半導体デバイス704 の機能テストを行うためにテストプログラムによる測定シーケンスにしたがって複数のテストパターンをテストパターンメモリ702,703 を介して被測定デバイスに転送し、テストを実行する半導体テスト装置において、半導体テスト装置内のパターンメモリ間におけるテストパターンの転送回数が最小になるように測定シーケンスを変更する。 - 特許庁
  • According to this, the failure on software configuration of the system of the test object can be easily detected.
    これにより、試験対象のシステムのソフトウェア構成上の不具合を容易に検出できる - 特許庁
  • To provide a measuring apparatus capable of accurately measuring 3 dimensional configuration of a test object.
    被検物の立体形状を正確に計測することができる計測装置を提供すること。 - 特許庁
  • To efficiently and correctly detect electromagnetic characteristics for determining the quality of a test object.
    より効率的に、より正確に被検体の良否を判定するための電磁気特性を検出する。 - 特許庁
  • TEST BENCH AND TESTING METHOD FOR MEASURING SOUND INSULATION, THAT IS, INSERTION LOSS, IN OBJECT OF TESTING
    試験対象物における遮音すなわち挿入損失を測定するための試験台と方法 - 特許庁
  • To provide an impulse voltage testing apparatus capable of properly detecting even fine abnormality of a test object.
    試験対象の微小異常をも適切に検出できるインパルス電圧試験装置提供する。 - 特許庁
  • To provide a simple method for knowing an amount of radical irradiation onto a surface of a test object.
    試験対象物表面へのラジカルが照射量を簡便に知る方法を提供すること。 - 特許庁
  • To detect an accurate coordinate position steadily by irradiating spot light to a test object directly.
    スポット光を被検体に直接照射して精度のよい座標位置を安定して検出する。 - 特許庁
  • To provide a leak test device capable of specifying with high accuracy a leak position generated in a measuring object.
    被測定物に生じたリーク位置を精度高く特定できる漏れ試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The test tone signals STC to STRB are supplied to object speakers 14C to 14RB at the same time.
    このテストトーン信号ＳTC〜ＳTRBを、対象とするスピーカ１４Ｃ〜１４ＲBに同時に供給する。 - 特許庁
  • SUCTION PRESSURIZING METHOD OF MEASUREMENT OBJECT IN CHARACTERISTIC TEST FOR IT AND SUCTION PRESSURIZING PAD
    被測定物の特性試験時におけ被測定物の吸着加圧方法及びその吸着加圧パット - 特許庁
  • The high-speed internal clock 18 is supplied to a test object circuit 16, and a prescribed test is executed synchronously with the internal high-speed clock 18.
    この高速内部クロック１８をテスト対象回路１６に供給し、この内部高速クロック１８に同期させて所定の試験を実行する。 - 特許庁
  • To provide a method to decide a system model to describe relation between a test applicable to a test object system (SUT) and its component.
    テスト対象システム(SUT)に適用可能なテストとその構成要素との間の関係を記述するシステムモデルを決定するための方法を提供する。 - 特許庁
  • Thus, the need of searching a communication cable connected to the inspection object device in the inspection test is eliminated and the work of the inspection test is simplified.
    よって、検査試験において検査対象装置に接続される通信ケーブルを探し出す必要がなく、検査試験の作業が簡素化される。 - 特許庁
  • The inspecting apparatus 100 carries out an imaging test of the wafer scale lens 2 arranged between the object for test 101 and the light-receiving section 103 at the wafer level.
    検査装置１００は、被写体１０１と、受光部１０３との間に配置されたウエハスケールレンズ２の撮像テストを、ウエハレベルで行う。 - 特許庁
  • To perform an effective ECC functional test by program in which all data patterns can be set only for test object address data and ECC data.
    検査対象アドレスのデータとＥＣＣデータだけについて全データパターンを設定できプログラムによる有効なＥＣＣ機能検査を実行する。 - 特許庁
  • Return a suite of all tests cases given a string specifier.The specifier name is a ``dotted name'' that may resolveeither to a module, a test case class, a test method within a testcase class, or a callable object which returns a TestCase or TestSuite instance.
    nameには``ドット修飾名''でモジュールかテストケースクラス、またはTestCaseかTestSuiteのインスタンスを返す呼び出し可能オブジェクトを指定します。 - Python
  • To provide an apparatus for inspecting articles, in which inspected results of an object to be inspected can be distinguished from those of a test object to be inspected.
    被検査物の検査結果と試験用被検査物の検査結果とを区別することができる物品検査装置を提供すること。 - 特許庁
  • The attack object specified by a setter 705 is set to the test object of the program code of a program code model list table 107.
    設定部７０５にて特定された攻撃対象を、プログラムコード雛形一覧テーブル１０７のプログラムコードの試験対象に設定する。 - 特許庁
  • To perform a torsion fatigue test, while holding an object properly, without being influenced by shrinkage of the object caused by torsion.
    ねじりにより生じる対象物の縮みの影響を受けることなく、対象物を適切に保持してねじり疲労試験を行う。 - 特許庁
  • The testing device includes: a test execution means that executes testing including one or more test items selected from among a plurality of test items as an object to be executed to a device to be tested concerning each of the test items by using one or more measuring instruments; and a test item display means that indicates a test image including one or more selected test items.
    複数の試験項目から実行対象として選択された１つ以上の試験項目を含む試験を、試験項目毎に、１つ以上の測定器用いて、被試験器に対して実行する試験実行手段と、選択された１つ以上の試験項目を含む試験画像を表示する試験項目表示手段と有する。 - 特許庁
  • By visually editing the input object or output object and the input information or output information according to test item operations or verification order, a test specification and a manual can be created, an automatic test can be executed based on the edited test specification, and evidence as a test result is acquired corresponding to each test item and is output.
    前記入力対象または出力対象と前記入力情報または出力情報を試験項目の操作または検証の順番に従ってビジュアル的に編集していく事によって試験仕様書およびマニュアルを作成することができ、編集された試験仕様書を元に自動試験が実行でき、試験結果として試験項目毎に対応してエビデンスを取得し出力する - 特許庁
  • The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20.
    被試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部２０と、試験部２０の試験結果に応じて試験項目を試験部２０に対して設定する試験項目設定部１０とを備える。 - 特許庁
  • Whether or not success/failure conditions specified as conditions for deciding success/failure based on the test result of an object to be tested in a test program are matched with success/failure decision conditions in test required specifications is determined for one test item.
    一のテスト項目について、テストプログラムに被テスト対象のテスト結果に基づく合否判定のための条件として規定された合否判定条件が、テスト要求仕様における合否判定条件に合致するか否かを判別する。 - 特許庁
  • To suppress increase in a test vector making time and increase in a test time, when an evaluation test of a DRAM core circuit incorporated in a DRAM mixed logic LSI is performed by unnecessitating an exclusive test vector for each DRAM core circuit being an object of evaluation.
    DRAM混載ロジックLSI に内蔵するDRAMコア回路の評価テストを行う場合に、評価対象となるDRAMコア回路毎に専用のテストベクタを必要としなくなり、テストベクタ作成時間の増大やテスト時間の増大を抑制する。 - 特許庁
  • The universal type line test device 1 is provided with test circuits that conduct an insulation resistance test and a static capacitance test between a couple of core wires and between each core wire and ground, and a cross-contact test between each core wire and other wire without the need for changing the connection between a couple of core wires of a test object line and a ground wire.
    ユニバーサル型回線試験器１は、試験対象回線の一対の心線及び接地線との接続を替えること無しに、一対の心線間や、各心線と対地間の絶縁抵抗試験、静電容量試験、各心線に対する他の回線の混触試験をするための試験回路を備えることである。 - 特許庁
  • In one mode, this assay test strip contains a test agent specifically combined with a targeted object and comparative markers which have no specific bonding affinity to the targeted object and have optical characteristics that differ from those of a test marker.
    一態様では、アッセイテスト細片は、ターゲット分析物と特異的に結合するテスト薬剤と、ターゲット分析物に対し何ら特異的結合親和性のなく且つテスト標識とは異なる光学特性を有する比較対照標識とを含む。 - 特許庁
  • To sufficiently detect a failure of an interface part of a BIST design object circuit with a scan test design object circuit, and automatically generate a test pattern in a semiconductor integrated circuit using both a BIST and a scan test.
    ＢＩＳＴとスキャンテストを併用する半導体集積回路において、ＢＩＳＴ設計対象回路とスキャンテスト設計対象回路とのインタフェース部分の十分な故障検出を可能にし、かつテストパターンの自動生成を可能にする。 - 特許庁
  • Next, the test disk 30 is mounted in a test object drive, and a testing device inquires of the test object drive, a start position of the middle area, a recording end position of file data, a recordable start position of the disk and a recordable capacity (spare capacity).
    このテストディスク３０を検査対象ドライブに装着し、ミドルエリアの開始位置、ファイルデータの記録終了位置、当該ディスクの追記開始位置および追記可能容量（空き容量）を、検査装置から検査対象ドライブに問い合わせる。 - 特許庁
  • This semiconductor device module is equipped with switches SW11 or SW13 for connecting a test terminal TT to one end side of wiring which is a test object, and transistors M21 or M23 for imparting a ground potential VSS to the other end side of the wiring which is the test object.
    試験対象となる配線の一端側にテスト端子ＴＴを接続するスイッチＳＷ１１ないしＳＷ１３と、試験対象となる配線の他端側に接地電位ＶＳＳを与えるトランジスタＭ２１ないしＭ２３とを備える。 - 特許庁
  • To provide a contour shape inspection method of a component and its device capable of acquiring an accurate silhouette image of a test object component even if another component is arranged on the position near the test object component.
    検査対象部品の近傍位置に別の部品が配置されていても検査対象部品の正確なシルエット画像が得られる部品の輪郭形状検査方法及びその装置を供すること。 - 特許庁
  • The influence of the skin effect is excluded by applying an external signal for canceling a detection output of a test object surface layer part from a detection output of a magnetic field caused by an eddy current induced on the test object.
    被検体に誘起される渦電流による磁場の検出出力から被検体表層部の検出出力をキャンセルする外部信号を与えることにより表皮効果の影響を除外した。 - 特許庁
  • To provide a measuring method of remaining austenite volume that realizes online and low-cost measurement of remaining austenite volume contained in a test object within a manufacturing process of the test object.
    被検体に含まれる残留オーステナイトの量を、該被検体の製造工程内においてオンラインで安価に測定することができる残留オーステナイト量の測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a device capable of detecting optical unevenness of a test object due to thickness irregularities, distortion or waviness even when the test object has no optical property such as deflection, with high sensitivity.
    検査対象が偏光などの光学的性質を持たない場合であっても、その検査対象について厚みムラ、歪み、うねりなどに起因する光学ムラを高感度で検出できる装置の提供 - 特許庁
  • If a test related to a medical report is identified, information designated from a DICOM object belonging to the test is acquired by a data acquisition unit 23.
    医用レポートに関連する検査を特定すると、データ取得部２３によって前記検査に属するＤＩＣＯＭオブジェクトから指定された情報を取得する。 - 特許庁
  • To provide a tester advantageous in terms of cost while it can rapidly and surely execute a test for authenticity of a test object having a hologram.
    ホログラムを備えた被検査物の真偽のための検査を迅速かつ確実に行えるものでありながら、コスト面において有利な検査器を提供する。 - 特許庁
  • The test water is passed through electric deionizing or reverse osmosis membrane devices 1, 2 which are connected by multi-stage manner, and the analysis object substances in the test water is continuously concentrated.
    検水を、多段に接続した電気脱イオン又は逆浸透膜装置１，２に通水して、検水中の分析対象物質を連続的に濃縮する。 - 特許庁
  • To provide a device capable of performing an environmental test in a more similar state to an actual using environment by reproducing temperature variation generated in a test object.
    被試験物に生じる温度ばらつきを再現し、実際の使用環境により近い状態で環境試験を行うことができる装置を開発する。 - 特許庁
  • To efficiently carry out a continuous concentration without allowing any analytic object in a test water to vaporize or change morphologically while suppressing contamination of the test water.
    検水のコンタミネーションを抑制した上で、また検水中の分析対象物質を気散ないし形態変化させることなく、効率的に連続濃縮する。 - 特許庁
  • To observe a plurality of types of information by a simple test and acquire information of the phenomenon time change by placing a plurality of white light sources so that lights from the light sources take the same optical axis before arriving at an object under test.
    １試験で複数種の情報が得られ、現象の時間変化の情報も得られるカラーシュリーレン装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a laser ultrasonic inspection apparatus capable of sensitively and efficiently inspecting a plurality of test objects or a wide-area test object existing in a small space.
    狭隘部に存在する複数あるいは広い面積の検査対象を感度よく効率的に検査できるレーザー超音波検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a tester simulation device and a tester simulation method capable of performing simulation of a test program in an analog circuit as a test object.
    被試験対象のアナログ回路におけるテストプログラムのシミュレーションを行えるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁
  • Endless wire ropes 1A, 1B used for pulling respectively test object vehicles 7, 8 are laid on rope grooves of a test course.
    走行路のロープ溝には、被試験対象の車両７，８をそれぞれ牽引するために使用されるエンドレス方式のワイヤーロープ１Ａ，１Ｂが敷設されている。 - 特許庁
  • METHOD FOR REDUCING INFLUENCE OF HEMATOCRIT ON MEASUREMENT OF ANALYZED OBJECT IN WHOLE BLOOD, AND TEST KIT AND TEST ARTICLE USEFUL FOR THE METHOD
    全血中の分析対象物の計測に対するヘマトクリットの影響を減らす方法ならびに当該方法で有用な試験キット及び試験用品 - 特許庁
  • To provide a laser ultrasonic inspection apparatus sensitively and efficiently inspecting a plurality of test objects or a wide-area test object existing in a small space.
    狭隘部に存在する複数あるいは広い面積の検査対象を感度よく効率的に検査することのできるレーザー超音波検査装置を提供する。 - 特許庁
  • For the ease of running tests, as we will see later, it is a good idea to provide in each test module a callable object that returns apre-built test suite:
    各テストモジュールで、テストケースを組み込んだテストスイートオブジェクトを作成する呼び出し可能オブジェクトを用意しておくと、テストの実行や参照が容易になります: - Python
  • To provide a preparation method for a test piece capable of conducting precisely an evaluation test for an evaluated object having a space part in its inside.
    内部に空間部を有する被評価物の評価試験を精度良く行うことができる試験片の作成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To test an integrated circuit without changing the constitution of the integrated circuit of a testing object and without providing a large capacity of test vector memory.
    テスト対象の集積回路の構成を変更する必要がなく、大容量のテストベクトルメモリも設けることなく、集積回路のテストを可能にする。 - 特許庁
  • To generate a uniform bending stress in the whole object, while determining selectively the bending direction of the object, in a bending fatigue test.
    曲げ疲労試験において、対象物の曲げ方向を選択的に決定しつつ対象物全体に均一な曲げ応力を生じさせる。 - 特許庁
  • During normal operation, the substrate potential of the object transistor is made at the same as the substrate potential of the non-object transistor to use the transistor, and in performing the scan test, for the substrate potential of the object transistor, back bias is applied to the side of raising the threshold of the transistor to perform the test.
    通常動作時には、対象トランジスタの基板電位を、非対象トランジスタの基板電位と同電位にして使用し、スキャンテスト実施時には、対象トランジスタの基板電位を、トランジスタの閾値が上昇する側にバックバイアスを印加してテストする。 - 特許庁
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